RU2036490C1 - Способ аттестации зеркала телескопа - Google Patents
Способ аттестации зеркала телескопа Download PDFInfo
- Publication number
- RU2036490C1 RU2036490C1 SU3155043A RU2036490C1 RU 2036490 C1 RU2036490 C1 RU 2036490C1 SU 3155043 A SU3155043 A SU 3155043A RU 2036490 C1 RU2036490 C1 RU 2036490C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- mirror
- telescope
- radiation
- image
- circle
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Использование: изобретение относится к оптической локации. Сущность изобретения: излучение точечного источника, перемещающегося в поле зрения, принимают телескопом регистрируют зависимость от времени интенсивности принятого излучения в кружке рассеяния, совмещенном с зеркалом 4, с помощью фотоприемника 5 и записывают в накопителе 12. С помощью линзы 6 формируют изображение зеркала 4 на входе ЭОП 7 в излучении точечного источника, экранированного зеркалом 4, и изображение считывают с помощью телевизионной камеры 8, регистрируют зависимость от времени, распределение интенсивности излучения в изображении поверхности зеркала телескопа, по которой судят о качестве поверхности зеркала телескопа. 1 ил.
Description
Изобретение относится к оптической локации и может быть использовано при аттестации телескопа в процессе его эксплуатации.
Известен способ аттестации телескопа [1] основанный на получении гартманнограммы пропускаемого через телескоп излучения точечного источника (звезды) и восстановлении по ней карты нормальных уклонений зеркала телескопа.
Недостатками этого способа являются:
1. Невозможность восстановления карты нормальных уклонений зеркала телескопа в том случае, когда угол наклона поверхности зеркала превосходит величину d/Rг, где d расстояние между отверстиями в диафрагме Гартманна; Rrг- расстояние от диафрагмы Гартманна до плоскости регистрации гартманнограммы.
1. Невозможность восстановления карты нормальных уклонений зеркала телескопа в том случае, когда угол наклона поверхности зеркала превосходит величину d/Rг, где d расстояние между отверстиями в диафрагме Гартманна; Rrг- расстояние от диафрагмы Гартманна до плоскости регистрации гартманнограммы.
2. Невозможность получения информации о состоянии зеркального покрытия телескопа (способ позволяет восстанавливать только карту нормальных уклонений зеркала телескопа).
3. Низкая точность, связанная с дискретной структурой гартманнограммы.
Наиболее близким техническим решением (прототипом) к предложенному является способ аттестации телескопа, известный как метод Фуко-Филбера [2] заключающийся в приеме телескопом излучения щелевого источника, введении в кружок рассеяния ножа Фуко, формировании изображения зеркала телескопа и определении карты нормальных уклонений зеркала телескопа по сформированному изобретению.
Основным недостатком этого способа является то, что он позволяет определять только карту нормальных уклонений зеркала телескопа и не дает информацию о состоянии зеркального покрытия телескопа. На практике зеркальное покрытие телескопа подвергается различным воздействиям и со временем мутнеет, т. е. на зеркале появляются шероховатости и уменьшается коэффициент отражения покрытия. В связи с этим наряду с задачей определения карты нормальных уклонений для оценки работоспособности телескопа возникает задача определения качества зеркального покрытия телескопа.
Целью изобретения является получение дополнительной информации о качестве поверхности зеркала.
Эта цель достигается тем, что принимают излучение точечного источника, перемещающегося в поле зрения телескопа, регистрируют зависимость от времени интенсивности излучения точечного источника, прошедшего через телескоп, в кружке рассеяния, экранируют излучение точечного источника, прошедшее через телескоп, в кружке рассеяния, формируют изображение зеркала телескопа в излучении точечного источника, рассеянном шероховатостями покрытия зеркала телескопа, регистрируют зависимость распределения интенсивности излучения в изображении от времени и определяют карту нормальных уклонений зеркала телескопа и качество зеркального покрытия по зарегистрированным зависимостям от времени интенсивности излучения в кружке рассеяния и распределения интенсивности излучения в изображении.
На чертеже представлена схема установки, реализующей предложенный способ.
В состав схемы входят точечный источник 1, аттестуемое зеркало 2, поворачивающее зеркало 3 телескопа, зеркало 4, фотоприемник (ФЭУ) 5, линза 6, электронно-оптический преобразователь (ЭОП) 7, приемная телевизионная камера 8, видеомагнитофон 9, аналого-цифровые преобразователи (АЦП) 10, 11, накопитель 12 на магнитной ленте, ЭВМ 13 обработки.
Дадим краткое математическое описание способа.
Интенсивность в изображении зеркала телескопа, сформированном в излучении, рассеянном шероховатостями зеркала, описывается выражением
, (1) где Io(t) интенсивность излучения источника на зеркале;
радиус-вектор в плоскости изображения;
K( /K) коэффициент отражения покрытия зеркала;
σ ( /K) среднеквадратичная высота шероховатостей покрытия зеркала;
l( / K) радиус корреляции шероховатостей покрытия зеркала;
λ длина волны излучения источника;
( /K) градиент поверхности зеркала;
R расстояние от источника до центра зеркала;
(t) единичный вектор в направлении источник центр зеркала;
k коэффициент увеличения оптической системы, формирующей изображение зеркала.
, (1) где Io(t) интенсивность излучения источника на зеркале;
радиус-вектор в плоскости изображения;
K( /K) коэффициент отражения покрытия зеркала;
σ ( /K) среднеквадратичная высота шероховатостей покрытия зеркала;
l( / K) радиус корреляции шероховатостей покрытия зеркала;
λ длина волны излучения источника;
( /K) градиент поверхности зеркала;
R расстояние от источника до центра зеркала;
(t) единичный вектор в направлении источник центр зеркала;
k коэффициент увеличения оптической системы, формирующей изображение зеркала.
Интенсивность излучения источника на зеркале можно определить, измеряя интенсивность излучения в кружке рассеяния
Io(t) Iк.р.(t)Sк.р./Sз, (2) где Iк.р.(t) интенсивность излучения в кружке рассеяния;
Sк.р. площадь кружка рассеяния;
Sз площадь зеркала.
Io(t) Iк.р.(t)Sк.р./Sз, (2) где Iк.р.(t) интенсивность излучения в кружке рассеяния;
Sк.р. площадь кружка рассеяния;
Sз площадь зеркала.
Измерив зависимость интенсивности излучения в изображении от времени, вычислив по формуле (2) зависимость интенсивности излучения источника на зеркале от времени, зная закон движения источника, т.е. (t), учитывая выражение (1), можно вычислить следующие параметры зеркала: K(/K) распределение коэффициента отражения покрытия зеркала; (/K) градиент поверхности зеркала, по которому легко восстановить карту нормальных уклонений зеркала; σ ( /K), l( /K) параметры, характеризующие качество покрытия зеркала.
Указанные параметры зеркала можно вычислить с помощью ЭВМ путем минимизации функционала
S()- ∫ [Iи(,t)-I(,t)]2dt, (3) где Iи( t) измеренная интенсивность;
I( t) интенсивность, вычисленная по формуле (1), по параметрам зеркала для каждой точки изображения.
S()- ∫ [Iи(,t)-I(,t)]2dt, (3) где Iи( t) измеренная интенсивность;
I( t) интенсивность, вычисленная по формуле (1), по параметрам зеркала для каждой точки изображения.
Таким образом, описанное устройство, реализующее предложенный способ, работает следующим образом.
Зеркало 4 помещают в кружок рассеяния и передвигают вместе с кружком рассеяния по мере движения источника 1. Излучение в кружке рассеяния отводят с помощью зеркала 4 на фотоприемник 5. Сигнал с фотоприемника 5 оцифровывают с помощью АЦП 10 и записывают на магнитную ленту с помощью накопителя 12 на МЛ. С помощью зеркала 4 также экранируют кружок рассеяния. С помощью линзы 6 формируют изображение зеркала 2 на вход ЭОП 7. Изображение на выходе ЭОП 7 считывают с помощью телевизионной камеры 8 и записывают на магнитофон 9, сигнал с выхода магнитофона 9 оцифровывают с помощью АЦП 11. Сигналы с накопителя 12 на МЛ и АЦП 11 вводят в ЭВМ 13, с помощью которой формируют функционал (3), затем с помощью ЭВМ находят минимум функционала (3) по параметрам () σ (), l(), K (), по найденному () вычисляют карту нормальных уклонений, по σ ( ), l( ) и K( ) судят о качестве зеркального покрытия телескопа.
Математическое моделирование, проведенное на ЭВМ для телескопа с диаметром зеркала 420 мм и фокусным расстоянием 788 мм, показало, что ошибка определения нормальных уклонений не превышает величины δ= 0,015 мкм, что не превосходит ошибки измерения нормальных уклонений методами Гартманна и Фуко-Филбера.
Таким образом, предложенный способ позволяет получать дополнительную информацию о качестве поверхности зеркала при удовлетворительной точности восстановления карты нормальных уклонений.
Claims (1)
- СПОСОБ АТТЕСТАЦИИ ЗЕРКАЛА ТЕЛЕСКОПА, заключающийся в приеме телескопом излучения точечного источника, формирования изображения поверхности зеркала телескопа, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей путем определения качества поверхности зеркала, источник перемещают в поле зрения телескопа, регистрируют временную зависимость интенсивности принятого излучения в кружке рассеяния, экранируют принятое излучение в кружке рассеяния, формируют изображение поверхности зеркала телескопа в излучении точечного источника, рассеянном на шероховатостях поверхности зеркала, регистрируют зависимость от времени распределения интенсивности излучения в изображении поверхности зеркала телескопа, определяют карту нормальных уклонений зеркала и сравнивают зарегистрированные временные зависимости интенсивности излучения в кружке рассеяния и распределения интенсивности излучения в изображений поверхности зеркала.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU3155043 RU2036490C1 (ru) | 1986-09-29 | 1986-09-29 | Способ аттестации зеркала телескопа |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU3155043 RU2036490C1 (ru) | 1986-09-29 | 1986-09-29 | Способ аттестации зеркала телескопа |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2036490C1 true RU2036490C1 (ru) | 1995-05-27 |
Family
ID=20928669
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU3155043 RU2036490C1 (ru) | 1986-09-29 | 1986-09-29 | Способ аттестации зеркала телескопа |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2036490C1 (ru) |
-
1986
- 1986-09-29 RU SU3155043 patent/RU2036490C1/ru active
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
1. ОМП, N 4, 1977, с.3. * |
2. Витриченко Э.А. Методы исследования астрономической оптики. М.: Наука, 1980, с. 90. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4629324A (en) | Arrangement for measuring depth based on lens focusing | |
US5784164A (en) | Method and apparatus for automatically and simultaneously determining best focus and orientation of objects to be measured by broad-band interferometric means | |
KR100685574B1 (ko) | 센서의 측정 구멍에 비해 큰 타겟을 평가하기 위한 장치및 방법 | |
US5216476A (en) | Photogrammetric laser system | |
US6268918B1 (en) | Three-dimensional input device | |
US4549307A (en) | X-Ray imaging system having radiation scatter compensation and method | |
ES2080885T3 (es) | Medicion pasiva de distancias y autoenfoque rapido | |
CN107036534A (zh) | 基于激光散斑测量振动目标位移的方法及系统 | |
CN106767545A (zh) | 一种高精度高空间分辨角度测量仪及角度测量方法 | |
US4169980A (en) | Method and apparatus for interference fringe center sensing | |
US4657393A (en) | Pattern optimization when measuring depth to a surface using lens focusing | |
JP3520356B2 (ja) | 磁気ディスクの磁気膜欠陥検査装置 | |
EP1020719B1 (en) | Apparatus and method for determining the optical distortion of a transparent substrate | |
RU2036490C1 (ru) | Способ аттестации зеркала телескопа | |
CN210071270U (zh) | 基于图像法的远距离桥梁挠度检测装置 | |
US5140167A (en) | Method and apparatus for determining cleave end angle of an optical fiber | |
CN110319992B (zh) | 桥梁挠度检测方法、装置、系统、终端及介质 | |
KR100551581B1 (ko) | 씨씨디 카메라를 이용한 오씨티 시스템 | |
JPS6316964Y2 (ru) | ||
RU98109601A (ru) | Способ исследования микрообъектов | |
US4601581A (en) | Method and apparatus of determining the true edge length of a body | |
Baca | Spatial reconstruction of marker trajectories from high-speed video image sequences | |
WO1999008066A1 (en) | Interference method and system for measuring the thickness of an optically-transmissive thin layer formed on a relatively planar, optically-reflective surface | |
FR2634094A1 (fr) | Appareil a rayons x a visualisation de la geometrie du faisceau de rayons x | |
JPS6248163B2 (ru) |