RU2126853C1 - Method of thermally treating monocrystals of lanthanum-gallium silicate - Google Patents

Method of thermally treating monocrystals of lanthanum-gallium silicate Download PDF

Info

Publication number
RU2126853C1
RU2126853C1 RU97106629A RU97106629A RU2126853C1 RU 2126853 C1 RU2126853 C1 RU 2126853C1 RU 97106629 A RU97106629 A RU 97106629A RU 97106629 A RU97106629 A RU 97106629A RU 2126853 C1 RU2126853 C1 RU 2126853C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
monocrystals
lanthanum
heat treatment
temperature
lgs
Prior art date
Application number
RU97106629A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU97106629A (en
Inventor
О.А. Бузанов
А.М. Дутова
Original Assignee
Рафида Девелопментс Инкорпорейтед
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Рафида Девелопментс Инкорпорейтед filed Critical Рафида Девелопментс Инкорпорейтед
Priority to RU97106629A priority Critical patent/RU2126853C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2126853C1 publication Critical patent/RU2126853C1/en
Publication of RU97106629A publication Critical patent/RU97106629A/en

Links

Abstract

FIELD: monocrystals production. SUBSTANCE: invention is designed for application when manufacturing devices utilizing bulk acoustic waves and is distinguished by carrying out heat treatment at temperature within the range of 1300-1673K in argon atmosphere at pressure 1.1-1.8 atm for 20-36 h. EFFECT: enabled preparing monocrystals no less than 2 mm in diameter with weight larger than three and half kg, free of mechanical strains and scattering sites. 1 dwg

Description

Изобретение относится к способам получения материалов, в частности, лантангаллиевого силиката, используемого для изготовления устройств на объемных и поверхностных акустических волнах. The invention relates to methods for producing materials, in particular, lanthanum gallium silicate used for the manufacture of devices on bulk and surface acoustic waves.

Монокристаллы лантангаллиевого силиката /ЛГС/ La3Ga5SiO14 являются перспективным материалом для обеспечения радиоэлектронной промышленности. Основным требованием, предъявляемым к монокристаллам ЛГС вследствие их использования в электронной промышленности, являются достаточные размеры монокристаллов (размер слитка ЛГС должен быть не менее 50 мм), при этом кристаллы ЛГС должны быть свободны от кристаллических дефектов, таких как рассеивающие центры, контролируемые в луче He-Ne лазера.Lanthan gallium silicate / LGS / La 3 Ga 5 SiO 14 single crystals are a promising material for the electronic industry. The main requirement for LGS single crystals due to their use in the electronics industry is the sufficient size of single crystals (LGS ingot size must be at least 50 mm), while LGS crystals must be free of crystalline defects, such as scattering centers controlled in the He beam -Ne laser.

Известен способ термообработки монокристаллов лантангаллиевого силиката, включающий выдержку на воздухе пластины ЛГС толщиной 2-3 мм при температуре 1227 К в течение 6 часов (см. M.F. Dubovik et.al. "On some electrophysical parameters of langasite crystals", 1996 IEEE International frequency control symposium, p.84-89). В известном способе термообработке подвергают пластины, вырезанные из кристаллов ЛГС, выращенных методом Чохральского из платинового тигля. A known method of heat treatment of single crystals of lanthanum gallium silicate, including exposure to air of an LGS plate 2-3 mm thick at a temperature of 1227 K for 6 hours (see MF Dubovik et.al. "On some electrophysical parameters of langasite crystals", 1996 IEEE International frequency control symposium, p. 84-89). In the known method, the plates are cut from LGS crystals grown by the Czochralski method from a platinum crucible.

Недостаток известного способа состоит в том, что низкая температура отжига не позволяет исключить механические напряжения в кристаллах ЛГС, особенно большого диаметра. The disadvantage of this method is that the low annealing temperature does not allow to exclude mechanical stresses in LGS crystals, especially of large diameter.

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к заявленному способу является способ термообработки монокристаллов лантангаллиевого силиката, включающий выдержку образцов при повышенной температуре (K. Shimamura et. al. "Growth and characterization of lanthanum gallium silicate La3Ga5SiO14 single crystals for piezoelectric applications". J. of Crystal Growth, 1996, v.163, p.388-392). В известном способе термообработке подвергают пластины ЛГС толщиной 1-3 мм, вырезанные из объемных кристаллов, выращенных методом Чохральского из платинового тигля. Выдержку проводят на воздухе при температуре 1673 K в течение 12 часов.The closest in technical essence and the achieved result to the claimed method is a method of heat treatment of single crystals of lanthanum gallium silicate, including exposure of samples at elevated temperature (K. Shimamura et. Al. "Growth and characterization of lanthanum gallium silicate La 3 Ga 5 SiO 14 single crystals for piezoelectric applications ". J. of Crystal Growth, 1996, v. 163, p. 388-392). In the known method, heat treatment is applied to LGS plates 1-3 mm thick, cut from bulk crystals grown by the Czochralski method from a platinum crucible. The exposure is carried out in air at a temperature of 1673 K for 12 hours.

Недостаток известного способа заключается в том, что в кристаллах ЛГС присутствуют рассеивающие центры, видимые в луче He-Ne лазера, при этом ситуация усугубляется тем, что по мере увеличения диаметра слитка количество рассеивающих центров возрастает. The disadvantage of this method is that in the LGS crystals there are scattering centers visible in the He-Ne laser beam, and the situation is aggravated by the fact that the number of scattering centers increases with increasing ingot diameter.

В рамках данной заявки решается задача разработки промышленного способа термообработки ЛГС, позволяющего получать монокристаллы лантангаллиевого силиката диаметром не менее 82 мм (по вписанной окружности на цилиндрической части слитка) и массой больше 3,5 кг, при этом кристаллы должны быть свободны от механических напряжений и рассеивающих центров, контролируемых в He-Ne лазере. Within the framework of this application, the task of developing an industrial method of heat treatment of LGS is solved, which allows one to obtain lantangallium silicate single crystals with a diameter of at least 82 mm (along an inscribed circle on the cylindrical part of the ingot) and weighing more than 3.5 kg, while the crystals should be free of mechanical stress and scattering centers controlled by a He-Ne laser.

Поставленная задача решается тем, что в способе термообработки монокристаллов лантангаллиевого силиката, включающем выдержку образцов при повышенной температуре, выдержку проводят при температуре из диапазона 1300 - 1673 К в течение 20-36 ч в среде аргона при давлении 1,1-1,8 атм. The problem is solved in that in the method of heat treatment of single crystals of lanthanum gallium silicate, which includes exposure of the samples at elevated temperature, the exposure is carried out at a temperature from the range of 1300-1673 K for 20-36 hours in argon at a pressure of 1.1-1.8 atm.

Авторами был экспериментально установлен оптимальный диапазон изменения величины температуры и времени отжига, величины давления защитной атмосферы аргона. The authors experimentally established the optimal range of changes in the temperature and annealing time, the pressure of the protective atmosphere of argon.

Пример. В данном способе проводят термообработку кристаллов ЛГС, выращенных методом Чохральского. Кристаллы выращивают в иридиевом тигле из шихты, полученной методом самораспространяющегося высокотемпературного синтеза (СВС), при этом в качестве исходных компонент берут оксид лантана чистотой 99,99%, оксид галлия чистотой 99,99% и галлий металлический чистотой 99,999%. Исходная шихта, полученная методом СВС, соответствует составу La3Ga5SiO14. Выращенный кристалл имеет массу 3,65 кг и диаметр по вписанной окружности на цилиндрической части 82 мм. После окончания роста кристалл охлаждают в ростовой камере до комнатной температуры как минимум 24 часа. Затем объемный кристалл выдерживают при температуре 1423 K в течение 22 часов в среде аргона при давлении 1,6 атм. Контроль в луче He-Ne лазера не показал наличия рассеивающих центров. Кроме того, данная термообработка позволила исключить механические напряжения в кристалле ЛГС.Example. In this method, heat treatment of LGS crystals grown by the Czochralski method is carried out. The crystals are grown in an iridium crucible from a mixture obtained by self-propagating high-temperature synthesis (SHS), with lanthanum oxide of 99.99% purity, gallium oxide of 99.99% purity and gallium metal of 99.999% purity as initial components. The initial mixture obtained by the SHS method corresponds to the composition of La 3 Ga 5 SiO 14 . The grown crystal has a mass of 3.65 kg and an inscribed circle diameter on the cylindrical part of 82 mm. After growth, the crystal is cooled in the growth chamber to room temperature for at least 24 hours. Then, the bulk crystal is kept at a temperature of 1423 K for 22 hours in argon at a pressure of 1.6 atm. The control in the beam of the He-Ne laser did not show the presence of scattering centers. In addition, this heat treatment made it possible to exclude mechanical stresses in the LGS crystal.

Данный способ термообработки монокристаллов ЛГС приводит к изменению окрашивания образцов. Спектры оптического пропускания кристаллов лангасита приведены на фиг.1. Образцами служили пластины лангасита толщиной 2 мм до и после термообработки (см. кривые 1 и 2, соответственно). This method of heat treatment of LGS single crystals leads to a change in the staining of the samples. The optical transmission spectra of langasite crystals are shown in figure 1. Langasite plates 2 mm thick before and after heat treatment served as samples (see curves 1 and 2, respectively).

Claims (1)

Способ термообработки монокристаллов лантангаллиевого силиката, включающий выдержку образцов при повышенной температуре, отличающийся тем, что выдержку проводят при температуре из диапазона 1300-1673 К в течение 20-36 ч в среде аргона при давлении 1,1-1,8 атм. The method of heat treatment of single crystals of lanthanum gallium silicate, including exposure of samples at elevated temperature, characterized in that the exposure is carried out at a temperature from the range of 1300-1673 K for 20-36 hours in argon atmosphere at a pressure of 1.1-1.8 atm.
RU97106629A 1997-04-22 1997-04-22 Method of thermally treating monocrystals of lanthanum-gallium silicate RU2126853C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU97106629A RU2126853C1 (en) 1997-04-22 1997-04-22 Method of thermally treating monocrystals of lanthanum-gallium silicate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU97106629A RU2126853C1 (en) 1997-04-22 1997-04-22 Method of thermally treating monocrystals of lanthanum-gallium silicate

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2126853C1 true RU2126853C1 (en) 1999-02-27
RU97106629A RU97106629A (en) 1999-04-10

Family

ID=20192314

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU97106629A RU2126853C1 (en) 1997-04-22 1997-04-22 Method of thermally treating monocrystals of lanthanum-gallium silicate

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2126853C1 (en)

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. K. Shimamura et. al. "Growth and characterization of lanthanum gallium silicate La 3 Ga 5 SiO 14 single crystals for piezoelectic applications". J. of Crystal Growth 1996, v.163, p.388-392. 2. *
4. Андреев И.А. и др. Новый пьезоэлектрик "Лангасит" La 3 Ga 5 SiO 14 - материал с нулевым температурным коэффициентом частоты упругих колебаний. Ж. "Письма в ЖТФ", 1984, 10, N 8, 487-491. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Mulvihill et al. The role of processing variables in the flux growth of lead zinc niobate-lead titanate relaxor ferroelectric single crystals
Shi-Ji et al. Bridgman growth of Li2B4O7 crystals
Murakami Thermal strain in lead thin films II: strain relaxation mechanisms
Nehari et al. Czochralski crystal growth and characterization of large langatate (La 3 Ga 5.5 Ta 0.5 O 14, LGT) crystals for SAW applications
Route et al. Growth of AgGaSe2 for infrared applications
KR100345020B1 (en) Langasite wafer and method of producing same
RU2126853C1 (en) Method of thermally treating monocrystals of lanthanum-gallium silicate
EP3992598A1 (en) Piezoelectric material, piezoelectric member, piezoelectric element, and pressure sensor
Buzanov et al. A new approach to the growth of langasite crystals
CN110318097B (en) Preparation method of lanthanum gallium niobate single crystal
EP0355476B1 (en) Composition for growth of homogeneous lithium niobate crystals
Shoudu et al. Czochralski growth of rare-earth orthosilicates–Y2SiO5 single crystals
US4187139A (en) Growth of single crystal bismuth silicon oxide
Savage et al. The role of a CVD research reactor in studies of the growth and physical properties of ZnS infrared optical material
EP3272914A1 (en) Lanthanum fluoride single crystal, and optical component
Halliyal et al. Piezoelectric properties of lithium borosilicate glass ceramics
RU2108418C1 (en) Method for growing single crystals of lanthanum-gallium silicate
Shankar et al. Dielectric dispersion and piezoelectric resonance in benzil single crystals grown by Bridgman-Stockbarger technique
JPH0952788A (en) Manufacture of single crystal and manufacturing apparatus
Petrosyan et al. Formation and properties of crystalline compounds in the Lu2O3-Al2O3 system
RU2126064C1 (en) Method of growing single crystals of lanthanum-gallium silicate
Gualtieri et al. Dilithium tetraborate (Li/sub 2/B/sub 4/O/sub 7/) fabrication technology
RU2399594C1 (en) Method of producing glassceramic pyroelectric material
Feigelson et al. Crystal growth and optical properties of CdGa2S4
RU2156327C2 (en) Method of preparing charge for growing lanthanum-gallium silicate monocrystals