JPH04113260A - Method and apparatus for detecting surface defect - Google Patents

Method and apparatus for detecting surface defect

Info

Publication number
JPH04113260A
JPH04113260A JP23060690A JP23060690A JPH04113260A JP H04113260 A JPH04113260 A JP H04113260A JP 23060690 A JP23060690 A JP 23060690A JP 23060690 A JP23060690 A JP 23060690A JP H04113260 A JPH04113260 A JP H04113260A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
inspected
light receiving
color component
lights
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23060690A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kozo Maeda
孝三 前田
Masaki Takenaka
竹中 正樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Engineering Corp
Original Assignee
NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NKK Corp, Nippon Kokan Ltd filed Critical NKK Corp
Priority to JP23060690A priority Critical patent/JPH04113260A/en
Publication of JPH04113260A publication Critical patent/JPH04113260A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable detection of color shading due to stain or the like, in addition to a surface flaw of a substance to be inspected, by detecting a surface defect of the substance by discriminating a change in the value of an electric signal of each light-sensing element for a detected three-primary-color component light. CONSTITUTION:A red light source 3R and a blue light source 3B are provided respectively in the left and right opposite directions to a color detecting camera 2 disposed above a substance 1 to be inspected. A reflected light from the substance picked up by an image pickup lens 21 of the color detecting camera 2 is separated into its spectral components through filters 22R, 22G and 22B for R, G and B and applied as components lights of three primary colors of R, G and B to linear array photosensors 23R, 23G and 23B for R, G and B respectively. An inspection control device 5 conducts mutual comparison of color component data of red, green and blue signals with one another and executes discrimination as to whether the relevant surface position of the substance 1 to be inspected is a sound part or a defective part.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は例えば鋼板などの被検査物の表面の疵及び色ム
ラなどの表面欠陥を検出する方法及びその装置に関する
ものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method and apparatus for detecting surface defects such as scratches and uneven coloring on the surface of an object to be inspected, such as a steel plate.

[従来の技術] 鋼板の表面欠陥には、例えばカキ疵、打ち疵などの表面
疵や色ムラなどがある。
[Prior Art] Surface defects on steel sheets include, for example, surface defects such as scratches and scratches, and color unevenness.

従来これら表面欠陥の検出方法としては、被検査物に磁
界を与え、欠陥部からの漏洩磁束を検知するか、もしく
は検出コイルと被検査物との間の磁気結合係数の変化を
検知する磁気探傷法や、被検査物の表面に微小なレーザ
ビームを照射して走査したとき、その照射強度が欠陥部
で大きく変化することを利用した光学的検出法など種々
の方法が提案されている。
Conventional methods for detecting these surface defects include magnetic flaw detection, which applies a magnetic field to the object to be inspected and detects leakage magnetic flux from the defective part, or detects changes in the magnetic coupling coefficient between the detection coil and the object to be inspected. Various methods have been proposed, including optical detection methods that utilize the fact that when the surface of an object to be inspected is irradiated with a minute laser beam and scanned, the irradiation intensity changes greatly at the defective part.

[発明が解決しようとする課題] 上記の磁気探傷法においては、表面疵のように局部的に
断面形状の変化がある部分や、介在物などのように材質
の異なる異物が混入している部分の、いずれの部分にも
磁界を与えると漏洩磁束が生じる。また検出コイルと被
検査物との間の磁気結合係数の変化は、前記いずれの部
分においても発生する。
[Problem to be solved by the invention] In the magnetic flaw detection method described above, it is difficult to detect areas where the cross-sectional shape locally changes, such as surface flaws, or areas where foreign matter of different material is mixed, such as inclusions. When a magnetic field is applied to any part of the magnetic field, leakage magnetic flux occurs. Further, changes in the magnetic coupling coefficient between the detection coil and the object to be inspected occur in any of the above portions.

このように磁気探傷法では表面疵以外の内質欠陥も検出
対象となり両方が検出されてしまうため、表面欠陥のみ
を検査対象として絞った検査を行う場合には適さない。
In this way, the magnetic flaw detection method detects not only surface defects but also internal defects, and both are detected, so it is not suitable for conducting an inspection that focuses on surface defects only.

またこの検出方法においては、被検査物と検出部との距
離が変動すると、検出器の感度や磁気結合係数が変動す
るため、常に被検査物と検出器との距離を一定に保つた
めの保持機構が必要である。従って磁気探傷装置は大規
模で高価格になるという問題点があった。
In addition, in this detection method, if the distance between the object to be inspected and the detection part changes, the sensitivity and magnetic coupling coefficient of the detector will change, so it is necessary to maintain the distance between the object to be inspected and the detector at a constant value. A mechanism is necessary. Therefore, magnetic flaw detection equipment has the problem of being large-scale and expensive.

またレーザビームによる光学的検出法と磁気探傷法にお
いては、表面疵のように局部的な形状変化に対しては欠
陥検出が可能であるが、色ムラのように形状又は材質に
変化のないものについては検出ができないという問題点
があった。
In addition, optical detection methods and magnetic flaw detection methods using laser beams can detect defects in local shape changes such as surface flaws, but defects in which there is no change in shape or material such as color unevenness. There was a problem that it could not be detected.

またレーザビームによる光学的欠陥検出装置も高価であ
り、経済的な面から容易に導入できないという問題点が
あった。
Furthermore, an optical defect detection device using a laser beam is also expensive, and there is a problem in that it cannot be easily introduced from an economical point of view.

本発明はかかる問題点を解決するためになされたもので
、被検査物の表面疵のほか、汚れなどによる表面の色ム
ラについても検出が可能で、且つ装置が安価で構成でき
る表面欠陥検出方法及び装置を得ることを目的とする。
The present invention has been made to solve these problems, and is a surface defect detection method that can detect not only surface defects of an object to be inspected, but also surface color unevenness due to dirt, etc., and which can be configured at a low cost. and equipment.

[課題を解決するための手段] 本発明の請求項1に係る表面欠陥検出方法は、被検査物
の表面の同一位置に複数の単色光を相異なる方向から照
射し、該照射位置をカメラの視野内として撮影した反射
光を赤色、緑色、青色の3原色成分に分光し、該分光さ
れた各色成分光毎の強度レベルをそれぞれアレイ状に配
列された複数の受光素子により電気信号として検出し、
該検出した3原色成分光の各受光素子毎の電気信号の値
の変化を判別して被検査物の表面欠陥を検出するもので
ある。
[Means for Solving the Problems] A surface defect detection method according to claim 1 of the present invention irradiates a plurality of monochromatic lights from different directions onto the same position on the surface of an object to be inspected, and the irradiation position is detected by a camera. The reflected light photographed within the field of view is separated into three primary color components of red, green, and blue, and the intensity level of each separated color component light is detected as an electrical signal by a plurality of light receiving elements arranged in an array. ,
A surface defect on the object to be inspected is detected by determining changes in the value of the electric signal for each light receiving element of the detected three primary color component lights.

本発明の請求項2に係る表面欠陥検出方法は、前記請求
項1に係る方法において、前記被検査物の同一位置に照
射する複数の単色光はそれぞれ直線状に集束された光束
であり、前記分光された3原色成分光毎の強度レベルを
それぞれ電気信号として検出するアレイ受光素子は、各
色成分毎にそれぞれ複数の受光素子が直線状に配列され
たリニアアレイ配列のものである。
In the surface defect detection method according to claim 2 of the present invention, in the method according to claim 1, each of the plurality of monochromatic lights irradiated onto the same position of the object to be inspected is a linearly focused light beam, and The array light-receiving element that detects the intensity level of each of the three primary color component lights as an electrical signal is a linear array in which a plurality of light-receiving elements are linearly arranged for each color component.

本発明の請求項3に係る表面欠陥検出装置は、被検査物
の表面の同一位置に複数の単色光を相異なる方向から照
射する複数の単色光照射手段と、前記照射位置をカメラ
の視野内として、その反射光を撮影する撮影手段と、前
記撮影された反射光を赤色、緑色、青色の3原色成分に
分光する分光手段と、前記分光された3原色成分光をそ
れぞれアレイ状に配列された複数の受光素子により受光
し、各受光素子毎にその受光強度レベルを電気信号とし
てそれぞれ検出するアレイ受光センサと、前記アレイ受
光センサにより検出された3原色成分先の各受光素子毎
の電気信号の値の変化を判別して被検査物の表面欠陥を
検出する欠陥検出手段とを備えたものである。
The surface defect detection device according to claim 3 of the present invention includes a plurality of monochromatic light irradiating means for irradiating a plurality of monochromatic lights from different directions to the same position on the surface of an object to be inspected, and the irradiation position is within the field of view of a camera. a photographing means for photographing the reflected light; a spectroscopic means for dividing the photographed reflected light into three primary color components of red, green, and blue; an array light receiving sensor that receives light with a plurality of light receiving elements and detects the intensity level of the received light as an electrical signal for each light receiving element, and an electrical signal for each light receiving element of the three primary color components detected by the array light receiving sensor. and a defect detection means for detecting a surface defect of the object to be inspected by determining a change in the value of .

本発明の請求項4に係る表面欠陥検出装置は、前記請求
項3に係る装置において、前記被検査物の同一位置に照
射する複数の単色光照射手段として、それぞれの単色光
が前記照射位置において直線状に集束された光束を照射
する複数の直線状単色光照射手段と、前記分光された3
原色成分光毎の強度レベルをそれぞれ電気信号として検
出するアレイ受光センサとして、各色成分毎にそれぞれ
複数の受光素子が直線状に配列されたリニアアレイ受光
センサとを備えたものである。
The surface defect detection device according to claim 4 of the present invention is the device according to claim 3, in which a plurality of monochromatic light irradiating means irradiates the same position of the object to be inspected, and each monochromatic light is irradiated at the irradiation position. a plurality of linear monochromatic light irradiating means for irradiating linearly focused light beams;
The array light receiving sensor detects the intensity level of each primary color component light as an electric signal, and includes a linear array light receiving sensor in which a plurality of light receiving elements are linearly arranged for each color component.

[作 用] 本発明の請求項1及び請求項3に係る表示欠陥検出方法
及び装置においては、複数の単色光照射手段は、被検査
物の表面の同一位置に複数の単色光を相異なる方向から
照射し、撮影手段は前記照射位置をカメラの視野内とし
てその反射光を撮影する。分光手段は前記撮影された反
射光を赤色ミ緑色、青色の3原色成分に分光し、アレイ
受光センサは前記分光された3原色成分光をそれぞれア
レイ状に配列された複数の受光素子により受光し、各受
光素子毎にその受光強度レベルを電気信号としてそれぞ
れ検出する。欠陥検出手段は前記アレイ受光センサによ
り検出された3原色成分光の各受光素子毎の電気信号の
変化を判別して被検査物の表面欠陥を検出する。
[Function] In the display defect detection method and apparatus according to claims 1 and 3 of the present invention, the plurality of monochromatic light irradiation means emit a plurality of monochromatic lights in different directions to the same position on the surface of the object to be inspected. and the photographing means photographs the reflected light with the irradiation position within the field of view of the camera. The spectroscopy means separates the photographed reflected light into three primary color components of red, green, and blue, and the array light receiving sensor receives each of the separated three primary color component lights with a plurality of light receiving elements arranged in an array. , the received light intensity level of each light receiving element is detected as an electrical signal. The defect detection means detects surface defects of the object to be inspected by determining changes in electrical signals for each light receiving element of the three primary color component lights detected by the array light receiving sensor.

本発明の請求項2及び請求項4に係る表示欠陥検出法及
び装置においては、それぞれ前記請求項1及び請求項3
に係る方法及び装置における前記被検査物の同一位置に
照射する複数の単色光照射手段として、直線状単色光照
射手段はそれぞれの単色光が前記照射位置において直線
状に集束された光束を照射する。また前記分光された3
原色成分光毎の強度レベルをそれぞれ電気信号として検
出するアレイ受光センサとして、リニアアレイ受光セン
サが各色成分毎にそれぞれ直線状に配列された複数の受
光信号により信号検出を行なう。
In the display defect detection method and apparatus according to claim 2 and claim 4 of the present invention, the display defect detection method and apparatus according to claim 1 and claim 3 respectively
As a plurality of monochromatic light irradiating means for irradiating the same position of the object to be inspected in the method and apparatus according to the above, the linear monochromatic light irradiating means irradiates a luminous flux in which each monochromatic light is linearly focused at the irradiation position. . In addition, the spectroscopic 3
As an array light receiving sensor that detects the intensity level of each primary color component light as an electric signal, a linear array light receiving sensor performs signal detection using a plurality of light receiving signals arranged linearly for each color component.

「実施例] 第1図は本発明の一実施例を示す表面欠陥検出装置の構
成図であり、第2図(a)及び(b)はそれぞれ表面健
全部と表面欠陥部における光の反射を説明する図である
"Example" Figure 1 is a block diagram of a surface defect detection device showing an example of the present invention, and Figures 2 (a) and (b) show the reflection of light at a surface sound part and a surface defect part, respectively. FIG.

第1図及び第2図において、1は鋼板などの被検査物、
2は入射した光信号からR(赤色)、G(緑色)、B(
青色)の3原色成分の信号をそれぞれ検出するカラー検
出カメラである。
In Figs. 1 and 2, 1 indicates an object to be inspected such as a steel plate;
2 is R (red), G (green), B (
This is a color detection camera that detects signals of three primary color components (blue).

第3図は本発明に係るカラー検出カメラの一実施例を示
すブロック図であり、21は被検査物1の表面に照射さ
れた直線状の光束からの反射光を撮影して、この撮影し
た反射光を次段のフィルタへ供給する撮影レンズ、22
R,22G、 22Bはそれぞれ入射光をR,G、Hの
3原色の光に分光するR用、G用、B用のフィルタ、2
3R,23G、 23Bはそれぞれ3原色に分光された
光を照射されると、その光信号を電気信号に変換して出
力するリニアアレイ受光素子と、前記光・電変換された
電気信号を逐次シフトして出力するシフトレジスタとを
内蔵するR用、G用、B用のリニアアレイ受光センサで
ある。またこの3つのリニアアレイ受光センサ23R,
23G、 23B内の各リニアアレイ受光素子は、例え
ばそれぞれ1024個の受光素子が直線状に配列され、
各素子毎に照射された光強度に応じた電圧の電気信号を
出力し、この電圧信号がシフトレジスタを介して順次取
出されるものである。
FIG. 3 is a block diagram showing an embodiment of the color detection camera according to the present invention, and numeral 21 is a block diagram showing an embodiment of the color detection camera according to the present invention. Photographic lens that supplies reflected light to the next stage filter, 22
R, 22G, and 22B are R, G, and B filters that separate the incident light into the three primary colors of R, G, and H, respectively;
3R, 23G, and 23B each have a linear array light-receiving element that converts the optical signal into an electrical signal and outputs it when irradiated with light separated into three primary colors, and a linear array light-receiving element that converts the optical signal into an electrical signal and outputs it, and sequentially shifts the electrical signal that has been converted from optical to electrical. This is a linear array light-receiving sensor for R, G, and B, which has a built-in shift register that outputs signals. In addition, these three linear array light receiving sensors 23R,
Each of the linear array light receiving elements in 23G and 23B has, for example, 1024 light receiving elements arranged in a straight line,
Each element outputs an electrical signal with a voltage corresponding to the intensity of the irradiated light, and this voltage signal is sequentially taken out via a shift register.

24R,24G、 24BはそれぞれR用、G用、B用
の増巾器であり、前記各リニアアレイ受光センサ23R
,23G、 23Bの出力信号をそれぞれ信号増巾して
外部に出力する。25は走査制御回路であり、外部から
の走査制御信号に基づき、R用、G用、B用リニアアレ
イ受光センサ23R,23G、 23B内の各シフトレ
ジスタに供給するためのシフトクロック信号を発生して
出力する。例えば周波数60Hz(周期的18.7m5
)毎の走査制御信号に基づき、それぞれ1024個のシ
フトクロック信号を発生して出力する。
24R, 24G, and 24B are amplifiers for R, G, and B, respectively, and each of the linear array light receiving sensors 23R
, 23G, and 23B are each amplified and output to the outside. A scanning control circuit 25 generates a shift clock signal to be supplied to each shift register in the R, G, and B linear array light receiving sensors 23R, 23G, and 23B based on an external scanning control signal. and output it. For example, the frequency is 60Hz (periodic 18.7m5
), 1024 shift clock signals are generated and output based on the scan control signals for each.

第1図の3Rは例えば波長が600 rv以上の赤色の
光源、3Bは例えば波長が500 na+以下の青色の
光源、4R,4Bはそれぞれシリンドリカルレンズ(C
ylindrical Lens)である。
In Fig. 1, 3R is a red light source with a wavelength of 600 rv or more, 3B is a blue light source with a wavelength of 500 na+ or less, and 4R and 4B are cylindrical lenses (C
ylindrical Lens).

第4図はシリンドリカルレンズの形状とその光束とを説
明する図である。第4図に示されるようにシリンドリカ
ルレンズ(円柱レンズともいう)は、その縦断面が平行
四辺形であるから母線方向(図の上下の方向)には屈折
が起らない。しかし横断面は直線と円弧で囲まれている
から母線と直角な方向(図の左右の方向)には屈折が起
る。従って入射する平行光線は屈折の後にその焦線位置
において、母線方向に直線状の光束となるように集束さ
れる。
FIG. 4 is a diagram illustrating the shape of a cylindrical lens and its luminous flux. As shown in FIG. 4, a cylindrical lens (also referred to as a columnar lens) has a parallelogram in longitudinal cross section, so that no refraction occurs in the generatrix direction (vertical direction in the figure). However, since the cross section is surrounded by straight lines and circular arcs, refraction occurs in the direction perpendicular to the generatrix (left and right directions in the figure). Therefore, after refraction, the incident parallel light rays are focused at the focal line position into a linear light beam in the generatrix direction.

第1図の5は検査制御装置であり、この表面欠陥検出装
置全体の制御を行う装置である。
Reference numeral 5 in FIG. 1 is an inspection control device, which controls the entire surface defect detection device.

第5図は本発明に係る検査制御装置の一実施例を示すブ
ロック図であり、51R,51G、 51Bは前記カラ
ー検出カメラ2からそれぞれ入力されるR信号、G信号
、B信号用のバッファである。52R152G、 52
Bはそれぞれ前記バッファ51R,51G。
FIG. 5 is a block diagram showing an embodiment of the inspection control device according to the present invention, and 51R, 51G, and 51B are buffers for the R signal, G signal, and B signal inputted from the color detection camera 2, respectively. be. 52R152G, 52
B are the buffers 51R and 51G, respectively.

51Bから入力されるアナログ電圧信号をデジタルデー
タに変換するR用、G用、B用のA/D変換器、53は
走査信号増巾器であり、前記走査制御信号をカラー検出
カメラ2へ供給する。54はマイクロプロセッサなどを
中心として構成されるコントローラであり、内部にR,
G、Bデータ記憶部、データ比較部、判別部、プログラ
ム記憶部、制御部、走査データ出力部を含んでいる。R
,G、Bブタ−記憶部はR用、G用、B用A/D変換器
52R,52G、 52Bから逐次入力されるR、G、
Bデータを一旦記憶し、制御部の制御により読出したデ
ータをデータ比較部に供給する。データ比較部は、R,
G、Bリニアイレイ素子のIl、Ij−配列順位におけ
る異なるカラーデータ間のデータ値の比較や、配列順位
の前後による同一カラーデータ間のデータ値の比較など
を行なう。判別部は前記データ比較部の比較結果に基づ
き健全部か欠陥部か判別をする。プログラム記憶部はコ
ントローラ54が実行する検査プログラムを内蔵する。
A/D converters for R, G, and B convert analog voltage signals inputted from 51B into digital data, and 53 is a scanning signal amplifier, which supplies the scanning control signal to the color detection camera 2. do. 54 is a controller mainly composed of a microprocessor, etc., and internally includes R,
It includes a G and B data storage section, a data comparison section, a discrimination section, a program storage section, a control section, and a scanning data output section. R
, G, B data storage section stores R, G, and
The B data is temporarily stored, and the read data is supplied to the data comparison section under the control of the control section. The data comparison section is R,
Comparison of data values between different color data in Il and Ij arrangement order of G and B linear array elements, comparison of data values between same color data in front and rear arrangement order, etc. are performed. The determining unit determines whether the part is a healthy part or a defective part based on the comparison result of the data comparing part. The program storage section contains a test program executed by the controller 54.

制御部はプログラム記憶部から検査プログラムを読出し
、コントローラ54全体の制御を行なう。検査データ出
力部は判別部の判別結果を検査データとして出力する。
The control section reads the inspection program from the program storage section and controls the entire controller 54. The test data output section outputs the determination result of the discriminator as test data.

55は制御データ出力回路で、検査制御装置5から外部
(例えば被検査物の搬送制御装置)へ制御データを出力
する。56は検査データ出力回路で、検査制御装置5か
ら外部(例えばプリンタ、CRT表示装置、計録計など
)へ検査データを出力する。
Reference numeral 55 denotes a control data output circuit that outputs control data from the inspection control device 5 to the outside (for example, a transport control device for an object to be inspected). A test data output circuit 56 outputs test data from the test control device 5 to an external device (for example, a printer, a CRT display device, a timer, etc.).

また第1図のLR及びLBはそれぞれシリンドリカルレ
ンズ4R及び4Bにより、その焦線位置に集束された直
線状の光束である。
Further, LR and LB in FIG. 1 are linear light beams converged to their focal line positions by cylindrical lenses 4R and 4B, respectively.

第2図〜第5図を参照し、第1図の動作を説明する。The operation in FIG. 1 will be explained with reference to FIGS. 2 to 5.

第1図において、被検査物1の上部に配置されたカラー
検出カメラ2に対して左右の相対する方向にそれぞれ赤
色光源3R及び青色光源3Bを設ける。赤色光源3R及
び青色光源3Bからの各単色光はそれぞれシリンドリカ
ルレンズ4R及び4Bを通過すると、第4図において説
明したように、その焦線位置に直線状に集束された光束
LR及びLBが得られる。この2つの光束の焦線位置が
被検査物1の表面上の同一位置となるように2つの光源
3R,3B及びシリンドリカルレンズ4R。
In FIG. 1, a red light source 3R and a blue light source 3B are provided in opposite directions on the left and right with respect to a color detection camera 2 disposed above an object to be inspected 1. When the monochromatic lights from the red light source 3R and the blue light source 3B pass through the cylindrical lenses 4R and 4B, respectively, as explained in FIG. 4, the light beams LR and LB are linearly focused at their focal line positions. . The two light sources 3R, 3B and the cylindrical lens 4R are arranged so that the focal line positions of these two light beams are at the same position on the surface of the object 1 to be inspected.

4Bが配置される。第1図においては、被検査物1を鋼
板として、この鋼板が搬送される方向と直角方向の鋼板
上の同一の直線位置に2つの単色光の直線状の光束が照
射されるように調整される。
4B is placed. In Fig. 1, the object to be inspected 1 is a steel plate, and two linear beams of monochromatic light are adjusted so that they are irradiated at the same linear position on the steel plate in a direction perpendicular to the direction in which the steel plate is conveyed. Ru.

従って被検査物1の表面上の照射位置においては2つの
直線状の光束LR及びLBが照射される結果、赤色光と
青色光の波長域で合成された合成光の光束が照射される
ことになる。
Therefore, at the irradiation position on the surface of the object to be inspected 1, two linear light beams LR and LB are irradiated, and as a result, a light beam of composite light combined in the wavelength range of red light and blue light is irradiated. Become.

カラー検出カメラ2は前記2つの直線状光束LR及びL
Bが合成されて照射される被検査物1の真上に配置され
、その内蔵する撮影レンズ21は前記照射された光束が
被検査物1の表面から反射される反射光(合成光)を同
一位置から撮影できる十分なる視野角を有するものであ
る。撮影レンズ21により撮影された前記反射光は、そ
れぞれR用。
The color detection camera 2 detects the two linear light beams LR and L.
B is placed directly above the object to be inspected 1 which is irradiated with the synthesized light beams, and its built-in photographing lens 21 captures the reflected light (combined light) reflected from the surface of the object 1 by which the irradiated light beams are reflected. It has a sufficient viewing angle to allow photographing from any position. The reflected light photographed by the photographing lens 21 is for R.

G用、B用フィルタ22R,22G、 22Bを介して
分光され、R,G、Bの3原色成分光としてそれぞれR
用、G用、B用リニアアレイ受光センサ23R123G
、 23Bを照射する。ここで重要なことは、まずR用
、G用7 B用リニアアレイ受光素子のアレイ配列方向
と前記直線状の光束LR及びLBの照射される方向(即
ち2つのシリンドリカルレンズ4R及び4Bの焦線の方
向)とが完全に一致していること。次に前記直線状の光
束LR及びLBの照射される範囲(直線状の長さ)と撮
影レンズ21の視野とが適合していることである。
The light is separated through the G and B filters 22R, 22G, and 22B, and is divided into R, G, and B primary color component lights.
Linear array light receiving sensor 23R123G for
, 23B is irradiated. What is important here is that the array direction of the linear array light receiving elements for R, G, 7 B (direction) must match completely. Next, the range (linear length) to which the linear light beams LR and LB are irradiated matches the field of view of the photographing lens 21.

この結果被検査物1の照射範囲からの反射光により直線
状に配列された各リニアアレイ受光素子内の各受光素子
が十分に照射されることになる。
As a result, each light receiving element in each linear array light receiving element arranged in a straight line is sufficiently irradiated with the reflected light from the irradiation range of the inspected object 1.

このように赤色光源3R,青色光源3B、  シリンド
リカルレンズ4R及び4B、カラー検出カメラ2並びに
被検査物1の相互位置が決まると、被検査物は所定の速
度でその長手方向(第1図では右側の方向)に搬送され
る。そして検査制御装置5はそのプログラム記憶部に記
憶する検査プログラムに従い、例えば周波数60 Hz
毎に走査信号増巾器53を介して走査制御信号をカラー
検出カメラ2内の走査制御回路25へ送出する。走査制
御回路25は、前記60 t(zの周期以内に、例えば
1024個のシフトクロック信号をR用、G用、B用リ
ニアアレイ受光センサ23R,23G、 23B内の各
シフトレジスタに供給する。各リニアアレイ受光センサ
23R123G、 23Bは前記被検査物1の表面から
反射される3原色の各色成分毎の光強度に比例した電圧
信号を各素子(例えば前記1024個の素子)毎に蓄え
ており、この蓄えているそれぞれ1024個の赤色信号
r  、r  、r  ・・・、緑色信号g。1g1゜
g ・・・、青色信号す、b、b2・・・を前記シフト
クロック信号に基づき、それぞれ対応するR用。
Once the mutual positions of the red light source 3R, the blue light source 3B, the cylindrical lenses 4R and 4B, the color detection camera 2, and the object to be inspected 1 are determined, the object to be inspected moves at a predetermined speed in its longitudinal direction (the right side in Fig. 1). direction). Then, the inspection control device 5 operates at a frequency of 60 Hz, for example, according to the inspection program stored in its program storage section.
At each time, a scanning control signal is sent to the scanning control circuit 25 in the color detection camera 2 via the scanning signal amplifier 53. The scan control circuit 25 supplies, for example, 1024 shift clock signals to each shift register in the R, G, and B linear array light receiving sensors 23R, 23G, and 23B within the period of 60t(z). Each linear array light receiving sensor 23R123G, 23B stores a voltage signal proportional to the light intensity of each of the three primary color components reflected from the surface of the object 1 to be inspected for each element (for example, the 1024 elements). , these 1024 stored red signals r, r, r..., green signals g. For corresponding R.

G用、B用増巾器24R,24G、 24Bを介して検
査制御装置5へ送出する。
It is sent to the inspection control device 5 via the G and B amplifiers 24R, 24G, and 24B.

検査制御装置5は前記赤色信号、緑色信号、青色信号を
それぞれ対応するR用、G用、B用バッファ51R,5
1G、 51B及びA/D変換器52R,52G、 5
2Bを介して量子化された赤色データR。
The inspection control device 5 sends the red signal, green signal, and blue signal to corresponding R, G, and B buffers 51R, 5, respectively.
1G, 51B and A/D converter 52R, 52G, 5
Quantized red data R via 2B.

R、R・・・、緑色データG、G1.G2・・・青色デ
ータB  、B  、  B2・・・として、コントロ
−ラ54内のR,G、Bデータ記憶部に一旦記憶する。
R, R..., green data G, G1. G2... Blue data B, B, B2... are temporarily stored in the R, G, B data storage section in the controller 54.

コントローラ54はこのR,G、Bデータ記憶部に記憶
された3原色の各色成分データを読出し、データの相互
比較をして、被検査物1の該当する表面位置が健全部か
欠陥部かの判別を行なう。
The controller 54 reads out the color component data of the three primary colors stored in the R, G, B data storage section, compares the data with each other, and determines whether the corresponding surface position of the inspected object 1 is a healthy part or a defective part. Make a judgment.

第2図(a)は表面の健全部における光の反射を説明し
ており、直線状の赤色光束LRと青色光束LBから同程
度の散乱光が得られ、2つの反射強度分布はほぼ同一と
なる。
Figure 2 (a) explains the reflection of light on a healthy part of the surface, and the same degree of scattered light is obtained from the linear red light flux LR and blue light flux LB, and the two reflection intensity distributions are almost the same. Become.

第2図(b)は表面の欠陥部における光の反射を説明し
ており、被検査物1の疵の角度及び形状と2つの光束L
R及びLBの入射角との関係により、いずれか一方の単
色光の光束からの反射光がカラー検出カメラ2の方向に
強く反射する。例えば光束LRの方の光の反射が強い場
合、前記3原色のデータの同一配列順位における比較で
は、赤色データRの値が青色データB の値より大きく
なn                       
  nる。また同−力ラーデータの配列順位の前後によ
る比較では、赤色データのRの値はRの値n     
n−1 より大きくなり、青色データのB の値はB。−1の値
より小さくなる。
FIG. 2(b) explains the reflection of light at a defective part on the surface, and shows the angle and shape of the flaw on the object to be inspected 1 and the two light beams L.
Due to the relationship between the incident angles of R and LB, the reflected light from one of the monochromatic light beams is strongly reflected in the direction of the color detection camera 2. For example, when the reflection of the light beam LR is stronger, when comparing the data of the three primary colors in the same arrangement order, the value of the red data R is larger than the value of the blue data B.
nru. In addition, when comparing the order of the same color data before and after the arrangement order, the value of R of red data is the value of R
It becomes larger than n-1, and the value of B of the blue data is B. It becomes smaller than the value of -1.

また欠陥が汚れなどの色ムラである場合も、2つの光束
LR及びLBの反射光は健全部と異なる反射強度を示し
たり、一方の波長域で吸収が発生したりする。従って記
憶している健全部における正常のデータを基準として、
この正常データの値より比較的大きな値のデータや小さ
な値のデータが得られた場合に欠陥部であると判別する
ことができる。
Furthermore, if the defect is color unevenness such as dirt, the reflected light of the two light beams LR and LB may exhibit a different reflection intensity from that of a healthy area, or absorption may occur in one wavelength range. Therefore, based on the normal data in the memorized healthy part,
If data with a relatively larger value or data with a smaller value than the normal data value is obtained, it can be determined that it is a defective part.

第1図の実施例による表面欠陥検出装置では、カラー検
出カメラ2の視野を100龍〜200m+*の程度に設
定し、リニアアレイ受光素子の素子数を1024個とし
たので、被検査物1の巾方向を0.1〜[1,2mmの
分解能により欠陥検出が可能である。
In the surface defect detection device according to the embodiment shown in FIG. Defects can be detected with a resolution of 0.1 to 1.2 mm in the width direction.

また被検査物1を矢印の方向へ搬送させる移動速度と、
各リニアアレイ受光センサ23R,23G。
Also, the moving speed for transporting the inspected object 1 in the direction of the arrow,
Each linear array light receiving sensor 23R, 23G.

23Bから光・電変換された3原色の信号を読出す信号
走査速度とを同期させておけば(例えば信号の走査繰返
し周波数をfiOHzとし、この1/6o秒間における
被検査物1の移動距離を一定としておけば)、被検査物
1の2次元画像が得られ、欠陥の2次元的寸法を測定す
ることができる。
If the signal scanning speed for reading out the three primary color signals photo-electrically converted from 23B is synchronized (for example, if the signal scanning repetition frequency is fiOHz, the moving distance of the inspected object 1 in this 1/6o second is (if it is kept constant), a two-dimensional image of the inspected object 1 can be obtained, and the two-dimensional dimensions of the defect can be measured.

コントローラ54は検査データ出力回路56を介して外
部(例えばプリンタ、CRT表示装置など)へ検査デー
タを出力し、また制御データ出力回路55を介して外部
(例えば被検査物の搬送制御装置)へ制御データを出力
し、前記3原色の信号を読出す走査速度と搬送物の移動
速度との同期制御を行なうことができる。
The controller 54 outputs test data to the outside (for example, a printer, CRT display device, etc.) via the test data output circuit 56, and also outputs control data to the outside (for example, a transport control device for the object to be inspected) via the control data output circuit 55. It is possible to synchronize the scanning speed at which data is output and the signals of the three primary colors are read out and the moving speed of the conveyed object.

また本実施例においては、被検査物1に対して1組の表
面欠陥検出装置を用いる例を示したが、被検査物1の巾
方向に本装置を複数組並べて設置することにより、大き
な巾の(例えば1〜2m程度)の鋼板などを一度に検査
することができる。
Furthermore, in this embodiment, an example is shown in which one set of surface defect detection devices is used for the inspected object 1, but by installing multiple sets of this device in the width direction of the inspected object 1, it is possible to detect a large width. (for example, about 1 to 2 m) of steel plates can be inspected at one time.

また本実施例によれば、赤色光源や青色光源の単色光を
それぞれシリンドリカルレンズを介して直線状の光束に
集束し、これらの光束の合成光により被検査物の表面欠
陥を検出する例を示したが、本発明はこれに限定される
ものではない。
Further, according to this embodiment, an example is shown in which monochromatic light from a red light source and a blue light source is focused into a linear light beam through a cylindrical lens, and a surface defect of the object to be inspected is detected by the combined light of these light beams. However, the present invention is not limited to this.

例えば前記シリンドリカルレンズの焦線位置よりやや近
距離となる位置に被検査物の表面を配設すれば、被検査
物の表面の短冊状の面積が複数の単色光により照射され
るので、この照射部を通常のカラービデオカメラにより
撮影し、ビデオカメラ内の2次元に配列された3原色の
2次元アレイ受光センサからテレビのラスク走査と同様
な2次元走査を行なって色成分毎の信号を読出し、2次
元画像の各色成分毎のデータ比較を高速で行なうことが
できる。この場合は被検査物の搬送速度を速くして、能
率良く被検査物の表面欠陥を検出することができる。
For example, if the surface of the object to be inspected is placed at a position slightly closer than the focal line position of the cylindrical lens, the rectangular area of the surface of the object to be inspected will be irradiated with a plurality of monochromatic lights. The image is photographed by a normal color video camera, and signals for each color component are read out by performing a two-dimensional scan similar to the rask scan of a television from a two-dimensional array light receiving sensor for three primary colors arranged two-dimensionally within the video camera. , data comparison for each color component of a two-dimensional image can be performed at high speed. In this case, the transport speed of the object to be inspected can be increased to efficiently detect surface defects of the object to be inspected.

[発明の効果] 以上のようにこの請求項1または請求項3の発明におい
ては、被検査物の表面の同一位置に複数の単色光を相異
なる方向から照射し、該照射位置をカメラの視野内とし
て撮影した反射光を赤色、緑色、青色の3原色成分に分
光し、該分光された各色成分光毎の強度レベルをそれぞ
れアレイ状に配列された複数の受光素子により電気信号
として検出し、該検出した3原色成分光の各受光素子毎
の電気信号の値の変化を判別して被検査物の表面欠陥を
検出するようにしたので、被検査物の表面疵のほか汚れ
などによる色ムラも検出できるようになり、また従来の
方法による装置よりも安価な表面欠陥検出装置が実現で
きる効果がある。
[Effect of the Invention] As described above, in the invention of claim 1 or claim 3, a plurality of monochromatic lights are irradiated from different directions to the same position on the surface of the object to be inspected, and the irradiation position is set in the field of view of the camera. The reflected light photographed as an interior is split into three primary color components of red, green, and blue, and the intensity level of each of the split color component lights is detected as an electrical signal by a plurality of light receiving elements arranged in an array, Since surface defects on the object to be inspected are detected by determining changes in the value of the electric signal for each light receiving element of the detected three primary color component lights, it is possible to detect surface defects on the object to be inspected as well as color unevenness due to dirt, etc. This method also has the effect of realizing a surface defect detection device that is cheaper than devices using conventional methods.

またこの請求項2または請求項4の発明においては、前
記被検査物の同一位置に照射する複数の単色光はそれぞ
れ直線状の光束に集束され、前記分光された3原色成分
光毎の強度レベルをそれぞれ電気信号として検出するア
レイ受光センサとして、各色成分毎にそれぞれ複数の受
光素子が直線状に配列されたリニアアレイ受光センサを
用いて検出するようにしたので、前記請求項1または請
求項3の発明に基づく装置よりもさらに単純化され安価
で構成できる表面欠陥検出装置が得られる効果がある。
Further, in the invention of claim 2 or claim 4, the plurality of monochromatic lights irradiated to the same position of the object to be inspected are each focused into a linear light beam, and the intensity level of each of the separated three primary color component lights is As an array light receiving sensor that detects each color component as an electric signal, a linear array light receiving sensor in which a plurality of light receiving elements are linearly arranged for each color component is used for detection. This has the effect of providing a surface defect detection device that can be constructed more simply and at lower cost than the device based on the invention of the above invention.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す表面欠陥検出装置の構
成図、第2図(a)及び(b)は表面健全部と表面欠陥
部における光の反射を説明する図、第3図は本発明に係
るカラー検出カメラの一実施例を示すブロック図、第4
図はシリンドリカルレンズとその光束とを説明する図、
第5図は本発明に係る検査制御装置の一実施例を示すブ
ロック図である。 図において、1は被検査物、2はカラー検出カメラ、3
Rは赤色光源、3Bは青色光源、4R。 4Bはシリンドリカルレンズ、5は検査制御装置、21
は撮影レンズ、22R,22G、 22Bはそれぞれ3
原色用フィルタ、23R,23G、 23Bはそれぞれ
3原色用リニアアレイ受光センサ、24R,24G、 
24Bはそれぞれ3原色用増巾器、51R,51G、 
51Bはそれぞれ3原色用バッファ、52R,52G、
 52Bはそれぞれ3原色用A/D変換器、53は走査
信号増巾器、54はコントローラ、55は制御データ出
力回路、56は検査データ出力回路、LR,LBはそれ
ぞれ赤色光及び青色光の直線状光束である。 代理人 弁理士 佐々木 宗 治 被検査物 4R4B  リッツトリカルレンズ 3R赤色光源 LR,LB  直線状の光束 表面健全部における反射 (b) 表面欠陥部における反射 第2 図
FIG. 1 is a block diagram of a surface defect detection device showing an embodiment of the present invention, FIGS. 2(a) and (b) are diagrams illustrating light reflection at a surface healthy area and a surface defect area, and FIG. 3 4 is a block diagram showing an embodiment of the color detection camera according to the present invention.
The figure is a diagram explaining a cylindrical lens and its luminous flux,
FIG. 5 is a block diagram showing an embodiment of the inspection control device according to the present invention. In the figure, 1 is the object to be inspected, 2 is the color detection camera, and 3 is the object to be inspected.
R is a red light source, 3B is a blue light source, and 4R. 4B is a cylindrical lens, 5 is an inspection control device, 21
is a photographing lens, 22R, 22G, 22B are each 3
Filters for primary colors, 23R, 23G, 23B are linear array light receiving sensors for three primary colors, 24R, 24G,
24B is an amplifier for the three primary colors, 51R, 51G,
51B is a buffer for the three primary colors, 52R, 52G,
52B is an A/D converter for each of the three primary colors, 53 is a scanning signal amplifier, 54 is a controller, 55 is a control data output circuit, 56 is an inspection data output circuit, LR and LB are straight lines for red light and blue light, respectively. It is a luminous flux. Agent Patent Attorney Muneharu Sasaki Inspected object 4R4B Litztrical lens 3R Red light source LR, LB Linear light beam Reflection at a healthy surface (b) Reflection at a surface defect Figure 2

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)被検査物の表面の同一位置に複数の単色光を相異
なる方向から照射し、該照射位置をカメラの視野内とし
て撮影した反射光を赤色、緑色、青色の3原色成分に分
光し、該分光された各色成分光毎の強度レベルをそれぞ
れアレイ状に配列された複数の受光素子により電気信号
として検出し、該検出した3原色成分光の各受光素子毎
の電気信号の値の変化を判別して被検査物の表面欠陥を
検出することを特徴とする表面欠陥の検出方法。
(1) A plurality of monochromatic lights are irradiated from different directions to the same position on the surface of the object to be inspected, and the reflected light is photographed with the irradiation position within the field of view of the camera and is separated into the three primary color components of red, green, and blue. , the intensity level of each of the separated color component lights is detected as an electrical signal by a plurality of light receiving elements arranged in an array, and the value of the electrical signal for each of the detected three primary color component lights is changed for each light receiving element. 1. A method for detecting surface defects, the method comprising detecting surface defects on an object to be inspected by determining the .
(2)前記被検査物の同一位置に照射する複数の単色光
はそれぞれ直線状に集束された光束であり、前記分光さ
れた3原色成分光毎の強度レベルをそれぞれ電気信号と
して検出するアレイ受光素子は、各色成分毎にそれぞれ
複数の受光素子が直線状に配列されたリニアアレイ配列
であることを特徴とする請求項1記載の表面欠陥の検出
方法。
(2) The plurality of monochromatic lights irradiated on the same position of the object to be inspected are each linearly focused light beams, and the array light reception detects the intensity level of each of the separated three primary color component lights as an electric signal. 2. The surface defect detection method according to claim 1, wherein the element is a linear array arrangement in which a plurality of light receiving elements are arranged in a straight line for each color component.
(3)被検査物の表面の同一位置に複数の単色光を相異
なる方向から照射する複数の単色光照射手段と、 前記照射位置をカメラの視野内として、その反射光を撮
影する撮影手段と、 前記撮影された反射光を赤色、緑色、青色の3原色成分
に分光する分光手段と、 前記分光された3原色成分光をそれぞれアレイ状に配列
された複数の受光素子により受光し、各受光素子毎にそ
の受光強度レベルを電気信号としてそれぞれ検出するア
レイ受光センサと、 前記アレイ受光センサにより検出された3原色成分光の
各受光素子毎の電気信号の値の変化を判別して被検査物
の表面欠陥を検出する欠陥検出手段とを備えたことを特
徴とする表面欠陥の検出装置。
(3) a plurality of monochromatic light irradiation means for irradiating a plurality of monochromatic lights from different directions onto the same position on the surface of the object to be inspected; and a photographing means for photographing the reflected light with the irradiation position within the field of view of a camera; , a spectroscopic means for separating the photographed reflected light into three primary color components of red, green, and blue; and a plurality of light receiving elements arranged in an array to receive each of the separated three primary color component lights, each receiving light. An array light receiving sensor that detects the received light intensity level of each element as an electrical signal, and a change in the value of the electrical signal for each light receiving element of the three primary color component lights detected by the array light receiving sensor to detect the object to be inspected. 1. A surface defect detection device comprising: defect detection means for detecting a surface defect.
(4)前記被検査物の同一位置に照射する複数の単色光
照射手段は、それぞれの単色光が前記照射位置において
直線状に集束された光束を照射する複数の直線状単色光
照射手段であり、前記分光された3原色成分光毎の強度
レベルをそれぞれ電気信号として検出するアレイ受光セ
ンサは、各色成分毎にそれぞれ複数の受光素子が直線状
に配列されたリニアアレイ受光センサであることを特徴
とする請求項3記載の表面欠陥の検出装置。
(4) The plurality of monochromatic light irradiation means that irradiate the same position on the object to be inspected are a plurality of linear monochromatic light irradiation means that irradiate a linearly focused beam of monochromatic light at the irradiation position. The array light receiving sensor that detects the intensity level of each of the separated three primary color component lights as an electric signal is a linear array light receiving sensor in which a plurality of light receiving elements are linearly arranged for each color component. 4. The surface defect detection device according to claim 3.
JP23060690A 1990-09-03 1990-09-03 Method and apparatus for detecting surface defect Pending JPH04113260A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23060690A JPH04113260A (en) 1990-09-03 1990-09-03 Method and apparatus for detecting surface defect

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23060690A JPH04113260A (en) 1990-09-03 1990-09-03 Method and apparatus for detecting surface defect

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04113260A true JPH04113260A (en) 1992-04-14

Family

ID=16910391

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23060690A Pending JPH04113260A (en) 1990-09-03 1990-09-03 Method and apparatus for detecting surface defect

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04113260A (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08193961A (en) * 1994-10-13 1996-07-30 Shimomura Komuten:Kk Method for measuring stain of floor surface and the like
US20100091272A1 (en) * 2008-10-10 2010-04-15 Yasunori Asada Surface inspection apparatus
CN102830123A (en) * 2012-08-16 2012-12-19 北京科技大学 On-line detection method of small defect on metal plate strip surface
JP2021067570A (en) * 2019-10-24 2021-04-30 澁谷工業株式会社 Article inspection device
WO2022030083A1 (en) 2020-08-06 2022-02-10 Jfeスチール株式会社 Metal strip surface inspection device, surface inspection method, and manufacturing method
CN116359230A (en) * 2023-05-26 2023-06-30 北京博兴远志科技有限公司 Permanent magnet surface concave-convex defect detection system and method
WO2023166898A1 (en) * 2022-03-03 2023-09-07 Jfeスチール株式会社 Surface inspection method for metal material, surface inspection apparatus for metal material, and metal material

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08193961A (en) * 1994-10-13 1996-07-30 Shimomura Komuten:Kk Method for measuring stain of floor surface and the like
US20100091272A1 (en) * 2008-10-10 2010-04-15 Yasunori Asada Surface inspection apparatus
US8493558B2 (en) * 2008-10-10 2013-07-23 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Surface inspection apparatus
CN102830123A (en) * 2012-08-16 2012-12-19 北京科技大学 On-line detection method of small defect on metal plate strip surface
JP2021067570A (en) * 2019-10-24 2021-04-30 澁谷工業株式会社 Article inspection device
WO2022030083A1 (en) 2020-08-06 2022-02-10 Jfeスチール株式会社 Metal strip surface inspection device, surface inspection method, and manufacturing method
KR20230017312A (en) 2020-08-06 2023-02-03 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 Metal strip surface inspection device, surface inspection method, and manufacturing method
WO2023166898A1 (en) * 2022-03-03 2023-09-07 Jfeスチール株式会社 Surface inspection method for metal material, surface inspection apparatus for metal material, and metal material
CN116359230A (en) * 2023-05-26 2023-06-30 北京博兴远志科技有限公司 Permanent magnet surface concave-convex defect detection system and method
CN116359230B (en) * 2023-05-26 2023-08-29 北京博兴远志科技有限公司 Permanent magnet surface concave-convex defect detection system and method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4546830B2 (en) Dark field inspection system
EP1049925B1 (en) Optical inspection method and apparatus
JP3190913B1 (en) Imaging device and photomask defect inspection device
US5128550A (en) Method of and an apparatus for testing large area panes for optical quality
CN107110792A (en) Time delay integration sensor in dark-field system
JPH03267745A (en) Surface property detecting method
JP2007503764A (en) Image sensor inspection method and apparatus
JP4332656B2 (en) Defect inspection method and defect inspection apparatus
JPH095058A (en) Defect inspection device for regular pattern
JPH04113260A (en) Method and apparatus for detecting surface defect
CN1688877A (en) High throughput inspection system and method for generating transmitted and/or reflected images
JP2718510B2 (en) Inspection method of colored periodic pattern
EP0882211B1 (en) A method and apparatus for reducing the unwanted effects of noise present in a three-dimensional color imaging system
JP2006105926A (en) Inspection apparatus
JPS625791A (en) Color image pickup device
JP2906745B2 (en) Surface undulation inspection device
JPH06337208A (en) Measuring device for shape of three-dimensionally formed object
JPH06109424A (en) Image sensing apparatus for measurement
JP3015473B2 (en) Inspection machine for glassware
JPH0735703A (en) Image processing method
JPH036444A (en) Inspecting apparatus by fluorescence
JPH0411422Y2 (en)
JP2830430B2 (en) Foreign matter inspection device
JPH04307358A (en) Surface inspection apparatus
JPH10332534A (en) Laser optical system inspection device