RU2028677C1 - Dynamic redundancy storage device - Google Patents
Dynamic redundancy storage device Download PDFInfo
- Publication number
- RU2028677C1 RU2028677C1 SU4879256A RU2028677C1 RU 2028677 C1 RU2028677 C1 RU 2028677C1 SU 4879256 A SU4879256 A SU 4879256A RU 2028677 C1 RU2028677 C1 RU 2028677C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- input
- output
- inputs
- control
- switch
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Hardware Redundancy (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для построения надежных запоминающих устройств оперативной или постоянной памяти произвольного доступа, работающих в реальном масштабе времени. The invention relates to computer technology and can be used to build reliable memory devices, random-access or permanent random access memory, working in real time.
Известно резервированное оперативное запоминающее устройство, содержащее, например, два накопителя, часть разрядов которых используется для хранения контрольной информации, входные и выходные коммутаторы, блоки свертки по модулю 2, блок управления и схему поразрядного сравнения считываемой информации [1]. A redundant random access memory device is known, which contains, for example, two drives, some of which are used to store control information, input and output switches,
Недостаток устройства в том, что оно не исправляет многоразрядные ошибки, а при двух накопителях исправляет не более двух одиночных разрядных неисправностей. The disadvantage of this device is that it does not fix multi-bit errors, and with two drives it fixes no more than two single bit errors.
Известно устройство для замещения ошибочных данных в запоминающих ячейках (многоразрядных словах) некорректируемого накопителя, в котором ошибочная ячейка основного накопителя замещается на ячейку из дополнительного (заявка ФРГ N 2646162, кл. G 11 C 29/00, 1979). A device is known for replacing erroneous data in storage cells (multi-bit words) of an unrecoverable drive, in which an erroneous cell of the main drive is replaced with a cell from an additional one (German application N 2646162, class G 11 C 29/00, 1979).
Известна интегральная память с резервированием столбцов данных, в которой все столбцы элементов накопителя разбиты на группы, и каждой группе ставится в соответствии резервный столбец (заявка Франции N 2611301, кл. G 11 C 29/00, 1988). Known integral memory with redundancy of data columns, in which all the columns of the drive elements are divided into groups, and a backup column is assigned to each group (French application N 2611301, CL G 11 C 29/00, 1988).
Общим недостатком этих двух устройств является то, что при отказах отдельных элементов накопителя заменяются на резервные не только отказавшие элементы, но и исправные, входящие в соответствующее слово, как в заявке ФРГ, или во все столбцы, занимающие в группах одинаковое положение, как в заявке Франции. A common drawback of these two devices is that in case of failures of individual drive elements, not only failing elements are replaced by backup ones, but also serviceable ones included in the corresponding word, as in the FRG application, or in all columns occupying the same position in the groups as in the application France.
Известно полупроводниковое ЗУ, выполняющее функцию коррекции ошибок и имеющее резервный блок. В этом устройстве с помощью двух селекторов имеется возможность локализации и замены отказавшего элемента памяти на пересечении горизонтальных и вертикальных групп элементов. Ошибки в группах обнаруживаются контролем на четность (патент США N 4768193, кл. G 06 F 11/10, 11/20, 1988). It is known semiconductor memory that performs the function of error correction and has a backup unit. In this device, using two selectors, it is possible to localize and replace a failed memory element at the intersection of horizontal and vertical groups of elements. Errors in groups are detected by the parity control (US patent N 4768193, CL G 06 F 11/10, 11/20, 1988).
Недостатком этого ЗУ является то, что ввиду невысокой эффективности контроля на четность для многоразрядных ошибок при их возникновении во многих случаях элемент памяти локализовать будет невозможно и при этом заменяется вся группа элементов, в строке или столбце, в том случае и исправные элементы в группе. The disadvantage of this memory is that, due to the low efficiency of the parity check for multi-bit errors when they occur, in many cases it will not be possible to localize a memory element and the entire group of elements in the row or column will be replaced, in which case serviceable elements in the group.
Известно запоминающее устройство с динамическим резервированием, содержащее n битовых секций (разрядов) основной памяти и S резервной с общими адресными и управляющими линиями выбора слова. n разрядных линий основной памяти и S разрядных линий резервной соединены через схему реконфигурации с регистром данных. A memory device with dynamic backup is known, containing n bit sections (bits) of the main memory and S standby with common address and control lines for word selection. n bit lines of the main memory and S bit lines of the backup are connected via a reconfiguration circuit with a data register.
Устройство позволяет производить замену отказавших элементов памяти на резервные для каждого слова и каждого разряда на основании информации об отказах, занесенной в дополнительную память. The device allows replacing the failed memory elements with reserve ones for each word and each category based on the information about the failures recorded in the additional memory.
Недостатком устройства является невозможность оперативного исправления выходных данных при возникновении сбоев и неисправностей в элементах накопителя. При возникновении, например, неисправности в этом устройстве необходимо провести тесты и результат тестов записать в дополнительную память. А сбои вообще тестами не обнаруживаются. The disadvantage of this device is the inability to quickly correct the output data in case of failures and malfunctions in the elements of the drive. If, for example, a malfunction occurs in this device, it is necessary to conduct tests and record the test results in additional memory. And failures in general are not detected by tests.
Цель предлагаемого технического решения - повышение надежности путем обеспечения оперативности переключения резерва при появлении сбоев и отказов элементов памяти. The purpose of the proposed technical solution is to increase reliability by ensuring the efficiency of reserve switching in case of failures and failures of memory elements.
Указанная цель достигается тем, что в известное устройство, содержащее основной и резервный блоки памяти, блок реконфигурации и выходной регистр, причем адресные и управляющие входы основного и резервного накопителей объединены и являются адресными и управляющими входами устройства, выходы основного и резервного блоков памяти подключены к соответствующим входам блока реконфигурации, выходы которого соединены с соответствующими входами выходного регистра, выходы которого являются выходами устройства, управляющий вход выходного регистра является входом стробирования считывания устройства, введены блок задания режимов, блок задания неисправностей, блок контроля, группа блоков сравнения, а блок реконфигурации состоит из групп коммутаторов. Первый информационный вход каждого коммутатора и первый вход соответствующего блока сравнения объединены и подключены к соответствующему выходу основного блока памяти. Второй информационный вход каждого коммутатора и второй вход соответствующего блока сравнения объединены и подключены к соответствующему выходу резервного блока памяти. Выход блока сравнения соединен с первым управляющим входом соответствующего коммутатора. Вторые управляющие входы коммутаторов объединены и подключены к выходу блока контроля, информационные входы которого и соответствующие информационные входы выходного регистра объединены и подключены к выходам соответствующих коммутаторов, третьи управляющие входы которых соединены с соответствующими прямыми выходами блока задания режимов, инверсные выходы которого подключены к четвертым управляющим входам соответствующих коммутаторов, пятые управляющими входы которых соединены с соответствующими выходами блока задания неисправностей. Управляющий вход блока контроля соединен с входом стробирования считывания устройства. This goal is achieved by the fact that in the known device containing the main and backup memory blocks, a reconfiguration block and an output register, the address and control inputs of the main and backup drives are combined and are address and control inputs of the device, the outputs of the main and backup memory blocks are connected to the corresponding the inputs of the reconfiguration unit, the outputs of which are connected to the corresponding inputs of the output register, the outputs of which are the outputs of the device, the control input of the output reg The country is the gate of the readout of the device, a mode setting block, a fault setting block, a control block, a group of comparison blocks are introduced, and the reconfiguration block consists of switch groups. The first information input of each switch and the first input of the corresponding comparison unit are combined and connected to the corresponding output of the main memory unit. The second information input of each switch and the second input of the corresponding comparison unit are combined and connected to the corresponding output of the backup memory unit. The output of the comparison unit is connected to the first control input of the corresponding switch. The second control inputs of the switches are combined and connected to the output of the control unit, the information inputs of which and the corresponding information inputs of the output register are combined and connected to the outputs of the corresponding switches, the third control inputs of which are connected to the corresponding direct outputs of the mode setting unit, the inverse outputs of which are connected to the fourth control inputs corresponding switches, the fifth control inputs of which are connected to the corresponding outputs of the failure unit Nost. The control input of the control unit is connected to the gate of the reading device.
На фиг. 1 показана структурная схема запоминающего устройства с динамическим резервированием; на фиг. 2 - пример реализации коммутатора; на фиг. 3 - пример возможной реализации блока контроля; на фиг. 4 - пример временной диаграммы работы устройства, причем высокий уровень сигналов соответствует логической "1". In FIG. 1 shows a block diagram of a dynamic backup storage device; in FIG. 2 is an example implementation of a switch; in FIG. 3 is an example of a possible implementation of a control unit; in FIG. 4 is an example of a timing diagram of a device, wherein a high level of signals corresponds to a logical “1”.
Устройство (фиг. 1) содержит основной 1 и резервный 2 блоки памяти, каждый из которых предназначен для хранения n-разрядных слов, сопровождаемых "k" контрольными разрядами. Между n + k соответствующими выходными разрядными линиями основного и резервного блоков памяти включены n + k блоков сравнения 3. Каждый из n + k коммутаторов 4 первым и вторым информационными входами соединен с разрядными линиями соответственно основного 1 и резервного 2 блоков памяти, а информационным выходом - с соответствующим разрядом выходного регистра 5 и входом блока контроля 6. The device (Fig. 1) contains the main 1 and reserve 2 memory blocks, each of which is designed to store n-bit words, followed by "k" control bits. Between n + k corresponding output bit lines of the main and backup memory blocks, n +
Первый управляющий вход каждого коммутатора 4 соединен с выходом соответствующего блока сравнения 3, второй - с выходом блока контроля 6, третий, четвертый и пятый соединены соответственно с прямым и инверсным выходами триггера соответствующего разряда блока задания режимов 7 и с соответствующим выходом блока задания неисправностей 8. The first control input of each
Коммутатор 4 содержит с первого по четвертый элементы И соответственно 9, 10, 12, 14, первый 11 и второй 15 элементы ИЛИ, элемент НЕ 13. Первый, второй и третий входы первого элемента И 9, являются соответственно первым, вторым и третьим управляющими входами коммутатора, четвертым и пятым управляющими входами которого являются соответственно первый и второй входы второго элемента И 10, выход которого соединен с первым входом первого элемента ИЛИ 11, второй вход которого соединен с выходом первого элемента И 9. Вход элемента НЕ 13 и первый вход третьего элемента И 12 объединены и подключены к выходу первого элемента ИЛИ 11. Выход элемента НЕ 13 соединен с первым входом четвертого элемента И 14, второй вход которого является первым информационным входом коммутатора 4, вторым информационным входом которого является второй вход третьего элемента И 12, выход которого соединен с первым входом второго элемента ИЛИ 15, второй вход которого соединен с выходом четвертого элемента И 14. Выход второго элемента ИЛИ 15 является выходом коммутатора. The
Блок контроля 6 (фиг. 3) содержит элемент ИЛИ 16, "к" элементов ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 171-17к, "к" сумматоров по модулю 2 181-18к, триггер 19, элемент ИЛИ 20, формирователь 21, n/к входов каждого сумматора по модулю 2 181-18к соединены с группой входов блока контроля 6, соединенных с выходами коммутаторов 4, коммутирующих разряды основных слов. Выходы сумматоров по модулю 2 181-18к соединены с первыми входами соответствующих элементов ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 171-17к, вторые входы которых соединены с соответствующими "к" входами блока контроля 6, соединенных с выходами коммутаторов 4, коммутирующих контрольные разряды блоков памяти. Выходы элементов ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 171-17к соединены с входами элемента ИЛИ 16, выход которого соединен с прямым установочным входом триггера 19, вход синхронизации которого через двухвходовой элемент ИЛИ 20 соединен с входом и выходом формирователя 21, вход которого является управляющим входом блока контроля 6, а выход соединен с инверсным установочным входом триггера 19, прямой выход которого является выходом блока контроля 6.The control unit 6 (Fig. 3) contains an element OR 16, “k” elements EXCLUSIVE OR 17 1 -17к, “к”
Устройство работает следующим образом. The device operates as follows.
По одинаковым адресам слов основного 1 и резервного 2 блоков памяти хранятся одинаковые данные. Чтение и запись (если память типа ОЗУ) производится синхронно. Блоки задания режимов 7 и задания неисправностей 8 осуществляют независимое управление по каждому разряду считываемых слов. Эти блоки представляют собой, например, программно-доступные регистры со стороны процессора ЦВМ, в состав которой может входить рассматриваемое устройство. С помощью блока задания режимов 7 для каждого разряда слов может быть установлен динамический или статический режим работы соответствующего коммутатора 4. At the same address of the words of the main 1 and reserve 2 memory blocks, the same data is stored. Reading and writing (if memory type RAM) is performed synchronously. The blocks of the
Динамический режим коммутатора 4 i-го разряда соответствует значению логической "1" i-го разряда регистра задания режимов 7. При этом логический "0" с инверсного выхода триггера i-го разряда регистра задания режимов 7, поступая через четвертый управляющий вход коммутатора 4 на элемент И 10, блокирует возможность управления коммутатором по i-му разряду регистра задания неисправностей 8, сигнал которого поступает через пятый управляющий вход коммутатора 4 на второй вход элемента И 10. The dynamic mode of the
До момента считывания слова из блоков памяти на первом и втором входах элемента И 9 присутствуют логические нули, поступающие соответственно через первый управляющий вход коммутатора 4 с выхода блока сравнения и через второй управляющий вход - с выхода блока контроля. На третьем входе элемента И 9 присутствует сигнал логической "1", поступающий через третий управляющий вход коммутатора 4 с прямого выхода триггера соответствующего разряда регистра задания режимов 7. Поскольку на обоих входах элемента ИЛИ 11 присутствуют логические "0", то и на первом входе элемента И 12 будет "0". Тем самым запрещается прохождение сигнала с i-по разряда резервного блока памяти 2 через второй вход элемента И 12, через элемент ИЛИ 15 на выход коммутатора 4. Одновременно сигналом логической "1" с выхода элемента НЕ 13, поступающего на первый вход элемента И 14, разрешено прохождение сигнала с i-го разряда основного блока памяти 1 через второй вход элемента И 14, элемент ИЛИ 15 на выход коммутатора 4. Until the word is read from the memory blocks, the first and second inputs of the And 9 element contain logical zeros that arrive respectively through the first control input of the
Если при считывании слова блок сравнения 3 и блок контроля 6 сигналов ошибок не вырабатывают, то в выходной регистр 5 через коммутаторы 4 записывается слово, считанное из основного блока памяти. If, when reading the word, the
Пусть, например, произошел отказ или сбой в битовой секции i-го разряда основного блока памяти на определенном адресе (или группе адресов). При считывании слова по этому адресу блок контроля 6 вырабатывает сигнал ошибки, а блок сравнения 3 - сигнал несравнения. Таким образом, на первом и втором входах элемента И 9 коммутатора 4 появятся логические "1". А поскольку на третьем входе уже была "1" (установлен динамический режим), этот единичный сигнал проходит на первый вход элемента И 12 и через элемент НЕ 13 на первый вход элемента И 14. В результате на выход коммутатора 4 вместо сигнала с разрядной линии основного блока памяти проходит сигнал с разрядной линии резервного блока памяти через второй информационный вход коммутатора 4, элементы И 12, ИЛИ 15. Let, for example, a failure or failure occur in the bit section of the i-th category of the main memory block at a specific address (or group of addresses). When reading a word at this address, the
Временная диаграмма переключения выходной информации коммутатора 4 при фиксации искаженного разряда считанного слова (на примере переключения одного разряда) показана на фиг. 4. Сигнал ошибки блока контроля 6 после возникновения сохраняется до конца строба считывания. Его сброс, т.е. обнуление триггера 19, происходит по сигналу с выхода формирователя 21 (по заднему фронту строба считывания), поступающего на инверсный установочный вход триггера 19 и одновременно через элемент ИЛИ 20 на его вход синхронизации. The timing diagram of switching the output information of the
Если откажет какой-либо разряд резервного блока памяти 2, то соответствующий коммутатор не переключается, так как несмотря на наличие сигнала несравнения с блока 3, блок контроля 6 сигнала ошибки не выработает. If any bit of the
В общем случае, в динамическом режиме при чтении производится оперативное замещение информации отдельных разрядных линий основного блока памяти на линии резервного, если имеется сигнал их несравнения и сигнал ошибки для считываемого слова. Это исправление информации осуществляется также и для контрольных разрядов. In general, in the dynamic mode, while reading, the information of individual bit lines of the main memory block is promptly replaced on the backup line if there is a signal of their incomparison and an error signal for the word being read. This correction of information is also carried out for control bits.
Использование такого динамического переключения резерва для каждого элемента памяти, стоящего на пересечении разрядной и адресной линий, дает большой выигрыш в надежности при простоте реализации. Однако при некоторых сочетаниях неисправностей, применяя только динамический режим, исправить выходную информацию не представляется возможным. Например, пусть в i-м разряде резервного блока памяти отказали все элементы i-й битовой секции. При чтении слов постоянно срабатывает i-й блок сравнения 3, но сигнал ошибки не вырабатывается, так как на выход коммутатора 4 подключена разрядная линия основного блока памяти. Если при этом возникнет сбой или отказ в другой битовой секции основного блока памяти r ≠ i, то по возникшему сигналу ошибки блока контроля 6 одновременно срабатывают r-й и i-й коммутаторы 4, что приведет к записи в выходной регистр 5 неверной информации по i-му разряду считанного слова. Искажение i-го разряда можно было бы исключить, если постоянно подключить на выход i-го коммутатора 4 разрядную линию основного блока памяти. Поэтому в устройство введен еще статический режим переключения, задаваемый для каждого разряда. The use of such dynamic reserve switching for each memory element at the intersection of the bit and address lines gives a big gain in reliability with ease of implementation. However, with some combinations of faults, using only dynamic mode, it is not possible to correct the output information. For example, let all elements of the ith bit section fail in the ith bit of the backup memory block. When reading words, the i-th block of
Статический режим для какого-либо разряда (или группы разрядов) устанавливается путем обнуления соответствующих разрядов регистра задания режимов 7. Сигнал логического "0" с прямого выхода триггера i-го разряда регистра задания режимов 7 через третий управляющий вход i-го коммутатора 4 поступает на третий вход элемента И 9, тем самым запрещая управление коммутатором 4 от блока контроля 6 и i-го блока сравнения 3. Сигнал логической "1" с инверсного выхода триггера i-го разряда регистра задания режимов 7 через четвертый управляющий вход i-го коммутатора 4 поступает на первых вход элемента И 10, тем самым разрешается прохождение через второй вход элемента И 10 и пятый управляющий вход коммутатора 4 сигнала с i-го разряда регистра задания неисправностей 8. The static mode for any category (or group of categories) is set by zeroing the corresponding bits of the
В статическом режиме содержимое разряда регистра 8 однозначно определяет от разрядной линии какого блока памяти (основного или резервного) записывается информация в соответствующий разряд выходного регистра 5. Например, сигнал логической "1" с i-го разряда регистра задания неисправностей 8, проходя через элементы И 10, ИЛИ 11 на первый вход элемента И 12, подключает через его второй вход и элемент ИЛИ 15 на вход i-го коммутатора 4 разрядную линию с резервного блока памяти 2. (Прохождение информации с линии основного блока памяти при этом блокировано логическим "0" на первом входе элемента И 14). Если задать в i-м разряде регистра 8 логический "0", то присутствие логического нуля на первом входе элемента И 12 отключает от выхода коммутатора 4 линию резервного блока памяти, а логическая "1", поступающая с выхода элемента НЕ 13 на первый вход элемента И 14, обеспечивает подключение на выход коммутатора 4 разрядной линии основного блока памяти. In static mode, the contents of the
Состояние постоянного отказа i-й битовой секции основного или резервного блоков памяти определяется по тестам, например, после этапа хранения устройства перед началом работы. Возможность индивидуального обращения (на тестах) к основному и резервному блокам памяти определяется содержимым регистров 7 и 8. Например, нужно проверить тестами основной блок памяти. Для этого в регистры 7 и 8 посылаются нулевые коды. Т.е. устанавливается статический режим по всем разрядам с постоянным подключением выходного регистра 5 к основному блоку памяти 1. The state of permanent failure of the ith bit section of the main or backup memory units is determined by tests, for example, after the storage phase of the device before starting work. The possibility of individual access (on tests) to the main and backup memory blocks is determined by the contents of
В блоке контроля 6 (фиг. 3) можно реализовать, например, побайтовый контроль на четность. Пусть, например, каждому байту слова соответствует один контрольный разряд, значение которого задается таким образом, чтобы сумма всех разрядов байта с учетом контрольного была четной. Пусть число разрядов слов n = 32. Тогда число контрольных разрядов к = 4. Четыре сумматора по модулю 2 18 подключены своими входами к четырем группам выходов коммутаторов 4 по 8 выходов в каждой. Каждый из четырех элементов ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 17 при несовпадении сигнала с выхода соответствующего сумматора 18 со значением соответствующего контрольного разряда формирует сигнал ошибки байта. Эти сигналы ошибок поступают на входы элемента ИЛИ 16, выход которого соединен с прямым установочным входом триггера 19. При получении сигнала ошибки хотя бы с одного элемента ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 17 при наличии на входе синхронизации триггера 19 сигнала строба считывания, поступающего с управляющего входа блока контроля 6 через элемент ИЛИ 20, триггер 19 устанавливается в единичное состояние. Сигнал ошибки с его прямого выхода поступает на выход блока контроля 6. In the control unit 6 (Fig. 3) it is possible to implement, for example, a byte parity check. Suppose, for example, that each byte of a word corresponds to one check digit, the value of which is set in such a way that the sum of all bits of the byte, taking into account the control, is even. Let the number of word bits be n = 32. Then the number of control bits is k = 4. Four adders modulo 2 18 are connected by their inputs to four groups of outputs of
Современные полупроводниковые ЗУ большой емкости представляют собой матричные структуры, элементами которых являются БИС (или СБИС) памяти. Предлагаемое устройство позволяет исправлять последствия отказов и сбоев как внутри этих БИС, так и отдельных БИС в целом. Наибольшая эффективность устройства достигается, когда ЗУ строится на независимых битовых разрядных секциях, например, на одноразрязных БИС (СБИС) размерностью NКх1 разряд. При этом даже общий отказ одной БИС приводит к искажению только одного разряда считываемого из накопителя слова по всем или группе адресов (в зависимости от количества БИС в разрядной секции). Modern high-capacity semiconductor memory devices are matrix structures whose elements are LSI (or VLSI) memory. The proposed device allows you to correct the consequences of failures and malfunctions both within these LSIs and individual LSIs in general. The greatest efficiency of the device is achieved when the memory is built on independent bit-wise bit sections, for example, on a single-polluted LSI (VLSI) of dimension NKx1 discharge. Moreover, even a general failure of one LSI leads to a distortion of only one bit of a word read from the drive for all or a group of addresses (depending on the number of LSI in the bit section).
Однако высокая эффективность контроля может быть получена и при построении накопителей на многоразрядных БИС памяти. В этом случае при отказе отдельных БИС возникают групповые ошибки. Чтобы их обнаружить известны способы, когда каждый контрольный разряд относится к группе разрядов слова, взятых из различных БИС памяти, (например, международная заявка РСТ/WO/87/06737). However, high control efficiency can also be obtained when building drives on multi-bit LSI memory. In this case, when individual LSIs fail, group errors occur. To detect them, methods are known where each control bit belongs to a group of word bits taken from different LSI memory (for example, international application PCT / WO / 87/06737).
В нашем примере этот эффект будет при подключении входов каждого сумматора по модулю 2 18 блока контроля 6 к выходам коммутаторов 4, соответствующим выходам различных БИС памяти накопителя. Естественно, контрольные разряды должны формироваться по тому же алгоритму (если блок памяти типа ПЗУ - то при его изготовлении, а если типа ОЗУ - то при записи слов). In our example, this effect will be when connecting the inputs of each adder modulo 2 18 of the
Таким образом, устройство повышает надежность ЗУ за счет оперативного парирования возникающих сбоев и отказов элементов блоков памяти как в основных разрядах слов, так и в контрольных, а также учета постоянных отказов, выявленных на тестах. Thus, the device improves the reliability of the memory due to the rapid retardation of the occurring failures and failures of the elements of the memory blocks in both the main categories of words and in the control ones, as well as taking into account the constant failures identified in the tests.
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4879256 RU2028677C1 (en) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | Dynamic redundancy storage device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4879256 RU2028677C1 (en) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | Dynamic redundancy storage device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2028677C1 true RU2028677C1 (en) | 1995-02-09 |
Family
ID=21543383
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU4879256 RU2028677C1 (en) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | Dynamic redundancy storage device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2028677C1 (en) |
-
1990
- 1990-09-25 RU SU4879256 patent/RU2028677C1/en active
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
1. Авторское свидетельство СССР N 589623, кл. G 11C 29/00,1978. * |
2. ЭИ, сер ВТ, 1989, N 47, реф.141. Обеспечение отказоустойчивости N-МОП ЗУПВ методами динамической избыточности, рис.2. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4945512A (en) | High-speed partitioned set associative cache memory | |
US5228046A (en) | Fault tolerant computer memory systems and components employing dual level error correction and detection with disablement feature | |
EP0463210B1 (en) | Method and apparatus for checking the address and contents of a memory array | |
US4506364A (en) | Memory address permutation apparatus | |
US3436734A (en) | Error correcting and repairable data processing storage system | |
JPH0743678B2 (en) | Fault-tolerant memory system | |
US4453251A (en) | Error-correcting memory with low storage overhead and fast correction mechanism | |
US6457067B1 (en) | System and method for detecting faults in storage device addressing logic | |
US4456980A (en) | Semiconductor memory device | |
WO1981001893A1 (en) | Self-correcting memory system and method | |
US5200963A (en) | Self-checking on-line testable static ram | |
US6041422A (en) | Fault tolerant memory system | |
US5966389A (en) | Flexible ECC/parity bit architecture | |
US4251863A (en) | Apparatus for correction of memory errors | |
US4371963A (en) | Method and apparatus for detecting and correcting errors in a memory | |
JPS6237423B2 (en) | ||
Sarrazin et al. | Fault-tolerant semiconductor memories | |
US3898443A (en) | Memory fault correction system | |
EP0087610B1 (en) | Random access memory arrangement with a word redundancy scheme | |
RU2028677C1 (en) | Dynamic redundancy storage device | |
JPH02278355A (en) | Fault tolerant memory system | |
SU1603440A1 (en) | Storage with error detection and correction | |
SU439020A1 (en) | Autonomous control storage device | |
JPH023196A (en) | High reliability memory element | |
SU1417041A1 (en) | Redundancy storage |