RU201733U1 - Устройство рентгеновского контроля изделий микроэлектроники - Google Patents

Устройство рентгеновского контроля изделий микроэлектроники Download PDF

Info

Publication number
RU201733U1
RU201733U1 RU2020116598U RU2020116598U RU201733U1 RU 201733 U1 RU201733 U1 RU 201733U1 RU 2020116598 U RU2020116598 U RU 2020116598U RU 2020116598 U RU2020116598 U RU 2020116598U RU 201733 U1 RU201733 U1 RU 201733U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
ray
microelectronic products
control device
ray control
coordinate table
Prior art date
Application number
RU2020116598U
Other languages
English (en)
Inventor
Михаил Николаевич Малясов
Михаил Борисович Лебедев
Владимир Евгеньевич Усачев
Евгений Юрьевич Усачев
Игорь Анатольевич Мамонов
Original Assignee
Общество с ограниченной ответственностью "ДИАГНОСТИКА-М"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Общество с ограниченной ответственностью "ДИАГНОСТИКА-М" filed Critical Общество с ограниченной ответственностью "ДИАГНОСТИКА-М"
Priority to RU2020116598U priority Critical patent/RU201733U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU201733U1 publication Critical patent/RU201733U1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T7/00Details of radiation-measuring instruments
    • G01T7/08Means for conveying samples received
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K5/00Irradiation devices
    • G21K5/10Irradiation devices with provision for relative movement of beam source and object to be irradiated
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/02Constructional details

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Полезная модель относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использована для рентгеновского контроля изделий микроэлектроники. Технический результат направлен на выполнение функции выбора размера просвечиваемого места, который обеспечивается за счет того, что устройство рентгеновского контроля изделий микроэлектроники содержит несущую раму, координатный стол, источник рентгеновского излучения в котором выполнен подвижным по вертикали, а детектор рентгеновского излучения перемещается по горизонтали, причем приемная часть его все время выдерживается перпендикулярно рентгеновскому излучению. 3 ил.

Description

Полезная модель относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использована для рентгеновского контроля изделий микроэлектроники.
Наиболее близкой к предлагаемой полезной модели является устройство рентгеновского контроля (US 2008/0232551 A1, Sep. 25, 2008). Известное устройство содержит несущую раму, источник рентгеновского излучения, трех координатный стол, детектор рентгеновского излучения, дугообразную раму. Контролируемое изделие помещается на трех координатный стол и просвечивается снизу расходящимся рентгеновским излучением в необходимой области перемещением стола. Приемник рентгеновского излучения, расположенный на дугообразной раме, перемещаясь по ней, описывает дугу окружности. Сама дугообразная рама может также менять свой угол наклона, при этом приемник за счет этих перемещений описывает в пространстве полусферу, располагаясь все это время перпендикулярно рентгеновскому излучению. Меняя горизонтальные координаты стола находится интересующее место, а вертикальным перемещением стола необходимый размер просвечиваемого интересующего места.
Недостатком известного устройства является, выполнение функции выбора размера просвечиваемого места, путем вертикального перемещения всего стола, что является конструктивно сложным решением и требует высокоточного исполнения.
Предлагаемая полезная модель направлена на решение технической задачи по устранению этого недостатка.
При этом технический результат заключается в возможности выполнения предлагаемого устройства за счет перемещения координатного стола только в горизонтальной плоскости.
Технический результат достигается тем, что в предлагаемом устройстве рентгеновского контроля изделий микроэлектроники, содержащем несущую раму, координатный стол, источник рентгеновского излучения выполнен подвижным по вертикали, а детектор рентгеновского излучения перемещается по горизонтали, причем приемная часть его все время выдерживается перпендикулярно рентгеновскому излучению.
Указанные признаки предлагаемой полезной модели являются существенными и совокупность этих признаков достаточна для получения требуемого технического результата.
На фиг. 1 показана конструкция заявляемой полезной модели. Устройство рентгеновского контроля изделий микроэлектроники содержит несущую раму 1, источник рентгеновского излучения 2, подъемный механизм 3, координатный стол с механизмами перемещения по оси вращения W 4, по ординате Y 5, по ординате X 6, верхнего механизмами перемещения по ординате X 7, приемника рентгеновского излучения 8, рамка для контролируемого изделия 9.
Предлагаемое устройство работает следующим образом. Контролируемое изделие располагается на рамке 9 механизма перемещения 6 координатного стола. Источник рентгеновского излучения 2 опускается вниз, чтобы максимально охватить площадь контролируемого изделия 9 (фиг. 2). Приемник рентгеновского излучения 8, перемещаясь по ординате X вращаясь, сохраняет свою плоскость перпендикулярно рентгеновскому излучению. После проведения соответствующих перемещений приемника достаточных для получения изображения, выбирается место для более детального контроля. Источник 2 перемещается вверх (фиг. 3) и операция получения изображения повторяется.

Claims (1)

  1. Устройство рентгеновского контроля изделий микроэлектроники, содержащее несущую раму, координатный стол, отличающееся тем, что источник рентгеновского излучения выполнен подвижным по вертикали, а детектор рентгеновского излучения перемещается по горизонтали, причем приемная часть его все время выдерживается перпендикулярно рентгеновскому излучению.
RU2020116598U 2020-05-12 2020-05-12 Устройство рентгеновского контроля изделий микроэлектроники RU201733U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020116598U RU201733U1 (ru) 2020-05-12 2020-05-12 Устройство рентгеновского контроля изделий микроэлектроники

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020116598U RU201733U1 (ru) 2020-05-12 2020-05-12 Устройство рентгеновского контроля изделий микроэлектроники

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU201733U1 true RU201733U1 (ru) 2020-12-30

Family

ID=74106319

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2020116598U RU201733U1 (ru) 2020-05-12 2020-05-12 Устройство рентгеновского контроля изделий микроэлектроники

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU201733U1 (ru)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU397068A1 (ru) * 1971-04-17 1984-06-15 Rabodzej N V Рентгенотелевизионный измерительный микроскоп
US6059455A (en) * 1993-11-22 2000-05-09 Hologic, Inc. Portable X-ray bone densitometry system
WO2005008228A1 (ja) * 2003-07-22 2005-01-27 Pony Industry Co.,Ltd. 透過撮影装置
RU2656872C1 (ru) * 2017-09-01 2018-06-07 Закрытое акционерное общество "Научно-исследовательская производственная компания "Электрон" (ЗАО "НИПК "Электрон") Микрофокусное устройство рентгеновского контроля

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU397068A1 (ru) * 1971-04-17 1984-06-15 Rabodzej N V Рентгенотелевизионный измерительный микроскоп
US6059455A (en) * 1993-11-22 2000-05-09 Hologic, Inc. Portable X-ray bone densitometry system
WO2005008228A1 (ja) * 2003-07-22 2005-01-27 Pony Industry Co.,Ltd. 透過撮影装置
RU2656872C1 (ru) * 2017-09-01 2018-06-07 Закрытое акционерное общество "Научно-исследовательская производственная компания "Электрон" (ЗАО "НИПК "Электрон") Микрофокусное устройство рентгеновского контроля

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN201724654U (zh) 一种五维坐标远心光学测量系统
CN110220926A (zh) 一种基于五轴运动平台的x射线检测装置
CN105510361B (zh) 一种cl系统的扫描装置及方法
CN206286225U (zh) 螺丝全方位检测器
RU201733U1 (ru) Устройство рентгеновского контроля изделий микроэлектроники
JP2016533481A (ja) X線検査システム及びそのようなx線検査システムを用いて試験対象物を回転する方法
US20160084775A1 (en) Low-angle self-swinging, large-scale multi-slice spiral computed tomography apparatus and inspection method
CN209085558U (zh) 检测设备
CN108957802A (zh) 一种用于lcd的视觉检测设备
JP2017012406A5 (ru)
CN202821395U (zh) 一种x-射线层析设备模拟装置
GB1368274A (en) X-ray tyre inspection apparatus
CN110546486A (zh) 检查机器
CN205539364U (zh) 一种主板测试机
CN218601187U (zh) 一种锥形束ct成像装置
ES429394A2 (es) Perfeccionamientos en aparatos para orientar y situar una pieza de trabajo.
CN210442278U (zh) 一种芯片表面检测装置
CN208902058U (zh) 高清晰度影像测量系统
CN106706675B (zh) 一种基于计算机分层扫描成像cl系统的校正方法
CN208921629U (zh) 一种用于面板物料aoi检测的结构装置
CN105203561A (zh) 一种多层石墨烯污点激光检测装置
CN103654820A (zh) 一种x-射线层析设备模拟装置
JP2017077457A (ja) X線コンピュータ断層撮影装置
CN109632823A (zh) 一种轴承外观检测图像采集辅助器
CN105203555A (zh) 一种多层石墨烯污点检测装置