RU2028682C1 - Способ получения тонких резистивных пленок на основе сплава тантал - алюминий - Google Patents

Способ получения тонких резистивных пленок на основе сплава тантал - алюминий Download PDF

Info

Publication number
RU2028682C1
RU2028682C1 SU4905071A RU2028682C1 RU 2028682 C1 RU2028682 C1 RU 2028682C1 SU 4905071 A SU4905071 A SU 4905071A RU 2028682 C1 RU2028682 C1 RU 2028682C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
tantalum
film
manufacture
aluminium alloy
oxygen
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
А.В. Троицкий
О.М. Шерстобитова
Ю.И. Суров
Е.Г. Поволоцкий
Original Assignee
Государственное научно-производственное предприятие "Алмаз"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственное научно-производственное предприятие "Алмаз" filed Critical Государственное научно-производственное предприятие "Алмаз"
Priority to SU4905071 priority Critical patent/RU2028682C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2028682C1 publication Critical patent/RU2028682C1/ru

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

Использование: микроэлектроника, технология изготовления прецизионных тонкопленочных резисторов. Сущность изобретения: пленку (П) на основе сплава тантал - алюминий с содержанием тантала 40 - 60 ат.% осаждают методом катодного распыления мишеней тантала и алюминия в атмосфере кислорода. Парциальное давление кислорода поддерживают равным (6,65-7,98)×10-2 , а осаждение П осуществляют со скоростью
Figure 00000001
Далее проводят отжиг в вакууме при температуре (650 - 900)°С. Указанные технологические режимы обеспечивают получение П с удельным сопротивлением до 5000 мк Ом. см и температурным коэффициентом сопротивления не более ± 5·10-5град-1

Description

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано при изготовлении прецизионных тонкопленочных резисторов.
Известен способ повышения удельного сопротивления и стабильности пленок тантала-алюминия при легировании их азотом [1]. Недостатком способа является наличие ярко выраженной "сильной" зависимости температурного коэффициента сопротивления (ТКС) этих пленок от парциального давления азота.
Наиболее близким техническим решением, выбранным за прототип, является способ изготовления резистивных слоев сплава Та-Аl методом катодного распыления, включающий распыление мишени Та-Аl в атмосфере кислорода и последующий отжиг при температуре 400-500оС [2].
Недостатком способа являются низкие значения удельного сопротивления (до 100 Ом/□ (≈200 мк Ом.см).
Целью изобретения является улучшение электрофизических свойств пленки путем повышения удельного сопротивления при сохранении малых значений ТКС.
Необходимый эффект достигается образованием после вакуумного отжига при температуре 650-900оС смеси фаз: гексагональной типа (Та-Аl)2О и аморфной с высоким удельным сопротивлением (4000-5000) мкОм.см и низким ТКС ± 5 х 10-5 град-1. Уменьшение содержания тантала менее 40 ат.%, скорости роста менее 3
Figure 00000003
/с, увеличение парциального давления кислорода более 7,98 х 10-2 Па приводят к амортизации пленки, увеличению удельного сопротивления, сопровождаемого резким увеличением отрицательного ТКС. Увеличение содержания тантала более 60 ат. %, скорости осаждения пленки более 4
Figure 00000004
/с и уменьшение давления кислорода менее 6,65 х 10-2 Па по свойствам приближают пленку к прототипу. Отжиг пленок при температуре менее 650оС не обеспечивает регулировки ТКС, отжиг при температуре более 900оС способствует активному их окислению.
Вакуумная камера модернизированной установки УРМ 3.279.050 откачивается до давления 6,65 х 10-4 Па, проводится нагрев подложек до температуры 250оС. Затем осуществляют напуск кислорода до давления 7 х 10-2 Па и аргона, так что общее давление смеси газов поддерживается постоянным и составляет 9,31 х 10-1 Па. Пленка наносится методом магнетронного сораспыления при следующих параметрах процесса. Ток мишени тантала 1,5 А, ток мишени алюминия 1,5 А. После нанесения пленки отжигались в вакуумной печи РZ-803 при температуре 700оС. Удельное сопротивление полученных таким способом пленок составило 4500 мкОм. см, ТКС ≈1 х 10-5 град-1. Лучшие значения удельного сопротивления и ТКС пленок прототипа составили соответственно 60 мкОм.см и ТКС 1 х 10-4град-1.

Claims (1)

  1. СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ТОНКИХ РЕЗИСТИВНЫХ ПЛЕНОК НА ОСНОВЕ СПЛАВА ТАНТАЛ - АЛЮМИНИЙ, включающий катодное распыление мишеней тантала и алюминия в атмосфере кислорода, осаждение пленки на подложку и последующий ее отжиг в вакууме, отличающийся тем, что, с целью улучшения электрофизических параметров пленок путем повышения величины удельного сопротивления и уменьшения величины температурного коэффициента сопротивления, парциальное давление кислорода при распылении мишеней поддерживают равным (6,65 - 7,98) · 10- 2 Па, осаждение пленки осуществляют со скоростью
    Figure 00000005
    при этом содержание тантала в пленке выбирают и поддерживают в диапазоне 40 - 60 ат.%, а отжиг проводят при 650 - 900oС.
SU4905071 1991-01-24 1991-01-24 Способ получения тонких резистивных пленок на основе сплава тантал - алюминий RU2028682C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4905071 RU2028682C1 (ru) 1991-01-24 1991-01-24 Способ получения тонких резистивных пленок на основе сплава тантал - алюминий

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4905071 RU2028682C1 (ru) 1991-01-24 1991-01-24 Способ получения тонких резистивных пленок на основе сплава тантал - алюминий

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2028682C1 true RU2028682C1 (ru) 1995-02-09

Family

ID=21557042

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU4905071 RU2028682C1 (ru) 1991-01-24 1991-01-24 Способ получения тонких резистивных пленок на основе сплава тантал - алюминий

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2028682C1 (ru)

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Патент Японии N 55-5841, кл. H 01C 7/00, 1980. *
2. Патент ФРГ N 2356419, кл. H 01C 17/12, 1979. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0245900B1 (en) Layered film resistor with high resistance and high stability
US4414274A (en) Thin film electrical resistors and process of producing the same
US4201649A (en) Low resistance indium oxide coatings
US4298505A (en) Resistor composition and method of manufacture thereof
US4063211A (en) Method for manufacturing stable metal thin film resistors comprising sputtered alloy of tantalum and silicon and product resulting therefrom
US4000055A (en) Method of depositing nitrogen-doped beta tantalum
JPS5955001A (ja) 抵抗およびその製造方法
Sato Nucleation properties of magnetron-sputtered tantalum
JPH0772346B2 (ja) 低抵抗透明導電膜の製造方法
RU2028682C1 (ru) Способ получения тонких резистивных пленок на основе сплава тантал - алюминий
US6217722B1 (en) Process for producing Ti-Cr-Al-O thin film resistors
US4338145A (en) Chrome-tantalum alloy thin film resistor and method of producing the same
JPH1088332A (ja) スパッタリングターゲットおよび透明導電膜とその製造方法
CH688169A5 (de) Elektrische Widerstandsschicht.
Koltai et al. Segregation phenomena in thin NiCr layers
US3644188A (en) Anodizable cermet film components and their manufacture
Schiller et al. Cr Si resistive films produced by magnetron-plasmatron sputtering
JP2628591B2 (ja) 透明導電膜の形成方法
WO2022210428A1 (ja) Cr-Si系膜
CN116695081B (zh) 一种复合非晶碳薄膜压敏材料及其制备方法
Ojha The deposition of cermet films from a powder target by RF sputtering
US3315208A (en) Nitrogen stabilized titanium thin film resistor and method of making same
JP4742758B2 (ja) 薄膜抵抗体及びその製造方法
EP2100313B1 (en) High resistivity thin film composition and fabrication method
JPH06275409A (ja) 薄膜抵抗素子の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20070125