RU2456714C1 - Semiconductor article and workpiece for making said article - Google Patents
Semiconductor article and workpiece for making said article Download PDFInfo
- Publication number
- RU2456714C1 RU2456714C1 RU2011114019/28A RU2011114019A RU2456714C1 RU 2456714 C1 RU2456714 C1 RU 2456714C1 RU 2011114019/28 A RU2011114019/28 A RU 2011114019/28A RU 2011114019 A RU2011114019 A RU 2011114019A RU 2456714 C1 RU2456714 C1 RU 2456714C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- specified
- parallel
- polygon
- layers
- crystalline material
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 45
- 239000002178 crystalline material Substances 0.000 claims abstract description 30
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000007017 scission Effects 0.000 claims abstract description 20
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 7
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 6
- 239000012799 electrically-conductive coating Substances 0.000 claims description 5
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000012772 electrical insulation material Substances 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 230000005679 Peltier effect Effects 0.000 description 1
- 230000005678 Seebeck effect Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
Description
ОБЛАСТЬ ТЕХНИКИFIELD OF TECHNOLOGY
Изобретение относится к полупроводниковой технике и, более конкретно, к полупроводниковым изделиям из кристаллических материалов, предназначенным для термоэлектрических устройств, основанных на эффектах Пельтье и Зеебека, а именно термоэлектрических генераторов, охлаждающих и нагревательных устройств.The invention relates to semiconductor technology and, more specifically, to semiconductor products of crystalline materials intended for thermoelectric devices based on Peltier and Seebeck effects, namely thermoelectric generators, cooling and heating devices.
ПРЕДШЕСТВУЮЩИЙ УРОВЕНЬ ТЕХНИКИBACKGROUND OF THE INVENTION
Известны полупроводниковые изделия, преимущественно для термоэлектрических устройств, имеющие два, по существу, параллельных плоских торца, предназначенных для соединения с электродами, и, по существу, перпендикулярную им боковую поверхность с несколькими гранями, изготовленные из кристаллического материала со слоистой структурой, имеющей плоскости спайности между слоями, по существу, перпендикулярные указанным параллельным плоским торцам, и имеющие в сечении, параллельном указанным плоским торцам, форму многоугольника, в частности - прямоугольника (RU 2120684 С1, 1998). В этих известных полупроводниковых изделиях все плоскости спайности между слоями кристаллического матриала расположены под углами не более 7° к параллельным боковым граням. Известны также аналогичные полупроводниковые изделия, в которых плоскости спайности между слоями кристаллического матриала расположены под углами не более 10° к параллельным боковым граням (WO 98/31056 А1, 1998, RU 2160484 C2, 2000).Semiconductor products are known, mainly for thermoelectric devices, having two essentially parallel flat ends intended for connection with electrodes, and a substantially lateral surface with several faces perpendicular to them, made of a crystalline material with a layered structure having cleavage planes between layers essentially perpendicular to the specified parallel flat ends, and having in cross section parallel to the specified flat ends, the shape of a polygon, in particular - rectangle (RU 2120684 C1, 1998). In these known semiconductor products, all cleavage planes between the layers of the crystalline material are located at angles of not more than 7 ° to the parallel side faces. Similar semiconductor products are also known in which the cleavage planes between the layers of the crystalline material are located at angles of not more than 10 ° to parallel side faces (WO 98/31056 A1, 1998, RU 2160484 C2, 2000).
Указанные известные полупроводниковые кристаллические изделия хрупки и могут растрескиваться по границам слоев кристаллического материала, проходящим по плоскостям спайности, не только под действием тепловых и механических напряжений, возникающих при работе термоэлектрических устройств, но также при транспортировке изделий до их установки в термоэлектрические устройства и при сборке термоэлектрических устройств. Если растрескивание указанных известных полупроводниковых кристаллических изделий, имеющих плоскости спайности между слоями кристаллического материала, расположенные перпендикулярно торцам, соединенным с электродами, после сборки не вызывает существенного ухудшения работы термоэлектрических устройств, то растрескивание таких изделий при транспортировке и сборке недопустимо.These known semiconductor crystalline products are fragile and can crack along the boundaries of the layers of crystalline material passing along the cleavage planes, not only under the influence of thermal and mechanical stresses arising from the operation of thermoelectric devices, but also during transportation of products prior to their installation in thermoelectric devices and during assembly of thermoelectric devices. If cracking of these known semiconductor crystalline products having cleavage planes between layers of crystalline material perpendicular to the ends connected to the electrodes after assembly does not cause a significant deterioration in the operation of thermoelectric devices, then cracking of such products during transportation and assembly is unacceptable.
РАСКРЫТИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯSUMMARY OF THE INVENTION
Задачей настоящего изобретения является создание полупроводниковых изделий, преимущественно для термоэлектрических устройств, обладающих повышенными прочностными качествами, а также создание заготовок для изготовления таких полупроводниковых изделий.The present invention is the creation of semiconductor products, mainly for thermoelectric devices with high strength properties, as well as the creation of blanks for the manufacture of such semiconductor products.
Эта задача решена тем, что в полупроводниковом изделии, преимущественно для термоэлектрических устройств, имеющем два параллельных плоских торца, предназначенных для соединения с электродами, и перпендикулярную им боковую поверхность с несколькими гранями, изготовленном из кристаллического материала со слоистой структурой, имеющей плоскости спайности между слоями, перпендикулярные параллельным плоским торцам, и имеющем в сечении, параллельном плоским торцам, форму многоугольника, согласно изобретению плоскости спайности между слоями кристаллического материала расположены параллельно диагонали указанного многоугольника. Такое выполнение уменьшает возможность растрескивания полупроводникового изделия и повышает его прочность.This problem is solved in that in a semiconductor product, mainly for thermoelectric devices, having two parallel flat ends intended for connection with electrodes, and a side surface perpendicular to them with several faces, made of crystalline material with a layered structure having cleavage planes between the layers, perpendicular to parallel flat ends, and having in cross section parallel to flat ends, the shape of a polygon, according to the invention, the cleavage plane between the layer mi crystalline material are parallel to the diagonal of the specified polygon. This embodiment reduces the possibility of cracking of the semiconductor product and increases its strength.
Углы многоугольника, расположенные против диагонали, могут быть скруглены. Такое выполнение дополнительно уменьшает возможность растрескивания полупроводникового изделия.Polygon angles located opposite the diagonal can be rounded. This embodiment further reduces the possibility of cracking of the semiconductor product.
Боковая поверхность полупроводникового изделия может быть свободна от разрушающей обработки и может быть покрыта электроизоляционным материалом.The side surface of the semiconductor product may be free from destructive treatment and may be coated with electrical insulating material.
На параллельные плоские торцы полупроводникового изделия может быть нанесено электропроводное покрытие.An electrically conductive coating may be applied to the parallel flat ends of the semiconductor product.
Заготовка для изготовления полупроводниковых изделий, преимущественно для термоэлектрических устройств, выполненная из кристаллического материала со слоистой структурой, имеющей плоскости спайности между слоями, согласно изобретению выполнена в виде стержня с прямолинейной осью, имеющего боковую поверхность с несколькими гранями и имеющего в сечении, перпендикулярном оси стержня, форму многоугольника, при этом плоскости спайности между слоями кристаллического материала расположены параллельно оси стержня и параллельно диагонали многоугольника.A workpiece for the manufacture of semiconductor products, mainly for thermoelectric devices, made of a crystalline material with a layered structure having cleavage planes between the layers, according to the invention is made in the form of a rod with a rectilinear axis, having a side surface with several faces and having a section perpendicular to the axis of the rod, the shape of the polygon, while the cleavage planes between the layers of crystalline material are parallel to the axis of the rod and parallel to the diagonal polygon.
Углы многоугольника, расположенные против его диагонали, могут быть скруглены.The corners of the polygon located opposite its diagonal can be rounded.
Боковая поверхность заготовки может быть покрыта электроизоляционным материалом.The side surface of the workpiece may be coated with electrical insulating material.
Далее настоящие изобретения раскрыты на примерах осуществления с ссылками на приложенные чертежи.Further, the present invention is disclosed in exemplary embodiments with reference to the attached drawings.
КРАТКОЕ ОПИСАНИЕ ЧЕРТЕЖЕЙBRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS
На приложенных чертежах изображено:The attached drawings show:
на фиг 1 - вид сбоку первого варианта полупроводникового изделия согласно настоящему изобретению;Fig. 1 is a side view of a first embodiment of a semiconductor product according to the present invention;
на фиг.2 - сечение А-А на фиг 1;figure 2 is a section aa in figure 1;
на фиг.3 - вид сбоку второго варианта полупроводникового изделия согласно настоящему изобретению;figure 3 is a side view of a second embodiment of a semiconductor product according to the present invention;
на фиг.4 - сечение В-В на фиг 3;figure 4 - section bb in figure 3;
на фиг.5 - заготовка для изготовления полупроводникового изделия согласно настоящему изобретению, первый вариант - общий вид;figure 5 - blank for the manufacture of a semiconductor product according to the present invention, the first option is a General view;
на фиг.6 - сечение С-С на фиг 5;figure 6 is a section CC in figure 5;
на фиг.7 - заготовка для изготовления полупроводникового изделия согласно настоящему изобретению, второй вариант - общий вид;7 is a blank for the manufacture of a semiconductor product according to the present invention, the second option is a General view;
на фиг.8 - сечение D-D на фиг 7.on Fig - section D-D in Fig 7.
на фиг.9 - форма (контейнер) для получения заготовки, показанной на фиг.5, в продольном разрезе;figure 9 is a form (container) for receiving the workpiece shown in figure 5, in longitudinal section;
на фиг.10 - разрез Е-Е на фиг.9.figure 10 is a section EE in figure 9.
ВАРИАНТЫ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ ИЗОБРЕТЕНИЯMODES FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Показанное на фиг.1 полупроводниковое изделие 1а (первый вариант), предназначенное для термоэлектрических устройств (не показаны), имеет два параллельных плоских торца 2 и 3 и перпендикулярную им боковую поверхность 4. Торцы 2 и 3 предназначены для соединения с электродами термоэлектрического устройства (не показаны). В поперечном сечении А-А, параллельном торцам 2 и 3 (фиг.2), полупроводниковое изделие 1а имеет форму многоугольника, а именно - четырехугольника (на фиг.2 показан квадрат, однако полупроводниковое изделие 1а в поперечном сечении А-А может иметь другую форму, например форму прямоугольника с разными по длине сторонами или параллелограмма, а том числе ромба - на чертежах не показаны). Боковая поверхность 4 имеет четыре грани 5а, 5b, 5c, 5d.The semiconductor product 1a shown in FIG. 1 (the first embodiment), intended for thermoelectric devices (not shown), has two parallel
Полупроводниковое изделие la изготовлено из кристаллического материала со слоистой структурой, имеющей между слоями 6а, 6b, 6с, 6d, 6е, 6f плоскости спайности 7a, 7b, 7c, 7d, 7e, которые перпендикулярны торцам 2 и 3 и расположены параллельно диагонали 8 четырехугольника, показанной пунктирной линией (фиг.2) и проходящей между углами 9а, 9с четырехугольника. Два остальных угла 9b, 9d четырехугольника, расположенные против диагонали 8, скруглены (фиг.2). На фиг.2 условно показаны шесть слоев кристаллического материала, из которого изготовлено полупроводниковое изделие 1а, однако количество слоев кристаллического материала может быть иным (на фиг.2 не показано).The semiconductor product la is made of a crystalline material with a layered structure having
Боковая поверхность 4 полупроводникового изделия 1а свободна от разрушающей обработки и покрыта слоем 10 электроизоляционного материала (фиг.2). На торцы 2, 3 полупроводникового изделия 1а нанесено электропроводное покрытие 11a, 11b.The
Показанное на фиг.3 полупроводниковое изделие 1b (второй вариант), предназначенное для термоэлектрических устройств (не показаны), имеет два параллельных плоских торца 2 и 3 и перпендикулярную им боковую поверхность 4. Торцы 2 и 3 предназначены дня соединения с электродами термоэлектрического устройства (не показаны). В поперечном сечении В-В, параллельном торцам 2 и 3 (фиг.4), полупроводниковое изделие 1b имеет форму многоугольника, а именно - шестиугольника. Боковая поверхность 4 имеет шесть граней 5а, 5b, 5c, 5d, 5e, 5f. Полупроводниковое изделие 1b изготовлено из кристаллического материала со слоистой структурой, имеющей между слоями 6а, 6b, 6с, 6d, 6е, 6f плоскости спайности 7а, 7b, 7c, 7d, 7e, которые перпендикулярны торцам 2 и 3 и расположены параллельно диагонали 8 шестиугольника, показанной пунктирной линией (фиг.4) и проходящей между углами 9а, 9d четырехугольника. Четыре остальных угла 9b, 9с, 9е, 9f шестиугольника, расположенные против диагонали 8, скруглены (фиг.4). На фиг.4 условно показаны шесть слоев кристаллического материала, из которого изготовлено полупроводниковое изделие 1b, однако количество слоев кристаллического материала может быть иным (на фиг.4 не показано).The
Боковая поверхность 4 полупроводникового изделия 1b свободна от разрушающей обработки и покрыта слоем 10 электроизоляционного материала (фиг.4). На торцы 2, 3 полупроводникового изделия 1b нанесено электропроводное покрытие 11а, 11b.The
Показанная на фиг.5 заготовка 12а для изготовления первого варианта полупроводникового изделия 1а выполнена в виде стержня с прямолинейной осью 13. В поперечном сечении С-С, перпендикулярном оси 13 (фиг.6), стержень 12а имеет форму многоугольника, а именно четырехугольника (на фиг.6 показан квадрат, однако стержень 12а в поперечном сечении С-С может иметь другую форму, например прямоугольника или ромба, не показаны).5, the blank 12a for manufacturing the first embodiment of the semiconductor product 1a is made in the form of a rod with a
Стержень 12а имеет боковую поверхность 4 с четырьмя гранями 5а, 5b, 5с, 5d (фиг.6). Заготовка 12а выполнена из кристаллического материала со слоистой структурой, имеющей между слоями 6а, 6b, 6с, 6d, 6е, 6f плоскости спайности 7а, 7b, 7c, 7d, 7e, которые расположены параллельно оси 13 и параллельно диагонали 8 четырехугольника, показанной пунктирной линией (фиг.6) и проходящей между углами 9а, 9с четырехугольника. Два остальных угла 9b, 9d четырехугольника, расположенные против диагонали 8, скруглены (фиг.6). На фиг.6 условно показаны шесть слоев кристаллического материала, из которого изготовлена заготовка 12а, однако количество слоев кристаллического материала может быть иным (на фиг.6 не показано).The
Боковая поверхность 4 заготовки 12а покрыта слоем 10 электроизоляционного материала (фиг.6).The
Показанная на фиг.7 заготовка 12b для изготовления второго варианта полупроводникового изделия 1b выполнена в виде стержня с прямолинейной осью 13. В поперечном сечении D-D, перпендикулярном оси 13 (фиг.8), стержень 12b имеет форму многоугольника, а именно - шестиугольника. Стержень 12b имеет боковую поверхность 4 с шестью гранями 5а, 5b, 5 с, 5d, 5е, 5f (фиг.8). Заготовка 12b выполнена из кристаллического материала со слоистой структурой, имеющей между слоями 6а, 6b, 6с, 6d, 6е, 6f плоскости спайности 7а, 7b, 7c, 7d, 7e, которые расположены параллельно оси 13 и параллельно диагонали 8 шестиугольника, показанной пунктирной линией (фиг.8) и проходящей между углами 9а, 9d шестиугольника. Четыре остальных угла 9b, 9с, 9е, 9f шестиугольника, расположенные против диагонали 8, скруглены (фиг.8). На фиг.8 условно показаны шесть слоев кристаллического материала, из которого изготовлено полупроводниковое изделие 1b, однако количество слоев кристаллического материала может быть иным (на фиг.8 не показано).The blank 12b for manufacturing the second embodiment of the
Боковая поверхность 4 заготовки 12b покрыта слоем 10 электроизоляционного материала (фиг.8).The
Полупроводниковые изделия la, lb изготовляют следующим образом.Semiconductor products la, lb are made as follows.
Сначала из кристаллического материала изготовляют заготовки 12а, 12b, имеющие заданную ориентацию слоев материала вдоль осей 13 и относительно диагоналей 8.First, preforms 12a, 12b are made from crystalline material, having a predetermined orientation of the material layers along the
Для этого используют контейнер, показанный на фиг.9.To do this, use the container shown in Fig.9.
Контейнер 14 образован двумя частями 14а, 14b, имеющими стык по плоскости 15 (фиг.9 и 10). В каждой части 14а, 14b контейнера 14 выполнены выемки 16а, 16b, образующие полость 16, имеющую в поперечном сечении форму, соответствующую форме поперечного сечения заготовки 12а или 12b. Для получения заготовки 12а выемки 16а, 16b имеют в поперечном сечении форму треугольников, как показано на фиг.10, для получения заготовки 12b выемки 16а, 16b имеют в поперечном сечении форму трапеции (не показано на чертежах).The
Кроме того, в одной части контейнера 14 выполнена выемка, образующая затравочную полость 17, и в другой части контейнера выполнена выемка, образующая литниковый канал 18, с которым соединена загрузочная полость 19.In addition, in one part of the
Размер затравочной полости 17 в направлении, перпендикулярном плоскости 15, намного меньше, чем размеры полости 17 в остальных направлениях, например, при толщине полости 17 в направлении, перпендикулярном плоскости 15, равной 0,2 мм, ее протяженность в остальных направлениях составляет около 10 мм.The size of the seed cavity 17 in the direction perpendicular to the
В загрузочную полость 19 контейнера 14 помещают исходный материал 21 для получения заготовки 12а или 12b. Контейнер 14 помещают в камеру (не показана на чертежах), в которой находятся нагреватели 20а, 20b, 20с, 20d. Камеру заполняют инертной средой под давлением, близким к атмосферному. Температуру в камере повышают до температуры большей, чем температура плавления загруженного материала 21, в результате чего он расплавляется и заполняет полость 16 и затравочную полость 17. Затем изменяют температуру нагревателей 20а, 20b, 20с, 20d таким образом, что происходит кристаллизация материала в полости 16 в направлении от затравочной полости 17 к литниковому каналу 18 со скоростью, не превышающей 0,1 мм/мин.In the
В результате получают заготовки 12а или 12b со слоистой структурой, имеющей между слоями 6а, 6b, 6с, 6d, 6е, 6f плоскости спайности, которые расположены параллельно оси 13 и параллельно диагонали 8 (фиг.2 и 8).As a result, preforms 12a or 12b are obtained with a layered structure having cleavage planes between
Боковую поверхность 4 заготовок 12а, 12b без дополнительной обработки, которая может разрушить наружный слой кристаллического материала, покрывают электроизоляционным материалом 10. Затем заготовки 12а, 12b разрезают перпендикулярно осям 13 на части и наносят на торцы этих частей электропроводное покрытие 11a, 11b.The
Описанные полупроводниковые изделия, изготовленные из описанных заготовок, обладают повышенными прочностными качествами при оптимальном сочетании электрофизических и теплофизических свойств.The described semiconductor products made from the described blanks have improved strength properties with an optimal combination of electrophysical and thermophysical properties.
ПРОМЫШЛЕННАЯ ПРИМЕНИМОСТЬINDUSTRIAL APPLICABILITY
Изобретение может быть применено в термоэлектрических генераторах, термоэлектрических охлаждающих и нагревательных устройствах, а также в измерительных и иных устройствах.The invention can be applied in thermoelectric generators, thermoelectric cooling and heating devices, as well as in measuring and other devices.
Claims (8)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2011114019/28A RU2456714C1 (en) | 2011-04-12 | 2011-04-12 | Semiconductor article and workpiece for making said article |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2011114019/28A RU2456714C1 (en) | 2011-04-12 | 2011-04-12 | Semiconductor article and workpiece for making said article |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2456714C1 true RU2456714C1 (en) | 2012-07-20 |
Family
ID=46847588
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2011114019/28A RU2456714C1 (en) | 2011-04-12 | 2011-04-12 | Semiconductor article and workpiece for making said article |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2456714C1 (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2120684C1 (en) * | 1997-01-09 | 1998-10-20 | Общество с ограниченной ответственностью "НПО. КРИСТАЛЛ" | Semiconductor part and thermoelectric device |
RU2160484C2 (en) * | 1997-10-07 | 2000-12-10 | "Кристалл Лтд." | Molded plate made of thermoelectric material |
RU2181516C2 (en) * | 1999-01-13 | 2002-04-20 | Общество с ограниченной ответственностью НПО "Кристалл" | Long-measuring semiconductor piece for thermoelectric devices |
US7365264B2 (en) * | 2003-01-17 | 2008-04-29 | Aisin Seiki Kabushiki Kaisha | Thermoelectric converter and manufacturing method thereof |
RU2402111C2 (en) * | 2008-07-18 | 2010-10-20 | Общество С Ограниченной Ответственностью Научно-Производственное Объединение "Кристалл" | Crystal plate, rectangular bar, component for making thermoelectric modules and method of making crystal plate |
-
2011
- 2011-04-12 RU RU2011114019/28A patent/RU2456714C1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2120684C1 (en) * | 1997-01-09 | 1998-10-20 | Общество с ограниченной ответственностью "НПО. КРИСТАЛЛ" | Semiconductor part and thermoelectric device |
RU2160484C2 (en) * | 1997-10-07 | 2000-12-10 | "Кристалл Лтд." | Molded plate made of thermoelectric material |
RU2181516C2 (en) * | 1999-01-13 | 2002-04-20 | Общество с ограниченной ответственностью НПО "Кристалл" | Long-measuring semiconductor piece for thermoelectric devices |
US7365264B2 (en) * | 2003-01-17 | 2008-04-29 | Aisin Seiki Kabushiki Kaisha | Thermoelectric converter and manufacturing method thereof |
RU2402111C2 (en) * | 2008-07-18 | 2010-10-20 | Общество С Ограниченной Ответственностью Научно-Производственное Объединение "Кристалл" | Crystal plate, rectangular bar, component for making thermoelectric modules and method of making crystal plate |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2015207754A5 (en) | ||
JP5431170B2 (en) | Piezo laminate and method for producing piezo laminate | |
JP2013168419A5 (en) | ||
JP6443809B2 (en) | Laminated glass structure and manufacturing method | |
CN107206626A (en) | Uneven chip and the method for manufacturing uneven chip | |
RU2456714C1 (en) | Semiconductor article and workpiece for making said article | |
TWI528429B (en) | Method of manufacturing semiconductor device | |
JP5163228B2 (en) | Barista | |
WO2016071233A3 (en) | Electronic sandwich structure with two parts joined together by means of a sintering layer with alternating regions of higher and lower density and corresponding manufacturing method | |
US8796071B2 (en) | Thermal dissipation substrate | |
TW201508956A (en) | topographical glass coating LED package | |
US20130216823A1 (en) | Thermal conduction device and method for fabricating the same | |
KR102539062B1 (en) | Method of manufacturing a light emitting element | |
TWI638410B (en) | Method and semi-finished product structure for reducing package substrate warpage | |
JP7341017B2 (en) | Method for manufacturing heat reflective member and glass member with heat reflective layer | |
KR20220153975A (en) | Method for manufacturing heat sink using metal 3d printing | |
KR101733442B1 (en) | Warpage-preventing structure of substrate | |
US9865396B2 (en) | Method of manufacturing capacitor including intermediate dielectric layer with first internal electrodes and second internal electrodes | |
TWI549244B (en) | Joint structure and semiconductor device using it | |
WO2014139519A3 (en) | Metal ceramic substrate and method for producing a metal ceramic substrate | |
KR102111142B1 (en) | Light emitting device and method of making the same | |
JP2010232516A (en) | Wiring board and method for manufacturing the same | |
US10211378B2 (en) | Light emitting device and method for manufacturing same | |
RU111354U1 (en) | THERMOELECTRIC MODULE, THERMOELECTRIC ELEMENT AND PREPARATION FOR THE PRODUCTION OF THERMOELECTRIC ELEMENTS | |
TWI711195B (en) | Multi-layer piezoelectric ceramic element and method of manufacturing the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20140413 |