RU2073196C1 - Photoelectric measuring microscope - Google Patents
Photoelectric measuring microscope Download PDFInfo
- Publication number
- RU2073196C1 RU2073196C1 RU93031495A RU93031495A RU2073196C1 RU 2073196 C1 RU2073196 C1 RU 2073196C1 RU 93031495 A RU93031495 A RU 93031495A RU 93031495 A RU93031495 A RU 93031495A RU 2073196 C1 RU2073196 C1 RU 2073196C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- collimator
- autocollimator
- lens
- photodiode
- scanner
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к оптико-электронной прецизионной измерительной технике, допускающей прямой отсчет показаний механических смещений. The invention relates to optical-electronic precision measuring equipment, allowing direct reading of the readings of mechanical displacements.
Известно устройство для высокоточной наводки на центр штриха эталонной шкалы фотоэлектрический микроскоп. A device for high-precision aiming at the center of the stroke of the reference scale photoelectric microscope.
В устройстве в оптическом тракте содержатся источник света, щелевая диафрагма, конденсор, объектив, сканатор в виде колеблющегося зеркала, шкала с темными штрихами, основные и вспомогательные фотоприемники и блок преобразования импульсных сигналов выходной сигнал /1/. The device in the optical path contains a light source, a slit diaphragm, a condenser, a lens, a scanner in the form of an oscillating mirror, a scale with dark strokes, primary and secondary photodetectors, and a pulse signal conversion block output signal / 1 /.
Недостатком указанного устройства, в котором происходит фазово-импульсное преобразование информации о положении штриха, является пригодность его к работе только в режиме нуль-индикации. The disadvantage of this device, in which there is a phase-pulse conversion of information about the position of the stroke, is its suitability for operation only in zero indication mode.
Измерение даже малых отклонений от центра штриха происходит с низкой точностью из-за искажения формы импульсов, а также непостоянства амплитуды сканирования. Even small deviations from the center of the line are measured with low accuracy due to distortion in the shape of the pulses, as well as inconsistencies in the scanning amplitude.
Наиболее близким техническим решением является измерительный фотоэлектрический микроскоп, содержащий корпус, источник света и оптически связанные коллиматор, включающий конденсор, щелевую диафрагму и фотодиод, зеркальный сканатор, объектив и измерительную линейку, и электронный блок преобразования сигналов /2/. The closest technical solution is a measuring photoelectric microscope containing a housing, a light source and an optically coupled collimator, including a capacitor, a slit diaphragm and a photodiode, a mirror scanner, a lens and a measuring line, and an electronic signal conversion unit / 2 /.
Недостатком известного устройства является недостаточная точность измерения, обусловленная искажением формы импульсов. A disadvantage of the known device is the lack of measurement accuracy due to distortion of the shape of the pulses.
Целью изобретения является повышение точности измерения. The aim of the invention is to improve the accuracy of measurement.
На фиг.1 представлена схема оптического тракта и электронного блока микроскопа. Figure 1 presents a diagram of the optical path and the electronic unit of the microscope.
На фиг.2 графики сигналов в электронном блоке. Figure 2 graphs of the signals in the electronic unit.
Фотоэлектрический микроскоп содержит корпус 1, оптически связанные коллиматор 2, включающий источник 3, конденсор 4, щелевую диафрагму 5 и фотодиод 6, зеркальный сканатор 7, объектив 8, измерительную линейку 9, электронный оптический блок 10 преобразования сигналов, выполненный в виде двухканальной схемы 11 усиления и формирования импульсов, RS-триггера 12 и фильтра 13 нижних частот, автоколлиматор 14, установленный с возможностью изменения углового положения и выполненный в виде последовательно расположенных объектива 15, диафрагмы 16 с двумя параллельно ориентированными щелями 17 и с размещенными за одной из них фотодиодом 18 и соответственно за другой светодиодом 19, автоколлиматор 14 расположен на боковой стенке корпуса 1 таким образом, что угол между его оптической осью и осью коллиматора 2 составляет нечетное число половин углов, граней зеркального сканатора 7, который выполнен в виде многогранника, расположенного со стороны, противоположной установке объектива 8 относительно измерительной линейки 9, фотодиод 18 коллиматора 14 выполнен с размером входного окна вдоль направления перемещения линейки 9, не меньшим половины, и не большим, чем целое расстояние между соседними штрихами линейки 9, фотодиоды 6 и 18 соединены с входами схемы 11, выходы которой подключены к входам триггера 12, выход которого соединен с фильтром 13 нижних частот, а коллиматор 2 установлен на той же стенке корпуса 1, что и автоколлиматор 14 и размещен таким образом, что оптические оси источника 3 и объектива 8 составляют угол 90o и биссектриса указанного угла проходит через ось вращения сканатора 7.The photoelectric microscope contains a housing 1, optically coupled collimator 2, including a source 3, a condenser 4, a slit aperture 5 and a photodiode 6, a mirror scanner 7, a lens 8, a measuring line 9, an electronic optical signal conversion unit 10, made in the form of a two-channel amplification circuit 11 and pulse shaping, RS-flip-flop 12 and low-pass filter 13, auto-collimator 14, mounted with the possibility of changing the angular position and made in the form of a sequentially located lens 15, aperture 16 with two parallels with the specifically oriented slots 17 and with the photodiode 18 located behind one of them and respectively the other LED 19, the autocollimator 14 is located on the side wall of the housing 1 so that the angle between its optical axis and the axis of the collimator 2 is an odd number of half angles, faces of the mirror scanner 7, which is made in the form of a polyhedron located on the side opposite to the lens 8 relative to the measuring line 9, the photodiode 18 of the collimator 14 is made with the size of the input window along the direction room line 9, not less than half, and not more than the whole distance between adjacent strokes of line 9, the photodiodes 6 and 18 are connected to the inputs of the circuit 11, the outputs of which are connected to the inputs of the trigger 12, the output of which is connected to the low-pass filter 13, and the collimator 2 is mounted on the same wall of the housing 1 as the autocollimator 14 and is arranged in such a way that the optical axes of the source 3 and the lens 8 make an angle of 90 ° and the bisector of the specified angle passes through the axis of rotation of the scanner 7.
Микроскоп функционирует следующим образом. The microscope operates as follows.
В положении, показанном на фиг.1, в результате вращения сканатора 7, происходит многократное одностороннее линейное сканирование световой полоски по линейки 9, в результате чего в фотодиодах 6 и 18 возникают импульсы через одинаковые интервалы времени
r1=r2=T/2,
где Т период сканирования.In the position shown in Fig. 1, as a result of the rotation of the scanner 7, multiple single-sided linear scanning of the light strip along the line 9 occurs, as a result of which pulses occur at the same time intervals in the photodiodes 6 and 18
r 1 = r 2 = T / 2,
where T is the scanning period.
Графики этих импульсов после их формирования, показаны на фиг.2а, на котором опорный импульс от автоколлиматора 14 показан с большей амплитудой. В сигнале триггера 12, приведенном на фиг.2б, нет постоянной составляющей напряжения, т.е. микроскоп установлен точно против центра щели линейки 9 и с этой точкой совпадает центр сканирования /точного совпадения добиваются путем юстировки положения автоколлиматора 14/. Graphs of these pulses after their formation are shown in FIG. 2a, in which the reference pulse from the autocollimator 14 is shown with a larger amplitude. In the signal of the trigger 12, shown in figb, there is no constant component of the voltage, i.e. the microscope is installed exactly against the center of the slit of the ruler 9 and the center of scanning coincides with this point / exact match is achieved by adjusting the position of the autocollimator 14 /.
Если теперь линейка 9 сместится на небольшое расстояние, то опорные импульсы останутся в том же месте на графике фиг.2а, а измерительные импульсы займут другое положение /прерывистые линии/. В результате длительности положительных и отрицательных импульсов на выходе триггера 12 r1≠r2, фиг.2в, и в его сигнале появляется постоянная оставляющая , выделяемая фильтром 13 нижних частот,
где Uo амплитуда импульсов с триггера;
Xo амплитуда сканирования.If now the ruler 9 is shifted a short distance, then the reference pulses will remain in the same place on the graph of figa, and the measuring pulses will occupy a different position / broken lines /. As a result of the duration of the positive and negative pulses at the output of the trigger 12 r 1 ≠ r 2 , figv, and in his signal appears constant leaving allocated by the low pass filter 13,
where U o the amplitude of the pulses from the trigger;
X o the amplitude of the scan.
В силу оговоренных выше условий о размерах d фотодиода
где: l расстояние между штрихами, микроскоп допускает измерения отклонений от центра щели на расстоянии несколько превышающие .Due to the above conditions on the dimensions d of the photodiode
where: l the distance between the strokes, the microscope allows the measurement of deviations from the center of the gap at a distance slightly exceeding .
Однако, плавный переход без потери информации от измерения вблизи одной щели к измерениям вблизи соседней не представляется возможным. However, a smooth transition without loss of information from measurements near one slit to measurements near the neighboring one is not possible.
В данном случае необходимо сначала установить нулевое положение микроскопа над другой щелью, а затем измерять отклонения от этого положения. In this case, you must first establish the zero position of the microscope over another slit, and then measure the deviations from this position.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU93031495A RU2073196C1 (en) | 1993-06-10 | 1993-06-10 | Photoelectric measuring microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU93031495A RU2073196C1 (en) | 1993-06-10 | 1993-06-10 | Photoelectric measuring microscope |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU93031495A RU93031495A (en) | 1995-12-20 |
RU2073196C1 true RU2073196C1 (en) | 1997-02-10 |
Family
ID=20143388
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU93031495A RU2073196C1 (en) | 1993-06-10 | 1993-06-10 | Photoelectric measuring microscope |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2073196C1 (en) |
-
1993
- 1993-06-10 RU RU93031495A patent/RU2073196C1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Авторское свидетельство СССР N 567093, кл. G 01B 9/04, 1977. 2. Патент Великобритании N 1301626, кл. G 01B 9/04, 1971. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4744661A (en) | Device for measuring small distances | |
JPS6166936A (en) | Optical, electrical and mechanical device for measuring physical parameter | |
RU64757U1 (en) | OPTICAL ANGLOMER DEVICE | |
JPH0652170B2 (en) | Optical imaging type non-contact position measuring device | |
US3614212A (en) | Oscillating light beam generating device | |
US3496364A (en) | Linear encoder having a fringe pattern produced by optical imaging | |
RU2073196C1 (en) | Photoelectric measuring microscope | |
US3552857A (en) | Optical device for the determination of the spacing of an object and its angular deviation relative to an initial position | |
US4143268A (en) | Arrangement for measuring angles | |
RU2069309C1 (en) | Electro-optic wide-range linear shifts meter | |
SU587322A1 (en) | Photoelectric microscope | |
SU1649345A1 (en) | Device for checking lens quality | |
RU2082087C1 (en) | Optical-electronic device which measures position of angle meter dial | |
SU699403A1 (en) | Pulsed reflectometer | |
SU1714348A1 (en) | Device for control of angle of beam deflection and of pyramidality of prisms ap-@@@ | |
SU706694A1 (en) | Photoelectronic automatic collimator | |
SU1421992A1 (en) | Device for measuring focal distances | |
SU1187029A1 (en) | Flow-type refractometer | |
SU1695162A1 (en) | Focometer | |
SU1776989A1 (en) | Angle-of-twist sensor | |
SU1283522A1 (en) | Device for determining deformations of shell | |
SU1458779A1 (en) | Autocollimation method of determining refraction indexes of wedge-shaped specimens | |
SU1054749A1 (en) | Device for measuring index of refraction for transparent medium and its fluctuations | |
SU1054680A1 (en) | Method of gauging linear dimensions of opaque objects | |
RU2092790C1 (en) | Optico-electron meter of angle of turn of alidade |