RU2051337C1 - Устройство для измерения характеристик собственного излучения в инфракрасном диапазоне - Google Patents
Устройство для измерения характеристик собственного излучения в инфракрасном диапазоне Download PDFInfo
- Publication number
- RU2051337C1 RU2051337C1 SU5020062A RU2051337C1 RU 2051337 C1 RU2051337 C1 RU 2051337C1 SU 5020062 A SU5020062 A SU 5020062A RU 2051337 C1 RU2051337 C1 RU 2051337C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- monochromator
- unit
- radiation
- photodetector
- collimator
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
Использование: техника ИК-спектроскопии, а именно устройства для измерения характеристик собственного излучения в инфракрасной области. Сущность изобретения: устройство содержит корпус-криостат, в котором установлена оптическая система. Оптическая система содержит последовательно расположенные термостол, снабженный узлом измерения и регулирования температуры и узлом крепления образца, монохроматор и фотоприемник. Монохроматор состоит из охлаждаемого экрана, в котором имеется круглое входное отверстие, зеркального коллиматора, дифракционой решетки и зеркального объектива, расположенного перед фотоприемником, при этом узел крепления образца расположен в фокальной плоскости коллиматора. Устройство позволяет регистрировать слабые излучения в ИК-области и измерять угловые и температурные зависимости излучательной способности материалов. 1 ил.
Description
Изобретение относится к технике ИК-спектроскопии, а именно к устройствам для измерения характеристик собственного излучателя в инфракрасной области.
Известны ИК-спектрометры, предназначенные для регистрации спектров собственного испускания тел [1]
ИК-спектрометры содержат блоки осветителя, монохроматора и детектор. Блок осветителя состоит из источника ИК-излучения, модулятора и зеркала, фокусирующего изображение источника на щель. После осветителя пучок света попадает в блок монохроматора, содержащий зеркало, которое превращает пучок света в параллельный и дифракционную решетку, установленную с возможностью поворота. Спектрометр содержит выходную щель, направляющую монохроматический свет на детектор.
ИК-спектрометры содержат блоки осветителя, монохроматора и детектор. Блок осветителя состоит из источника ИК-излучения, модулятора и зеркала, фокусирующего изображение источника на щель. После осветителя пучок света попадает в блок монохроматора, содержащий зеркало, которое превращает пучок света в параллельный и дифракционную решетку, установленную с возможностью поворота. Спектрометр содержит выходную щель, направляющую монохроматический свет на детектор.
Данное устройство не позволяет измерять угловых и температурных зависимостей излучательной способности материалов, что является необходимым в исследовании теплофизических свойств материалов. Кроме того, присутствие фонового излучения вносит существенные погрешности в измерение спектральных характеристик, ограничивая чуствительность установок.
Наиболее близким к изобретению является криогенный эмиссионный спектрометр, который выбран в качестве прототипа [2] Спектрометр содержит корпус-криостат, в котором установлена камера с закрепленной на ней оптической системой, состоящей из последовательно расположенных термостола, снабженного узлом измерения и регулирования температуры и узлом крепления образца, монохроматора и фотоприемника. Все пути охлаждаемой камеры выполнены из алюминия, кроме зеркала, которое выполнено из меди. Криогенный эмиссионный спектрометр работает при 77 К. Недостатками известного устройства являются сложность его изготовления, поскольку элементы оптической системы выполнены из металла, а также невозможность измерения с помощью этого спектрометра температурных и угловых зависимостей спектральной излучательной способности тел.
Задачей изобретения является разработка простого устройства для регистрации слабых излучений в ИК-области, которое позволяет измерять угловые и температурные зависимости излучательной способности материалов.
Устройство содержит корпус-приостат.
На чертеже изображено устройство для измерения характеристик собственного излучения в ИК-диапазоне.
Устройство расположено в криостате 1 и содержит охлаждаемый экран 2 с круглой диафрагмой 3, термостол 4 с узлом крепления исследуемого образца 5 и узлом поворота 6, устройство измерения и контроля температуры 7, зеркальный коллиматор 8, дифракционную решетку 9, зеркальный объектив 10, фотоприемник 11.
Устройство работает следующим образом.
В криостате 1 создается режим вакуумирования и охлаждения до температуры жидкого азота, что способствует устранению влияния фонового собственного излучения. Охлаждаемый экран 2 поглощает излучение образца, перемноженное от стенок и нерабочих поверхностей, оставляя для вывода излучения диафрагму 3, выделяющую излучение в пределах входной угловой апертуры оптической схемы. В узле крепления 5 термостола 4 осуществляется равномерный электронагрев образца, устройством 7 измеряется и контролируется температура. Нагреваемый образец является источником ИК-излучения, причем узел крепления с нагреваемым образцом расположен в фокальной плоскости зеркального коллиматора 8. Таким образом, расходящийся пучок после отражения от зеркального коллиматора 8 становится плоским, дифрагирует на решетке 9 и спектральные составляющие собираются зеркальным объективом 10 на фотоприемнике 11. Так измеряется спектральная излучательная способность.
Устройство позволяет измерять температурные и угловые зависимости спектральной излучательной способности. Узлом поворота 6 объект поворачивается на заранее заданный угол. Просканировав объект по заданному диапазону углов при определенной температуре, определяют угловую зависимость спектральной излучательной способности. При изменении температуры цикл измерений повторяется. Задавая определенный температурный интервал, определяют температурную зависимость спектральной излучательной способности.
Таким образом изобретение позволяет повысить чувствительность при измерении температурных и угловых зависимостей спектральной излучательнной способности.
Claims (1)
- УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК СОБСТВЕННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В ИНФРАКРАСНОМ ДИАПАЗОНЕ, включающее корпус-криостат, в котором установлена оптическая система, состоящая из последовательно расположенных термостола, снабженного узлом измерения и регулирования температуры и узлом крепления образца, монохроматора и фотоприемника, отличающееся тем, что термостол выполнен с возможностью поворота, монохроматор состоит из охлаждаемого экрана, в котором имеется круглое входное отверстие, зеркального коллиматора, дифракционной решетки и зеркального объектива, расположенного перед фотоприемником, причем узел крепления образца расположен в фокальной плоскости коллиматора.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU5020062 RU2051337C1 (ru) | 1992-01-03 | 1992-01-03 | Устройство для измерения характеристик собственного излучения в инфракрасном диапазоне |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU5020062 RU2051337C1 (ru) | 1992-01-03 | 1992-01-03 | Устройство для измерения характеристик собственного излучения в инфракрасном диапазоне |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2051337C1 true RU2051337C1 (ru) | 1995-12-27 |
Family
ID=21593337
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU5020062 RU2051337C1 (ru) | 1992-01-03 | 1992-01-03 | Устройство для измерения характеристик собственного излучения в инфракрасном диапазоне |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2051337C1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106596244A (zh) * | 2016-12-14 | 2017-04-26 | 宁海德宝立新材料有限公司 | 一种控温样品台 |
-
1992
- 1992-01-03 RU SU5020062 patent/RU2051337C1/ru not_active IP Right Cessation
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
1. Сликт А. Прикладная ИК-спектроскопия. М.: Мир, 1982, с.24-27. * |
2. Stierwalt D.l, et aL. Lazer Induced Damage in Optical Materials, 1975, Proc. Symp., Colorado, 1976, p.148-156. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106596244A (zh) * | 2016-12-14 | 2017-04-26 | 宁海德宝立新材料有限公司 | 一种控温样品台 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3628017B2 (ja) | 結像方法および結像装置 | |
CN109387284B (zh) | 成像光谱仪辐射参数和成像参数定标装置及方法 | |
US4120200A (en) | Method and device for pyrometric temperature measurements | |
CA2529823C (en) | A process photometer | |
JPS6116010B2 (ru) | ||
US4123172A (en) | Comparison type colorimeter | |
US4966458A (en) | Optical system for a multidetector array spectrograph | |
EP0074225B1 (en) | Radiometer | |
EP0340915A2 (en) | Optical system for a multidetector array spectrograph | |
US6355930B1 (en) | Fast infrared linear image optical instruments | |
RU2051337C1 (ru) | Устройство для измерения характеристик собственного излучения в инфракрасном диапазоне | |
EP0176826A2 (en) | Method and apparatus for dual-beam spectral transmission measurements | |
IE53138B1 (en) | Optical beam splitter | |
Penn et al. | The Mees CCD imaging spectrograph | |
JP7453659B2 (ja) | 輻射光検出装置 | |
Winkler et al. | Calibration of an absolute radiation thermometer for accurate determination of fixed-point temperatures | |
Dunaev et al. | Spectrophotometric Instruments Incorporated into get 156–2015, the State Primary Standard of the Unit of Spectral Regular Transmittance, Unit of Spectral Diffuse Reflectance, and Unit of Spectral Specular Reflectance in the Range of Wavelengths from 0.2 to 20.0 μm | |
Missalla et al. | Metrology tools for EUV-source characterization and optimization | |
JPS5847654B2 (ja) | ハンノウコンゴウブツノ キユウコウドオ ソクテイスルソツコウホウホウオヨビ ソウチ | |
JPH08233732A (ja) | 分光分析装置 | |
Gavrilov et al. | Get 86–2017: State primary standard of units of radiometric quantities and units of spectroradiometric quantities in the range of wavelengths from 0.2 to 25.0 μm | |
Eppeldauer et al. | Transfer standard filter radiometers: applications to fundamental scales | |
Jones | A simple quartz infra-red spectrometer for the determination of absorbed water in some polymers | |
Kruizinga et al. | Calibration concept of scanning imaging absorption spectrometer for atmospheric chartography (SCIAMACHY) | |
JP3295418B2 (ja) | 分光測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20080104 |