RU2494382C1 - Энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр - Google Patents

Энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр Download PDF

Info

Publication number
RU2494382C1
RU2494382C1 RU2012113589/28A RU2012113589A RU2494382C1 RU 2494382 C1 RU2494382 C1 RU 2494382C1 RU 2012113589/28 A RU2012113589/28 A RU 2012113589/28A RU 2012113589 A RU2012113589 A RU 2012113589A RU 2494382 C1 RU2494382 C1 RU 2494382C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
detector
sample
source
cylinder
sphere
Prior art date
Application number
RU2012113589/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Батоболот Жалсараевич Жалсараев
Жаргал Ширабжалсановна Ринчинова
Сэсэг Борисовна Цыренжапова
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН)
Батоболот Жалсараевич Жалсараев
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН), Батоболот Жалсараевич Жалсараев filed Critical Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН)
Priority to RU2012113589/28A priority Critical patent/RU2494382C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2494382C1 publication Critical patent/RU2494382C1/ru

Links

Abstract

Использование: для рентгенофлуоресцецтного анализа состава вещества. Сущность заключается в том, что энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр содержит источник гамма- или рентгеновского излучения, вогнутую мишень, диафрагму с отверстием, держатель образца, детектор с коллиматором, направленным на образец, и регистрирующую аппаратуру, вход которой соединен с выходом детектора, при этом использован источник излучения с линейным фокусом, мишень вогнута по цилиндру, фокус источника расположен на образующей цилиндра, детектор и отверстие диафрагмы расположены, во-первых, на образующей цилиндра, диаметрально противоположной источнику, во-вторых, в диаметрально противоположных точках сферы, при этом сфера смещена в сторону детектора от мишени, а держатель образца выполнен с возможностью установки образца на этой сфере под вторичное излучение, прошедшее через отверстие диафрагмы, кроме того, введен коллиматор первичного пучка с плоскопараллельными каналами, перпендикулярными оси цилиндра. Технический результат: обеспечение возможности поляризации излучения источника с линейным фокусом повышенной мощности и анализа представительной массы образца с использованием детектора ограниченных размеров, упрощение коллиматора детектора, уменьшение его размеров, увеличение скорости счета полезного излучения, снижение порогов обнаружения и сокращение времени измерения. 2 з.н. ф-лы, 1 ил., 1 табл.

Description

Предлагаемое изобретение относится к поляризационным спектрометрам для рентгенофлуоресцентного анализа состава вещества и может быть использовано в науке и промышленности.
Известны энергодисперсионные поляризационные рентгеновские спектрометры (ЭДПРС) с узкими пучками, содержащие источник излучения, мишень - поляризатор или вторичную мишень, держатель образца, детектор и расположенные между ними три коллиматора с взаимно перпендикулярными осями (Heckel J., Ryon R.W. Polarized beam X-ray analysis // in Greiken R., Markowicz A. "Handbook of X-Ray Spectrometry", 2002, p.603-630).
Недостатком известных энергодисперсионных поляризационных спектрометров с узкими пучками является малая светосила.
Известен также энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр, содержащий источник рентгеновского или гамма-излучения, вогнутую по цилиндру мишень, защитный экран, держатель образца, детектор с коллиматором, и регистрирующую аппаратуру, вход которой соединен с выходом детектора, причем источник и держатель образца установлены в диаметрально противоположных точках цилиндра, а коллиматор детектора направлен на образец вдоль образующей цилиндра перпендикулярно плоскости окружности мишени (SU №1045094, G01N 23/223, 1982).
Недостатком данного спектрометра является малая площадь и масса образца в зоне, диаметрально противоположной источнику.
За прототип принят энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр, содержащий источник рентгеновского или гамма-излучения, вогнутую мишень в виде части сферы, на которой расположен фокус источника, диафрагму с отверстием, расположенным на сфере диаметрально противоположно фокусу источника, держатель образца, защитный экран, детектор излучения с коллиматором, направленным на образец, и регистрирующую аппаратуру, вход которой соединен с выходом детектора, причем держатель образца размещен за диафрагмой и выполнен с возможностью установки вогнутого образца на цилиндре, образующая которого совмещена с осью сферы, проходящей через фокус источника, при этом коллиматор детектора выполнен с плоскопараллельными каналами, перпендикулярными оси цилиндра, и снабжен выходной диафрагмой с щелью, расположенной на указанном цилиндре диаметрально противоположно ее образующей, совмещенной с осью сферы (Авт.св. SU №1327673, G01N 23/223, 1986).
Недостатком этого спектрометра является то, что повышенная светосила и представительность анализа достигаются при больших размерах (порядка 5 см) детектора. Вогнутый по цилиндру образец невозможно вращать в процессе облучения без нарушения ортогональности траектории квантов для получения усредненной информации со всей поверхности образца и увеличения представительности анализа.
Кроме того, размер фокуса источника в прототипе ограничен (увеличение размера фокуса приводит к большим отклонениям углов рассеяния от 90° и снижает поляризацию). Мощность источника с малым размером фокусного пятна ограничена. Для анализа тяжелых элементов по излучению К-серии с энергией 40-50 кэВ и выше необходимо использовать фильтр и получить жесткое, квазимонохроматическое и поляризованное излучение, но при фильтрации поток излучения и скорость счета резко падает.
Коллиматор с плоскопараллельными каналами расположен непосредственно перед детектором имеет большие размеры и «загрязняет» спектр.
Технический результат предлагаемого изобретения заключается в обеспечении возможности поляризации излучения источника с линейным фокусом повышенной мощности и анализа представительной массы образца с использованием детектора ограниченных размеров, упрощении коллиматора детектора, уменьшении его размеров, увеличении скорости счета полезного излучения, снижении порогов обнаружения и сокращении времени измерения.
Для достижения указанного технического результата в энергодисперсионном поляризационном рентгеновском спектрометре, содержащем источник рентгеновского или гамма-излучения, вогнутую мишень, диафрагму с отверстием, держатель образца, детектор с коллиматором, направленным на образец, и регистрирующую аппаратуру, вход которой соединен с выходом детектора, согласно изобретению, использован источник излучения с линейным фокусом, мишень вогнута по цилиндру, фокус источника расположен на образующей цилиндра, детектор и отверстие диафрагмы расположены, во-первых, на образующей цилиндра, диаметрально противоположной источнику, во вторых, в диаметрально противоположных точках сферы, при этом сфера смещена в сторону детектора от мишени, а держатель образца выполнен с возможностью установки образца на этой сфере под вторичное излучение, прошедшее через отверстие диафрагмы, кроме того, введен коллиматор первичного пучка с плоскопараллельными каналами, перпендикулярными оси цилиндра.
Держатель образца выполнен с возможностью установки образца с вогнутой по сегменту сферы рабочей поверхностью симметрично относительно отверстия диафрагмы и детектора.
Коллиматор детектора выполнен с эллиптическим отверстием. Предлагаемый спектрометр представлен схематически на фиг.1. Спектрометр построен по обратной прототипу схеме с заменой местами входа и выхода (источника и детектора, мишени и образца).
В спектрометре используется источник 1 рентгеновского или гамма-излучения с линейным фокусом. Мишень 2 вогнута по цилиндру с радиусом Re. При использовании источника 1 с ограниченной апертурой пучка мишень 2 размещена на половинке цилиндра. Ось цилиндра установлена горизонтально.
Линия фокуса источника 1 совмещена с образующей F1F1 цилиндра. Детектор 3 и отверстие диафрагмы 4 расположены, во-первых, на образующей цилиндра, диаметрально противоположной источнику 1, во вторых, в диаметрально противоположных точках F2 и F3 сферы с радиусом Rs.
Сфера смещена в сторону детектора 3 от мишени 2 вдоль оси F2F3. Смещение точки F3 от центральной плоскости по разрезу А-А мишени примерно равно расстоянию от оси F2F3 до горизонтали, проходящей через ось F1F1.
Держатель 5 образца выполнен с возможностью установки образца 6 с вогнутой по сегменту сферы рабочей поверхностью на сфере горизонтально и симметрично относительно точек F2 и F3 под вторичный пучок, прошедший через отверстие диафрагмы 4.
Цилиндр и фокус F1F1 повернуты вокруг оси F2F3 на угол около 45° так, что вторичное излучение мишени 2 облучает центральную часть образца 6.
Коллиматор 7 детектора направлен на образец 6 и выполнен в виде диска с эллиптическим отверстием. Облучается практически весь образец и его поверхность просматривается в виде эллипса со стороны детектора 3.
К выходу детектора 3 присоединен вход регистрирующей аппаратуры 8.
Между источником 1 и мишенью 2 введен коллиматор 9 первичного пучка с плоскопараллельными каналами, перпендикулярным оси цилиндра.
Ширина мишени 2 и коллиматора 9 выбраны больше длины линейного фокуса источника 1.
Образец 6 формируют с вогнутой по сфере поверхностью. Образцы малого размера могут быть плоскими.
При необходимости можно ввести фильтры (на схемах не показаны). Защитную камеру, узлы мишеней, образцов, коллиматоров и фильтров можно выполнить с использованием известных технических решений.
В качестве поляризаторов можно использовать пирографит, В4С, Al2O3, Al, в качестве вторичных мишеней - Ti, Co, Y, Mo, Sn и другие.
Спектрометр работает следующим образом.
Образцы 6 облучают вторичным излучением мишени 2, прошедшим через отверстие диафрагмы 4, и по спектру зарегистрированного детектором 3 излучения судят о содержании элементов в образце.
На схеме часть лучей показана со стрелками. Траектории квантов в трех пучках перпендикулярны. Следовательно, условия поляризации и подавления рассеянного излучения выполняются. Спектрометр управляется компьютером, расчет концентраций производится известными методами.
В спектрометре можно использовать источник с линейным фокусом большой площади и повышенной мощностью. Например, при использовании рентгеновской трубки типа 5БХВ-6 с линейным фокусом с длиной фокуса 3,5-4 см можно установить мишень 2 в виде части цилиндра с радиусом изгиба 5-6 см и такой же ширины. Радиус сферы около 3-4 см.
Можно использовать детектор с площадью до 20-50 мм2.
При радиусе сферы 4 см и диаметре основания сегмента 6 см можно использовать образец с диаметром 6,6 см. В этом случае площадь анализируемой зоны образца достигает 33 см. Для анализа элементов с атомными номерами 45-62 можно готовить образцы толщиной 5-7 мм или массой 15-20 г.
Для анализа более тяжелых элементов можно увеличить размеры спектрометра в целом и массу образца до 50 г и более.
Сравним максимально достижимые полезные загрузки в спектрометре ЭДПРС и в обычном ЭДС спектрометре прямого возбуждения.
Предположим, что подобраны режимы, обеспечивающие оптимальную скорость счета nd, определяемую загрузочными параметрами используемого детектора, т.е. выполняется условие
( n + b ) = ( n p + b p ) = n d , ( 1 )
Figure 00000001
где n, b - суммарные скорости счета флуоресцентных линий и фонового излучения в спектрометре ЭДС, имп./сек,
np, bp - суммарные скорости счета в ЭДПРС, имп./сек (индекс p относится к случаю поляризации).
Интегральный коэффициент подавления фона, нормированного на суммарную скорость счета флуоресцентного излучения, запишем в виде:
K = ( b / n ) / ( b p / n p ) = V p / V , ( 2 )
Figure 00000002
где V=n/b и Vp=np/bp - отношения полезных загрузок к фоновым загрузкам, зависящие от состава пробы и режима работы спектрометров.
Коэффициенты V, Vp и К можно определить по результатам измерения флуоресценции одного и того же образца в экспериментах с поляризацией излучения и без поляризации. Из (2) следует соотношение Vp=KV.
С учетом этих обозначении
bp/b=(1+V)/(1+Vp)-(1+V)/(1+KV).
Интегральный коэффициент увеличения полезной загрузки в ЭДПРС по сравнению с ЭДС:
F=np/n=К(bp/b)
или
F = K ( 1 + V ) / ( 1 + K V ) . ( 3 )
Figure 00000003
Предельно достижимый коэффициент подавления фона:
K max = 1 / ( 1 P ) = 1 / R , ( 4 )
Figure 00000004
где Р - результирующая степень поляризации,
R=(bp/np)/(b/n)=1-Р=1/К - фактор или доля рассеяния.
Для снижения фона, например, в К=20 раз необходимо обеспечить поляризацию Р на уровне 0,95 или фактор рассеяния R на уровне 0,05.
Результирующую степень поляризации можно оценить по полученным в эксперименте значениям коэффициентов R или К:
P = 1 R = ( K 1 ) / K . ( 5 )
Figure 00000005
В пробах с легкой матрицей при малой концентрации анализируемых элементов n<<b и V=n/b≈0. В этом частном случае максимальные значения параметров F и К:
Fmax=Kmax1/(1-P).
При разработке поляризационных спектрометров необходимо оценить степень поляризации Р и параметры К или R с учетом множества влияющих на них факторов. Значения этих параметров ограничены в основном из-за отклонений углов рассеяния от 90°, и могут быть оценены с учетом апертур пучков и других факторов (конечных размеров фокуса источника, детектора, размеров поляризатора и системы в целом, многократного рассеяния излучения в поляризаторе и образце, релятивистского фактора).
Для схем ЭДПРС с тремя узкими перпендикулярными пучками и одинаковыми апертурами в пределах угла 2δmax геометрический фактор рассеяния оценивают по формуле
R g 2 δ max 2 . ( 6 )
Figure 00000006
Так, при δmax=10°=0,1745 радиан Rg≈0,0609 и без учета других деполя-ризующих факторов получаем Р≈0.939 и К≈16.4.
В ранних экспериментах с поляризаторами Баркла достигнута поляризация Р порядка 0,9-0,94 и значения параметра К в пределах 10-16.
С увеличением энергии кванта сечение комптоновского рассеяния под углом 90° все больше отличается от нуля, и в области энергии выше 80-100 кэВ ограничение поляризации обусловлено в основном релятивистским фактором Kg. При энергии 100 кэВ достигнуты значения К порядка 5,4.
Порог обнаружения пропорционален корню квадратному от фона под пиком и обратно пропорционален числу импульсов в этом пике.
Коэффициент снижения порогов обнаружения mi определим как отношение порога обнаружения С; в ЭДС к порогу обнаружения Cip ЭДПРС:
m i = C i / C i p = ( B i / B i p ) 1 / 2 ( N i p / N i ) , ( 7 )
Figure 00000007
где Ni, Nip - число импульсов или площади аналитических пиков,
Bi, Bip - число фоновых импульсов под пиками.
Коэффициент повышения контрастности аналитического пика элемента i
Ki=Vip/Vi,
где Vip=Nip/Bip - контрастность пика в ЭДПРС,
Vi=Ni/Bi - контрастность пика в спектрометре ЭДС без поляризации пучка.
Формула (7) приводится к виду
m i = ( K i F ) 1 / 2 . ( 8 )
Figure 00000008
Если не учитывать изменение спектра при поляризации, то Vip≈Vp, Vi≈V, и коэффициент повышения контрастности равен интегральному коэффициенту подавления фона, т.е. Ki≈K.
В эксперименте коэффициент Ki может заметно превысить величину К. Так, в одном из опытов с ЭДПРС контрастность пика брома повышена в 16 раз, а интегральный коэффициент К равен 10. С удалением энергии возбуждения от пика К-серии анода величина К; становится меньше К.
Заменим в (8) Ki коэффициентом К и оценим усредненный коэффициент снижения порогов обнаружения
m K [ ( 1 + V ) / ( 1 + K V ) 1 / 2 . ( 9 )
Figure 00000009
В таблице 1 приведены результаты расчета по формулам (3) и (9) в зависимости от фактора V при значениях К, равных 5, 10 и 20.
Таблица 1
К 5 10 20
V F m F m F m
0 5 5 10 10 20 20
0.01 4.81 4.90 9.18 9.58 16.8 18.3
0.03 4.48 4.73 7.92 8.90 12.9 16.0
0.1 3.67 4.28 5.50 7.42 7.33 12.1
0.3 2.60 3.61 3.25 5.70 3.71 8.62
1 1.67 2.89 1.82 4.26 1.90 6.17
3 1.25 2.50 1.29 3.59 1.31 5.12
10 1.08 2.32 1.09 3.30 1.09 4.68
30 1.01 2.27 1.03 3.21 1.03 4.54
В этой таблице К=(b/n)/(bp/np) - коэффициент подавления фона за счет поляризации;
V=n/b - отношение полезной загрузки к фоновой загрузке, полученное на спектрометре с прямым возбуждением;
F=np/n - максимально возможный без перегрузки детектора коэффициент повышения полезной загрузки за счет поляризации (без учета фильтрации);
m=Cmin/Cp min - усредненный коэффициент снижения порогов обнаружения.
Значения V больше 30 встречаются редко или маловероятны.
Значения К больше 20 возможны на пучке синхротронного излучения. Фильтрация излучения рентгеновской трубки увеличивает контрастности пиков и величины К, F и m, но при этом диапазон одновременно определяемых элементов сужается.
При малой концентрации примесных элементов в пробах с легкой матрицей излучение легких элементов можно подавить за счет фильтрации пучков. При этом V≈0, и порог обнаружения и время измерения снижается настолько, насколько подавляется фон и увеличивается скорость счета аналитических пиков, т.е. m=К=F. В другом предельном случае больших содержаний определяемых и мешающих элементов V>>1, и загрузка практически не увеличивается (F=1), но пороги обнаружения снижаются в m≈К1/2 раз.
Итак, при изменении V от нуля до V>>1 пороги обнаружения снижаются от К до К1/2, коэффициент F повышения полезной загрузки изменяется в пределах от F≈К до F=1.
Время измерения уменьшается пропорционально величине F.
Реально достижимый коэффициент увеличения полезной загрузки F зависит от соотношения светосил спектрометров и мощностей источников и оптимальной загрузки nd детектора.
Размеры мишени и образца (цилиндра и сферы) жестко не связаны, источник и мишень удалены по высоте от плоскости держателя образца. Это облегчает компоновку узлов при использовании мощных рентгеновских трубок с большими габаритами анодной части, корпуса и защиты от излучения.
Горизонтальное расположение образца и малые размеры коллиматора детектора позволяет свободно разместить держатель с образцом большого размера и организовать смену образцов.
Вогнутые по сфере образцы можно вращать без нарушения ортогональности траектории квантов для улучшения воспроизводимости и повышения представительности анализов.
Чем больше радиусы цилиндра и сферы по сравнению с размерами отверстия диафрагмы и детектора, тем больше поляризация и меньше светосила.
Повышенная мощность источника с линейным фокусом позволяет использовать фильтр и облучать образец квазимонохроматическим поляризованным излучением высокой энергии. Подавление тормозного излучения малой энергии за счет дополнительной фильтрации позволяет использовать источник излучения большой мощности без перегрузки детектора. При большом запасе мощности источника можно повысить поляризацию, обеспечив более жесткую коллимацию и фильтрацию пучков, увеличить за счет этого параметры F и К, и в конечном счете уменьшить пороги обнаружения и время измерения.
Преимущества ЭДПРС наиболее заметны в случае анализа малых концентраций примесных элементов в пробах с легкой матрицей (при V<<1). К таким пробам относятся растения, почвы, золы, шлаки, нефтепродукты, водные растворы, пластмассы, легкие сплавы и значительная часть горных пород и руд. Возможности одновременного анализа на ЭДПРС примесных элементов заметно расширяются. В геологических пробах можно определять 50 и более элементов в 1-3 приема, что затруднительно при использовании спектрометра прямого возбуждения.
Упрощена форма мишени. Изготовить мишень в виде части цилиндра проще, чем в виде сферы. Упрощен также коллиматор детектора, уменьшены его размеры. Образцы с вогнутой по сегменту сферы рабочей поверхностью ограниченной глубины также просто готовить.
Нет необходимости использования детектора большой длины, сравнимой с размерами образца. Уменьшение размера детектора отражается в увеличении величины nd в формуле (1). Современные детекторы оптимального размера обеспечивают высокую загрузку и приемлемую эффективность.
Таким образом, обеспечена возможность поляризации излучения источника с линейным фокусом повышенной мощности и анализа представительной массы образца с использованием детектора ограниченных размеров, увеличения скорости счета полезного излучения, снижения порогов обнаружения и сокращения времени измерения. Упрощен коллиматор детектора, уменьшены его размеры.

Claims (3)

1. Энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр, содержащий источник гамма или рентгеновского излучения, вогнутую мишень, диафрагму с отверстием, держатель образца, детектор с коллиматором, направленным на образец, и регистрирующую аппаратуру, вход которой соединен с выходом детектора, отличающийся тем, что использован источник излучения с линейным фокусом, мишень вогнута по цилиндру, фокус источника расположен на образующей цилиндра, детектор и отверстие диафрагмы расположены, во-первых, на образующей цилиндра, диаметрально противоположной источнику, во-вторых, в диаметрально противоположных точках сферы, при этом сфера смещена в сторону детектора от мишени, а держатель образца выполнен с возможностью установки образца на этой сфере под вторичное излучение, прошедшее через отверстие диафрагмы, кроме того, введен коллиматор первичного пучка с плоскопараллельными каналами, перпендикулярными оси цилиндра.
2. Энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр по п.1, отличающийся тем, что держатель образца выполнен с возможностью установки образца с вогнутой по сегменту сферы рабочей поверхностью симметрично относительно отверстия диафрагмы и детектора.
3. Энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр по п.1, отличающийся тем, что коллиматор детектора выполнен с эллиптическим отверстием.
RU2012113589/28A 2012-04-06 2012-04-06 Энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр RU2494382C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012113589/28A RU2494382C1 (ru) 2012-04-06 2012-04-06 Энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012113589/28A RU2494382C1 (ru) 2012-04-06 2012-04-06 Энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2494382C1 true RU2494382C1 (ru) 2013-09-27

Family

ID=49254138

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012113589/28A RU2494382C1 (ru) 2012-04-06 2012-04-06 Энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2494382C1 (ru)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3624394A (en) * 1969-05-02 1971-11-30 Atlantic Richfield Co Automatic sample changer for x-ray fluorescence spectrometer
SU1045094A1 (ru) * 1982-05-04 1983-09-30 Научно-исследовательский институт ядерной физики при Томском политехническом институте им.С.М.Кирова Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа вещества
RU2130604C1 (ru) * 1997-03-27 1999-05-20 Геологический институт СО РАН Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа
US20030053589A1 (en) * 2001-09-18 2003-03-20 Akihiro Ikeshita Sample preprocessing system for a fluorescent X-ray analysis and X-ray fluorescence spectrometric system using the same
JP2003161709A (ja) * 2001-11-27 2003-06-06 Rigaku Industrial Co 蛍光x線分析装置の試料回転機構
RU2397481C1 (ru) * 2009-07-22 2010-08-20 Геологический институт Сибирского отделения Российской Академии Наук Рентгеновский спектрометр

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3624394A (en) * 1969-05-02 1971-11-30 Atlantic Richfield Co Automatic sample changer for x-ray fluorescence spectrometer
SU1045094A1 (ru) * 1982-05-04 1983-09-30 Научно-исследовательский институт ядерной физики при Томском политехническом институте им.С.М.Кирова Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа вещества
RU2130604C1 (ru) * 1997-03-27 1999-05-20 Геологический институт СО РАН Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа
US20030053589A1 (en) * 2001-09-18 2003-03-20 Akihiro Ikeshita Sample preprocessing system for a fluorescent X-ray analysis and X-ray fluorescence spectrometric system using the same
JP2003161709A (ja) * 2001-11-27 2003-06-06 Rigaku Industrial Co 蛍光x線分析装置の試料回転機構
RU2397481C1 (ru) * 2009-07-22 2010-08-20 Геологический институт Сибирского отделения Российской Академии Наук Рентгеновский спектрометр

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Shackley An introduction to X-ray fluorescence (XRF) analysis in archaeology
RU2397481C1 (ru) Рентгеновский спектрометр
Ding et al. Monolithic polycapillary X-ray optics engineered to meet a wide range of applications
FI125488B (en) Wavelength dispersion spectrometer, X-ray fluorescence apparatus and method
Pessanha et al. A novel portable energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer with triaxial geometry
US4417355A (en) X-Ray fluorescence spectrometer
SU1045094A1 (ru) Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа вещества
RU2130604C1 (ru) Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа
Gao et al. 3.3 Polycapillary X-ray Optics
US6487269B2 (en) Apparatus for analysing a sample
JP2002189004A (ja) X線分析装置
Streli et al. Total reflection X-ray fluorescence analysis of light elements using synchrotron radiation
RU2494382C1 (ru) Энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр
Harada et al. K-line X-ray fluorescence analysis of high-Z elements
Török et al. Comparison of nuclear and X-ray techniques for actinide analysis of environmental hot particles
Ryon et al. Improved X-ray fluorescence capabilities by excitation with high intensity polarized X-rays
Injuk et al. Performance and characteristics of two total-reflection X-ray fluorescence and a particle induced X-ray emission setup for aerosol analysis
RU2494381C1 (ru) Поляризационный спектрометр
Sa'adeh et al. Atmospheric aerosol analysis at the PIXE–RBS beamline in the University of Jordan Van de Graaff accelerator (JUVAC)
Kolmogorov et al. Analytical potential of EDXRF using toroidal focusing systems of highly oriented pyrolytic graphite (HOPG)
RU2614318C1 (ru) Рентгеновский анализатор золота и тяжелых элементов
Jenkins et al. Instrumental factors in the detection of low concentrations by X-ray fluorescence spectrometry
Pallon A forward scattering technique for the determination of target thickness
Mikhailov et al. Detection limits of impurities in a light filler in an X-ray fluorescent arrangement with a secondary target
Tsuji et al. Characterization of x‐rays emerging from between reflector and sample carrier in reflector‐assisted TXRF analysis