RU2265830C2 - Device for detecting crystals and polycrystals in article - Google Patents
Device for detecting crystals and polycrystals in article Download PDFInfo
- Publication number
- RU2265830C2 RU2265830C2 RU2000128151/28A RU2000128151A RU2265830C2 RU 2265830 C2 RU2265830 C2 RU 2265830C2 RU 2000128151/28 A RU2000128151/28 A RU 2000128151/28A RU 2000128151 A RU2000128151 A RU 2000128151A RU 2265830 C2 RU2265830 C2 RU 2265830C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- detector
- collimation
- ray
- collimator
- ray source
- Prior art date
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 26
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 15
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 4
- 238000002003 electron diffraction Methods 0.000 claims description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 8
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- 230000026058 directional locomotion Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000010835 comparative analysis Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V5/00—Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
- G01V5/20—Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
- G01V5/22—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
- G01V5/222—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays measuring scattered radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V5/00—Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
- G01V5/20—Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
- G01V5/22—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
- G01V5/224—Multiple energy techniques using one type of radiation, e.g. X-rays of different energies
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K5/00—Irradiation devices
- G21K5/04—Irradiation devices with beam-forming means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Geophysics (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
Настоящее изобретение относится к устройству для определения наличия в предмете кристаллических и поликристаллических материалов.The present invention relates to a device for determining the presence in the subject of crystalline and polycrystalline materials.
В целях обеспечения безопасности, например, воздушного сообщения багаж (объект) с входящими в этот багаж предметами необходимо контролировать прежде всего на наличие взрывчатых веществ, для чего задействуются самые современные технические средства.In order to ensure security, for example, by air, baggage (object) with items included in this baggage must be monitored primarily for the presence of explosives, for which the most modern technical means are used.
Для поиска взрывчатых веществ может быть, в частности, использован рентгенодифракционный анализ, в котором измеряют рассеянное кристаллической структурой рентгеновское излучение и сравнивают его с характерными энергетическими спектрами, например, различных взрывчатых веществ, что позволяет на основании указанного измерения энергии сделать вывод о наличии в объекте взрывчатого вещества, а также о материале взрывчатого вещества.To search for explosives, in particular, X-ray diffraction analysis can be used, in which the X-ray radiation scattered by the crystal structure is measured and compared with the characteristic energy spectra, for example, various explosives, which allows us to conclude that there is explosive in the object substances, as well as explosive material.
В DE 19510168 А1 описано соответствующее устройство. В этом устройстве на источнике рентгеновского излучения установлена диафрагма, с помощью которой формируется веерообразный пучок рентгеновских лучей, направляемый на контролируемую зону проверяемого материала. В контролируемой зоне напротив источника рентгеновского излучения симметрично оси центрального рентгеновского луча в плоскости, перпендикулярной веерообразному пучку рентгеновских лучей, расположены щелевые коллиматоры. Рентгеновское излучение детектируется по всей просвечиваемой контролируемой зоне несколькими детекторами.DE 19510168 A1 describes a corresponding device. In this device, a diaphragm is installed on the x-ray source, with the help of which a fan-shaped x-ray beam is formed, directed to the controlled area of the material being tested. Slit collimators are located in the controlled area opposite the x-ray source symmetrically to the axis of the central x-ray in a plane perpendicular to the fan-shaped x-ray beam. X-ray radiation is detected over the entire translucent controlled area by several detectors.
В ЕР 0354045 А2 описаны устройство и способ, в которых также предусмотрено формирование веерообразного пучка рентгеновских лучей. При просвечивании проверяемого объекта этим веерообразным пучком рентгеновские лучи дифрагируют на кристаллической решетке объекта, что регистрируется в виде энергетического спектра несколькими детекторами.EP 0354045 A2 describes a device and method in which the formation of a fan-shaped x-ray beam is also provided. When a test object is illuminated by this fan-shaped beam, x-rays are diffracted on the crystal lattice of the object, which is recorded in the form of an energy spectrum by several detectors.
Еще одно устройство описано в US 4956856. В этом устройстве формируется узкий пучок рентгеновских лучей, который вращающимся диском со спиралевидной щелью направляется на просвечиваемый объект. Этой щелью узкий пучок перемещается по проверяемому объекту в поперечном направлении.Another device is described in US Pat. No. 4,956,856. A narrow x-ray beam is formed in this device, which is directed by a rotating disk with a spiral-shaped slit onto a translucent object. With this slit, a narrow beam moves across the test object in the transverse direction.
Использование в рентгеновской установке первичного пучка лучей небольшого сечения описано в DE 4101544 А1. При этом рассеянное излучение первичного пучка лучей регистрируется несколькими детекторами и концентрической коллиматорной системой.The use of a small sectional primary beam in an X-ray machine is described in DE 4101544 A1. In this case, the scattered radiation of the primary beam of rays is detected by several detectors and a concentric collimator system.
В публикации SU 1608526 А1 раскрыто наиболее близкое к изобретению техническое решение, по существу относящееся к устройству для определения наличия кристаллических и поликристаллических материалов предмета в объектах, имеющему электронограф, включающий коллимационно-детекторную систему, состоящую из коллиматоров и детекторов, и ориентированный на нее источник рентгеновского излучения. Однако известное решение относится к рентгеновскому вычислительному томографическому устройству и не приспособлено для быстрого определения наличия кристаллических и поликристаллических материалов в отдельных предметах багажа.In the publication SU 1608526 A1, the technical solution closest to the invention is disclosed, essentially related to a device for determining the presence of crystalline and polycrystalline materials of an object in objects having an electron diffractor comprising a collimation-detector system consisting of collimators and detectors and an x-ray source oriented thereto radiation. However, the known solution relates to an x-ray computed tomographic device and is not adapted to quickly determine the presence of crystalline and polycrystalline materials in individual items of baggage.
Соответственно, недостаток вышеописанных устройств состоит в том, что для определения всех не разрешенных к провозу предметов багажа сканированию всегда подвергается все место багажа целиком.Accordingly, the disadvantage of the above devices is that in order to determine all items of baggage not allowed for transportation, the entire piece of baggage is always scanned.
Из DE 4130039 А1 известна система для формирования вытянутого пучка рентгеновских лучей. Используемая для этой цели диафрагма состоит из двух ограничительных элементов, которые ориентированы друг относительно друга таким образом, чтобы ограничивать промежуток, соответствующий форме пучка лучей. Эта система предназначена для увеличения охватываемой рентгеновским излучением площади поверхности.A system for generating an elongated x-ray beam is known from DE 4130039 A1. The diaphragm used for this purpose consists of two restrictive elements that are oriented relative to each other so as to limit the gap corresponding to the shape of the beam of rays. This system is designed to increase the surface area covered by X-rays.
Исходя из вышеизложенного, в основу настоящего изобретения была положена задача разработать такое устройство указанного в начале описания типа, которое позволяло бы быстро определять наличие в отдельном предмете кристаллических и поликристаллических материалов.Based on the foregoing, the present invention was based on the task of developing such a device of the type indicated at the beginning of the description that would quickly determine the presence of crystalline and polycrystalline materials in a single object.
Указанная задача решается за счет усовершенствования конструкции ближайшего аналога таким образом, что коллимационно-детекторная система имеет возможность регулирования ее положения по высоте относительно источника рентгеновского излучения с помощью соответствующих приспособлений и возможность синхронного регулирования ее бокового положения вместе с этим источником рентгеновского излучения, для чего источник рентгеновского излучения выполнен с возможностью направленного перемещения в боковом направлении с помощью приспособления, а управление указанными приспособлениями осуществляется компьютером.This problem is solved by improving the design of the closest analogue in such a way that the collimation-detector system has the ability to adjust its height position relative to the x-ray source using appropriate devices and the ability to synchronously adjust its lateral position with this x-ray source, for which the x-ray source radiation is made with the possibility of directional movement in the lateral direction using niya, and the control of these devices is carried out by a computer.
Основная идея изобретения состоит в том, чтобы на соответствующей ступени контроля располагать в рентгеновской установке электронограф, включающий коллимационно-детекторную систему и направленный на нее источник рентгеновского излучения, с возможностью регулирования по высоте и в поперечном направлении, что с использованием рентгенодифракционного анализа позволяет определять материал предмета в заданной локальной зоне контроля. С этой целью коллимационно-детекторная система и источник рентгеновского излучения выполнены с возможностью их совместного синхронного регулирования по положению, при этом коллимационно-детекторную систему предпочтительно выполняют регулируемой по высоте относительно источника рентгеновского излучения.The main idea of the invention is to install an electronograph in an X-ray unit at an appropriate control stage, including a collimation-detector system and an X-ray source directed at it, with the possibility of adjustment in height and in the transverse direction, which allows using the X-ray diffraction analysis to determine the material of an object in a given local control zone. To this end, the collimation-detector system and the x-ray source are configured to be synchronously jointly controlled in position, while the collimation-detector system is preferably made height-adjustable relative to the x-ray source.
На основании лишь двух известных координат предварительно заданной локальной зоны (например, положения транспортерной ленты и угла) регулируемый по положению электронограф может непрерывно сканировать третью недостающую координату за один измерительный проход. Благодаря этому создается возможность измерять и определять с привязкой к конкретной локальной зоне расположенные на этой линии материалы. На основании трех известных координат предварительно заданной локальной зоны электронограф может целенаправленно наводиться на ту точку, в которой затем будет определен тип материала.Based on only two known coordinates of a predefined local area (for example, the position of the conveyor belt and the angle), an electronically adjustable position scanner can continuously scan the third missing coordinate in one measurement pass. This creates the opportunity to measure and determine, with reference to a specific local zone, the materials located on this line. Based on the three known coordinates of the predefined local zone, the electron diffractor can purposefully aim at the point at which the type of material will then be determined.
При этом предпочтительно, чтобы регулируемая по высоте коллимационно-детекторная система состояла из юстируемого коллиматора и расположенного за ним детектора. В таком варианте коллиматор может иметь конически расширяющуюся круговую щель, воспроизводящую заданный угол и ориентированную на детектор.In this case, it is preferable that the height-adjustable collimation-detector system consisted of an adjustable collimator and a detector located behind it. In such an embodiment, the collimator may have a conically expanding circular slit reproducing a given angle and oriented to the detector.
На следующей стадии, зная дифракционный спектр и дополнительно определяемый по среднему значению заряда ядра атомов тип материала, можно получить дополнительную информацию для определения этого материала. С этой целью в коллиматоре с круговой щелью может быть предусмотрено центральное глухое, закрытое со стороны детектора отверстие, в котором последовательно на некотором расстоянии друг от друга расположены два различных детекторных блока и с помощью которого известным образом определяется среднее значение заряда ядра атомов для находящегося в первичном пучке предмета. Этим отверстием коллимационно-детекторная система может быть ориентирована на первичный пучок от источника рентгеновского излучения. Первый детекторный блок может быть выполнен в виде детектора для более низкой, а второй - в виде детектора для более высокой энергии рентгеновского излучения.At the next stage, knowing the diffraction spectrum and the type of material additionally determined by the average value of the atomic nucleus charge, additional information can be obtained to determine this material. For this purpose, a central blind hole closed on the detector side can be provided in the collimator with a circular slit, in which two different detector blocks are successively located at a certain distance from each other and with the help of which the average value of the atomic charge for the primary bunch of subject. With this hole, the collimation-detector system can be oriented to the primary beam from the x-ray source. The first detector unit may be made in the form of a detector for a lower one, and the second in the form of a detector for a higher energy of x-ray radiation.
Ниже изобретение более подробно поясняется на примере одного из вариантов его выполнения со ссылкой на прилагаемые чертежи, на которых показано:Below the invention is explained in more detail on the example of one of the options for its implementation with reference to the accompanying drawings, which show:
на фиг.1 - схематичное изображение предлагаемого в изобретении устройства,figure 1 - schematic representation of the proposed invention, the device
на фиг.2 - изображение электронографа по фиг.1,figure 2 - image of the electron diffraction in figure 1,
на фиг.3 - еще одно изображение коллимационно-детекторной системы по фиг.2.figure 3 is another image of a collimation-detector system of figure 2.
На фиг.1 показан просвечиваемый объект 1, который находится в рентгеновской камере 2 контрольной рентгеновской установки 3. Внутри рентгеновской камеры 2 расположен регулируемый по положению электронограф 10. Этот электронограф 10 состоит из коллимационно-детекторной системы 11 и источника 12 рентгеновского излучения. Коллимационно-детекторная система 11 ориентирована на рентгеновский луч FX'. который предпочтительно представляет собой узкий первичный пучок, излучаемый указанным источником 12 рентгеновского излучения, который предпочтительно располагать в рентгеновской камере 2 под транспортером 4. Коллимационно-детекторная система 11 выполнена регулируемой по положению с возможностью ее одновременного перемещения по высоте и в боковом направлении (в направлениях Z и Y), для чего предусмотрены не показанные более подробно приспособления 5. Вместе с этим источник 12 рентгеновского излучения также выполнен регулируемым в боковом направлении с возможностью перемещения в направлении Y, для чего служит приспособление 6, на котором он закреплен. Направленное перемещение коллимационно-детекторной системы 11 источника 12 рентгеновского излучения происходит синхронно, для чего предусмотрено централизованное управление приспособлениями 5 и 6, например прямолинейными направляющими с приводом от ходового винта. Такое перемещение может координировать не показанный на чертеже компьютер. Просвечиваемый объект 1 с его предметами 7, 8 находится на транспортере 4.Figure 1 shows the
На фиг.2 более подробно показан электронограф 10.Figure 2 shows in more detail the electronograph 10.
Коллиматор 13 имеет круговую щель 15, которая имеет форму усеченного конуса и которая выполнена таким образом, чтобы пропускать только ту часть рассеянного излучения, идущего от контролируемой точки GM7 предмета 7 в объекте, которая падает под определенным углом θM. Таким образом, рассеянное излучение FX", поступающее под углом рассеяния θM, регистрируется расположенным за коллиматором 13 детектором 14, а именно его чувствительной к энергии излучения поверхностью 14.1. Для получения первичного пучка FX' перед источником 12 рентгеновского излучения установлена диафрагма 16, например точечная диафрагма.The
При падении первичного пучка FX' на материал этот пучок FX'. как известно, частично отклоняется кристаллической решеткой материала (закон Брэгга) и выходит из материала в виде рассеянного излучения FX". В результате по энергетическому спектру, полученному чувствительным к энергии излучения детектором 16, можно определить кристаллическую структуру материала, а тем самым идентифицировать и сам материал. Подобным образом можно, в частности, распознавать и различать также взрывчатые вещества.When the primary fx 'beam falls onto the material, this fx' beam. as is known, it is partially deflected by the crystal lattice of the material (Bragg's law) and leaves the material in the form of scattered radiation FX ". As a result, the crystal structure of the material can be determined from the energy spectrum obtained by the radiation-
Если на более низкой ступени контроля известна информация о положении, например, предметов 7 и 8 по двум пространственным координатам (например, положение транспортерной ленты и угол), то недостающую координату необходимо в каждом случае определять непрерывным сканированием с помощью измерительного прохода. С этой целью транспортер 4 и коллимационно-детекторную систему 11 каждый раз переводят в начальное положение, соответствующее предмету 7. Отсюда начинается измерительный проход, заключающийся в перемещении указанной системы 11 по высоте и при необходимости вбок синхронно с источником 12 рентгеновского излучения в направлении недостающей координаты. Сигналы, воспринимаемые детектором в течение измерительного прохода, запоминаются в одном или нескольких энергетических спектрах и известным образом сравниваются в компьютере с известными энергетическими спектрами. Это позволяет путем сравнения определить тип материала, прежде всего материал взрывчатого вещества.If at a lower control level information is known about the position of, for example, objects 7 and 8 in two spatial coordinates (for example, the position of the conveyor belt and the angle), then the missing coordinate must in each case be determined by continuous scanning using a measuring passage. For this purpose, the conveyor 4 and the collimation-
Если положение предварительно определенных точек GM7 и GM8 в трех пространственных координатах известно, то коллимационно-детекторную систему 11 и источник 12 рентгеновского излучения электронографа 10 последовательно смещают в точки GM7 и GM8. Отклоняемое кристаллической решеткой предметов 7 или 8 рассеянное излучение FX" источника 12 рентгеновского излучения улавливается круговой щелью 15 коллиматора 13. Дополнительное перемещение коллимационно-детекторной системы 11 во время соответствующего измерения не является необходимым.If the position of the predefined points G M7 and G M8 in three spatial coordinates is known, then the collimation-
Существует также возможность комбинировать информацию о координатах, полученную на более низкой ступени контроля, с дополнительной пространственной информацией, полученной на более высокой ступени контроля, расширив ее при необходимости за счет использования нескольких измерительных проходов, и таким образом определять объем и точное пространственное расположение, например, предмета 8 в объекте 1.It is also possible to combine the coordinate information obtained at the lower control level with the additional spatial information obtained at the higher control level, expanding it if necessary by using several measuring passes, and thus determine the volume and the exact spatial location, for example, item 8 in
Предпочтительный вариант выполнения коллиматора 13 с круговой щелью представлен на фиг.3. При этом в коллиматоре 13 предпочтительно предусмотреть центральное глухое отверстие 17. Глухой конец этого отверстия 17 расположен со стороны установленного за ним детектора 14. В отверстии 17 расположен первый детекторный блок 21, а за ним и на определенном расстоянии от него - второй детекторный блок 22. Первый детекторный блок 21 выполнен в виде детектора для более низкой, а второй детекторный блок 22 - в виде детектора для более высокой энергии рентгеновского излучения. При такой конструкции с помощью этого коллиматора 13 можно, например, дополнительно проводить обычное обнаружение материалов путем определения средней величины заряда ядра атомов у материала предмета 7 или 8. Комбинирование указанной величины заряда ядра с полученным энергетическим спектром позволяет более надежно идентифицировать материал предметов 7 или 8. Такая возможность имеет особое значение прежде всего в тех случаях, когда предметы 7 или 8 содержат материал с высокой поглощающей способностью. Так, в частности, часто более низкая энергия центрального пучка FX' поглощается этим материалом, в результате чего в измеренном энергетическом спектре отсутствуют соответствующие дифракционные линии. Информацию об их отсутствии вместе с результатом дополнительного определения материала можно вводить в компьютер для их учета в сравнительном анализе.A preferred embodiment of a
Кроме того, детекторные блоки 21, 22, которые можно выполнить, например, в виде квадрантных детекторов, позволяют с высокой точностью пространственно наводить (юстировать) коллимационно-детекторную систему 11 на источник 12 рентгеновского излучения. Саму юстировку при этом производят без присутствия объекта 1 между коллимационно-детекторной системой 11 и источником 12 рентгеновского излучения. Для этой цели в показанном на фиг.2 коллиматоре 13 предусматривается указанное дополнительное отверстие 17 с детекторными блоками, что для упрощения на фиг.2 подробно не показано.In addition, the detector blocks 21, 22, which can be performed, for example, in the form of quadrant detectors, make it possible to spatially align (align) the collimation-
Очевидно, что в изобретение можно вносить различные изменения, не выходя при этом за его объем. Так, например, можно использовать и другие электронографы 10, например такие, которые известны и описаны в уровне техники, при этом необходимо предусматривать возможность регулирования электронографа 10 по положению, как это, например, рассмотрено в настоящем описании.Obviously, various changes can be made to the invention without departing from its scope. So, for example, you can use other electronographs 10, for example those that are known and described in the prior art, it is necessary to provide for the possibility of adjusting the electronograph 10 in position, as is, for example, discussed in the present description.
Claims (5)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19954664.9 | 1999-11-13 | ||
DE19954664A DE19954664B4 (en) | 1999-11-13 | 1999-11-13 | Device for the determination of crystalline and polycrystalline materials of an article |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2000128151A RU2000128151A (en) | 2002-11-10 |
RU2265830C2 true RU2265830C2 (en) | 2005-12-10 |
Family
ID=7928939
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2000128151/28A RU2265830C2 (en) | 1999-11-13 | 2000-11-13 | Device for detecting crystals and polycrystals in article |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19954664B4 (en) |
FR (1) | FR2801105B1 (en) |
GB (1) | GB2359718B (en) |
NL (1) | NL1016470C2 (en) |
RU (1) | RU2265830C2 (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2444764C2 (en) * | 2006-10-27 | 2012-03-10 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Imaging system for object imaging |
RU2523771C2 (en) * | 2007-12-25 | 2014-07-20 | Рапискан Системз, Инк. | Improved security system for screening people |
RU2543994C2 (en) * | 2009-03-27 | 2015-03-10 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Achromatic phase-contact image forming |
RU2589394C2 (en) * | 2011-04-15 | 2016-07-10 | Американ Сайенс Энд Инджиниринг, Инк. | Back-scattering system with variable size matrix sensors |
RU2599596C1 (en) * | 2014-05-14 | 2016-10-10 | Ньюктек Компани Лимитед | Image display method |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19954662B4 (en) * | 1999-11-13 | 2004-06-03 | Smiths Heimann Gmbh | Apparatus and method for detecting unauthorized luggage items |
US7651270B2 (en) * | 2007-08-31 | 2010-01-26 | Rigaku Innovative Technologies, Inc. | Automated x-ray optic alignment with four-sector sensor |
CN104897703B (en) * | 2014-03-04 | 2018-09-28 | 清华大学 | Check equipment, method and system |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4986273A (en) * | 1989-08-07 | 1991-01-22 | Medical & Scientific Enterprises, Inc. | Method of radiologically scanning the spine for measuring bone density |
DE3886334D1 (en) * | 1987-10-05 | 1994-01-27 | Philips Patentverwaltung | Arrangement for examining a body with a radiation source. |
US5007072A (en) * | 1988-08-03 | 1991-04-09 | Ion Track Instruments | X-ray diffraction inspection system |
DE3909147A1 (en) * | 1988-09-22 | 1990-09-27 | Philips Patentverwaltung | ARRANGEMENT FOR MEASURING THE IMPULSE TRANSFER |
DE4101544A1 (en) * | 1991-01-19 | 1992-07-23 | Philips Patentverwaltung | ROENTGENGERAET |
DE4130039A1 (en) * | 1991-09-10 | 1993-03-11 | Philips Patentverwaltung | X=ray beam expander used in computer tomograph - has beam shaping aperture formed by confinement bodies |
DE19510168C2 (en) * | 1995-03-21 | 2001-09-13 | Heimann Systems Gmbh & Co | Method and device for determining crystalline and polycrystalline materials in an examination area |
DE19745669B4 (en) * | 1997-10-17 | 2004-03-04 | Bruker Daltonik Gmbh | Analysis system for the non-destructive identification of the contents of objects, especially explosives and chemical warfare agents |
WO1999066317A1 (en) * | 1998-06-18 | 1999-12-23 | American Science And Engineering, Inc. | Coherent scattering for material identification |
-
1999
- 1999-11-13 DE DE19954664A patent/DE19954664B4/en not_active Expired - Lifetime
-
2000
- 2000-10-13 FR FR0013116A patent/FR2801105B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-10-24 NL NL1016470A patent/NL1016470C2/en not_active IP Right Cessation
- 2000-11-07 GB GB0027194A patent/GB2359718B/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-11-13 RU RU2000128151/28A patent/RU2265830C2/en active IP Right Revival
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2444764C2 (en) * | 2006-10-27 | 2012-03-10 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Imaging system for object imaging |
RU2523771C2 (en) * | 2007-12-25 | 2014-07-20 | Рапискан Системз, Инк. | Improved security system for screening people |
RU2543994C2 (en) * | 2009-03-27 | 2015-03-10 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Achromatic phase-contact image forming |
RU2589394C2 (en) * | 2011-04-15 | 2016-07-10 | Американ Сайенс Энд Инджиниринг, Инк. | Back-scattering system with variable size matrix sensors |
RU2599596C1 (en) * | 2014-05-14 | 2016-10-10 | Ньюктек Компани Лимитед | Image display method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL1016470A1 (en) | 2001-05-15 |
NL1016470C2 (en) | 2004-09-16 |
GB2359718B (en) | 2003-12-31 |
GB2359718A (en) | 2001-08-29 |
DE19954664B4 (en) | 2006-06-08 |
GB0027194D0 (en) | 2000-12-27 |
FR2801105B1 (en) | 2005-03-18 |
DE19954664A1 (en) | 2001-06-07 |
FR2801105A1 (en) | 2001-05-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2253861C2 (en) | Method and device for detecting prohibited objects | |
US6542578B2 (en) | Apparatus for determining the crystalline and polycrystalline materials of an item | |
US6532276B1 (en) | Method and apparatus for determining a material of a detected item | |
US6621888B2 (en) | X-ray inspection by coherent-scattering from variably disposed scatterers identified as suspect objects | |
US6122344A (en) | X-ray inspection system | |
RU2448342C2 (en) | Object inspection system (versions) | |
US8462913B2 (en) | Detection of X-ray scattering | |
GB2299251A (en) | Detecting crystalline material using X-ray diffraction | |
US7590220B1 (en) | X-ray inspection and detection system and method | |
KR20070046834A (en) | Radiography by selective detection of scatter field velocity components | |
KR20090046849A (en) | Scatter attenuation tomography | |
US20090262895A1 (en) | X-ray diffractometer for mechanically correlated movement of the source, detector, and sample position | |
US6163592A (en) | Beam scattering measurement system with transmitted beam energy detection | |
RU2265830C2 (en) | Device for detecting crystals and polycrystals in article | |
KR101862692B1 (en) | Inspection devices, inspection methods and inspection systems | |
CN109691238A (en) | For improving the System and method for of the penetration power of radiophotography scanner | |
US7324627B2 (en) | Apparatus for measuring the momentum transfer spectrum of elastically scattered X-ray quanta and method of determining this momentum transfer spectrum | |
US5446777A (en) | Position-sensitive X-ray analysis | |
US6647090B2 (en) | X-ray fluorescence spectrometer | |
WO2006095467A1 (en) | X-ray diffraction analyzing method and analyzer | |
US6285736B1 (en) | Method for X-ray micro-diffraction measurement and X-ray micro-diffraction apparatus | |
CA2093347A1 (en) | Imaging method for defining the structure of objects | |
US5612988A (en) | Device for measuring the momentum transfer spectrum of X-ray quanta elastically scattered in an examination zone | |
RU2119660C1 (en) | Gear determining composition and structure of inhomogeneous object ( versions ) | |
CA2245141C (en) | On-line diamond detection |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20051114 |
|
NF4A | Reinstatement of patent |
Effective date: 20070410 |