NL1016470C2 - A device for the determination of crystalline and polycrystalline materials of an object. - Google Patents

A device for the determination of crystalline and polycrystalline materials of an object. Download PDF

Info

Publication number
NL1016470C2
NL1016470C2 NL1016470A NL1016470A NL1016470C2 NL 1016470 C2 NL1016470 C2 NL 1016470C2 NL 1016470 A NL1016470 A NL 1016470A NL 1016470 A NL1016470 A NL 1016470A NL 1016470 C2 NL1016470 C2 NL 1016470C2
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
collimator
detector
device
characterized
object
Prior art date
Application number
NL1016470A
Other languages
Dutch (nl)
Other versions
NL1016470A1 (en
Inventor
Hermann Ries
Frank Cordes
Patricia Schall
Martin Hartick
Original Assignee
Heimann Systems Gmbh & Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to DE1999154664 priority Critical patent/DE19954664B4/en
Priority to DE19954664 priority
Application filed by Heimann Systems Gmbh & Co filed Critical Heimann Systems Gmbh & Co
Publication of NL1016470A1 publication Critical patent/NL1016470A1/en
Application granted granted Critical
Publication of NL1016470C2 publication Critical patent/NL1016470C2/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS
    • G01V5/00Prospecting or detecting by the use of nuclear radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
    • G01V5/0008Detecting hidden objects, e.g. weapons, explosives
    • G01V5/0016Active interrogation, i.e. using an external radiation source, e.g. using pulsed, continuous or cosmic rays
    • G01V5/0025Measuring scattered radiation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS
    • G01V5/00Prospecting or detecting by the use of nuclear radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
    • G01V5/0008Detecting hidden objects, e.g. weapons, explosives
    • G01V5/0016Active interrogation, i.e. using an external radiation source, e.g. using pulsed, continuous or cosmic rays
    • G01V5/0041Multiple energy techniques using one type of radiation, e.g. X-rays of different energies
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K5/00Irradiation devices
    • G21K5/04Irradiation devices with beam-forming means

Description

Korte aanduiding: Inrichting voor de bepaling van kristallijne en polykristallijne materialen van een voorwerp. Short title: A device for the determination of crystalline and polycrystalline materials of an object.

De uitvinding betreft een inrichting voor de bepaling van kristallijne en polykristallijne materialen van een voorwerp volgens de aanhef van conclusie 1. The invention relates to a device for the determination of crystalline and polycrystalline materials of an article according to the preamble of claim 1.

5 Om de veiligheid van bijvoorbeeld het luchtverkeer te waar borgen, is het noodzakelijk reisbagage (object) met de reisbagage (voorwerp) door de toepassing van de modernste technische hulpmiddelen in het bijzonder op explosieven respectievelijk springstoffen te controleren. 5 In order to maintain security, for example, air traffic control, it is necessary to travel luggage (object) having the luggage (object) by checking the application of-the-art technical means, in particular to explosives explosives, respectively.

10 Daartoe worden, zoals in DE 44 06 956 C2 wordt beschreven, voor een snelle controle in de tweede respectievelijk hogere trap meerdere coördinaten van de in de onderste, eerste trap niet éénduidig geklaarde gebieden door een computer gedefinieerd bepaald en doorgegeven aan de tweede respectievelijk bovenste trap. 10 To this end, as described in DE 44 06 956 C2 discloses, for a high-speed control in the second higher stage, respectively, a plurality of coordinates of the non-unambiguous clarified areas in the lower, first stage determined is defined by a computer and transmitted to the second upper, respectively, stairs.

15 In het bijzonder voor het onderzoek naar springstoffen kan de methode van röntgendiffractie worden gebruikt, waarbij een röntgenstraling wordt gemeten die aan de kristalstructuur diffractie ondergaat, om deze dan te vergelijken met de karakteristieke ener-giespectra van bijvoorbeeld de verschillende springstoffen, zodat 20 aan de hand van deze gemeten energieën een uitspraak kan worden gedaan over de aanwezigheid van een springstof alsmede over het springstofmateriaal in het object. 15 In particular for the investigation of explosives can be used with the method of X-ray diffraction, in which an X-ray radiation is measured which undergoes to the crystal structure diffraction, in order to compare it with the characteristic ener-giespectra of, for example, the various explosives, so that 20 to the Based on these measured energies a statement can be made about the presence of an explosive as well as the explosive material in the object.

In DE 195 10 168 Al wordt daartoe een inrichting beschreven. In DE 195 10 168 Al is disclosed a device for this purpose. Daarbij wordt aan de bron van röntgenstraling door middel van een 25 diafragma een waaier van röntgenstralen opgewekt en gestraald naar een onderzoeksgebied van een te onderzoeken materiaal. It is supplied to the source of X-radiation by means of a diaphragm 25 is raised a fan of X-rays, and irradiated to a field of research of a material to be examined. Aan de tegenover de röntgenbron liggende zijde van het onderzoeksgebied zijn symmetrisch om de as van de centrale röntgenstraal in een loodrecht op het vlak van de waaier van de röntgenstraal verlopend 30 vlak spieetvormige collimators opgesteld. On the side of the examination region opposite of the x-ray source are symmetrically arranged about the axis of the central X-ray beam in a direction perpendicular to the plane of the fan of X-ray 30 plane extending slit-shaped collimators. De evaluatie vindt plaats via meerdere detectoren via het gehele doorstraalde onderzoeksgebied. The evaluation takes place via multiple detectors over the entire irradiated area of ​​research.

H In EP Ο 354 Α2 worden een inrichting en een werkwijze be- schreven waarbij eveneens een waaier van röntgenstralen wordt op- H gewekt. In EP 354 H Ο Α2 are an apparatus and a method of working down while also a range of X-rays is woken up H. Deze doorstraalt het te onderzoeken object, waarbij de H röntgenwaaier onderworpen is aan diffractie aan de roosterstruc- H 5 tuur van het object, die als energiespectrum door meerdere detec- H toren worden opgenomen. This irradiates the object to be examined, wherein the x-ray fan-H is subjected to diffraction at the roosterstruc- H 5 structure of the object, which as an energy spectrum can be recorded by a plurality of detection H tower.

Een andere inrichting wordt beschreven in US 4 956 856. Hier- H bij wordt een smalle röntgenstraal (pencil beam) opgewekt en door middel van een draaiende rol met een spiraalsleuf naar een door- 10 stralend object gestuurd. Another device is described in US 4 956 856. here- H is generated by a narrow X-ray beam (pencil beam), and controlled by means of a rotating roller having a spiral slot 10 to a through radiant object. Door de spleet tast de potloodbundel H dwars het te onderzoeken object af. Because of the gap, the pencil beam H scanned transversely off the object to be examined.

De benutting van een primaire straal van geringe doorsnede in een röntgentoestel wordt beschreven in DE 41 01 544 Al. The utilization of a primary beam of small cross-section in an X-ray device is described in DE 41 01 544 Al. Hierbij H wordt de uit de primaire straal opgewekte verstrooide straling be- 15 paald met meerdere detectors en concentrische collimatoropstel- I ling. Here, the H is generated from the primary beam backscattered radiation with a plurality of detectors determined working 15 and concentric collimatoropstel- I rail.

Nadeel bij de genoemde bekende inrichtingen is dat steeds het volledige stuk bagage moet worden afgetast respectievelijk ge- I scand, om alle ontoelaatbare voorwerpen in de bagage te bepalen. A drawback in the said known devices is that each time the entire piece of luggage is to be scanned, respectively GE I scanned, in order to determine all of the unacceptable objects in the luggage.

H 20 Uit DE 41 30 039 Al is een opstelling bekend voor het opwek- I ken van een uitgebreide röntgenbundel. H 20 From DE 41 30 039 Al, an arrangement is known for opwek- I know of a wide x-ray beam. Een daartoe gebruikte dia- I fragmaopstelling bestaat daarbij uit twee begrenzinglichamen, die zodanig naar elkaar zijn gericht dat ze een tussenruimte begrenzen die overeenkomt met de vorm van de stralenbundel. A slide I used for this purpose fragmaopstelling thereby consists of two delimiting bodies, which are directed towards each other such that they define an intermediate space corresponding to the shape of the radiation beam. Deze opstelling 25 dient voor het vergroten van het door de röntgenstraling getroffen I oppervlak. This arrangement 25 serves to increase I of the affected area by the X-ray radiation.

Het doel van de uitvinding bestaat hierin een inrichting van de in de aanvang genoemde soort te verschaffen waarmee een snelle bepaling van de kristallijne en polykristallijne materialen voor I 30 een voorwerp mogelijk gemaakt wordt. The object of the invention is to provide a device of the type mentioned in the beginning by which a rapid determination of the crystalline and polycrystalline materials for I 30 an object is made possible.

Dit doel wordt bereikt door de maatregelen van conclusie 1. This object is achieved by the features of claim 1.

I Daarbij ligt aan de uitvinding het idee ten grondslag een I diffractie-inrichting, bestaande uit een collimatie- I /detectoropstelling en een daarop gerichte bron van röntgenstra- I 35 len, in hoogte en dwars verstelbaar in een onderzoekstrap van een röntgeninstallatie aan te brengen, waardoor, met benutting van de röntgendiffractie, het materiaal van een voorwerp in een tevoren 3 bepaalde plaats wordt bepaald. I In addition, the invention is to apply the idea underlying an I diffraction device, consisting of a collimator I / detector arrangement and a subsequent directional source of x-ray I 35 parts, in height and transversely adjustable in a testing stage of an X-ray installation, , whereby, with use of the X-ray diffraction, the material of an object in a predetermined three particular location is determined. Daartoe zijn de collimatie-/detec-toropstelling en de röntgenbron met elkaar synchroon verstelbaar uitgevoerd, waarbij bij voorkeur de collimatie-/detectoropstelling in hoogte verstelbaar ten opzichte van de röntgenbron aangebracht 5 is. To this end, the collimator / detector arrangement and the X-ray source in synchronism with one another made adjustable, wherein preferably the collimator / detector arrangement adjustable in height with respect to the X-ray source 5 arranged.

Gunstige uitvoeringsvormen zijn aangegeven in de onderconclu- sies. Advantageous embodiments are indicated in the sub-claims.

Bij kennis van slechts twee coördinaten van een voorafbepaalde plaats (bijvoorbeeld bandpositie en hoek) wordt met behulp van 10 de verstelbare diffractie-eenheid de onderbrekende derde coördinaat in een meetgang continu gescand. In knowledge of only two co-ordinates of a predetermined location (for example, tape position and angle) is the interrupting third coordinate continuously scanned in a measuring passageway 10 with the aid of the adjustable diffraction unit. Daardoor kunnen de op deze lijn liggende materialen onafhankelijk van de plaats worden gemeten en bepaald. As a result, the materials lying on this line can be measured and determined independent of the location. Bij kennis van de drie coördinaten van de tevoren bepaalde plaats vindt een doelgerichte instelling van de diffrac-15 tie-inrichting in dit punt plaats, waarin dan het eind van het materiaal wordt bepaald. With knowledge of the three coordinates of the pre-determined site will find a targeted adjustment of the diffraction device 15, tie-in this point, instead, in which then the end of the material is determined.

De daarbij een hoogte verstelbare collimatie-/detector-opstelling bestaat bij voorkeur uit een justeerbare rondspleetcol-limator in de vorm van een afgeknotte kegelmantel met een zich 20 daarachter bevindende detector. The thereby a height-adjustable collimator / detector arrangement preferably consists of an adjustable top rondspleetcol-collimator in the shape of a truncated cone casing with a 20 located behind it contained detector.

In een volgende stap kan met kennis van het diffractiespec- trum en van de uit het gemiddelde aantal kernladingen aanvullend bepaalde aard van het materiaal een aanvullende informatie voor de materiaalbepaling worden verkregen. In a next step can be acquired, an additional information for the determination of material with knowledge of the diffractiespec- center and of the core from the average number of loads in addition determined nature of the material. Daartoe bezit de rondspleet-25 collimator een centrale, naar de detector afgesloten opening, waarin twee verschillende detectorinrichtingen plaatselijk van el- kaar gescheiden en achter elkaar opgesteld zijn en waardoor op be- kende wijze het gemiddelde aantal kernladingen van het in de pri- maire straal liggende voorwerp bepaald wordt. To this end, the round-slit collimator 25 has a central, sealed opening to the detector, in which two different detector devices locally separated from one another and are arranged one behind the other, and whereby in respect of working manner known to the average number of charges of the core in the primary beam lying object is determined.

30 De uitvinding zal hierna worden toegelicht aan de hand van een in de tekening weergegeven uitvoeringsvoorbeeld. 30 The invention will be explained with reference to exemplary embodiment illustrated with reference to a drawing in the following.

Fig. Fig. 1 is een schematische weergave van de inrichting volgens de uitvinding; 1 is a schematic representation of the device according to the invention;

Fig. Fig. 2 een weergave van de buigingsinrichting uit fig. 1; 2 is a view of the deflection device of FIG. 1; 35 Fig. 35 Fig. 3 een andere weergave van de collimatie-/detector- H opstelling uit fig. 2. 3 shows a different view of the collimator / detector arrangement H shown in FIG. 2.

Zoals in fig. 1 weergegeven, bevindt zich een te doorlichten object 1 in een röntgentunnel 2 van een röntgentestinstallatie 3. Binnen de röntgentunnel 2 bevindt zich een verstelbaar aangebrach-te diffractie-inrichting 10. De diffractie-inrichting 10 bestaat 5 hierbij uit een collimatie-/detectoropstelling 11 en een bron 12 van röntgenstraling. As shown in FIG. 1, there is a to illuminate object 1 in an X-ray tunnel 2 of an X-ray test system 3. Within the X-ray tunnel 2 there is an adjustable been brach-to diffraction device 10. The diffraction device 10 is 5 to attend a collimation - / detector arrangement 11 and a source 12 of X-ray radiation. De collimatie-/detectoropstelling 11 is ge-richt op de röntgenstraal FX', bij voorkeur op een primaire straal (pencil beam) van deze röntgenbron 12, die bij voorkeur onder de transportinrichting 4 in de röntgentunnel 2 opgesteld is. The collimator / detector arrangement 11 has been directed to the X-ray beam FX ", preferably on a primary beam (pencil beam) of the X-ray source 12, which is preferably disposed below the conveyor device 4 in the X-ray tunnel 2. De col-10 limatie-/detectoropstelling 11 is door middel van hier niet nader weergegeven middelen 5 tegelijk in hoogte en zijdelings verstelds baar aangebracht (in Z- en in Y-richting) . The col-10 limatie- / detector arrangement 11 is by means of not shown means 5 at the same time in height and laterally verstelds ingot made here (in the Z- and Y-direction). Parallel daaraan is de röntgenbron 12 bevestigd op middelen 6 en eveneens zijdelings ver-H stelbaar in Y-richting opgesteld. In parallel, the x-ray source 12 is mounted on means 6 and also the side far-H adjustably arranged in Y-direction. De collimatie-/detectorop- 15 stelling 11 en de röntgenbron 12 worden synchroon geleid, waartoe de middelen 6 en 6, bijvoorbeeld lineaire geleidingen met schroef- aandrijving, centraal worden bestuurd. The collimator / detectorop- 15, count 11, and the X-ray source 12 to be synchronously guided, for which purpose the means 6 and 6, for example, linear guides with screw drive, are centrally controlled. Dit kan gecoördineerd wor- H den door een niet nader weergegeven computer. This may be coordinated THE- ORY H den by a non-illustrated computer. Het te doorlichten object 1 met zijn voorwerpen 7, 8 bevindt zich op de transportin- 20 richting 4. The to illuminate object 1 with its objects 7, 8 is located on the direction transportin- 20 4.

In fig. 2 is de buigingsinrichting 10 nader weergegeven. In FIG. 2, the deflection device 10 is shown in greater detail.

De collimator 13 bezit een rondspleet 15 in de vorm van een afgeknotte kegelmantel, zodanig dat uit de verstrooide straling die uitgaat van het onderzochte punt Gj^7 van het voorwerp 7 in het H 25 object, slechts die aandelen worden toegelaten die vallen in een I bepaalde hoek De zich achter de collimator bevindende detector I 14 bepaalt met zijn energiegevoelige oppervlak 14.1 dus de ver- I strooide straling FX" onder de verstrooiingshoek ΘΜ. Voor het be reiken van een primaire straal FX' is een diafragmaopstelling 16, 30 bijvoorbeeld een gatdiafragma, vóór de röntgenbron 12 aangebracht. The collimator 13 has a circular gap 15 in the shape of a truncated cone jacket, so that out of the scattered radiation emanating from the examined point Gj ^ 7 of the object 7 in the H 25 object, only those shares are allowed to fall into an I certain angle, the located behind the collimator standing detector I 14 determines with its energy-sensitive surface 14.1 therefore the Treaties I scattered radiation FX "under the scattering angle ΘΜ. reach to be a primary beam FX 'is a diaphragm arrangement 16, 30 for example, a pinhole diaphragm , arranged in front of the X-ray source 12.

Als de primaire straal FX' een materiaal treft, wordt deze primaire straal FX' aan de kristalroosterstructuur van het materiaal, zoals bekend, gedeeltelijk afgebogen als verstrooide straling FX" (wet van Bragg). Daardoor kan uit het energiespectrum dat ver-35 kregen is met de energiegevoelige detector 16 de kristalstructuur 5 bepalen, en daarmee het materiaal. In het bijzonder kunnen daarmee ook springstoffen worden herkend en onderscheiden. If the primary beam FX 'strikes a material, is the primary beam FX' to the crystal lattice structure of the material, as is known, partially deflected and scattered radiation FX "(Bragg's law). This makes it possible from the energy spectrum which were far-35 is with the energy-sensitive detector 16 to determine the crystal structure 5, and thus the material. In particular explosives thus also be identified and distinguished.

Als de positie-informatie van een lagere onderzoekstrap bijvoorbeeld voor de voorwerpen 7 en 8 in twee ruimtelijke coördina-5 ten bekend is (bijvoorbeeld transportinrichtingspositie en hoek), moet altijd de onderbrekende coördinaat met behulp van een meet-gang continu worden gescand. If the position information of a lower testing stage, for example, for the objects 7 and 8 in two spatial coor-5 is not known (for example, transport device position and angle), it must always be the interrupting coordinate are continuously scanned by means of a measuring output. Daarvoor worden transportinrichting 4 en collimatie-/detectoropstelling 11 steeds verplaatst naar een voor het voorwerp 7 geldende beginstand. To that end, conveyor 4 and collimator / detector arrangement 11 always moved to the article 7 applicable starting position. Van daaruit wordt de 10 meetgang gestart, zodanig dat de opstelling 11 in hoogte en eventueel zijdelings synchroon ten opzichte van de röntgenbron 12 in de richting van de omtrekkende coördinaat wordt verplaatst. From there it is started, the measuring passage 10, in such a way that the arrangement 11 to be moved in height and, optionally, laterally synchronously with respect to the X-ray source 12 in the direction of the circumferential coordinate. De tijdens een meetgang door de detector opgenomen signalen worden opgeslagen in een of meer energiespectra en op bekende wijze in de 15 computer vergeleken met bekende energiespectra. The stored signals are picked up by the detector during a measuring passageway in one or more energy spectra, and in a known manner into the computer 15, as compared to known energy spectra. Door middel van de vergelijking kan dus het materiaal, in het bijzonder het spring-stofmateriaal worden bepaald. By means of the comparison so the material can be determined, in particular, the spring-fabric material.

Als de tevoren bepaalde punten Gj^ en Gj^g in drie ruimtelijke coördinaten bekend zijn, worden de collimatie-/detectoropstelling 20 11 en de röntgenbron 12 van de diffractie-inrichting na elkaar naar de punten G^q en Gjyjg verschoven. If the predetermined points Gj and Gj ^ g ^ in three spatial co-ordinates are known, the collimator / detector arrangement to be 20 11, and the X-ray source 12 of the diffraction device shifted one after the other at the points G ^ q and Gjyjg. De aan het kristalrooster van de voorwerpen 7 of 8 afgebogen verstrooide straling FX" van de röntgenbron 12 wordt door de rondspleet 15 van de collimator 13 opgevangen. Verder verplaatsen van de collimatie-/detector-25 opstelling 11 is tijdens elke meting niet nodig. The on the crystal lattice of the objects 7 or 8 diffracted scattered radiation FX "of the X-ray source 12 is collected by the circular slit 15 of the collimator 13. In addition, moving the collimator / detector 25, array 11 is not necessary during each measurement.

Het is ook mogelijk de coördinaatinformatie uit de lagere onderzoekstrap en de aanvullende ruimtelijke informatie uit de ho- H gere trap eventueel uitgebreid door meerdere meetgangen, te combi- I neren en daarmee het volume en de nauwkeurige ruimtelijke positie, 30 bijvoorbeeld van voorwerp 8 in het object 1, te bepalen. It is also possible the coordinate information from the lower testing stage and the additional spatial information from the ho- H reproduced staircase, possibly extended by a plurality of metering passages, to combi- I ning, and thus the volume, and the precise spatial position, 30, for example, from object 8 in the the first object, to be determined.

Een gunstige uitvoering van de ringspleetcollimator 13 is in fig. 3 weergegeven. A favorable embodiment of the ringspleetcollimator 13 is shown in FIG. 3. In de collimator 13 is daarbij bij voorkeur een centrale opening 17 in de vorm van een blind gat geïntegreerd. In the collimator 13 is in this case preferably a central opening 17 in the form of a blind hole integrated.

H De opening 17 is ten opzichte van de zich daarachter bevindende H 35 detector 14 gesloten. The H opening 17 is closed with respect to the H 35 is located detector 14 behind it. In de opening 17 is een eerste detectie- inrichting 21 opgesteld en daarachter op een bepaalde afstand een tweede detectie-inrichting 22. De eerste detectie-inrichting 21 is 16 uitgevoerd als detector voor lagere, en dg tweede detectie-inrichting 22 als detector voor hogere röntgenenergieën. In the opening 17, a first detection device 21 is disposed, and behind that a second detection device at a predetermined distance 22. The first detection device 21 is constructed as a detector 16 for lower, and dg second detection device 22 as a detector for higher X-ray energies. Met deze collimator 13 kan dan bijvoorbeeld aanvullend een traditionele ma-teriaaldetectie plaatsvinden door bepaling van het gemiddelde aan-5 tal kernladingen van het materiaal van het voorwerp 7 of 8. In combinatie van dit aantal kernladingen en het bepaalde ener-giespectrum kan een verbeterde identificatie van het materiaal van het voorwerp 7 of 8 bereikt worden. With this collimator 13 may then, for example, additionally be a conventional ma-teriaaldetectie by determination of the average-to-5 numerous core loadings of the material of the object 7 or 8. In combination of this number of warheads and the particular ener-giespectrum can be improved identification of the material are achieved by the object 7 or 8. Dit is in het bijzonder van groot belang wanneer het voorwerp 7 of 8 een sterk absorberend ma-10 teriaal bezit. This is particularly of great importance when the article 7 or 8, a highly absorbent ma-10 material possesses. Zo worden dikwijls lagere energieën van de centrale straal FX' reeds in het materiaal geabsorbeerd, zodat de bijbehorende diffractielijnen in het gemeten energiespectrum ontbreken. For example, lower energies are often of the central beam FX 'already absorbed in the material, so that the corresponding diffraction lines are missing in the measured energy spectrum. Dit ontbreken kan met de aanvullende materiaalbepaling aan de computer worden meegedeeld, zodat hiermee in de evaluatie bij de ver-15 gelijking rekening gehouden wordt. This lack can be communicated to the computer using the additional material provision, so that it is held in the evaluation in the far-15 equation account.

Met behulp van de detectie-inrichtingen 21, 22, die bijvoorbeeld bestaan uit kwadrantdetectors, kan ook een nauwkeurige ruimtelijke oriëntering (justering) van de collimatie-/detector-opstelling 11 op de röntgenbrorv 12 worden uitgevoerd. With the aid of the detection devices 21, 22, consisting for example of quadrant detectors, can also be an accurate spatial alignment (adjustment) by the collimator / detector array 11 to be performed on the röntgenbrorv 12. De justering 20 zelf vindt daarbij plaats zonder een zich tussen de collimatie-/detectoropstelling 11 en de röntgenbron 12 bevindend object 1. Daartoe bezit de in fig. 2 beschreven collimator 13 deze extra opening 17 met de detectie-inrichtingen, wat ter wille van de overzichtelijkheid in fig. 2 niet nader weergegeven werd. The adjustment ring 20 itself is effected without a located between the collimator / detector arrangement 11, and the X-ray source 12 standing object 1. For this purpose, as shown in FIG. 2 described collimator 13, this additional aperture 17 with the detection devices, which for the sake of sake of clarity in Fig. 2 has not been shown in detail.

25 Het is duidelijk dat in het kader van de uitvindinggedachte wijzigingen mogelijk zijn. 25 It is clear that possible within the inventive concept changes. Zo kunnen ook andere diffractie-inrichtingen 10 worden gebruikt, zoals die bijvoorbeeld beschreven zijn in de stand der techniek, waarbij een verstelbaarheid van de diffractie-inrichting 10, zoals die bijvoorbeeld in de beschrij-30 ving werd aangegeven, kan worden toegepast. For example, also other diffractive devices 10 are used, such as those described, for example, in the prior art, wherein an adjustability of the diffractive device 10, such as, for example, caught was indicated in the specification-30, may be employed.

Claims (5)

1. Inrichting voor de bepaling van kristallijne en polykris- I tallijne materialen van een voorwerp in objecten, bij voorkeur in I 5 reisbagage, omvattend: een diffractie-inrichting, met een collima- I tie-/detectoropstelling die bestaat uit collimators en detectors, I en een daarop gerichte bron van röntgenstraling, met het kenmerk, I dat I - de collimatie-/detectoropstelling (11) via middelen (5) ten op 10 zichte van de röntgenbron (12) in hoogte verstelbaar en syn- I chroon daarmee zijdelings verstelbaar opgesteld is, waartoe de I röntgenbron (12) geleid wordt door zijdelings verstelbare midde- len (6) en de middelen (5, 6) door een computer worden bestuurd. 1. A device for the determination of crystalline and polykris- I tallijne materials of an object in the objects, preferably, in I 5 luggage, comprising: a diffractive device, with a tie-I collimator / detector arrangement consisting of collimators and detectors, I, and a subsequent directional source of X-radiation, characterized in, I in that I - the collimator / detector arrangement (11) via means (5) are at a 10-zichte of the X-ray source (12) adjustable in height and syn- I nously therewith laterally is adjustably arranged, to which the I X-ray source (12) is guided are controlled by a computer by laterally adjustable means (6) and the means (5, 6). I 15 I 15
2. Inrichting volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat I - de collimatie-/detectoropstelling (11) bestaat uit een collima- I tor (13) en een zich daarachter bevindende detector (14), - de collimator (13) een conisch uiteenlopende rondspleet (15) be- zit, die een tevoren bepaalde hoek % creëert en 20. de rondspleet (15) naar de detector (14) gericht is. 2. A device according to claim 1, characterized in that I - the collimator / detector arrangement (11) consists of a collimator I tor (13) and a detector located behind it (14), - the collimator (13) has a conical a wide range of round gap (15) is working, which creates a predetermined angle, and 20% of the circular gap (15) to the detector (14) is directed.
3. Inrichting volgens conclusie 2, met het kenmerk, dat - de collimator (13) een centrale, door de boring uitgevoerde ope- ning (17) bezit, die afgesloten is naar de detector (14), waarin 25 twee op afstand van elkaar achter elkaar opgestelde detectie- inrichtingen (21, 22) aangebracht zijn. 3. A device according to claim 2, characterized in that: - said collimator (13) has a central, property through the bore carried out opening (17), which is closed to the detector (14), in which two 25 at a distance from each other arranged behind each other detection devices (21, 22) are arranged.
4. Inrichting volgens conclusie 3, met het kenmerk, dat H - de eerste detectie-inrichting (21) uitgevoerd is als detector H 30 voor lagere en de tweede detectie-inrichting (22) als detector voor hogere röntgenenergieën. 4. A device according to claim 3, characterized in that H - the first detection device (21) is designed as a detector for lower H 30 and the second detection device (22) as a detector for high X-ray energies.
5. Inrichting volgens conclusie 2, met het kenmerk, dat de collimatie-/detectoropstelling (11) via de opening (17) gericht is 35 op de primaire straal (FX') van de röntgenbron (12). 5. A device according to claim 2, characterized in that the collimator / detector arrangement (11) via the opening (17) is directed 35 to the primary beam (FX ') of the x-ray source (12).
NL1016470A 1999-11-13 2000-10-24 A device for the determination of crystalline and polycrystalline materials of an object. NL1016470C2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1999154664 DE19954664B4 (en) 1999-11-13 1999-11-13 Apparatus for determining of crystalline and polycrystalline materials of an object
DE19954664 1999-11-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
NL1016470A1 NL1016470A1 (en) 2001-05-15
NL1016470C2 true NL1016470C2 (en) 2004-09-16

Family

ID=7928939

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL1016470A NL1016470C2 (en) 1999-11-13 2000-10-24 A device for the determination of crystalline and polycrystalline materials of an object.

Country Status (5)

Country Link
DE (1) DE19954664B4 (en)
FR (1) FR2801105B1 (en)
GB (1) GB2359718B (en)
NL (1) NL1016470C2 (en)
RU (1) RU2265830C2 (en)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19954662B4 (en) * 1999-11-13 2004-06-03 Smiths Heimann Gmbh Apparatus and method for detecting unauthorized baggage items
US7852978B2 (en) * 2006-10-27 2010-12-14 Koninklijke Phillips Electronics N.V. Imaging system for imaging an object
US7651270B2 (en) 2007-08-31 2010-01-26 Rigaku Innovative Technologies, Inc. Automated x-ray optic alignment with four-sector sensor
AU2008340164A1 (en) * 2007-12-25 2009-07-02 Rapiscan Systems, Inc. Improved security system for screening people
US9881710B2 (en) * 2009-03-27 2018-01-30 Koninklijke Philips N.V. Achromatic phase-contrast imaging
EP2697631A2 (en) * 2011-04-15 2014-02-19 American Science & Engineering, Inc. Backscatter system with variable size of detector array
CN104897703B (en) * 2014-03-04 2018-09-28 清华大学 Inspection apparatus, a method and system
CN105094725B (en) * 2014-05-14 2019-02-19 同方威视技术股份有限公司 Image display method

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4986273A (en) * 1989-08-07 1991-01-22 Medical & Scientific Enterprises, Inc. Method of radiologically scanning the spine for measuring bone density
US5008911A (en) * 1988-09-22 1991-04-16 U.S. Philips Corporation X-ray quanta measuring device including diaphragm for producing conical radiation beam on object being measured
DE4130039A1 (en) * 1991-09-10 1993-03-11 Philips Patentverwaltung X=ray beam expander used in computer tomograph - has beam shaping aperture formed by confinement bodies
US5787145A (en) * 1995-03-21 1998-07-28 Heimann Systems Gmbh Method and arrangement for identifying crystalline and polycrystalline materials

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0311177B1 (en) * 1987-10-05 1993-12-15 Philips Patentverwaltung GmbH System for examining a body with a radiance source
US5007072A (en) * 1988-08-03 1991-04-09 Ion Track Instruments X-ray diffraction inspection system
DE4101544A1 (en) * 1991-01-19 1992-07-23 Philips Patentverwaltung Roentgengeraet
DE19745669B4 (en) * 1997-10-17 2004-03-04 Bruker Daltonik Gmbh Analysis system for non-destructive identification of the contents of objects, particularly explosives and chemical warfare agents
WO1999066317A1 (en) * 1998-06-18 1999-12-23 American Science And Engineering, Inc. Coherent scattering for material identification

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5008911A (en) * 1988-09-22 1991-04-16 U.S. Philips Corporation X-ray quanta measuring device including diaphragm for producing conical radiation beam on object being measured
US4986273A (en) * 1989-08-07 1991-01-22 Medical & Scientific Enterprises, Inc. Method of radiologically scanning the spine for measuring bone density
DE4130039A1 (en) * 1991-09-10 1993-03-11 Philips Patentverwaltung X=ray beam expander used in computer tomograph - has beam shaping aperture formed by confinement bodies
US5787145A (en) * 1995-03-21 1998-07-28 Heimann Systems Gmbh Method and arrangement for identifying crystalline and polycrystalline materials

Also Published As

Publication number Publication date
GB2359718B (en) 2003-12-31
FR2801105B1 (en) 2005-03-18
DE19954664A1 (en) 2001-06-07
GB2359718A (en) 2001-08-29
DE19954664B4 (en) 2006-06-08
RU2265830C2 (en) 2005-12-10
NL1016470A1 (en) 2001-05-15
GB0027194D0 (en) 2000-12-27
FR2801105A1 (en) 2001-05-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4906512B2 (en) Adaptive scanning of materials using nuclear resonance fluorescence imaging
RU2444723C2 (en) Apparatus and method of inspecting objects
US6968034B2 (en) X-ray inspection system
US5642393A (en) Detecting contraband by employing interactive multiprobe tomography
DE4216929C2 (en) Means for imaging an object by means of scattered radiation
US20080179502A1 (en) Methods and systems for determining the average atomic number and mass of materials
US7856081B2 (en) Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence
RU2448342C2 (en) Object inspection system (versions)
US7386093B2 (en) Method and an apparatus for liquid safety-detection with a radiation source
EP0552821A2 (en) Monitoring an apparatus which uses scanned radiation
JP4796254B2 (en) X-ray array detector
US20060140340A1 (en) X-ray inspection system for detecting explosives and other contraband
US20060098773A1 (en) Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence
JP2984232B2 (en) X-ray analysis apparatus and the x-ray irradiation angle setting method
US20070286337A1 (en) Detector array and device using the same
EP0793804B1 (en) Detecting explosives or other contraband by employing transmitted and scattered x-rays
EP1063512B1 (en) Method and apparatus for particle assessment using multiple scanning beam reflectance
US6621888B2 (en) X-ray inspection by coherent-scattering from variably disposed scatterers identified as suspect objects
US7911604B2 (en) Security screening using raman analysis
US6483894B2 (en) Apparatus and method for adjusting a collimator
US5974111A (en) Identifying explosives or other contraband by employing transmitted or scattered X-rays
US8831176B2 (en) High energy X-ray inspection system using a fan-shaped beam and collimated backscatter detectors
JP2006519394A (en) x-ray diffraction scan system
JP2006276011A (en) Imaging inspection device
JP2006510033A (en) Radiation imaging apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
AD1A A request for search or an international type search has been filed
RD2N Patents in respect of which a decision has been taken or a report has been made (novelty report)

Effective date: 20040513

PD2B A search report has been drawn up