RU2018123561A - Автоматизированный контроль для выявления инородных материалов, трещин и иных аномалий поверхности - Google Patents

Автоматизированный контроль для выявления инородных материалов, трещин и иных аномалий поверхности Download PDF

Info

Publication number
RU2018123561A
RU2018123561A RU2018123561A RU2018123561A RU2018123561A RU 2018123561 A RU2018123561 A RU 2018123561A RU 2018123561 A RU2018123561 A RU 2018123561A RU 2018123561 A RU2018123561 A RU 2018123561A RU 2018123561 A RU2018123561 A RU 2018123561A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
output
workpiece
light source
defects
structured light
Prior art date
Application number
RU2018123561A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2018123561A3 (ru
Inventor
Мортеза САФАИ
Original Assignee
Зе Боинг Компани
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Зе Боинг Компани filed Critical Зе Боинг Компани
Publication of RU2018123561A publication Critical patent/RU2018123561A/ru
Publication of RU2018123561A3 publication Critical patent/RU2018123561A3/ru

Links

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32—LAYERED PRODUCTS
    • B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B37/00—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
    • B32B37/14—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by the properties of the layers
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/94—Investigating contamination, e.g. dust
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/56—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof provided with illuminating means
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/90—Arrangement of cameras or camera modules, e.g. multiple cameras in TV studios or sports stadiums
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32—LAYERED PRODUCTS
    • B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2605/00—Vehicles
    • B32B2605/18—Aircraft
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N2021/8472—Investigation of composite materials
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8812—Diffuse illumination, e.g. "sky"
    • G01N2021/8816—Diffuse illumination, e.g. "sky" by using multiple sources, e.g. LEDs
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8829—Shadow projection or structured background, e.g. for deflectometry
    • G01N2021/8832—Structured background, e.g. for transparent objects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8835—Adjustable illumination, e.g. software adjustable screen
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/061—Sources
    • G01N2201/06146—Multisources for homogeneisation, as well sequential as simultaneous operation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/061—Sources
    • G01N2201/06146—Multisources for homogeneisation, as well sequential as simultaneous operation
    • G01N2201/06153—Multisources for homogeneisation, as well sequential as simultaneous operation the sources being LED's
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/062—LED's
    • G01N2201/0628—Organic LED [OLED]
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10024—Color image
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10141—Special mode during image acquisition
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10141—Special mode during image acquisition
    • G06T2207/10152—Varying illumination
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108—Industrial image inspection
    • G06T2207/30164—Workpiece; Machine component

Landscapes

  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Claims (45)

1. Способ контроля заготовки, включающий:
излучение структурированного света 120 на первую часть заготовки 104 с использованием источника 118 освещения, при этом первая часть заготовки 130 отражает указанный структурированный свет;
формирование изображения структурированного света, отраженного от первой части заготовки, с использованием камеры 116 обратной связи для создания первых выходных данных;
формирование изображения второй части заготовки 132, которая не освещена указанным источником освещения, с использованием камеры 114 съемки фона для создания вторых выходных данных;
сравнение первых выходных данных со вторыми выходными данными и
изменение структурированного света 120, излучаемого источником 118 освещения, путем изменения одного или более из интенсивности, тона, насыщенности и цвета структурированного света на основании результата сравнения первых выходных данных со вторыми выходными данными, что увеличивает контраст одного или более дефектов, находящихся в первой части заготовки.
2. Способ по п. 1, согласно которому источник 118 освещения содержит по меньшей мере один миллион органических светодиодов, а изменение структурированного света, излучаемого источником освещения, включает управление интенсивностью каждого из указанных светодиодов в отдельности.
3. Способ по п. 2, согласно которому каждый органический светодиод выполнен с возможностью обеспечения освещенности по меньшей мере 1000 люкс.
4. Способ по п. 1, дополнительно включающий отображение данных, полученных из первых выходных данных от камеры обратной связи, на дисплее 122, 714 для контроля оператором.
5. Способ по п. 1, дополнительно включающий: формирование изображения структурированного света,
отраженного от первой части заготовки 130, с использованием камеры 502, 706 контроля для создания третьих выходных данных;
отправку данных, полученных из третьих выходных данных от камеры контроля, в процессор 126, 704 и
использование указанного процессора для анализа данных, полученных из третьих выходных данных, для обнаружения указанных одного или более дефектов в первой части заготовки.
6. Способ по п. 5, также включающий:
обнаружение указанных одного или более дефектов на заготовке или в ней во время указанного сравнения;
использование контроллера 124, 702 для позиционирования системы 504 подачи давления по отношению к указанным одному или более дефектам и
включение системы подачи давления для удаления указанных одного или более дефектов из заготовки.
7. Способ по п. 6, согласно которому включение системы 504 подачи давления включает по меньшей мере одно из включения устройства для нагнетания воздуха для выдачи потока воздуха для удаления указанных одного или более дефектов и включения устройства для создания вакуума для приложения вакуумного усилия к указанным одному или более дефектам.
8. Способ по п. 1, дополнительно включающий:
нанесение первого композитного слоя 112 заготовки 104 на рабочую поверхность с использованием наслаивающей системы 102 для наслаивания композитных слоев, при этом первая часть заготовки 130 представляет собой первую часть подузла летательного аппарата, а вторая часть заготовки 132 представляет собой вторую часть заготовки;
выполнение формирования изображения структурированного света 120, отраженного от первой части подузла летательного аппарата;
нанесение второго композитного слоя 108 подузла летательного аппарата на первый композитный слой;
излучение структурированного света 120 на первую часть второго композитного слоя с использованием источника 118, 712 освещения, при этом первая часть второго композитного слоя отражает структурированный свет; и
формирование изображения структурированного света, отраженного от первой части второго композитного слоя, с использованием камеры 116, 710 обратной связи для создания третьих выходных данных.
9. Способ по любому из пп. 1-8, согласно которому изменение структурированного света 120 приводит к обеспечению однородности света, отраженного от второй части заготовки 132, за исключением света, отраженного от указанных одного или более дефектов.
10. Система контроля, содержащая:
источник 118, 712 освещения, выполненный с возможностью излучения структурированного света 120 и освещения им первой части заготовки 130;
камеру 116, 710 обратной связи, выполненную с возможностью формирования изображения структурированного света от источника освещения, отраженного от первой части заготовки, и создания первых выходных данных;
камеру 114, 708 съемки фона, выполненную с возможностью формирования изображения второй части заготовки 132, которая не освещена источником освещения, и создания вторых выходных данных, и контроллер 124, 702, соединенный с источником освещения, камерой обратной связи и камерой съемки фона и выполненный с возможностью изменения структурированного света, излучаемого источником освещения, путем изменения одного или более из интенсивности, тона, насыщенности и цвета структурированного света на основании результата сравнения первых выходных данных со вторыми выходными данными, что увеличивает контраст одного или более дефектов, находящихся в первой части заготовки.
11. Система контроля по п. 10, в которой источник 118, 712 освещения представляет собой дисплей на основе органических светодиодов, содержащий по меньшей мере один миллион органических светодиодов.
12. Система контроля по п. 10, в которой источник 118, 712 освещения представляет собой дисплей на основе органических светодиодов, содержащий множество органических светодиодов, при этом контроллер 124, 702 выполнен с возможностью изменения структурированного света 120, излучаемого источником освещения, путем управления каждым органическим светодиодом в отдельности из указанного множества органических светодиодов в отношении интенсивности света.
13. Система контроля по п. 12, в которой каждый органический светодиод выполнен с возможностью обеспечения освещенности по меньшей мере 1000 люкс и имеет световую отдачу по меньшей мере 100 люмен/Ватт.
14. Система контроля по п. 10, дополнительно содержащая дисплей 122, 714 для визуального отображения данных, выполненный с возможностью отображения данных, полученных из первых выходных данных, сгенерированных камерой обратной связи.
15. Система контроля по п. 14, в которой дисплей 122, 714 для визуального отображения данных выполнен с возможностью отображения изображения указанных одного или более дефектов, находящихся в первой части заготовки, изображение которых сформировано камерой обратной связи, для их просмотра оператором.
16. Система контроля по п. 10, дополнительно содержащая камеру 502, 706 контроля для формирования изображения второй части заготовки 132 во время освещения источником освещения и для выдачи третьих выходных данных на контроллер.
17. Система контроля по п. 16, дополнительно содержащая систему 504 подачи давления, электрически соединенную с контроллером и управляемую этим контроллером, при этом контроллер выполнен с возможностью позиционирования системы подачи давления по отношению к указанным одному или более дефектам, обнаруженным во время указанного сравнения, с использованием третьих выходных данных от камеры контроля и с возможностью включения системы подачи давления для удаления указанных одного или более дефектов с поверхности заготовки.
18. Система контроля по п. 17, в которой система 504 подачи давления содержит по меньшей мере одно из устройства для нагнетания воздуха, выполненного с возможностью обеспечения потока воздуха для удаления указанных одного или более дефектов, и устройства для создания вакуума, выполненного с возможностью приложения вакуумного усилия к указанным одному или более дефектам.
19. Система контроля по любому из пп. 10-18, в которой источник 118, 712 освещения содержит матрицу из по меньшей мере одного миллиона осветительных элементов, которые выполнены с возможностью управления ими по отдельности в отношении интенсивности, а контроллер выполнен с возможностью изменения интенсивности, тона, насыщенности, цвета и структуры света, излучаемого источником освещения, таким образом, что камера обратной связи формирует изображение поверхности, которая является однородной в отношении интенсивности, тона, насыщенности и цвета за исключением указанных одного или более дефектов на указанной поверхности заготовки или в ее пределах.
20. Технологическая линия для производства летательных аппаратов, содержащая:
наслаивающую систему для наслаивания композитных слоев, выполненную с возможностью нанесения множества слоев композитного подузла летательного аппарата на рабочую поверхность;
систему 100, 700 контроля для контроля композитного подузла летательного аппарата во время нанесения указанного множества слоев, содержащую:
источник 118, 712 освещения, выполненный с возможностью излучения структурированного света и освещения им первой части заготовки;
камеру 116, 710 обратной связи, выполненную с возможностью формирования изображения структурированного света от источника освещения, отраженного от первой части заготовки, и создания первых выходных данных;
камеру 114, 708 съемки фона, выполненную с возможностью формирования изображения второй части заготовки, которая не освещена источником освещения, и создания вторых выходных данных; и
контроллер 124, 702, соединенный с источником освещения, камерой обратной связи и камерой съемки фона, при этом контроллер выполнен с возможностью изменения структурированного света, излучаемого источником освещения, путем изменения одного или более из интенсивности, тона, насыщенности и цвета структурированного света на основании результата сравнения первых выходных данных со вторыми выходными данными, что увеличивает контраст одного или более дефектов, находящихся в первой части заготовки.
RU2018123561A 2017-08-16 2018-06-28 Автоматизированный контроль для выявления инородных материалов, трещин и иных аномалий поверхности RU2018123561A (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/678,670 2017-08-16
US15/678,670 US10502695B2 (en) 2017-08-16 2017-08-16 Automated inspection of foreign materials, cracks and other surface anomalies

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2018123561A true RU2018123561A (ru) 2019-12-30
RU2018123561A3 RU2018123561A3 (ru) 2021-12-28

Family

ID=62981072

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018123561A RU2018123561A (ru) 2017-08-16 2018-06-28 Автоматизированный контроль для выявления инородных материалов, трещин и иных аномалий поверхности

Country Status (6)

Country Link
US (2) US10502695B2 (ru)
EP (2) EP3450965B1 (ru)
CN (1) CN109427057B (ru)
BR (1) BR102018015681B1 (ru)
ES (1) ES2921001T3 (ru)
RU (1) RU2018123561A (ru)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10502695B2 (en) * 2017-08-16 2019-12-10 The Boeing Company Automated inspection of foreign materials, cracks and other surface anomalies
EP3640012A1 (en) * 2018-10-19 2020-04-22 Airbus Operations, S.L. Method and system for reworking a composite laminate
IT201800010374A1 (it) * 2018-11-15 2020-05-15 Xepics Sa Metodo e sistema automatico di misura per la misurazione di parametri fisici e dimensionali di articoli combinati.
US11275069B2 (en) * 2019-07-10 2022-03-15 Mettler-Toledo, LLC Detection of non-XR/MD detectable foreign objects in meat
US11467556B2 (en) * 2019-09-04 2022-10-11 Honda Motor Co., Ltd. System and method for projection of light pattern on work-piece
CN114502949A (zh) * 2019-10-03 2022-05-13 法玛通公司 用于检查核部件的外表面的视觉检查系统和视觉检查方法
DE102020102800B4 (de) * 2020-02-04 2021-10-07 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln einer Applikationseigenschaft und Verfahren zur Herstellung einer Faserpreform
US11680909B2 (en) 2020-05-14 2023-06-20 The Boeing Company Automated inspection of foreign materials, cracks and other surface anomalies
CN111804475A (zh) * 2020-06-01 2020-10-23 包头江馨微电机科技有限公司 带裂纹反馈的微电机支架板加工装置
US11430105B2 (en) * 2020-06-15 2022-08-30 Mitutoyo Corporation Workpiece inspection and defect detection system including monitoring of workpiece images
US20220341854A1 (en) * 2021-04-22 2022-10-27 Baker Hughes Holdings Llc Erosion detection and prediction
JP2022179347A (ja) * 2021-05-21 2022-12-02 三菱重工業株式会社 検査システム及びその方法並びにプログラム
DE102021206386A1 (de) * 2021-06-22 2022-12-22 Thyssenkrupp Ag Prüfung einer Oberfläche eines Karosseriebauteils auf Verunreinigung
US11756186B2 (en) 2021-09-15 2023-09-12 Mitutoyo Corporation Workpiece inspection and defect detection system utilizing color channels
DE102022131427A1 (de) 2022-11-28 2024-05-29 Thyssenkrupp Ag Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen einer Nachlaufkante bei einem Blechteil nach einem Tiefziehvorgang

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5365084A (en) 1991-02-20 1994-11-15 Pressco Technology, Inc. Video inspection system employing multiple spectrum LED illumination
JPH05188338A (ja) * 1992-01-10 1993-07-30 Fuji Xerox Co Ltd 画像形成装置
DE10301931A1 (de) * 2003-01-19 2004-07-29 Massen, Robert, Prof. Dr.-Ing. Automatische optische Oberflächeninspektion von farbig gemusterten Oberflächen, welche mit einer transparenten Schutzschicht versehen sind
US7193696B2 (en) 2004-04-12 2007-03-20 United Technologies Corporation Systems and methods for using light to indicate defect locations on a composite structure
US9068917B1 (en) * 2006-03-14 2015-06-30 Kla-Tencor Technologies Corp. Systems and methods for inspection of a specimen
US8439526B2 (en) * 2009-12-11 2013-05-14 Zinovi Brusilovsky Variable-color lighting system
US20110299720A1 (en) 2010-03-18 2011-12-08 The Regents Of The University Of California Systems and methods for material layer identification through image processing
CN103412421B (zh) 2013-07-31 2016-07-06 京东方科技集团股份有限公司 检测系统
US9986613B2 (en) 2014-02-28 2018-05-29 Philips Lighting Holding B.V. Methods and apparatus for calibrating light output based on reflected light
US9839946B2 (en) * 2015-02-04 2017-12-12 The Boeing Company System and method for high speed FOD detection
DE102015008409A1 (de) 2015-07-02 2017-01-05 Eisenmann Se Anlage zur optischen Überprüfung von Oberflächenbereichen von Gegenständen
DE102015217173A1 (de) 2015-09-09 2017-03-09 Robert Bosch Gmbh Kalibriersystem und Inspektionsanlage
JP6568672B2 (ja) * 2015-11-13 2019-08-28 コグネックス・コーポレイション ビジョンシステムで鏡面上の欠陥を検出するためのシステム及び方法
US10502695B2 (en) * 2017-08-16 2019-12-10 The Boeing Company Automated inspection of foreign materials, cracks and other surface anomalies

Also Published As

Publication number Publication date
RU2018123561A3 (ru) 2021-12-28
US20200064278A1 (en) 2020-02-27
EP3450965B1 (en) 2022-05-04
BR102018015681B1 (pt) 2023-05-09
US10746670B2 (en) 2020-08-18
CN109427057B (zh) 2023-09-19
EP3450965A1 (en) 2019-03-06
US10502695B2 (en) 2019-12-10
BR102018015681A8 (pt) 2023-01-17
US20190056334A1 (en) 2019-02-21
ES2921001T3 (es) 2022-08-16
EP4056991A1 (en) 2022-09-14
CN109427057A (zh) 2019-03-05
BR102018015681A2 (pt) 2019-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2018123561A (ru) Автоматизированный контроль для выявления инородных материалов, трещин и иных аномалий поверхности
JP2013513914A5 (ru)
US20150377427A1 (en) Light Source for a Sorting Apparatus
ATE437381T1 (de) Vorrichtung zum projektieren eines gepixelten lichtmusters
JP5482863B2 (ja) 観察装置および観察方法
TW200642118A (en) LED luminaire with optical feedback by image mapping on segmented light sensors
JP2010538272A5 (ru)
JP2019144209A (ja) 外観検査装置、及び外観検査装置の照明条件設定方法
JP2017523600A5 (ru)
WO2008123413A1 (ja) 中空式面照明装置
EP1612569A3 (en) Method and apparatus for substrate surface inspection using multi-color light emission system
WO2017044177A1 (en) A light source for a sorting apparatus
JPWO2018127971A1 (ja) 撮像用照明装置
DE602009000534D1 (de) Lichtemittierender Elementkopf, Bilderzeugungsvorrichtung und Signallieferungsverfahren
JP2011100341A (ja) エッジ検出方法及び画像処理装置
JP2014163857A (ja) 蛍光発光体の検査装置
JP2006508362A5 (ru)
RU2742936C2 (ru) Устройство для оптического контроля стеклянных сосудов на выходе формовочной машины
PL2116761T3 (pl) Urządzenie do oświetlania elewacji i służący do tego oświetlacz elewacyjny
TWI654425B (zh) 照明裝置、照明方法及攝像裝置
US20160150617A1 (en) Lighting device for adjusting a light colour separately within severla zones
JP2020077612A5 (ja) Ｅｌ表示パネルの製造装置
KR200297859Y1 (ko) 표면 검사용 조명장치
JP2018509640A5 (ru)
CN201986206U (zh) 照明单元