RU2503081C1 - Способ измерения фактора шума микроканальной пластины - Google Patents
Способ измерения фактора шума микроканальной пластины Download PDFInfo
- Publication number
- RU2503081C1 RU2503081C1 RU2012129788/28A RU2012129788A RU2503081C1 RU 2503081 C1 RU2503081 C1 RU 2503081C1 RU 2012129788/28 A RU2012129788/28 A RU 2012129788/28A RU 2012129788 A RU2012129788 A RU 2012129788A RU 2503081 C1 RU2503081 C1 RU 2503081C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- microchannel plate
- signal
- noise factor
- output
- mcp
- Prior art date
Links
Images
Abstract
Изобретение относится к области измерительной техники и касается способа измерения фактора шума микроканальной пластины. Способ включает снятие сигнала со всей площади люминесцентного экрана, который осуществляется в процессе изготовления МКП, регистрацию сигнала каждого импульса с выхода МКП, его усиление и подачу на многоканальный амплитудный анализатор импульсов. Сигналы анализируют по амплитудам и определяют коэффициент вариации усиления микроканальной пластины, пропорциональный фактору шума. Технический результат заключается в повышении точности измерений и обеспечении возможности контроля фактора шума микроканальной пластины в процессе ее изготовления. 2 ил.
Description
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения фактора шума микроканальной пластины (МКП) в производстве МКП, используемой для техники ночного видения.
Известен способ измерения отношения сигнал/шум ЭОП, который является аналоговым, т.к. регистрируется усредненный за время т сигнал, равный постоянной времени измерительного оборудования. Принцип измерения отношения сигнал/шум заключается в измерении значений среднего (сигнал) и среднего квадратического отклонения (шум) электрического сигнала фотоприемника, пропорционального световому потоку на выходе ЭОП, с последующим вычислением их отношения при заданных значениях освещенности на входе ЭОП и площади анализируемого участка входа ЭОП (см. ГОСТ 21815.90.19).
Недостатками данного способа является то, что сигнал снимается с достаточно маленького участка, а не со всей площади, а также имеется сильное влияние величины входного сигнала на получаемый результат, что приводит к большим погрешностям и длительности измерения.
Наиболее близким к заявляемому техническому решению является способ измерения фактора шума методом амплитудного анализа выходного сигнала ЭОП, включающий снятие сигнала с люминесцентного экрана с помощью фотометра и анализ сигнала при помощи многоканального амплитудного анализатора [см. Ю.З. Мацковская, Савенчук Н.А. «Измерение шумов электронно-оптических преобразователей», журнал «Оптико-механическая промышленность», 1981, №12, с.6-8].
Недостатками прототипа являются то, что способ оценивает фактор шума ЭОП, а не отдельно МКП, кроме того, сигнал снимается с ограниченной площади, что приводит к погрешности измерения.
Задачей технического решения является возможность контроля шумовых параметров в процессе изготовления МКП и снижение погрешности измерений.
Решение технического результата достигается тем, что в способе измерения фактора шума микроканальной пластины, включающем снятие сигнала с люминесцентного экрана с помощью фотометра, согласно изобретению, снятие сигнала осуществляют в процессе изготовления микроканальной пластины со всей площади люминесцентного экрана, регистрируют каждый импульс с ее выхода, усиливают и подают на многоканальный анализатор импульсов, затем сигнал анализируют по амплитудам, определяют коэффициент вариации усиления микроканальной пластины и фактор шума определяют по формуле:
где ω - коэффициент прозрачности входного торца микроканальной пластины,
δ(М) - коэффициент вариации усиления микроканальной пластины, при этом коэффициент вариации усиления определяют по полученному распределению выходного сигнала.
Сущность способа поясняется чертежами, где на фиг.1 изображена схематично установка измерения фактора шума микроканальной пластины, на фиг.2 - амплитудное распределение выходного сигнала МКП.
Установка состоит из вакуумной камеры 1, электронно-оптической системы 2 (ЭОС), микроканальной пластины 3, экрана 4, фотометра 5, блока переноса изображения 6, зеркала 7, окуляра 8, вспомогательного источника света 9, ограничивающей диафрагмы 10, установленной перед фото-электронным умножителем 11, блок питания 12 фото-электронного умножителя 11, предварительного усилителя 13, частотомера 14, многоканального амплитудного анализатора 15, персонального компьютера (ПК) 16 с программным обеспечением (ПО).
Способ измерения фактора шума МКП реализуют следующим образом.
МКП 3 располагали между ЭОС 2 и люминесцентным экраном 4 в вакуумной камере 1. МКП 3, на которую подавали напряжение питания (на фиг. не показано), облучали электронным потоком ЭОС 2. Величину электронного потока оценивали по количеству импульсов с выхода МКП 3 по частотомеру 14 (см. фиг.1). При установлении требуемой частоты на выходе, сигнал снимали со всей площади люминесцентного экрана 4, регистрировали при помощи фотометра 5 с последующим его усилением, подавали на многоканальный амплитудный анализатор 15 и набирали распределение на экране ПК 16 при помощи ПО в течение 1 минуты, (см. фиг.2)
На экране ПК сигнал анализировали по амплитудам: по оси Х откладывали амплитуду выходного сигнала МКП 3, а по оси Y - количество событий в каждом канале, соответствующих числу импульсов выходного сигнала данной амплитуды (см. фиг.2).
Представив полученное распределение в виде массива данных, находили коэффициент вариации амплитуд выходных импульсов δ(М) и определили фактор шума микроканальной пластины по формуле:
где ω - коэффициент прозрачности входного торца МКП,
δ(М) - коэффициент вариации усиления МКП.
Таким образом, предложенный способ позволит контролировать фактор шума в процессе изготовления МКП 3, а не после изготовления ЭОП.
Использование предлагаемого способа позволит по сравнению с прототипом дать возможность контроля шумовых параметров МКП до ее установки в ЭОП, а также снизить погрешность измерений, за счет снятия сигнала со всей площади люминесцентного сигнала.
Claims (1)
- Способ измерения фактора шума микроканальной пластины, включающий снятие сигнала с люминесцентного экрана с помощью фотометра, отличающийся тем, что снятие сигнала осуществляют в процессе изготовления микроканальной пластины со всей площади люминесцентного экрана, регистрируют каждый импульс с ее выхода, усиливают его и подают на многоканальный амплитудный анализатор импульсов, сигнал анализируют по амплитудам и определяют фактор шума микроканальной пластины по формуле
где ω - коэффициент прозрачности входного торца микроканальной пластины, δ(М) - коэффициент вариации усиления микроканальной пластины, при этом коэффициент вариации усиления определяют по полученному распределению выходного сигнала.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2012129788/28A RU2503081C1 (ru) | 2012-07-13 | 2012-07-13 | Способ измерения фактора шума микроканальной пластины |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2012129788/28A RU2503081C1 (ru) | 2012-07-13 | 2012-07-13 | Способ измерения фактора шума микроканальной пластины |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2503081C1 true RU2503081C1 (ru) | 2013-12-27 |
Family
ID=49817818
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2012129788/28A RU2503081C1 (ru) | 2012-07-13 | 2012-07-13 | Способ измерения фактора шума микроканальной пластины |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2503081C1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2677230C1 (ru) * | 2018-03-06 | 2019-01-16 | Общество с ограниченной ответственностью Владикавказский Технологический центр "Баспик" (ООО ВТЦ "Баспик") | Способ измерения фактора шума микроканальной пластины |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN201477165U (zh) * | 2009-08-03 | 2010-05-19 | 杭州千盟光电科技有限公司 | 微通道板电性能动态测试台 |
CN102175933A (zh) * | 2011-01-28 | 2011-09-07 | 南京理工大学 | 微通道板噪声因子测试方法 |
-
2012
- 2012-07-13 RU RU2012129788/28A patent/RU2503081C1/ru active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN201477165U (zh) * | 2009-08-03 | 2010-05-19 | 杭州千盟光电科技有限公司 | 微通道板电性能动态测试台 |
CN102175933A (zh) * | 2011-01-28 | 2011-09-07 | 南京理工大学 | 微通道板噪声因子测试方法 |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
LIU и др. Measurement device for noise factor of microchannel plate// APPLIED OPTICS. - 2012, март, т.51, No. 7, стр.883-887. * |
LIU и др. Measurement device for noise factor of microchannel plate// APPLIED OPTICS. - 2012, март, т.51, № 7, стр.883-887. LIU и др. New Approach to Noise Factor Measurement on Microchannel Plate of Optoelectronic Detector// Infrared Sensors, Devices, and Applications; and Single Photon Imaging II». Под ред. Paul D. LeVan и др.: Proc. of SPIE, 2011, T.8155, стр.81550K-1 - 81550K-6. * |
LIU и др. New Approach to Noise Factor Measurement on Microchannel Plate of Optoelectronic Detector// Infrared Sensors, Devices, and Applications; and Single Photon Imaging II». Под ред. Paul D. LeVan и др.: Proc. of SPIE, 2011, T.8155, стр.81550K-1 - 81550K-6. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2677230C1 (ru) * | 2018-03-06 | 2019-01-16 | Общество с ограниченной ответственностью Владикавказский Технологический центр "Баспик" (ООО ВТЦ "Баспик") | Способ измерения фактора шума микроканальной пластины |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8797522B2 (en) | Light quantity detection method and device therefor | |
JP4397692B2 (ja) | 時間相関のある多光子計数計測のシステムおよび方法 | |
CN205752093U (zh) | 光学系统、光检测器、光电倍增器检测器及其系统 | |
WO2016158421A1 (ja) | 光量検出装置、それを用いた免疫分析装置および荷電粒子線装置 | |
CN106841133A (zh) | 一种基于荧光免疫层析技术的定量检测计算方法 | |
EP2529199B1 (de) | Messsystem und messverfahren zur blutzuckerbestimmung | |
Knappe et al. | Investigation and compensation of the nonlinear response in photomultiplier tubes for quantitative single-shot measurements | |
CN102353450A (zh) | 一种“光子计数全谱直读”光谱分析方法 | |
KR102099230B1 (ko) | 형광분석에 의한 체외 검출 및/또는 정량화를 위한 시스템 | |
JP5544187B2 (ja) | 荷電粒子線装置 | |
CN105588708A (zh) | 光学滤光片高精度透过率的测试系统及测试方法 | |
EP3546925A1 (en) | Fluorescence lifetime measurement apparatus and measurement method | |
RU2503081C1 (ru) | Способ измерения фактора шума микроканальной пластины | |
KR101524453B1 (ko) | 온도 보상기능을 구비한 섬광검출기 및 그 제어방법 | |
CN104949963B (zh) | Icp发光分光分析装置 | |
CN114235764A (zh) | 一种半导体晶圆载流子表面复合速率的定量成像表征方法 | |
CN109556738B (zh) | 模拟测量方法、测量数据拟合方法及化学发光测定仪 | |
CN106017681B (zh) | 一种同时测量微型光谱仪增益及读出噪声的方法 | |
CN111504497A (zh) | 一种基于荧光光纤的测温方法 | |
CN1164918C (zh) | 光电阴极多信息量测试系统 | |
CN111638545B (zh) | 确定NaI能谱仪的能量计算积分点数的方法 | |
Feng et al. | Research in absolute calibration of single photon detectors by means of correlated photons | |
CN108918017B (zh) | 一种气体压力测定方法 | |
Ma et al. | Study on the time resolution limits of FPMT and SiPM under femtosecond laser | |
JP2763907B2 (ja) | ブレイクダウン分光分析方法及び装置 |