RU2046322C1 - Устройство для выявления деформированных участков поверхности электропроводящих тел - Google Patents
Устройство для выявления деформированных участков поверхности электропроводящих тел Download PDFInfo
- Publication number
- RU2046322C1 RU2046322C1 RU93056525A RU93056525A RU2046322C1 RU 2046322 C1 RU2046322 C1 RU 2046322C1 RU 93056525 A RU93056525 A RU 93056525A RU 93056525 A RU93056525 A RU 93056525A RU 2046322 C1 RU2046322 C1 RU 2046322C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- casing
- cap
- detecting
- supply source
- voltage
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
- G01N21/67—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
Использование: для выявления напряженных участков на строительных конструкциях, крупногабаритных деталях машин, скрытых знаков на поверхности металлических изделий, а также в криминалистике. Сущность изобретения: устройство содержит корпус с расположенной на его торцовой поверхности вакуумной прокладкой, систему подвода и откачки газа и источник высоковольтного напряжения. Отрицательный полюс источника подключен непосредственно к твердотельному объекту исследуемой поверхности. Положительный полюс источника подключен либо к корпусу, либо к электроду, введенному в корпус, приэтом корпус с вакуумной прокладкой, выполненной из электроизоляционного материала, помещен непосредственно на поверхности исследуемого объекта. 3 ил.
Description
Изобретение относится к технической физике, а именно радиационным методам исследования твердых тел, и может применяться, например, для выявления напряженных участков на строительных конструкциях, крупногабаритных деталях машин, скрытых знаков на поверхности металлических изделий, а также в криминалистике.
Известны устройства для выявления деформированных участков поверхности твердых тел [1] представляющие собой ванночку, дно которой образует поверхность исследуемого образца. В эту ванночку наливается раствор травителя, например азотная кислота, который воздействует на исследуемую поверхность, различно протравливая ее участки. В результате наблюдают кристаллографическую структуру исследуемой поверхности твердого тела.
Известны также электрохимические устройства для выявления деформированных участков поверхности твердых тел [2] аналогичные вышеописанным, но здесь химическое травление осуществляется при дополнительном наложении электрического поля, что усиливает эффект травления.
Известны также устройства для выявления деформированных участков поверхности твердых тел с использованием магнитной суспензии [3] когда в вышеописанную ванночку вместо травителя заливается раствор с мелкодисперсным магнитным материалом, осаждение которого происходит преимущественно по границам сильно деформированных участков только магнитных материалов.
Недостатками этих устройств являются невозможность выявлять деформированные участки поверхности всех материалов, в частности коррозионно-стойких, трудности в подборе травителя, невозможность их использования при расположении исследуемой поверхности не горизонтально, высокая токсичность некоторых травителей, а следовательно, опасность работы с ними (например, плавиковая кислота, царская водка и др.). Кроме того, устройства, использующие магнитную суспензию, пригодны только для магнитных материалов и дают только приближенную (грубую) информацию.
Известны также устройства для выявления деформированных участков твердых тел, использующие рентгено- и гамма-спектроскопию [4]
Эти устройства применимы только для исследования всего объема твердого тела (или достаточно толстого слоя) и непригодны для исследования его поверхностных слоев ввиду большой проникающей способности этого вида излучения. К тому же определение деформаций, например, рентгеновским методом является достаточно сложным.
Эти устройства применимы только для исследования всего объема твердого тела (или достаточно толстого слоя) и непригодны для исследования его поверхностных слоев ввиду большой проникающей способности этого вида излучения. К тому же определение деформаций, например, рентгеновским методом является достаточно сложным.
Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому устройству является устройство для выявления деформированных участков поверхности твердых тел [5] содержащее корпус с расположенной на его торцовой поверхности вакуумной прокладкой, систему подвода газа и его откачки и источник высоковольтного напряжения. В этом устройстве внутри корпуса (вакуумной камеры) расположен стеклянный цилиндр, в котором находятся катод и анод. На катоде размещают маленький исследуемый образец. При работе устройства в стеклянном цилиндре загорается тлеющий разряд, в протоке инертного газа происходит ионное травление образца, в результате чего выявляется структура его поверхности.
Недостатками устройства-прототипа являются невозможность выявления деформированных участков поверхности твердых тел в их естественных положениях и условиях, т. е. необходимо использование только отдельных образцов из исследуемых объектов, которые и помещают внутрь вакуумной камеры, малая информативность о структуре всей исследуемой поверхности твердого тела, так как приходится использовать малые образцы с отдельных участков поверхности, невозможность применения без разрушения исследуемого объекта, так как в каждом случае требуется вырезать образец, помещаемый внутрь устройства, громоздкость и утяжеленность (вес ≈ 300 кг) устройств, что лишает их мобильности и делает их применение, например, для проверки строительных конструкций на месте невозможным, усложненность конструкции установки, так как требует наличия, например, стеклянного цилиндра внутри корпуса, систему подвода воды для охлаждения диффузионного насоса и т.д. низкая практичность и экономичность, обусловленные вышеописанными причинами.
Техническим результатом от использования изобретения является создание простого, эффективного, надежного, малогабаритного, практического устройства для выявления деформированных участков поверхности твердых тел в их естественном состоянии и без нарушения их структуры.
Этот результат достигается тем, что в устройстве для выявления деформированных участков поверхности твердых тел, содержащем корпус с расположенной на его торцовой поверхности вакуумной прокладкой, систему подвода и откачки газа и источник высоковольтного постоянного напряжения, обеспечивающие режим ионного травления исследуемой поверхности, отрицательный выход источника высоковольтного постоянного напряжения подключен непосредственно к твердотельному объекту с исследуемой поверхностью, а положительный либо к корпусу, либо к электроду, введенному в корпус, при этом корпус с вакуумной прокладкой, выполненной из электроизоляционного материала, помещен непосредственно на поверхность исследуемого объекта, образуя тем самым единую газоразрядную систему, в которой корпус служит анодом, а исследуемый объект катодом. При этот при исследовании непроводящих или плохо проводящих материалов в качестве источника высокого напряжения используют высокочастотный источник высокого напряжения.
Положительным техническим результатом изобретения является то, что предлагаемое устройство для выявления деформированных участков поверхности твердых тел характеризуется возможностью исследовать твердотельный объект непосредственно на месте, т.е. в его естественном положении и естественных условиях (без потери качества получаемой информации), что обусловливается изменением в конструкции устройства-прототипа (иное включение источника высоковольтного напряжения, создание иной единой газоразрядной системы), т.е. сам объект является частью электрической схемы (устройства), применением устройства без разрушения исследуемого объекта, так как при работе устройства не требуется наличие вырезанного из объекта образца, помещаемого внутрь корпуса, что также обусловлено существенно измененной конструкцией устройства-прототипа, в частности корпус помещен непосредственно на поверхности исследуемого объекта, полной информативностью о структуре всей исследуемой поверхности объекта, так как устройство может быть помещено в любую точку исследуемой поверхности, которая благодаря новому схемному решению сама служит катодом, простотой конструкции и эксплуатации, что делает его простым в изготовлении и надежным в работе, ибо в нем исключена часть узлов и деталей устройства-прототипа, мобильностью и транспортабельностью, обусловленными простотой конструкции и небольшим (≈ 20 кг) весом, высокой практичностью и экономичностью, ибо устройство просто и дешево в изготовлении и эксплуатации.
На фиг. 1 схематично изображено предлагаемое устройство; на фиг. 2 и 3 иллюстрируется достигаемый устройством технический эффект.
Устройство содержит корпус (камеру) 1 с расположенной на его торцовой поверхности уплотняющей вакуумной прокладкой 2 и двумя штуцерами 3 для напуска и откачки газа, форвакуумный насос 4, баллон 5 с газом (например, аргоном), редуктор 6, натекатель 7, источник 8 высоковольтного постоянного напряжения с регулируемым напряжением, термоманометр 9, вакуумметр 10. Все устройство смонтировано на передвижной тележке 11. Корпус 1 через прокладку 2 размещен на поверхности исследуемого твердотельного объекта 12.
Устройство работает следующим образом.
Исследуемый участок объекта 12 очищается от грязи и краски, к нему через прокладку 2 прислоняется корпус (камера) 1, включается форвакуумный насос 4 и через штуцер 3 производится откачка воздуха из камеры 1. После того как камера 1 откачается до давления ≈ 10-2 мм рт.ст. контролируемого с помощью термоманометра 9 вакуумметром 10, открывается баллон 5 с газом и редуктором 6 устанавливается выходное давление 0,5-1 атм. После этого натекателем 7 в камере 1 устанавливается давление (3-5) ˙ 10-2 мм рт.ст. Отрицательный выход высоковольтного источника 8 постоянного напряжения подключается к заземленному исследуемому объекту 12, а положительный либо непосредственно к корпусу 1, либо, например, в случае стеклянного корпуса 1 к электроду, введенному в корпус 1. Так образуется единая газоразрядная система, в которой корпус 1 служит анодом, а исследуемый объект катодом. После включения выпрямителя 8 устанавливается напряжение 2-4 кВ. При этом загорается тлеющий разряд и поверхность объекта 12 начинает травиться ионами. Ионное травление проводят до выявления структуры исследуемого объекта, по которой судят об имеющихся изменениях в объекте. При исследовании различных участков поверхности исследуемых объектов устройство перемещается на подвижной тележке 11.
П р и м е р 1. Предлагаемое устройство было испытано при исследовании объекта из конструкционной стали, подвергнутой деформации. При этом напряжение было 3,5 кВ, плотность тока 1-3 мА/см2, время травления ≈ 20 мин. После травления на поверхности объекта обнаружены линии текучести материала образца (фиг. 2), свидетельствующие о том, что объект был подвергнут пластической деформации, т.е. деформации, превышающей предел упругости данного материала.
П р и м е р 2. Для исследования был представлен кузов автомобиля с имеющимися на его отполированной поверхности скрытыми знаками, которые требовалось обнаружить непосредственно на месте. В результате работы предлагаемого устройства (напряжение 2,8 кВ, время ионного травления ≈ 15 мин) на поверхности кузова была обнаружена цифра 2 (фиг. 3).
Предлагаемое устройство для выявления деформированных участков поверхности твердотельных объектов применимо также для выявления структуры непроводящих (или плохо проводящих) материалов. В таком случае вместо высоковольтного источника постоянного напряжения используют высокочастотный ( 1-10 МГц) источник высокого напряжения. Способ же выявления деформированных участков остается тем же.
Таким образом, создано устройство для выявления деформированных участков поверхности твердотельных объектов, отличающееся от известных аналогичных устройств важнейшими практическими качествами: возможностью качественного исследовать любые объекты в их естественном положении и в естественных условиях, при этом без разрушения этих исследуемых объектов, простотой и надежностью в исполнении и эксплуатации, транспортабельностью и высокой экономичностью. Все это позволяет предлагаемому устройству найти широчайшее применение в научной и технической практике.
Claims (1)
- УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ ДЕФОРМИРОВАННЫХ УЧАСТКОВ ПОВЕРХНОСТИ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ТЕЛ, содержащее корпус с расположенной на его торцевой поверхности вакуумной прокладкой, систему подвода газа и его откачки и источник высоковольтного постоянного напряжения, отличающееся тем, что корпус выполнен в виде колпака, а вакуумная прокладка из электроизоляционного материала, отрицательный выход источника подключен непосредственно к исследуемому телу, а положительный выход либо непосредственно к колпаку, выполненному в этом случае из электропроводящего материала, либо к электроду, встроенному в колпак, при это колпак накладывают на исследуемую часть поверхности образца.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU93056525A RU2046322C1 (ru) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | Устройство для выявления деформированных участков поверхности электропроводящих тел |
AU14282/95A AU1428295A (en) | 1993-12-22 | 1994-12-19 | Device for identifying deformed areas in the surfaces of electrically conducting bodies |
PCT/RU1994/000278 WO1995017666A1 (fr) | 1993-12-22 | 1994-12-19 | Dispositif d'identification de zones deformees a la surface de corps electroconducteurs |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU93056525A RU2046322C1 (ru) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | Устройство для выявления деформированных участков поверхности электропроводящих тел |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2046322C1 true RU2046322C1 (ru) | 1995-10-20 |
RU93056525A RU93056525A (ru) | 1996-10-20 |
Family
ID=20150528
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU93056525A RU2046322C1 (ru) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | Устройство для выявления деформированных участков поверхности электропроводящих тел |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
AU (1) | AU1428295A (ru) |
RU (1) | RU2046322C1 (ru) |
WO (1) | WO1995017666A1 (ru) |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2458806A1 (fr) * | 1979-06-06 | 1981-01-02 | Electricite De France | Perfectionnements aux procedes et dispositifs de detection d'inhomogeneites dans une feuille de materiau dielectrique |
DE2950329C2 (de) * | 1979-12-14 | 1985-06-05 | Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln | Einrichtung zum Abtragen von Material von der Oberfläche eines Targets |
JPS601952B2 (ja) * | 1980-01-25 | 1985-01-18 | 三菱電機株式会社 | プラズマエツチング装置 |
-
1993
- 1993-12-22 RU RU93056525A patent/RU2046322C1/ru active
-
1994
- 1994-12-19 AU AU14282/95A patent/AU1428295A/en not_active Abandoned
- 1994-12-19 WO PCT/RU1994/000278 patent/WO1995017666A1/ru active Application Filing
Non-Patent Citations (5)
Title |
---|
1. Беккерт М., Клемм Х. Справочник по металлографическому травлению. М.: Металлургия, 1979, с. 26. * |
2. Попилов Л.Я., Зайцева Л.П. Электрополирование и электротравление металлографических шлифов. М.: Металлургиздат, 1963, с. 28. * |
3. Практика криминалистической экспертизы. Сб. 1 - 2, Гос. издательство юридической литературы, м., 1961. * |
4. Маркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. Гос. издательство физ.-мат. литературы, М., 1961, с. 696. * |
5. Техническое описание и инструкция по эксплуатации вакуумного универсального поста ВУП - 2К, СССР, г.Сумы, завод электронных микроскопов, 1975. * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU1428295A (en) | 1995-07-10 |
WO1995017666A1 (fr) | 1995-06-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Cox et al. | The use of Langmuir probes and optical emission spectroscopy to measure electron energy distribution functions in RF-generated argon plasmas | |
US8453493B2 (en) | Trace gas sensing apparatus and methods for leak detection | |
Pontikos et al. | Microstructural and morphological changes induced in glassy carbon electrodes by laser irradiation | |
Franck et al. | An efficient procedure to identify and quantify new molecules for insulating gas mixtures | |
RU2046322C1 (ru) | Устройство для выявления деформированных участков поверхности электропроводящих тел | |
Yang et al. | Effects of electrode parameters on sewage disinfection by underwater pulsed arc discharge | |
CN105719937A (zh) | 一种用于离子迁移谱高效射频vuv光电离源 | |
Hebner et al. | Metastable chlorine ion kinetics in inductively coupled plasmas | |
DE58902375D1 (de) | Pruefung von elektroden mit aktivierungsschichten. | |
CN113504188A (zh) | 一种半封闭体系磁约束液体阴极辉光放电装置 | |
RU68131U1 (ru) | Устройство для выявления уничтоженных маркировочных обозначений на электропроводящих и диэлектрических поверхностях | |
Lakshminarasimha et al. | Electron swarm parameters in CO2 laser gas mixtures | |
Hu et al. | Cathodic electrochemiluminescence in aqueous solutions at bismuth electrodes | |
Menzel et al. | Fluorescence probes for study of insulator damage | |
JPS5747873A (en) | Plasma etching method | |
Pungor et al. | Voltammetric studies on graphite impregnated silicone rubber electrodes | |
CN212845168U (zh) | 一种pid传感器 | |
Kindig et al. | Vacuum system and cleaving mechanism for photoemission measurement of CdS single crystals in the vacuum ultraviolet | |
CN111935894A (zh) | 大气压液体阳极辉光放电等离子体装置 | |
CN111896581B (zh) | 一种基于岩石电阻变化的裂纹分布检测方法 | |
Shaik et al. | Investigation of Electrochemical Gas Generation in Ion Electrospray Thrusters | |
JPH08159912A (ja) | 気密試験方法 | |
RU2091904C1 (ru) | Способ локального плазмохимического травления материала | |
RU2248563C2 (ru) | Способ обнаружения примеси в газовой среде | |
RU2111284C1 (ru) | Способ очистки поверхности изделия (варианты) |