RU2019123248A - Плоские ионные источники для спектрометров - Google Patents
Плоские ионные источники для спектрометров Download PDFInfo
- Publication number
- RU2019123248A RU2019123248A RU2019123248A RU2019123248A RU2019123248A RU 2019123248 A RU2019123248 A RU 2019123248A RU 2019123248 A RU2019123248 A RU 2019123248A RU 2019123248 A RU2019123248 A RU 2019123248A RU 2019123248 A RU2019123248 A RU 2019123248A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- ion source
- drift tube
- ion
- flat
- detector
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/622—Ion mobility spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/64—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using wave or particle radiation to ionise a gas, e.g. in an ionisation chamber
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J27/00—Ion beam tubes
- H01J27/02—Ion sources; Ion guns
- H01J27/20—Ion sources; Ion guns using particle beam bombardment, e.g. ionisers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0031—Step by step routines describing the use of the apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/14—Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Claims (36)
1. Устройство для разделения и анализа ионов, содержащее:
детектор;
трубку дрейфа ионов, соединенную с детектором и имеющую некоторую ширину; и
плоский ионный источник, соединенный с трубкой дрейфа ионов на конце трубки дрейфа ионов напротив детектора, при этом плоский ионный источник имеет протяженность, равную или превышающую ширину трубки дрейфа ионов, для ионизации газа аналита и фрагментации ионов газа аналита в непосредственной близости от плоского ионного источника и до пропускания в трубку дрейфа ионов.
2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что плоский ионный источник содержит дискообразный корпус.
3. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что плоский ионный источник выполнен из никеля и содержит радиоактивное никелевое покрытие, расположенное на поверхности, обращенной к трубке дрейфа ионов.
4. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что плоский ионный источник имеет расположенное по центру отверстие для аналита для введения потока газа аналита в устройство по центру плоского ионного источника.
5. Устройство по п. 1, дополнительно содержащее перегородку, расположенную между плоским ионным источником и трубкой дрейфа ионов, для направления газа аналита в радиальном направлении наружу относительно оси, проходящей через трубку дрейфа между плоским ионным источником и детектором.
6. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что плоский ионный источник имеет отверстие для аналита, расположенное на периферии плоского ионного источника, для введения потока газа аналита на периферии плоского ионного источника.
7. Устройство по п. 1, дополнительно содержащее отверстие для буферного газа, расположенное напротив плоского ионного источника, для введения потока буферного газа в устройство.
8. Устройство по п. 1, дополнительно содержащее затвор, расположенный между плоским ионным источником и трубкой дрейфа, причем затвор и плоский ионный источник определяют между собой общую камеру для ионизации газа аналита и фрагментации ионов газа аналита в непосредственной близости от плоского ионного источника и до пропускания ионов аналита и фрагментных ионов в трубку дрейфа.
9. Устройство по п. 8, отличающееся тем, что поток газа аналита и поток буферного газа в камере разделения направлены в радиальном направлении относительно оси камеры дрейфа, проходящей между детектором и плоским ионным источником.
10. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что время пребывания газа аналита, вводимого в устройство, в непосредственной близости от плоского ионного источника, составляет от около 500 миллисекунд до около 2 секунд для контроля времени пребывания у ионного источника.
11. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что устройство содержит только одну трубку дрейфа ионов, расположенную между детектором и плоским ионным источником.
12. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что ширина плоского ионного источника составляет около 1,5 сантиметров (0,6 дюйма), а длина трубки дрейфа составляет около 3,5 сантиметров (около 1,4 дюйма).
13. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что трубка дрейфа ионов представляет собой первую трубку дрейфа ионов и дополнительно содержит вторую трубку дрейфа ионов, причем вторая трубка дрейфа ионов расположена между первой трубкой дрейфа ионов и детектором.
14. Устройство по п. 1, дополнительно содержащее корпус, поддерживающий по меньшей мере одно из следующего: трубку дрейфа, плоский ионный источник и детектор, при этом размеры корпуса позволяют вместить его на ладони руки пользователя.
15. Устройство по п. 1, дополнительно содержащее:
модуль буферного газа, гидравлически связанный с плоским ионным источником и выполненный с возможностью обеспечения скорости потока буферного газа около 5 миллилитров в минуту (около 1 жидкостной унции в минуту);
модуль газа аналита, гидравлически связанный с плоским ионным источником и выполненный с возможностью обеспечения скорости потока буферного газа около 25 миллилитров в минуту (около 0,8 жидкостной унции в минуту); и
электрод напряжения, подключенный к камере дрейфа ионов и выполненный с возможностью подачи около 300 вольт/сантиметр на камеру дрейфа ионов.
16. Химический детектор, содержащий:
корпус с внутренней частью; и
устройство для разделения и анализа ионов по п. 1, расположенное во внутренней части корпуса,
при этом ширина плоского ионного источника составляет около 1,5 сантиметров, а длина трубки дрейфа составляет около 3,5 сантиметров (около 1,4 дюйма),
при этом время пребывания газа аналита, вводимого в устройство, в непосредственной близости от плоского ионного источника составляет около 500 миллисекунд, и
при этом размеры корпуса позволяют вместить его на ладони руки пользователя.
17. Способ обнаружения химических веществ, включающий в себя:
устройство для разделения и анализа ионов, включающее детектор, трубку дрейфа ионов, соединенную с детектором и имеющей некоторую ширину, и плоский ионный источник, соединенный с трубкой дрейфа ионов на конце трубки дрейфа ионов напротив детектора с протяженностью, равной или превышающей ширину трубки дрейфа,
протекание потока газа аналита через протяженность плоского ионного источника;
ионизацию и фрагментацию газа аналита в непосредственной близости от плоского ионного источника;
пропускание ионизированного и фрагментированного газа аналита в трубку дрейфа; и
подачу ионизированного и фрагментированного газа аналита в детектор для генерирования сигнала, указывающего состав газа аналита.
18. Способ обнаружения химических веществ по п. 17, дополнительно включающий в себя выбор времени пребывания в ионном источнике путем выбора скорости потока газа аналита.
19. Способ обнаружения химических веществ по п. 17, отличающийся тем, что время пребывания составляет от около 2 миллисекунд до около 500 миллисекунд.
20. Способ обнаружения химических веществ по п. 17, отличающийся тем, что время пребывания составляет от около 500 миллисекунд до около 2 секунд.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US16/042,771 | 2018-07-23 | ||
US16/042,771 US20200027711A1 (en) | 2018-07-23 | 2018-07-23 | Planar ion sources for spectrometers |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2019123248A true RU2019123248A (ru) | 2021-01-26 |
Family
ID=67438593
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2019123248A RU2019123248A (ru) | 2018-07-23 | 2019-07-23 | Плоские ионные источники для спектрометров |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20200027711A1 (ru) |
EP (1) | EP3599462A1 (ru) |
JP (1) | JP2020016655A (ru) |
CN (1) | CN110752140A (ru) |
AU (1) | AU2019208169A1 (ru) |
RU (1) | RU2019123248A (ru) |
TW (1) | TW202013432A (ru) |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4119851A (en) * | 1977-06-23 | 1978-10-10 | Honeywell Inc. | Apparatus and a method for detecting and measuring trace gases in air or other gas backgrounds |
GB2263358A (en) * | 1992-01-16 | 1993-07-21 | Ion Track Instr | Ion mobility spectrometers |
US5789745A (en) * | 1997-10-28 | 1998-08-04 | Sandia Corporation | Ion mobility spectrometer using frequency-domain separation |
DE10200256A1 (de) * | 2002-01-05 | 2003-07-24 | Draeger Safety Ag & Co Kgaa | Beta/Plasmaionenquelle für ein Ionenmobilitätsspektrometer |
JP5125248B2 (ja) * | 2007-06-22 | 2013-01-23 | 株式会社日立製作所 | イオンモビリティ分光計 |
DE102008005281B4 (de) * | 2008-01-19 | 2014-09-18 | Airsense Analytics Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Detektion und Identifizierung von Gasen |
JP2015075348A (ja) * | 2013-10-07 | 2015-04-20 | 株式会社島津製作所 | イオン移動度分光計 |
CN105181782B (zh) * | 2015-10-09 | 2017-11-28 | 中国船舶重工集团公司第七一〇研究所 | 一种用于离子迁移谱仪的阵列式检测板的检测系统及检测方法 |
US9891194B2 (en) * | 2015-11-03 | 2018-02-13 | Bruker Daltonik Gmbh | Acquisition of fragment ion mass spectra of ions separated by their mobility |
-
2018
- 2018-07-23 US US16/042,771 patent/US20200027711A1/en not_active Abandoned
-
2019
- 2019-07-22 TW TW108125889A patent/TW202013432A/zh unknown
- 2019-07-23 RU RU2019123248A patent/RU2019123248A/ru unknown
- 2019-07-23 CN CN201910665728.9A patent/CN110752140A/zh active Pending
- 2019-07-23 EP EP19187934.5A patent/EP3599462A1/en not_active Withdrawn
- 2019-07-23 AU AU2019208169A patent/AU2019208169A1/en not_active Abandoned
- 2019-07-23 JP JP2019135195A patent/JP2020016655A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU2019208169A1 (en) | 2020-02-06 |
JP2020016655A (ja) | 2020-01-30 |
CN110752140A (zh) | 2020-02-04 |
TW202013432A (zh) | 2020-04-01 |
EP3599462A1 (en) | 2020-01-29 |
US20200027711A1 (en) | 2020-01-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6504149B2 (en) | Apparatus and method for desolvating and focussing ions for introduction into a mass spectrometer | |
JP5215525B2 (ja) | マルチモード・イオン化モード分離器 | |
EP2889616A1 (en) | Gas chromatograph-ion mobility spectrometer system | |
US10629424B2 (en) | Low temperature plasma probe with auxiliary heated gas jet | |
KR20090102805A (ko) | 검출 장치 | |
RU2009119420A (ru) | Способ и приспособление для выработки положительно и/или отрицательно ионизированных анализируемых газов для анализа газов | |
JP4303499B2 (ja) | 化学剤の探知装置 | |
US5036195A (en) | Gas analyzer | |
US9437410B2 (en) | System and method for applying curtain gas flow in a mass spectrometer | |
KR101497951B1 (ko) | 검출 장치 | |
JP2002373615A (ja) | イオン源およびそれを用いた質量分析計 | |
JP6273286B2 (ja) | サンプルプローブの入口フローシステム | |
KR20090104034A (ko) | 검출 장치 및 예비-농축기 | |
EP2492678B1 (en) | Sampling device for ion mobility spectrometer, method of using same and ion mobility spectrometer comprising sampling device | |
RU2019123248A (ru) | Плоские ионные источники для спектрометров | |
JP2004158296A (ja) | 化学剤の探知装置及び探知方法 | |
CN110082453B (zh) | 光离子化检测器 | |
CN111630624A (zh) | 利用极紫外辐射源的表面层破坏和电离 | |
KR100545455B1 (ko) | 내부 정화기능을 갖는 가스 식별 장치 | |
ATE279783T1 (de) | Flugzeitmassenspektrometerionenquelle zur analyse von gasproben | |
RU2015131819A (ru) | Поверхностный источник ионизации | |
CN210607181U (zh) | 一种具有双源电离源的质谱仪 | |
KR100498265B1 (ko) | 플라즈마 크로마토 그래피 장치 및 그에 따른 이온 필터셀 | |
WO2015085577A1 (zh) | 使用二次离子质谱仪分析气体样品的系统和方法 | |
Chistyakov et al. | A method of highly sensitive detecting of explosives on the basis of FAIMS analyzer with laser ion source |