RU2059228C1 - Device for defectoscopic checking of optically transparent crystals - Google Patents
Device for defectoscopic checking of optically transparent crystals Download PDFInfo
- Publication number
- RU2059228C1 RU2059228C1 SU5061347A RU2059228C1 RU 2059228 C1 RU2059228 C1 RU 2059228C1 SU 5061347 A SU5061347 A SU 5061347A RU 2059228 C1 RU2059228 C1 RU 2059228C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- crystal
- input
- counter
- output
- optical system
- Prior art date
Links
Images
Abstract
Description
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для дефектоскопического контроля оптически прозрачных, например часовых, кристаллов. The invention relates to a control and measuring technique and can be used for inspection of optically transparent, for example watch, crystals.
Известно устройство, содержащее источники света, оптическую систему и электронные блоки обработки [1]
Недостатком этого устройства является низкая точность, так как различные дефекты в кристаллах могут взаимно компенсироваться и не будут влиять на общий световой поток, прошедший через кристалл или отраженный от него.A device containing light sources, an optical system and electronic processing units [1]
The disadvantage of this device is the low accuracy, since various defects in the crystals can be mutually compensated and will not affect the total light flux passing through the crystal or reflected from it.
Наиболее близким к изобретению является устройство для электрооптической проверки изделий [2] содержащее источник света, оптическую систему, фотоприемную матрицу, телекамеру, устройство отработки, в котором каждый элемент фотоприемной матрицы выдает сигнал, являющийся функцией света, излученного дискретной областью кристалла, а устройство отработки фиксирует отклонения этого сигнала от некоторого базового сформированного за одно сканирование. Closest to the invention is a device for electro-optical verification of products [2] containing a light source, an optical system, a photodetector, a television camera, a development device, in which each element of the photodetector produces a signal that is a function of the light emitted by the discrete region of the crystal, and the development device captures deviations of this signal from some basic one generated in one scan.
Недостатком данного устройства является невысокая точность контроля кристаллов, имеющих участки с неодинаковым светопропусканием (отверстия, фаски, углубления), так как в этом случае базовый сигнал для различных участков кристалла будет разным. The disadvantage of this device is the low accuracy of control of crystals having areas with unequal light transmission (holes, bevels, recesses), since in this case the basic signal for different sections of the crystal will be different.
Задачей изобретения является повышение точности контроля кристаллов, имеющих участки с неодинаковым светопропусканием. The objective of the invention is to increase the accuracy of control of crystals having areas with unequal light transmission.
Для этого в устройство дефектоскопического контроля оптически прозрачных кристаллов, содержащее последовательно связанные источник света, оптическую систему, телекамеру, дифференцирующее устройство и усилитель, введены сравнивающее устройство, счетчик, цифровой компаратор и запоминающее устройство, причем выход усилителя подключен к одному из входов сравнивающего устройства, на другой вход которого подключено задающее напряжение, выход сравнивающего устройства подключен к входу счетчика, а выход счетчика подключен к одному из входов цифрового компаратора, ругой вход которого подключен к выходу запоминающего устройства. To do this, a comparison device, a counter, a digital comparator and a storage device are introduced into the device for inspection of optically transparent crystals, which contains series-connected light sources, an optical system, a television camera, a differentiating device, and an amplifier, and the amplifier output is connected to one of the inputs of the comparison device another input of which a reference voltage is connected, the output of the comparator is connected to the input of the counter, and the output of the counter is connected to one of the input s of a digital comparator, whose other input is connected to the output of the storage device.
Это дает возможность формировать базовый сигнал, не по усредненному значению, полученному в результате сканирования всего кристалла, а по числу перепадов освещенной различных участков кристалла, которое для годных образцов всегда одинаково и может быть заранее запомнено. Наличие дефекта в структуре кристаллов приведет к появлению "лишних" перепадов освещенностей (импульсов в счетчике), которые позволяет отбраковать кристалл. This makes it possible to generate a basic signal, not by the average value obtained by scanning the entire crystal, but by the number of drops of the illuminated different sections of the crystal, which is always the same for suitable samples and can be stored in advance. The presence of a defect in the crystal structure will lead to the appearance of "extra" differences in illumination (pulses in the counter), which allows the crystal to be rejected.
Тем самым повышается точность контроля кристаллов со сложной поверхностной конфигурацией, а также повышается скорость контроля, так как дефект может быть выявлен всего за одно сканирование изображения. This increases the accuracy of inspection of crystals with a complex surface configuration, and also increases the speed of inspection, since a defect can be detected in just one image scan.
На фиг.1 изображена структурная схема предлагаемого устройства; на фиг.2 образец кристалла с дефектами и соответствующие ему сигналы для одной строчки сканирования. Figure 1 shows the structural diagram of the proposed device; in Fig.2 a sample of a crystal with defects and the corresponding signals for one scan line.
Устройство состоит из источника 1 света, оптической системы 3 и 2, телекамеры 4, блока 5 дифференцирования и устройства 6 обработки сигналов, состоящего из последовательно соединенных усилителя 7, сравнивающего устройства 8, счетчика 9, цифрового компаратора 10 и запоминающего устройства 11. The device consists of a light source 1, an
В зону контроля, расположенную между оптическими системами 2 и 3, манипулятором подается контролируемый кристалл 12. Взаимосвязи элементов показаны на фиг.1. In the control zone located between the
Устройство работает следующим образом. The device operates as follows.
Источник 1 света создает с помощью оптической системы 2 равномерный световой поток, который, пройдя через кристалл 12, фокусируется оптической системой 3 и поступает на вход телекамеры 4. Видеосигнал (фиг.2 б), пройдя через блок 5 дифференцирования, поступает на устройство 6 обработки. Входной сигнал устройства 6 обработки представлен на фиг.2 в. Этот сигнал усиливается усилителем 7 и поступает на один вход сравнивающего устройства 8, на другой вход которого подано образцовое напряжение Uобр (фиг.2 г). Таким образом на выходе сравнивающего устройства 8 будут присутствовать импульсы (фиг. 2 д), соответствующие перепадам видеосигнала, независимо от уровня освещенности поверхности кристалла 12. Эти импульсы поступают на счетчик 9, на выходе которого двоичный код соответствует числу импульсов на входе. Двоичный код счетчика 9 сравнивается цифровым компаратором 10 с двоичным кодом запоминающего устройства 11, где записан двоичный код, соответствующий годному кристаллу. Если двоичный код проверяемого кристалла превышает код годного кристалла, цифровой компаратор 10 выдает сигнал "брак", в противном случае кристалл годный.The light source 1 creates, using the
Использование предлагаемого устройства совместно с роботом-манипулятором позволяет автоматизировать процесс контроля оптически прозрачных кристаллов, повысить точность и достоверность контроля кристаллов со сложной поверхностной конфигурацией. Using the proposed device in conjunction with a robot manipulator allows you to automate the control process of optically transparent crystals, to increase the accuracy and reliability of control crystals with a complex surface configuration.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU5061347 RU2059228C1 (en) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | Device for defectoscopic checking of optically transparent crystals |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU5061347 RU2059228C1 (en) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | Device for defectoscopic checking of optically transparent crystals |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2059228C1 true RU2059228C1 (en) | 1996-04-27 |
Family
ID=21612856
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU5061347 RU2059228C1 (en) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | Device for defectoscopic checking of optically transparent crystals |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2059228C1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103344651A (en) * | 2013-05-08 | 2013-10-09 | 中北大学 | Method of detecting glass defects based on phase image processing |
-
1992
- 1992-09-02 RU SU5061347 patent/RU2059228C1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Патент ФРГ GE 3518043, кл. G 01N 21/88, 1986. 2. Патент США N 4764681, кл. G 01N 21/88, 1988. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103344651A (en) * | 2013-05-08 | 2013-10-09 | 中北大学 | Method of detecting glass defects based on phase image processing |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0248872B2 (en) | ||
JP3105702B2 (en) | Optical defect inspection equipment | |
JP2002062267A (en) | Device for inspecting defect | |
JP2019032298A (en) | System and method for high speed low noise in process hyper spectrum nondestructive evaluation of rapid composite manufacture | |
FR2729220B1 (en) | COLORIMETRIC MEASUREMENT DEVICE OF A DISPLAY SCREEN | |
US7023542B2 (en) | Imaging method and apparatus | |
RU2059228C1 (en) | Device for defectoscopic checking of optically transparent crystals | |
KR900005346B1 (en) | Detection of surface particles by dual semiconductor lasers having stable illumination intensities | |
ATE189927T1 (en) | METHOD AND DEVICE FOR SPECTRAL IMAGE CAPTURE | |
EA026433B1 (en) | Optical fiber laser sorter | |
SU1366922A1 (en) | Nephelometer | |
US4555181A (en) | Apparatus for automatically detecting and evaluating the characteristics of prints | |
JPH04113260A (en) | Method and apparatus for detecting surface defect | |
CN113237891A (en) | Detection system | |
JPH03102249A (en) | Method and apparatus for detecting foreign matter | |
US4512663A (en) | Optical inspection of machined surfaces | |
RU2035721C1 (en) | Method of checking transparency of flat light-translucent materials | |
JPS5868651A (en) | Tester for surface of photosensitive film | |
JPH04307358A (en) | Surface inspection apparatus | |
SU1430902A1 (en) | Optical radiation spectrometer | |
SU1352202A1 (en) | Device for checking roughness of surface | |
SU1578470A1 (en) | Apparatus for checking appearance of parts of bushing type | |
SU330667A1 (en) | DEVICE FOR ASSESSMENT OF REGISTERED PHYSICAL VALUES | |
RU1770847C (en) | Refraction index gradient distribution measuring device | |
SU1495691A1 (en) | Nephelometric analyser |