RU2462784C1 - Способ электронной литографии - Google Patents

Способ электронной литографии Download PDF

Info

Publication number
RU2462784C1
RU2462784C1 RU2011112352/07A RU2011112352A RU2462784C1 RU 2462784 C1 RU2462784 C1 RU 2462784C1 RU 2011112352/07 A RU2011112352/07 A RU 2011112352/07A RU 2011112352 A RU2011112352 A RU 2011112352A RU 2462784 C1 RU2462784 C1 RU 2462784C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
cathode
mask
electron emission
anode
materials
Prior art date
Application number
RU2011112352/07A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Игоревич Марголин (RU)
Владимир Игоревич Марголин
Александр Иванович Мамыкин (RU)
Александр Иванович Мамыкин
Максим Сергеевич Потехин (RU)
Максим Сергеевич Потехин
Виктор Анатольевич Тупик (RU)
Виктор Анатольевич Тупик
Виктор Николаевич Шелудько (RU)
Виктор Николаевич Шелудько
Original Assignee
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" filed Critical Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ"
Priority to RU2011112352/07A priority Critical patent/RU2462784C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2462784C1 publication Critical patent/RU2462784C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

Способ электронной литографии относится к способам нанесения рисунков в технологии изготовления полупроводниковых устройств. Способ реализуется путем переноса изображения с катода-маски электронами вторичной электронной эмиссии на резист, подложка которого соединена с анодом. Особенностью является то, что технологическую камеру заполняют рабочим газом, в прикатодной области создают тлеющий разряд за счет использования дополнительного электрода, электрически соединенного с анодом. При этом катод-маску выполняют из материалов с разными коэффициентами вторичной ионно-электронной эмиссии. Параметры тлеющего разряда выбирают из условия существования вторичной ионно-электронной эмиссии с обоих материалов катода-маски. Технический результат - повышение срока службы катода-маски. 1 з.п. ф-лы, 4 ил.

Description

Изобретение относится к области электронных технологий, а именно к способам нанесения рисунков в технологии изготовления полупроводниковых устройств.
Существуют два основных способа формирования изображения при изготовлении микроэлектронных полупроводниковых устройств - это электронная и оптическая литографии. В настоящее время оптическая литография занимает лидирующее положение, но метод уже находится вблизи порога, за которым дальнейшее увеличение разрешения будет практически невозможно из-за большой длины волны используемого электромагнитного излучения, включая глубокий ультрафиолет, и экономически невыгодно.
Известен термоэмиссионный проекционный способ электронной литографии, в котором источником электронов является термоэмиссия катода-маски, и устройство, реализующее этот способ (Сатаров Г.Х., Котенев Б.И., Гаряева Г.О. и др. Электронно-проекционная установка // Материалы Всесоюзной конф. "Электронная литография и ее применение в микроэлектронике" - ЦНИИ Электроника, М.: 1976. - С.13-14.). Способ реализуется в технологической камере в которой установлены термокатод-маска, разные участки которого выполнены из материалов с различными коэффициентами вторичной термоэмиссии электронов, и анод, соединенный со слоем резиста, взаимодействующего с эммитируемыми маской электронами. С внешней стороны камеры установлена система коррекции изображения, воздействующая на эммитируемые маской электроны.
При нагреве катода-маски до рабочих температур, соответствующих термоэмиссии электронов (сотни градусов Цельсия), эммитируемые электроны ускоряются прикладываемым электрическим полем и засвечивают подложку с резистом Недостаток такого метода заключается в необходимости использования самой термоэмиссии электронов, что требует, во-первых, прецизионного соблюдения температурного режима по всей площади катода-маски (а это 300 мм в современных условиях и 450 мм в перспективе). Во-вторых, это приводит, при таких температурах, к неконтролируемому уходу размеров элементов изображения, что недопустимо в субмикронной технологии и, тем более, в нанотехнологии. К тому же, ввиду трудностей с обеспечением равномерного и прецизионного нагрева по всей площади катода, уход размеров в разных местах термокатода будет различным.
Наиболее близким по совокупности существенных признаков к заявляемому способу является способ, проекционной электронной литографии на основе электронной фотоэмиссии (Пат. 4954717 США, МКИ5 Н01J 40/06 Photoelectron mask and photo cathode image projection method using the same / приор. 15.17.87). Способ основывается на использовании фотокатода-маски, на рабочей поверхности которого сформирован требуемый рисунок из материала, с высоким коэффициентом фотоэмиссии электронов. С обратной стороны катода-маски, прозрачного для ультрафиолетового излучения, катод облучается ультрафиолетовым излучением, а электроны вторичной электронной эмиссии ускоряются однородным электрическим полем и транспортируются к подложке с резистом, установленной на аноде, и ее засвечивают.
Основным недостатком этого способа является малый срок службы используемых катодов - не более 5-10 экспозиций. Это объясняется тем, что материалы, используемые в качестве фотоэмиттеров весьма чувствительны к атмосфере остаточных газов и различных загрязнений, неизбежно присутствующих в колонне Электронолитографической установки и отравляющих фотокатод. Материалы, позволяющие использовать данный способ в практических целях, к настоящему времени неизвестны.
Задачей, решаемой изобретением, является разработка способа электронной литографии для больших интегральных схем с большим сроком службы фотокатода-маски.
Поставленная задача решается за счет того, что предлагаемый способ электронной литографии, так же как и известный, осуществляют путем переноса изображения с катода-маски электронами вторичной электронной эмиссии на резист, подложка которого соединена с анодом. Но, в отличие от известного, в предлагаемом способе катод-маску выполняют из материалов с различными коэффициентами вторичной ионно-электронной эмиссии, анодно-катодный промежуток заполняют инертным газом или аргоном и в прикатодной области создают тлеющий разряд за счет установки дополнительного электрода, электрически соединенного с анодом, причем величины давления инертного газа и напряжения выбирают из условия создания вторичной ионно-электронной эмиссии с обоих материалов катода-маски.
Достигаемый технический результат - увеличение числа экспонирований предлагаемым способом без замены катода-маски.
Время использования катода-маски увеличивается за счет использования тлеющего разряда, при котором время для экспонирования резиста сокращается до 10-3-10-4 сек, т.е. на несколько порядков меньше, чем в известном способе электронной литографии на основе фотоэмиссии. Это приводит к необходимости уменьшения рабочего тока.
Для увеличения четкости изображения следует выбирать материалы с разницей в коэффициентах вторичной ионно-электронной эмиссии как можно большей.
Совокупность признаков, сформулированных в пункте 2 формулы полезной модели, характеризует способ электронной фотолитографии, в котором давление рабочего газа (инертного газа или аргона) выбирают в пределах 1,33-13,3 Па.
В основе работы устройства лежат следующие физические процессы.
Между катодом и вспомогательным электродом в рабочей камере зажигается высоковольтный разряд. Положительные ионы, образованные в разряде, пересекают границу области катодного падения напряжения, ускоряются в этой области и бомбардируют катод-маску, изготовленную из материалов с различным коэффициентом вторичной ионно-электронной эмиссии (КВИЭЭ). В результате различия КВИЭЭ для различных участков поверхности катода-маски электронный поток промодулирован по плотности, т.е. распределение плотности тока вторичных электронов в сечениях, параллельных поверхности катода, будет соответствовать заданной топологии. Чем больше различие в КВИЭЭ, тем больше будет контраст в засветке различных участков подложки.
Ускоренные в прикатодном слое электроны пересекают газоразрядный промежуток, испытывая малое число упругих и неупругих соударений с атомами рабочего газа. Электроны бомбардируют обрабатываемую подложку со слоем резиста, формируя в резисте скрытое изображение. Магнитное поле может использоваться для поворота, масштабирования и совмещения изображения. Высоковольтный тлеющий разряд характеризуется относительно большой плотностью тока и областью с высоким падением напряжения, в которой электроны ускоряются до энергий, необходимых для инициации физико-химических превращений в материале резиста. Наиболее существенной характерной чертой высоковольтного тлеющего разряда является нерассеянная компонента электронов высоких энергий, которая может быть использована для переноса изображения в электронах. Проблема заключается в модуляции электронного потока по плотности тока в соответствии с графикой переносимого изображения, что может быть реализовано за счет различия в КВИЭЭ с разных участков катода в установке с высоковольтным тлеющим разрядом. В настоящее время известны материалы с различием КВИЭЭ более чем на порядок, из которых может быть сформирована рабочая пара. КВИЭЭ для монокристаллических диэлектриков более чем в десять раз превышает эмиссию с чистых металлов. Такая разница в эмиссионных свойствах позволяет гарантированно обеспечить необходимый контраст в современных электронорезистах и обеспечить перенос изображения с катода-маски,
Изобретение поясняется чертежами, где на фиг.1 приведен пример выполнения устройства, в котором может быть реализован предлагаемый способ электронной литографии; на фиг.2 показана зависимость КВИЭЭ от энергии ионов рабочего газа; на фиг.3 и 4 приведены вольтамперные характеристики тлеющего разряда в зависимости от давления и положения дополнительного электрода относительно катода.
Устройство для электронной литографии содержит технологическую камеру 1, в которой расположены катод-маска 2, анод 3, вспомогательный электрод 4 с отверстием 5, электрически соединенный с анодом. Дополнительный электрод обеспечивает создание тлеющего разряда. Снаружи технологической камеры установлена электромагнитная система 6 в виде катушек, длина которых больше толщины. На аноде 3 размещают подложку со слоем резиста 7. Катод-маска 2 выполнен из материалов с различным коэффициентом вторичной ионно-электронной эмиссии (КВИЭЭ).
Предлагаемый способ реализуется следующим образом. На катоде-маске 2 методом, например, электронной литографии остросфокусированным пучком нанесен рисунок изображения, которое необходимо получить на подложке. Материалы монолита катода и эммитирующего слоя рисунка подбираются с максимальной разницей КВИЭЭ, за счет чего обеспечивается максимальная модуляция электронного потока по плотности. На фиг.2 приведен график, иллюстрирующий зависимость КВИЭЭ от энергии рабочего газа - водорода для материалов: чистый молибден (1), монокристалл KBr (2) и керамика (3), из которых видно, что наибольшую разницу, примерно на порядок, в величинах КВИЭЭ имеют монокристалл KBr и молибден. Камера 1 откачивается до максимально возможного вакуума и в нее напускается рабочий газ, например Аr, до давления 1,33-20 Па в зависимости от условий эксперимента. При выборе газа следует руководствоваться следующими соображениями. Инертные газы и аргон обеспечивают безопасность работы. Водород достаточно агрессивен, в смеси с кислородом образует гремучий газ, но он обладает малой массой, что позволяет более точно управлять параметрами процесса. Малые величины давления выбирают для тех случаев, когда требуется большое время экспозиции. Оно увеличивается за счет снижения эффективности тлеющего разряда. С повышением давления эффективность разряда увеличивается. На фиг.3 и 4 приведены вольтамперные характеристики тлеющего разряда в зависимости от давления и положения дополнительного электрода относительно катода, где d - расстояние дополнительного электрода от катода; р - давление рабочего газа. Требуемые параметры тлеющего разряда выбирают путем выбора величин рабочего напряжения, давления рабочего газа, положения дополнительного электрода 4 относительно катода-маски 2.
Между катодом-маской 2 и вспомогательным электродом 4 зажигается высоковольтный тлеющий разряд и положительные ионы, образованные в разряде, пересекают границу области катодного падения напряжения, ускоряются в этой области и бомбардируют катод-маску. В результате различия КВИЭЭ для разных участков поверхности катода-маски распределение плотности тока вторичных электронов в сечениях, параллельных поверхности катода, будет соответствовать рисунку изображения. Быстрые электроны бомбардируют обрабатываемую подложку со слоем резиста 7, формируя в резисте скрытое изображение. Поскольку изображение каждой точки получается на той же силовой линии, на которой лежит сама точка источника заряженных частиц, а все силовые линии в однородном магнитном поле параллельны друг другу, изображение источника будет совпадать по величине с самим источником. Контраст изображения определяется главным образом соотношением коэффициентов ионно-электронной эмисссии различных участков поверхности катода, а также отношением плотностей токов быстрых и медленных электронов, поступающих на резист.
Расчеты и эксперименты показывают следующие результаты. При плотностях тока высоковольтного тлеющего разряда 10-2-10-3 А/см2 в системе ионно-электронной литографии для экспонирования резиста типа ПММА требуется время порядка 10-3-10-4 сек, что в 103-104 раз меньше, чем потребное время экспозиции в системе проекционной электронной литографии. Это приводит к необходимости уменьшать рабочие токи.
Заметное распыление катода (на глубину порядка 50 нм) и искажение рисунка при реализации предлагаемого способа начинают проявляться не ранее, чем через 105 экспозиций, что на 2-3 порядка превышает число допустимых экспозиций в системе проекционной электронной литографии.

Claims (2)

1. Способ электронной литографии путем переноса изображения с катода-маски электронами вторичной электронной эмиссии на резист, подложка которого соединена с анодом, отличающийся тем, что катод-маску выполняют из материалов с различными коэффициентами вторичной ионно-электронной эмиссии, анодно-катодный промежуток заполняют инертным газом и в прикатодной области создают тлеющий разряд за счет установки дополнительного электрода, электрически соединенного с анодом, причем величины давления инертного газа, положения дополнительного электрода и напряжения выбирают из условия создания вторичной ионно-электронной эмиссии с обоих материалов катода-маски.
2. Способ электронной литографии по п.1, отличающийся тем, что величину давления рабочего газа выбирают в пределах 1,33-20 Па.
RU2011112352/07A 2011-03-31 2011-03-31 Способ электронной литографии RU2462784C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011112352/07A RU2462784C1 (ru) 2011-03-31 2011-03-31 Способ электронной литографии

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011112352/07A RU2462784C1 (ru) 2011-03-31 2011-03-31 Способ электронной литографии

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2462784C1 true RU2462784C1 (ru) 2012-09-27

Family

ID=47078618

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011112352/07A RU2462784C1 (ru) 2011-03-31 2011-03-31 Способ электронной литографии

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2462784C1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2691955C2 (ru) * 2014-02-21 2019-06-19 АСМЛ Недерландс Б.В. Коррекция эффекта близости в системе для литографии пучками заряженных частиц
RU218186U1 (ru) * 2023-02-27 2023-05-16 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина)" Устройство электронной литографии

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4954717A (en) * 1987-12-15 1990-09-04 Fujitsu Limited Photoelectron mask and photo cathode image projection method using the same
RU2183040C1 (ru) * 2001-03-16 2002-05-27 Общество с ограниченной ответственностью "Центр прикладных исследований" Устройство проекционной электронно-лучевой литографии
EP1617290A1 (en) * 2004-07-13 2006-01-18 International Business Machines Corporation Apparatus and method for maskless lithography
RU2334261C2 (ru) * 2003-02-26 2008-09-20 Гизеке Унд Девриент Гмбх Способ изготовления подложки с резистом

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4954717A (en) * 1987-12-15 1990-09-04 Fujitsu Limited Photoelectron mask and photo cathode image projection method using the same
RU2183040C1 (ru) * 2001-03-16 2002-05-27 Общество с ограниченной ответственностью "Центр прикладных исследований" Устройство проекционной электронно-лучевой литографии
RU2334261C2 (ru) * 2003-02-26 2008-09-20 Гизеке Унд Девриент Гмбх Способ изготовления подложки с резистом
EP1617290A1 (en) * 2004-07-13 2006-01-18 International Business Machines Corporation Apparatus and method for maskless lithography

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2691955C2 (ru) * 2014-02-21 2019-06-19 АСМЛ Недерландс Б.В. Коррекция эффекта близости в системе для литографии пучками заряженных частиц
RU218186U1 (ru) * 2023-02-27 2023-05-16 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина)" Устройство электронной литографии

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7425716B2 (en) Method and apparatus for reducing charge density on a dielectric coated substrate after exposure to a large area electron beam
TWI671778B (zh) 離子束裝置、離子植入裝置、離子束放出方法
KR100895630B1 (ko) 전자빔 방출장치
US10796878B2 (en) Repeller, cathode, chamber wall and slit member for ion implanter and ion generating devices including the same
TWI357089B (en) Vacuum reaction chamber with x-lamp heater
RU2462784C1 (ru) Способ электронной литографии
US20040159638A1 (en) Clean process for an electron beam source
Livesay Large‐area electron‐beam source
RU109327U1 (ru) Устройство электронной литографии
US7790583B2 (en) Clean process for an electron beam source
JP5242055B2 (ja) 電子ビーム処理装置の稼動方法
JP5622081B2 (ja) プラズマ光源
JP2011054729A (ja) プラズマ光源
US6787788B2 (en) Electrode insulator materials for use in extreme ultraviolet electric discharge sources
RU218186U1 (ru) Устройство электронной литографии
JP5590305B2 (ja) プラズマ光源とプラズマ光発生方法
Bokhan et al. Current–voltage characteristics and mechanisms of electron emission from cold cathodes in a helium discharge
RU2716825C1 (ru) Устройство и способ формирования пучков многозарядных ионов
JP5733687B2 (ja) プラズマ光源の製造方法
JPS6120332A (ja) X線発生装置およびこれを用いたx線リソグラフイ装置
KR101939558B1 (ko) 반도체 제조용 이온주입장치의 전자 에미터
Yafarov et al. Durability of High-Current Field Sources of Electrons Based on Nanocomposite Diamond-Graphite Film Structures
JP5757112B2 (ja) プラズマ光源の製造方法
RU1580852C (ru) Способ обработки поверхностей диэлектрических мишеней в вакууме
US9196452B2 (en) Methods and apparatus for carbon ion source head

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20180401