RU2019123248A - Плоские ионные источники для спектрометров - Google Patents

Плоские ионные источники для спектрометров Download PDF

Info

Publication number
RU2019123248A
RU2019123248A RU2019123248A RU2019123248A RU2019123248A RU 2019123248 A RU2019123248 A RU 2019123248A RU 2019123248 A RU2019123248 A RU 2019123248A RU 2019123248 A RU2019123248 A RU 2019123248A RU 2019123248 A RU2019123248 A RU 2019123248A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
ion source
drift tube
ion
flat
detector
Prior art date
Application number
RU2019123248A
Other languages
English (en)
Inventor
Гари ЭЙСЕМАН
Бенджамин Д. ГАРДЕНЕР
Хсиен-ЧИ В. НИУ
Original Assignee
Хамильтон Сандстранд Корпорейшн
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Хамильтон Сандстранд Корпорейшн filed Critical Хамильтон Сандстранд Корпорейшн
Publication of RU2019123248A publication Critical patent/RU2019123248A/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/62Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
    • G01N27/622Ion mobility spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/62Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
    • G01N27/64Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using wave or particle radiation to ionise a gas, e.g. in an ionisation chamber
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J27/00Ion beam tubes
    • H01J27/02Ion sources; Ion guns
    • H01J27/20Ion sources; Ion guns using particle beam bombardment, e.g. ionisers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0027Methods for using particle spectrometers
    • H01J49/0031Step by step routines describing the use of the apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/10Ion sources; Ion guns
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/10Ion sources; Ion guns
    • H01J49/14Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Claims (36)

1. Устройство для разделения и анализа ионов, содержащее:
детектор;
трубку дрейфа ионов, соединенную с детектором и имеющую некоторую ширину; и
плоский ионный источник, соединенный с трубкой дрейфа ионов на конце трубки дрейфа ионов напротив детектора, при этом плоский ионный источник имеет протяженность, равную или превышающую ширину трубки дрейфа ионов, для ионизации газа аналита и фрагментации ионов газа аналита в непосредственной близости от плоского ионного источника и до пропускания в трубку дрейфа ионов.
2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что плоский ионный источник содержит дискообразный корпус.
3. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что плоский ионный источник выполнен из никеля и содержит радиоактивное никелевое покрытие, расположенное на поверхности, обращенной к трубке дрейфа ионов.
4. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что плоский ионный источник имеет расположенное по центру отверстие для аналита для введения потока газа аналита в устройство по центру плоского ионного источника.
5. Устройство по п. 1, дополнительно содержащее перегородку, расположенную между плоским ионным источником и трубкой дрейфа ионов, для направления газа аналита в радиальном направлении наружу относительно оси, проходящей через трубку дрейфа между плоским ионным источником и детектором.
6. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что плоский ионный источник имеет отверстие для аналита, расположенное на периферии плоского ионного источника, для введения потока газа аналита на периферии плоского ионного источника.
7. Устройство по п. 1, дополнительно содержащее отверстие для буферного газа, расположенное напротив плоского ионного источника, для введения потока буферного газа в устройство.
8. Устройство по п. 1, дополнительно содержащее затвор, расположенный между плоским ионным источником и трубкой дрейфа, причем затвор и плоский ионный источник определяют между собой общую камеру для ионизации газа аналита и фрагментации ионов газа аналита в непосредственной близости от плоского ионного источника и до пропускания ионов аналита и фрагментных ионов в трубку дрейфа.
9. Устройство по п. 8, отличающееся тем, что поток газа аналита и поток буферного газа в камере разделения направлены в радиальном направлении относительно оси камеры дрейфа, проходящей между детектором и плоским ионным источником.
10. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что время пребывания газа аналита, вводимого в устройство, в непосредственной близости от плоского ионного источника, составляет от около 500 миллисекунд до около 2 секунд для контроля времени пребывания у ионного источника.
11. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что устройство содержит только одну трубку дрейфа ионов, расположенную между детектором и плоским ионным источником.
12. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что ширина плоского ионного источника составляет около 1,5 сантиметров (0,6 дюйма), а длина трубки дрейфа составляет около 3,5 сантиметров (около 1,4 дюйма).
13. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что трубка дрейфа ионов представляет собой первую трубку дрейфа ионов и дополнительно содержит вторую трубку дрейфа ионов, причем вторая трубка дрейфа ионов расположена между первой трубкой дрейфа ионов и детектором.
14. Устройство по п. 1, дополнительно содержащее корпус, поддерживающий по меньшей мере одно из следующего: трубку дрейфа, плоский ионный источник и детектор, при этом размеры корпуса позволяют вместить его на ладони руки пользователя.
15. Устройство по п. 1, дополнительно содержащее:
модуль буферного газа, гидравлически связанный с плоским ионным источником и выполненный с возможностью обеспечения скорости потока буферного газа около 5 миллилитров в минуту (около 1 жидкостной унции в минуту);
модуль газа аналита, гидравлически связанный с плоским ионным источником и выполненный с возможностью обеспечения скорости потока буферного газа около 25 миллилитров в минуту (около 0,8 жидкостной унции в минуту); и
электрод напряжения, подключенный к камере дрейфа ионов и выполненный с возможностью подачи около 300 вольт/сантиметр на камеру дрейфа ионов.
16. Химический детектор, содержащий:
корпус с внутренней частью; и
устройство для разделения и анализа ионов по п. 1, расположенное во внутренней части корпуса,
при этом ширина плоского ионного источника составляет около 1,5 сантиметров, а длина трубки дрейфа составляет около 3,5 сантиметров (около 1,4 дюйма),
при этом время пребывания газа аналита, вводимого в устройство, в непосредственной близости от плоского ионного источника составляет около 500 миллисекунд, и
при этом размеры корпуса позволяют вместить его на ладони руки пользователя.
17. Способ обнаружения химических веществ, включающий в себя:
устройство для разделения и анализа ионов, включающее детектор, трубку дрейфа ионов, соединенную с детектором и имеющей некоторую ширину, и плоский ионный источник, соединенный с трубкой дрейфа ионов на конце трубки дрейфа ионов напротив детектора с протяженностью, равной или превышающей ширину трубки дрейфа,
протекание потока газа аналита через протяженность плоского ионного источника;
ионизацию и фрагментацию газа аналита в непосредственной близости от плоского ионного источника;
пропускание ионизированного и фрагментированного газа аналита в трубку дрейфа; и
подачу ионизированного и фрагментированного газа аналита в детектор для генерирования сигнала, указывающего состав газа аналита.
18. Способ обнаружения химических веществ по п. 17, дополнительно включающий в себя выбор времени пребывания в ионном источнике путем выбора скорости потока газа аналита.
19. Способ обнаружения химических веществ по п. 17, отличающийся тем, что время пребывания составляет от около 2 миллисекунд до около 500 миллисекунд.
20. Способ обнаружения химических веществ по п. 17, отличающийся тем, что время пребывания составляет от около 500 миллисекунд до около 2 секунд.
RU2019123248A 2018-07-23 2019-07-23 Плоские ионные источники для спектрометров RU2019123248A (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US16/042,771 2018-07-23
US16/042,771 US20200027711A1 (en) 2018-07-23 2018-07-23 Planar ion sources for spectrometers

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2019123248A true RU2019123248A (ru) 2021-01-26

Family

ID=67438593

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2019123248A RU2019123248A (ru) 2018-07-23 2019-07-23 Плоские ионные источники для спектрометров

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20200027711A1 (ru)
EP (1) EP3599462A1 (ru)
JP (1) JP2020016655A (ru)
CN (1) CN110752140A (ru)
AU (1) AU2019208169A1 (ru)
RU (1) RU2019123248A (ru)
TW (1) TW202013432A (ru)

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4119851A (en) * 1977-06-23 1978-10-10 Honeywell Inc. Apparatus and a method for detecting and measuring trace gases in air or other gas backgrounds
GB2263358A (en) * 1992-01-16 1993-07-21 Ion Track Instr Ion mobility spectrometers
US5789745A (en) * 1997-10-28 1998-08-04 Sandia Corporation Ion mobility spectrometer using frequency-domain separation
DE10200256A1 (de) * 2002-01-05 2003-07-24 Draeger Safety Ag & Co Kgaa Beta/Plasmaionenquelle für ein Ionenmobilitätsspektrometer
JP5125248B2 (ja) * 2007-06-22 2013-01-23 株式会社日立製作所 イオンモビリティ分光計
DE102008005281B4 (de) * 2008-01-19 2014-09-18 Airsense Analytics Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Detektion und Identifizierung von Gasen
JP2015075348A (ja) * 2013-10-07 2015-04-20 株式会社島津製作所 イオン移動度分光計
CN105181782B (zh) * 2015-10-09 2017-11-28 中国船舶重工集团公司第七一〇研究所 一种用于离子迁移谱仪的阵列式检测板的检测系统及检测方法
US9891194B2 (en) * 2015-11-03 2018-02-13 Bruker Daltonik Gmbh Acquisition of fragment ion mass spectra of ions separated by their mobility

Also Published As

Publication number Publication date
AU2019208169A1 (en) 2020-02-06
JP2020016655A (ja) 2020-01-30
CN110752140A (zh) 2020-02-04
TW202013432A (zh) 2020-04-01
EP3599462A1 (en) 2020-01-29
US20200027711A1 (en) 2020-01-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6504149B2 (en) Apparatus and method for desolvating and focussing ions for introduction into a mass spectrometer
JP5215525B2 (ja) マルチモード・イオン化モード分離器
EP2889616A1 (en) Gas chromatograph-ion mobility spectrometer system
US10629424B2 (en) Low temperature plasma probe with auxiliary heated gas jet
KR20090102805A (ko) 검출 장치
RU2009119420A (ru) Способ и приспособление для выработки положительно и/или отрицательно ионизированных анализируемых газов для анализа газов
JP4303499B2 (ja) 化学剤の探知装置
US5036195A (en) Gas analyzer
US9437410B2 (en) System and method for applying curtain gas flow in a mass spectrometer
KR101497951B1 (ko) 검출 장치
JP2002373615A (ja) イオン源およびそれを用いた質量分析計
JP6273286B2 (ja) サンプルプローブの入口フローシステム
KR20090104034A (ko) 검출 장치 및 예비-농축기
EP2492678B1 (en) Sampling device for ion mobility spectrometer, method of using same and ion mobility spectrometer comprising sampling device
RU2019123248A (ru) Плоские ионные источники для спектрометров
JP2004158296A (ja) 化学剤の探知装置及び探知方法
CN110082453B (zh) 光离子化检测器
CN111630624A (zh) 利用极紫外辐射源的表面层破坏和电离
KR100545455B1 (ko) 내부 정화기능을 갖는 가스 식별 장치
ATE279783T1 (de) Flugzeitmassenspektrometerionenquelle zur analyse von gasproben
RU2015131819A (ru) Поверхностный источник ионизации
CN210607181U (zh) 一种具有双源电离源的质谱仪
KR100498265B1 (ko) 플라즈마 크로마토 그래피 장치 및 그에 따른 이온 필터셀
WO2015085577A1 (zh) 使用二次离子质谱仪分析气体样品的系统和方法
Chistyakov et al. A method of highly sensitive detecting of explosives on the basis of FAIMS analyzer with laser ion source