RU2193609C2 - Способ нейтронно-трансмутационного легирования кремния - Google Patents

Способ нейтронно-трансмутационного легирования кремния Download PDF

Info

Publication number
RU2193609C2
RU2193609C2 RU2000124649A RU2000124649A RU2193609C2 RU 2193609 C2 RU2193609 C2 RU 2193609C2 RU 2000124649 A RU2000124649 A RU 2000124649A RU 2000124649 A RU2000124649 A RU 2000124649A RU 2193609 C2 RU2193609 C2 RU 2193609C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
silicon
neutron
current
container
readings
Prior art date
Application number
RU2000124649A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2000124649A (ru
Inventor
В.Г. Шевченко
В.Ф. Скибин
В.П. Счеславский
В.В. Дмитриев
Ю.В. Гарусов
Л.В. Шмаков
Original Assignee
Государственное предприятие Ленинградская атомная электростанция им. В.И. Ленина
Закрытое акционерное общество Научно-производственное объединение "Энергоатоминвент"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственное предприятие Ленинградская атомная электростанция им. В.И. Ленина, Закрытое акционерное общество Научно-производственное объединение "Энергоатоминвент" filed Critical Государственное предприятие Ленинградская атомная электростанция им. В.И. Ленина
Priority to RU2000124649A priority Critical patent/RU2193609C2/ru
Publication of RU2000124649A publication Critical patent/RU2000124649A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2193609C2 publication Critical patent/RU2193609C2/ru

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

Заявляемое изобретение относится к технологии ядерного легирования полупроводниковых материалов при промышленном производстве на энергетических реакторах типа РБМК, широко применяемого в технологии изготовления полупроводниковых приборов для электронной и электротехнической промышленности. Сущность изобретения состоит в том, что в способе нейтронно-трансмутационного легирования кремния, включающем облучение нейтронным потоком по дозно-временному регламенту контейнера со слитками кремния в канале ядерного реактора с известным исходным, но изменяющимся во времени высотным распределением плотности нейтронного потока, и контроль за усредненным по длине слитков в контейнере флюенсом нейтронов, контроль за усредненным флюенсом нейтронов осуществляют с использованием нейтронной камеры и вертикальных сборок, составленных из дискретных датчиков тока прямого заряда, установленных в измерительных каналах реактора, вертикальные сборки датчиков тока устанавливают в противолежащие измерительные каналы со смещением их по вертикали на половину расстояния между датчиками в сборке. Электрический сигнал снимают с ионизационной камеры и датчиков тока и вводят в компьютер с программным средством, обеспечивающим корректировку показаний датчиков тока на основании показаний ионизационной камеры. С помощью средств автоматики, электрически связанных с выходом компьютера, контейнер перемещают и удерживают в зоне равномерного облучения на основании текущих показаний датчиков тока и задания дозно-временного регламента, а выводят контейнер из облучательного канала, когда интегральная доза облучения кремния достигнет заданного значения. Проведена зависимость, по которой определяют отображаемую в компьютере функцию распределения нейтронного потока, в промежутке между двумя смежными показаниями секций датчиков. Использование предлагаемого способа получения монокристаллического кремния, легированного фосфором на ядерном реакторе, повышает качество радиационно-легированного до любых номиналов удельного сопротивления кремния (УЭС), а именно снижает разброс УЭС, позволяет получить кремний с заданными электрофизическими свойствами, позволяет сохранить монокристаллическую структуру слитка, что в конечном итоге приводит к увеличению выхода годных приборов с улучшенными характеристиками в электронной и электрической промышленности. 1 з.п.ф-лы, 1 ил.

Description

Заявляемое изобретение относится к технологии ядерного легирования полупроводниковых материалов при промышленном производстве на энергетических реакторах типа РБМК, широко применяемого в технологии изготовления полупроводниковых приборов для электронной и электротехнической промышленности. Преимущественное применение предлагаемый способ может найти в тех случаях, когда требуется обеспечить высокое качество нейтронной обработки, предъявляемое к полупроводниковым материалам при обработке в слитках большого диаметра.
Во время ядерного легирования кремния при помещении его в нейтронное поле реактора происходит преобразование части ядер кремния в ядра легирующей примеси фосфора [1]:
Figure 00000002

Ядра 30Si, поглощая тепловые нейтроны с испусканием γ-излучения, преобразуются в ядра неустойчивого изотопа 31Si, который распадается через 2,62 часа с испусканием β-частиц, образуя ядра легирующей примеси фосфора 31Р. Распределение образующихся ядер соответствует распределению флюенса тепловых нейтронов по объему слитков кремния. В технологии ядерного легирования полупроводниковых материалов к кремнию предъявляют жесткие требования по точности набора флюенса тепловых нейтронов - 5-8%, а в отдельных случаях и менее. Наиболее полно известный способ получения ядерно-легированного кремния (ЯЛК) описан в [2], с. 1-39. Способ включает:
- подготовку монокристаллов к облучению;
- облучение контейнеров со слитками кремния в ядерном реакторе;
- выдержку и перегрузку контейнеров с облученным кремнием;
- дезактивацию облученного кремния;
- отжиг кремния для ликвидации дефектов радиации;
- механическую обработку слитков;
- измерение электрофизических параметров слитков кремния;
- доводка кремния в марку.
Кроме того, известный способ включает предварительные измерения нейтронного поля с помощью датчиков тока прямого заряда (ДТПЗ) для нахождения зоны равномерного облучения (ЗРО) и определения времени облучения кремния. Недостатком этого способа является невысокая точность воспроизведения расчетных характеристик легируемого кремния. Низкая точность предопределена ограниченным числом секций ДТПЗ. Число секций в сборке всего 7, и они располагаются на расстоянии 1 м друг относительно друга по высоте активной зоны (AЗ) ЯР. Число секций не может быть увеличено, так как в условиях радиации и ограниченных габаритов возникают большие трудности в изоляции выводов отдельных секций датчиков тока. Кроме того, датчик тока в условиях постоянного облучения нейтронным потоком теряет первоначальную чувствительность в результате расщепления ядер чувствительного элемента. Грубое представление нейтронного поля не обеспечивает высокой равномерности облучения по всей высоте контейнера. В результате указанных недостатков при большой производительности облучения кремния на энергетическом ЯР не достигается хорошего воспроизводства заданных свойств полупроводникового кремния, дорогостоящее сырье - монокристаллический кремний - может идти в брак.
Наиболее близким аналогом заявляемого изобретения является способ нейтронно-трансмутационного легирования кремния [3] . Данный способ включает возвратно-поступательное перемещение контейнера со слитками кремния через зону облучения по каналу реактора по дозно-временному регламенту и контроль за усредненным по длине слитков в контейнере флюенсом нейтронов. Предварительно в канале реактора формируют нейтронное поле таким образом, чтобы на части канала распределение плотности потока тепловых нейтронов являлось четной функцией. В контейнере размещают слитки кремния общей длиной не более длины выбранного участка, а в процессе облучения контейнер со слитками перемещают по каналу из одного крайнего положения, в котором слитки расположены за пределами зоны облучения, в другое, в котором середина слитков совмещена с серединой выбранного участка в канале. После облучения половинным флюенсом от требуемого процесс облучения прерывают, контейнер разворачивают, меняя местами его торцы, и точно так же дооблучают контейнер оставшимся флюенсом нейтронов.
Недостатком этого способа является его трудоемкость, связанная с тем, что для достижения требуемой точности набора флюенса необходимо перед каждым облучением особым образом формировать нейтронное поле в облучательном канале, и невысокая точность набора флюенса, особенно в случае, когда во время облучения происходит изменение нейтронного поля.
Задачей, решаемой заявленным изобретением, является повышение точности набора флюенса, т. е. получение заданного удельного сопротивления легированного кремния с точностью до 3% и менее, а также снижение трудозатрат.
Сущность изобретения состоит в том, что в способе нейтронно-трансмутационного легирования кремния, включающем облучение нейтронным потоком по дозно-временному регламенту контейнера со слитками кремния в канале ядерного реактора с известным исходным, но изменяющимся во времени высотным распределением плотности нейтронного потока и контроль за усредненным по длине слитков в контейнере флюенсом нейтронов, предложено контроль за усредненным флюенсом нейтронов осуществлять с использованием нейтронной камеры и вертикальных сборок, составленных из дискретных датчиков тока прямого заряда, установленных в измерительных каналах реактора, вертикальные сборки датчиков тока установить в противолежащие измерительные каналы со смещением их по верт икали на половину расстояния между датчиками в сборке. Электрический сигнал, снимаемый с ионизационной камеры и датчиков тока, предложено вводить в компьютер с программным средством, обеспечивающим корректировку показаний датчиков тока на основании показаний ионизационной камеры. С помощью средств автоматики, электрически связанных с выходом компьютера, контейнер перемещают и удерживают в зоне равномерного облучения на основании текущих показаний датчиков тока и задания дозно-временного регламента, а выводят контейнер из облучательного канала, когда интегральная доза облучения кремния достигнет заданного значения.
Кроме того, предлагается отображаемую в компьютере функцию распределения нейтронного потока, в промежутке между двумя смежными показаниями секций датчиков, определять по зависимости:
Figure 00000003

где A1, B1 - смежные отсчеты (мкА) значения интенсивности нейтронного потока в виде A1=КА•J, B1=КВ•J,
Рх - промежуточные значения функции распределения нейтронного потока (мкА),
КА, КB - коэффициенты соответствия (безразмерные),
J - ток соответствующего элемента ДТПЗ (мкА),
А - токовые значения элементов первой сборки ДТПЗ (мкА),
В - токовые значения элементов второй сборки ДТПЗ, смещенной на Δh/2 (мкА),
m - число дополнительных градаций,
Х - номер промежуточного отсчета в пределах от 1 до m.
В заявляемом способе за счет использования двух (или четырех) семисекционных ДТПЗ удается получить данные об интенсивности нейтронного поля в 14-ти (или в 28-ми) точках по высоте AЗ реактора, а с учетом интерполяции кривой распределения поля между измеренными точками более точно найти зону равномерного облучения и рассчитать флюенс нейтронов, получаемый столбом слитков кремния заданной длины. Процесс легирования проводится под непрерывным контролем ЭВМ, работающей по специальной программе. В процессе легирования ЭВМ непрерывно уточняет положение зоны равномерного облучения, и в случае необходимости контейнер с кремнием по сигналу ЭВМ автоматически перемещается вслед за ЗРО. Для компенсации изменения чувствительности ДТПЗ из-за выгорания ядер родия периодически проводят сканирование облучательного канала камерой деления и рассчитывают коэффициенты соответствия показаний выгорающих ДТПЗ показаниям хранящейся вне активной зоны камеры деления. Найденные коэффициенты хранятся в памяти ЭВМ и используются для уточнения расчета получаемого кремнием флюенса нейтронов. Таким образом, удается вести строго контролируемое по величине, времени и равномерности облучение слитков кремния.
Технологическая последовательность нейтронного облучения кремния по выбранному способу проиллюстрирована на чертеже, где 1 - предварительные измерения; 2 - текущий контроль нейтронного поля; 3 - отображение текущего нейтронного поля; 4 - определение положения зоны равномерного облучения; 5 - загрузка контейнера слитками кремния; 6 - погружение контейнера с кремнием в облучательный канал ЯР; 7 - облучение кремния с корректировкой положения контейнера; 8 - расчет среднего нейтронного потока по N измерениям зоны равномерного облучения; 9 - расчет времени облучения; 10 - вывод контейнера из канала ЯР в исходное положение.
Способ включает предварительные измерения нейтронной камерой и сборками ДТПЗ. Прогоном нейтронной камеры по высоте AЗ измеряют нейтронное поле в облучательном канале ЯР. Сборками ДТПЗ, установленными в ЯР около облучательного канала, фиксируют нейтронный поток на различных уровнях по высоте AЗ. По токам отдельных секций ДТПЗ и данным прогона нейтронной камеры рассчитывают коэффициенты фактического соответствия токов ДТПЗ нейтронному потоку по измерениям нейтронной камерой. Фиксируют коэффициенты соответствия в памяти ЭВМ. Все измерения и расчеты ведутся на специальной ЭВМ, на которую подаются токовые сигналы от всех внутриреакторных датчиков вблизи облучательного канала. По токам ДТПЗ с учетом интерполяции и длины столба слитков кремния находят зону равномерного облучения - обычно в пределах 1000-2000 мм. Подлежащий облучению кремний загружают в контейнер для легирования с учетом величины ЗРО. По величине требуемого флюенса и рассчитанным характеристикам нейтронного поля в ЗРО определяют продолжительность процесса легирования. Далее контейнер с кремнием опускают в облучательный канал до совмещения ЗРО со слитками кремния и запускают программу контроля процесса легирования на ЭВМ. Во время легирования ЭВМ в автоматическом режиме проводит непрерывный контроль нейтронного поля в ЗРО с отображением поля на экране ЭВМ, рассчитывает усредненный по нескольким измерениям нейтронный поток, по фактическому нейтронному потоку уточняет время облучения, уточняет положение ЗРО и, при необходимости, перемещает контейнер с кремнием вслед за положением ЗРО. При достижении заданного флюенса ЭВМ подает сигнал на извлечение контейнера с кремнием из облучательного канала ЯР.
Текущий контроль нейтронного поля выполняют сборками ДТПЗ, но их токи в течение ограниченного срока, около 2-х месяцев, в течение которых чувствительность ДТПЗ падает на ≈2%, используют с найденными коэффициентами соответствия, после чего найденные коэффициенты соответствия обновляют повторением предварительных измерений токов сборок ДТПЗ и измерений нейтронной камерой, подавляя снижение чувствительности элементов сборок ДТПЗ от расщепления родия в катодах ДТПЗ.
При осуществлении способа используют компьютер, например типа Pentium, сопряженный с системой сбора информации со сборок ДТПЗ и камеры деления и управляющий приводом контейнера.
Конкретный пример осуществления способа.
Требуется облучением в канале реактора РБМК-1000 монокристаллического кремния с удельным сопротивлением ρH получить полупроводниковый кремний проводимостью n-типа, имеющий после термической обработки удельное сопротивление ρK.
1. При помощи камеры деления и по показаниям ДТПЗ измерено нейтронное поле (φT) в облучательном канале и найдена ЗРО с неравномерностью не более 2% с высотой Н=135 см. На момент измерений φT=7,3•1013 нейтр/см2•сек.
2. По исходному значению ρH и заданному значению ρK на ЭВМ проведен расчет требуемого флюенса Φ=5,64•1017 нейтр/см2 и время облучения Т=128,8 мин.
3. В контейнер для облучения загрузили несколько слитков кремния с общей высотой не более 135 см.
4. Контейнер с кремнием опустили в облучательный канал до совмещения слитков кремния с зоной равномерного облучения и одновременно запустили специальную программу слежения за легированием на контролирующей ЭВМ.
5. По истечении времени T±Δт, где Δт - автоматически найденная ЭМВ поправка на нестабильность условий облучения кремния, контейнер со слитками по сигналу ЭВМ извлекли из облучательного канала.
Использование предлагаемого способа получения монокристаллического кремния, легированного фосфором на ядерном реакторе, повышает качество радиационно-легированного до любых номиналов удельного сопротивления кремния (УЭС), а именно: снижает разброс УЭС, позволяет получить кремний с заданными электрофизическими свойствами, позволяет сохранить монокристаллическую структуру слитка, что в конечном итоге приводит к увеличению выхода годных приборов с улучшенными характеристиками в электронной и электротехнической промышленности.
Источники информации
1. Смирнов Л. С. и др. Легирование полупроводников методом ядерных реакций. Новосибирск: Наука, 1981.
2. Вестник "Радтех" Евразия 1(8), М., 1994.
3. Патент Российской Федерации 2089011 С1 / Способ нейтронно-трансмутационного легирования кремния.

Claims (2)

1. Способ нейтронно-трансмутационного легирования кремния, включающий облучение нейтронным потоком по дозно-временному регламенту контейнера со слитками кремния в канале ядерного реактора с известным исходным, по изменяющимся во времени высотным распределением плотности нейтронного потока, и контроль за усредненным по длине слитков в контейнере флюенсом нейтронов, отличающийся тем, что контроль за усредненным флюенсом нейтронов осуществляют с использованием нейтронной камеры и вертикальных сборок, составленных из дискретных датчиков тока прямого заряда, установленных в измерительных каналах реактора, вертикальные сборки датчиков тока устанавливают в противолежащие измерительные каналы со смещением их по вертикали на половину расстояния между датчиками в сборке, электрический сигнал снимают с ионизационной камеры и датчиков тока и вводят в компьютер с программным средством, обеспечивающим корректировку показаний датчиков тока на основании показаний ионизационной камеры, затем с помощью автоматических средств, электрически связанных с выходом компьютера, контейнер перемещают и удерживают в зоне равномерного облучения на основании текущих показаний датчиков тока и задания дозно-временного регламента, а выводят контейнер из облучательного канала, когда интегральная доза облучения кремния достигает заданного значения.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что для отображения в компьютере функции распределения нейтронного потока в промежутке между двумя смежными показаниями секций датчиков ее определяют по зависимости:
Figure 00000004

где А1, В1 - смежные отсчеты (мкА) значения интенсивности нейтронного потока в виде А1= КА•J, В1= КВ•J;
Рх - промежуточные значения функции распределения нейтрального потока, мкА;
КА, КВ - коэффициенты соответствия (безразмерные);
J - ток соответствующего элемента датчика тока прямого заряда, мкА;
А - токовые значения элементов первой сборки датчика тока прямого заряда, мкА;
В - токовые значения элементов второй сборки датчика тока прямого заряда, смещенной на Δh/2, мкА;
m - число дополнительных градаций;
Х - номер промежуточного отсчета в пределах 1 - m.
RU2000124649A 2000-09-27 2000-09-27 Способ нейтронно-трансмутационного легирования кремния RU2193609C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2000124649A RU2193609C2 (ru) 2000-09-27 2000-09-27 Способ нейтронно-трансмутационного легирования кремния

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2000124649A RU2193609C2 (ru) 2000-09-27 2000-09-27 Способ нейтронно-трансмутационного легирования кремния

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2000124649A RU2000124649A (ru) 2002-10-20
RU2193609C2 true RU2193609C2 (ru) 2002-11-27

Family

ID=20240478

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2000124649A RU2193609C2 (ru) 2000-09-27 2000-09-27 Способ нейтронно-трансмутационного легирования кремния

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2193609C2 (ru)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2543184C2 (ru) * 2013-04-01 2015-02-27 ЗАО "Алмазный Центр" Синтетический радиоактивный наноалмаз и способ его получения
CN105469842A (zh) * 2015-11-18 2016-04-06 中国核动力研究设计院 核反应堆硅单晶辐照孔道热中子注量率的标定装置
CN112885493A (zh) * 2021-01-19 2021-06-01 中国核动力研究设计院 一种反应堆单晶硅辐照控制系统

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2543184C2 (ru) * 2013-04-01 2015-02-27 ЗАО "Алмазный Центр" Синтетический радиоактивный наноалмаз и способ его получения
CN105469842A (zh) * 2015-11-18 2016-04-06 中国核动力研究设计院 核反应堆硅单晶辐照孔道热中子注量率的标定装置
CN112885493A (zh) * 2021-01-19 2021-06-01 中国核动力研究设计院 一种反应堆单晶硅辐照控制系统
CN112885493B (zh) * 2021-01-19 2022-04-29 中国核动力研究设计院 一种反应堆单晶硅辐照控制系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Szeles et al. Development of the high-pressure electro-dynamic gradient crystal-growth technology for semi-insulating CdZnTe growth for radiation detector applications
EP3414367B1 (en) A phosphorus doped silicon single crystal
US9938639B2 (en) Method for forming a doped silicon ingot of uniform resistivity
US6413311B2 (en) Method for manufacturing a cerium-doped lutetium oxyorthosilicate scintillator boule having a graded decay time
KR20100049062A (ko) 단결정 직경의 검출방법 및 단결정 인상장치
RU2193609C2 (ru) Способ нейтронно-трансмутационного легирования кремния
US4239583A (en) Method and apparatus for crystal growth control
US3076732A (en) Uniform n-type silicon
US4027051A (en) Method of producing homogeneously doped n-type Si monocrystals and adjusting dopant concentration therein by thermal neutron radiation
EP0550750A1 (en) Semiconductor wafer heat treatment method
Zaslavsky Automated pulling of large-diameter alkali halide scintillation single crystals from the melt
US5707879A (en) Neutron detector based on semiconductor materials
JP2005035816A (ja) シリコン単結晶製造方法及びシリコン単結晶
US5742092A (en) Semiconductor structures, methods for controlling their conductivity and sensing elements based on these semiconductor structure
RU2193610C2 (ru) Способ нейтронно-трансмутационного легирования кремния
CN109072477B (zh) 中子照射硅单晶的制造方法
RU2000124649A (ru) Способ нейтронно-трансмутационного легирования кремния
Walter et al. Bulk defects and radiation damage in detector grade silicon
JPH0818917B2 (ja) CdTe単結晶の製造方法
Kaska Characterization of radiation damage in detectors made from different silicon materials
EP0204508B1 (en) Interface for voltage ramp programmers
Klobuchar et al. Details of dead time losses in scaling and multiscaling
Gektin et al. Halogenide scintillators: Crystal growth and performance
Brenden et al. Method for Determining the Thermal Conductivity of Incandescent Solids
RU2023063C1 (ru) Способ выращивания кристаллов из расплава в автоматическом режиме

Legal Events

Date Code Title Description
PD4A Correction of name of patent owner
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20160928