RU2533551C1 - Resistive material - Google Patents
Resistive material Download PDFInfo
- Publication number
- RU2533551C1 RU2533551C1 RU2013134615/04A RU2013134615A RU2533551C1 RU 2533551 C1 RU2533551 C1 RU 2533551C1 RU 2013134615/04 A RU2013134615/04 A RU 2013134615/04A RU 2013134615 A RU2013134615 A RU 2013134615A RU 2533551 C1 RU2533551 C1 RU 2533551C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- time
- resistive material
- dependence
- sample
- resistance
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Conductive Materials (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к радио- и микроэлектронике и может быть использовано при изготовлении электронных устройств, элементов электронных схем с функциональной зависимостью электросопротивления от времени, работающих в области температур от 10 до 150°С.The invention relates to radio and microelectronics and can be used in the manufacture of electronic devices, elements of electronic circuits with a functional dependence of electrical resistance on time, operating in the temperature range from 10 to 150 ° C.
Известен резистивный материал с функциональной зависимостью электросопротивления от времени, содержащий сульфид серебра и сульфид меди (патент СССР №834779, МПК5 H01C 7/00, опубл. 30.05.1981).Known resistive material with a functional dependence of electrical resistance on time, containing silver sulfide and copper sulfide (USSR patent No. 834779, IPC5
Недостаток этого материала состоит в том, что значение электросопротивления очень мало (порядка 10-2 Ом·м), а интервал рабочих температур составляет 400-550°С.The disadvantage of this material is that the value of electrical resistance is very small (about 10 -2 Ohm · m), and the range of operating temperatures is 400-550 ° C.
Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому изобретению является резистивный материал с функциональной зависимостью электросопротивления от времени, содержащий селенид серебра, селенид мышьяка и селенид германия (патент РФ №2066076, МПК6 H01C 7/00, опубл. 27.08.1996).The closest in technical essence to the present invention is a resistive material with a functional dependence of electrical resistance on time, containing silver selenide, arsenic selenide and germanium selenide (RF patent No. 2066076, IPC6
Использование данного материала в качестве резистивного материала с зависимостью сопротивления от времени ограничивается малыми значениями времени релаксации (11-60 с).The use of this material as a resistive material with a dependence of resistance on time is limited to small values of the relaxation time (11-60 s).
Задача изобретения состоит в создании резистивного материала с функциональной зависимостью сопротивления от времени с большим временем релаксации и большим сопротивлением для использования в микроэлектронной аппаратуре с малыми значениями токов и напряжений (резисторы с сопротивлением, зависящим от времени, переключатели и т.д.), где требуются переключения в течение промежутков времени 25-38 мин при 10-150°С.The objective of the invention is to create a resistive material with a functional dependence of resistance on time with a long relaxation time and a large resistance for use in microelectronic equipment with low values of currents and voltages (resistors with time-dependent resistance, switches, etc.), where required switching over time intervals of 25-38 min at 10-150 ° C.
Поставленная задача достигается за счет того, что резистивный материал, содержащий халькогениды серебра, германия и мышьяка, дополнительно содержит селенид меди и отвечает общей формуле (Ag2Se)x·(Cu2Se)(1-x)·(As2Se3)·(GeSe)2,The problem is achieved due to the fact that the resistive material containing chalcogenides of silver, germanium and arsenic additionally contains copper selenide and meets the general formula (Ag 2 Se) x · (Cu 2 Se) (1-x) · (As 2 Se 3 ) · (GeSe) 2 ,
где 0.6≤х≤0.95.where 0.6≤x≤0.95.
При этом при значениях х, меньших 0.6, электрические свойства не воспроизводятся от образца к образцу.Moreover, at x values less than 0.6, the electrical properties are not reproduced from sample to sample.
При значениях х>0.95, согласно формуле, состав содержит менее 5% халькогенида меди, свойства его не будут отличаться от свойств материала с х=1.0, который будет совпадать с прототипом.For values of x> 0.95, according to the formula, the composition contains less than 5% copper chalcogenide, its properties will not differ from the properties of the material with x = 1.0, which will coincide with the prototype.
Пример.Example.
Предлагаемый резистивный материал получают из исходных компонентов, взятых в виде чистых элементов (серебро, германий, мышьяк, селен, медь) в количествах, соответствующих приведенной выше общей формуле, спеканием при определенной температуре и последующей закалкой из расплава.The proposed resistive material is obtained from the starting components taken in the form of pure elements (silver, germanium, arsenic, selenium, copper) in quantities corresponding to the above general formula, by sintering at a certain temperature and subsequent quenching from the melt.
Металлическое серебро (осч) в количестве 2.3217 г, металлический германий (осч) в количестве 1.9519 г, металлический мышьяк (осч) в количестве 2.0149 г, селен элементарный (осч) в количестве 6.3704 г и медь (осч) в количестве 0.3413 спекаются в атмосфере инертных газов при специально подобранных температурах. Стеклообразные материалы получают закалкой из расплава. Готовый продукт отвечает общей формуле (Ag2Se)x·(Cu2Se)(1-x)·(As2Se3)·(GeSe)2, где х=0.8, и представляет собой однородный слиток с металлическим цветом и раковистым изломом, характерным для стеклообразных соединений.Metallic silver (osch) in the amount of 2.3217 g, metallic germanium (osch) in the amount of 1.9519 g, metallic arsenic (osch) in the amount of 2.0149 g, elemental selenium (osch) in the amount of 6.3704 g and copper (osch) in the amount of 0.3413 are sintered in the atmosphere inert gases at specially selected temperatures. Glassy materials are obtained by melt quenching. The finished product meets the general formula (Ag 2 Se) x · (Cu 2 Se) (1-x) · (As 2 Se 3 ) · (GeSe) 2 , where x = 0.8, and is a homogeneous ingot with a metallic color and shell kink characteristic of glassy compounds.
Аналогично получали образцы резистивного материала, составы исходных шихт и конечного продукта которых приведены в табл.1 (фиг.1).Similarly received samples of resistive material, the compositions of the initial mixture and the final product of which are given in table 1 (figure 1).
Для измерения электрических характеристик резистивного материала из полученных слитков вырезали образцы в форме прямоугольных параллелепипедов. Поляризационные зависимости электросопротивления от времени измеряли двухэлектродным методом при приложении к асимметричной ячейке с образцом постоянной разности потенциалов с указанной полярностью:To measure the electrical characteristics of the resistive material, rectangular parallelepipeds were cut from the obtained ingots. The polarization dependences of the electrical resistance on time were measured by the two-electrode method when a constant potential difference with the indicated polarity was applied to an asymmetric cell with a sample:
+ обратимый электрод |образец| блокирующий ионный компонент электрод|-+ reversible electrode | sample | blocking ion component electrode | -
На фиг.3 изображены кривые зависимости плотности тока от времени при 27°С. Зависимость 1 относится к составу с х=0.8, зависимость 2 - к составу с х=0.75.Figure 3 shows the curves of the dependence of current density on time at 27 °
На фиг.4 изображены кривые зависимости удельного электросопротивления от времени при 27°С. Зависимость 1 относится к составу с х=0.95, зависимость 2 к составу с х=0.9, зависимость 3 к составу с х=0.85, зависимость 4 к составу с х=0.7. Нулевой момент времени (t=0) соответствует включению постоянного напряжения, прикладываемого к образцу. Процесс плавного падения силы тока и увеличения электросопротивления со временем обусловлен постепенным подавлением ионной составляющей проводимости за счет явления поляризации. При этом подвижные ионы серебра концентрируются вблизи отрицательно заряженного электрода, создавая градиент концентрации по образцу. Наличие градиента концентрации положительно заряженных ионов серебра приводит к возникновению диффузионного потока ионов, направленного в противоположную по отношению к дрейфовому потоку ионов сторону. В стационарном состоянии дрейфовый и диффузионный потоки ионов компенсируют друг друга, и через образец течет только электронный ток. Следовательно, электропроводность образца уменьшается от величины σΣ=σi+σе в нулевой момент времени до величины σе в установившемся поляризованном состоянии. Прикладываемая к образцу разность потенциалов выбирается меньше той величины, при которой начинается электролиз материала.Figure 4 shows the curves of the dependence of electrical resistivity on time at 27 °
Из приведенных на фиг.3 и 4 поляризационных зависимостей рассчитывали время релаксации удельного электросопротивления, принимая за его величину промежуток времени от нулевого момента t0 до момента времени, когда электропроводность уменьшается в е раз от величины в момент t0.From the polarization dependences shown in FIGS. 3 and 4, the relaxation time of the electrical resistivity was calculated, taking as its value the time interval from the zero moment t 0 to the time when the electrical conductivity decreases e times from the value at time t 0 .
Результаты измерения электронной и ионной составляющих проводимости при 27°С, а также значения времени релаксации электросопротивления для составов с различными значениями х приведены в табл.1 (фиг.1). Материалы, составы которых соответствуют значениям х меньших 0.6, характеризуются не воспроизводящимися от образца к образцу электрическими свойствами и не могут быть использованы в качестве резистивного материала. При уменьшении х ниже 0.5 материал возможно получить только в кристаллическом неоднофазном состоянии, величина электронной составляющей проводимости σe значительно превосходит величину ионной составляющей. Это приводит к тому, что поляризационный эффект оказывается выраженным очень слабо, а времена релаксации и относительное увеличение электросопротивления со временем в процессе поляризации значительно уменьшаются. Следовательно, оптимальные значения х в общей формуле резистивного материала лежат в области 0.6≤х≤0.95.The results of measuring the electronic and ionic components of the conductivity at 27 ° C, as well as the values of the relaxation time of electrical resistance for compositions with different values of x are given in table 1 (figure 1). Materials whose compositions correspond to x values of less than 0.6 are characterized by electrical properties that are not reproducible from sample to sample and cannot be used as a resistive material. With a decrease in x below 0.5, the material can only be obtained in a crystalline non-phase state, the value of the electronic component of conductivity σ e significantly exceeds the value of the ionic component. This leads to the fact that the polarization effect is very weakly expressed, and the relaxation times and the relative increase in electrical resistance with time during the polarization process are significantly reduced. Therefore, the optimal values of x in the general formula of the resistive material lie in the range 0.6≤x≤0.95.
Результаты исследования доли электронной компоненты проводимости, времени релаксации, электросопротивления и области рабочих температур в заявляемом материале и в материале, являющемся прототипом, представлены в табл.2 (фиг.2).The results of the study of the share of the electronic component of conductivity, relaxation time, electrical resistance and the range of operating temperatures in the claimed material and in the material that is the prototype are presented in table 2 (figure 2).
Из табл.2 (фиг.2) следует, что величина электросопротивления соединении (Ag2Se)x·(Cu2Se)(1-x)·(As2Se3)·(GeSe)2 превышает величину электросопротивления материалов, являющихся прототипом, на два порядка. Время релаксации в заявляемых соединениях по сравнению со временем релаксации в соединениях прототипа увеличилось до 650 с за счет увеличения доли ионного компонента проводимости.From table 2 (figure 2) it follows that the value of the electrical resistance of the compound (Ag 2 Se) x · (Cu 2 Se) (1-x) · (As 2 Se 3 ) · (GeSe) 2 exceeds the value of the electrical resistance of materials that are prototype, two orders of magnitude. The relaxation time in the claimed compounds compared with the relaxation time in the compounds of the prototype increased to 650 s due to an increase in the fraction of the ionic component of conductivity.
Такое увеличение времени релаксации электросопротивления и увеличение значения сопротивления позволяет применять заявляемые материалы в качестве резисторов в микроэлектронной аппаратуре с малыми значениями токов и напряжений, где требуются функциональная зависимость сопротивления от времени, большие значения сопротивления и большие времена релаксации при 10-150°С.Such an increase in the relaxation time of electrical resistance and an increase in the resistance value allows the use of the inventive materials as resistors in microelectronic equipment with small values of currents and voltages, where a functional dependence of resistance on time, large values of resistance and long relaxation times at 10-150 ° C are required.
Claims (1)
(Ag2Se)x·(Cu2Se)(1-x)·(As2Se3)·(GeSe)2,
где 0,6≤х≤0,95. Resistive material containing chalcogenides of silver, arsenic and germanium, characterized in that it further comprises copper selenide according to the empirical formula:
(Ag 2 Se) x (Cu 2 Se) (1-x) (As 2 Se 3 ) (GeSe) 2 ,
where 0.6 х x 0 0.95.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2013134615/04A RU2533551C1 (en) | 2013-07-23 | 2013-07-23 | Resistive material |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2013134615/04A RU2533551C1 (en) | 2013-07-23 | 2013-07-23 | Resistive material |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2533551C1 true RU2533551C1 (en) | 2014-11-20 |
Family
ID=53382755
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2013134615/04A RU2533551C1 (en) | 2013-07-23 | 2013-07-23 | Resistive material |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2533551C1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2614738C1 (en) * | 2015-12-31 | 2017-03-29 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" | Resistive material based on non-stoichiometric sulphides |
RU2614942C1 (en) * | 2015-12-31 | 2017-03-31 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" | Resistive material based on glass chalcogenides with nanotubes |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU834779A1 (en) * | 1979-07-10 | 1981-05-30 | Уральский Ордена Трудового Красногознамени Государственный Университетим. A.M.Горького | Resistive material |
US4494997A (en) * | 1983-06-15 | 1985-01-22 | Westinghouse Electric Corp. | Ion implant mask and cap for gallium arsenide structures |
RU2066076C1 (en) * | 1994-07-18 | 1996-08-27 | Уральский государственный университет им. А.М.Горького | Resistive material |
SU1779192A1 (en) * | 1990-12-17 | 1996-12-27 | Уральский Государственный Университет Им.А.М.Горького | Resistive material |
US8467236B2 (en) * | 2008-08-01 | 2013-06-18 | Boise State University | Continuously variable resistor |
-
2013
- 2013-07-23 RU RU2013134615/04A patent/RU2533551C1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU834779A1 (en) * | 1979-07-10 | 1981-05-30 | Уральский Ордена Трудового Красногознамени Государственный Университетим. A.M.Горького | Resistive material |
US4494997A (en) * | 1983-06-15 | 1985-01-22 | Westinghouse Electric Corp. | Ion implant mask and cap for gallium arsenide structures |
SU1779192A1 (en) * | 1990-12-17 | 1996-12-27 | Уральский Государственный Университет Им.А.М.Горького | Resistive material |
RU2066076C1 (en) * | 1994-07-18 | 1996-08-27 | Уральский государственный университет им. А.М.Горького | Resistive material |
US8467236B2 (en) * | 2008-08-01 | 2013-06-18 | Boise State University | Continuously variable resistor |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2614738C1 (en) * | 2015-12-31 | 2017-03-29 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" | Resistive material based on non-stoichiometric sulphides |
RU2614942C1 (en) * | 2015-12-31 | 2017-03-31 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" | Resistive material based on glass chalcogenides with nanotubes |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Endo et al. | Electric resistivity measurements of Sb2Te3 and Ge2Sb2Te5 melts using four-terminal method | |
Houabes et al. | Rare earth oxides effects on both the threshold voltage and energy absorption capability of ZnO varistors | |
RU2533551C1 (en) | Resistive material | |
Mirzayi et al. | Effect of V2O5 on electrical and microstructural properties of ZnOceramics | |
Sandouk et al. | Multistate resistive switching in silver nanoparticle films | |
Sudheendra et al. | Electronic phase separation in the rare-earth manganates (La1− xLnx) 0.7 Ca0. 3MnO3 (Ln= Nd, Gd and Y) | |
Nahm | Nb2O5 doping effect on electrical properties of ZnO–V2O5–Mn3O4 varistor ceramics | |
Izoulet et al. | Microstructure control to reduce leakage current of medium and high voltage ceramic varistors based on doped ZnO | |
Hatayama et al. | Electrical transport mechanism of the amorphous phase in Cr2Ge2Te6 phase change material | |
Shen et al. | Boron and sodium co-doped ZnO varistor with high stability of pulse current surge | |
Nahm | Major effects on electrical properties of ZnO–V2O5–MnO2–Nb2O5 ceramics with small Gd2O3 doping changes | |
Kobayashi et al. | Understanding the fast phase-change mechanism of tetrahedrally bonded Cu 2 GeTe 3: Comprehensive analyses of electronic structure and transport phenomena | |
Venkateswarlu et al. | Ac conductivity and dielectric studies of silver-based fast ion conducting glass system | |
Roy et al. | Role of sintering temperature on microstructure and nonlinear electrical properties of 0.1 mol.% Nb 2 O 5 added ZnO–V 2 O 5 varistor ceramics | |
CN105009298B (en) | Oxynitride semiconductor film | |
RU2066076C1 (en) | Resistive material | |
Sharma et al. | Effect of impurity (Sb and Ag) incorporation on the ac conductivity and dielectric properties of a-Se70Te30 glassy alloy | |
RU2614738C1 (en) | Resistive material based on non-stoichiometric sulphides | |
Kolbunov et al. | The influence of microstructure and phase composition of glass ceramics in the VO2–V2O5–P2O5–Cu2O–SnO2 system on the electrical properties related to the metal–semiconductor phase transition | |
JP2008010604A (en) | Resistor thin film material, resistor thin film, sputtering target for forming the same, and thin-film resistor and its manufacturing method | |
RU2614942C1 (en) | Resistive material based on glass chalcogenides with nanotubes | |
Mielcarek et al. | The effect of bismuth oxide polymorph forms on degradation processes in ZnO varistors | |
Nahm | Effect of sintering temperature on varistor properties of Zn–V–Mn–Nb–Tb oxide ceramics | |
Singh et al. | DC conductivity of molybdenum tellurite glasses | |
ATE373871T1 (en) | METHOD AND DEVICE FOR LIMITING CURRENT WITH A SELF-ACTUATED CURRENT LIMITER |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20160724 |