RU2017105815A - Устройство определения характеристик для определения характеристик сцинтилляционного материала - Google Patents
Устройство определения характеристик для определения характеристик сцинтилляционного материала Download PDFInfo
- Publication number
- RU2017105815A RU2017105815A RU2017105815A RU2017105815A RU2017105815A RU 2017105815 A RU2017105815 A RU 2017105815A RU 2017105815 A RU2017105815 A RU 2017105815A RU 2017105815 A RU2017105815 A RU 2017105815A RU 2017105815 A RU2017105815 A RU 2017105815A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- radiation
- scintillation material
- determining
- wavelength
- irradiation
- Prior art date
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims 30
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 32
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 8
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 claims 7
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 claims 6
- 230000005865 ionizing radiation Effects 0.000 claims 4
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 3
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 claims 2
- BOYZAERJCXIRAX-UHFFFAOYSA-N lutetium(3+);trisilicate Chemical compound [Lu+3].[Lu+3].[Lu+3].[Lu+3].[O-][Si]([O-])([O-])[O-].[O-][Si]([O-])([O-])[O-].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] BOYZAERJCXIRAX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 2
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052765 Lutetium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 claims 1
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 claims 1
- UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N gadolinium atom Chemical compound [Gd] UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000002223 garnet Substances 0.000 claims 1
- OHSVLFRHMCKCQY-UHFFFAOYSA-N lutetium atom Chemical compound [Lu] OHSVLFRHMCKCQY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000002600 positron emission tomography Methods 0.000 claims 1
- 238000002603 single-photon emission computed tomography Methods 0.000 claims 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims 1
- PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N tungstate Chemical compound [O-][W]([O-])(=O)=O PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/202—Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Luminescent Compositions (AREA)
Claims (24)
1. Устройство определения характеристик сцинтилляционного материала (3), содержащее:
- источник (2) первого излучения для облучения сцинтилляционного материала (3) первым излучением (4) с длиной волны менее 450 нм,
- источник (5) второго излучения для облучения сцинтилляционного материала (3) импульсным вторым излучением (6) с длиной волны более 600 нм и с длительностью импульса, равной или меньшей 50 с, после облучения сцинтилляционного (3) материала первым излучением (4),
- прибор (9) обнаружения третьего излучения (12) от сцинтилляционного материала (3) в течение и/или после облучения вторым излучением (6), причем третье излучение можно использовать в качестве индикатора количества ловушек, захватывающих носители заряда, с тем, чтобы создать возможность для определения характеристик сцинтилляционного материала (3) на основе обнаруженного третьего излучения (12).
2. Устройство определения характеристик по п.1, в котором источник (2) первого излучения выполнен с возможностью облучения сцинтилляционного материала (3) ионизирующим излучением.
3. Устройство определения характеристик по п.2, в котором источник (2) первого излучения выполнен с возможностью облучения сцинтилляционного материала (3) рентгеновским излучением и/или УФ-излучением, и/или гамма-излучением в качестве первого излучения (4).
4. Устройство определения характеристик по п.1, в котором источник (2) первого излучения выполнен с возможностью облучения сцинтилляционного материала (3) неионизирующим УФ-излучением или излучением в видимой части спектра с длиной волны менее 450 нм.
5. Устройство определения характеристик по п.1, в котором источник (5) второго излучения выполнен с возможностью облучения сцинтилляционного материала (3), после облучения сцинтилляционного (3) материала первым излучением (4), сначала вторым излучением с первой длиной волны более 600 нм, а затем вторым излучением со второй длиной волны, причем вторая длина волны меньше первой длины волны.
6. Устройство определения характеристик по п.1, в котором прибор (9) обнаружения выполнен с возможностью генерирования сигнала обнаружения в зависимости от обнаруженного третьего излучения (12), причем устройство (1) определения характеристик дополнительно содержит вычислительный блок (10) для интегрирования сигнала обнаружения с тем, чтобы создать возможность для определения характеристик сцинтилляционного материала (3) на основе интегрированного сигнала обнаружения.
7. Устройство определения характеристик по п.1, в котором сцинтилляционный материал (3) генерирует люминесценцию с длиной волны люминесценции при облучении ионизирующим излучением, причем прибор (9) обнаружения выполнен с возможностью обнаружения излучения с длиной волны люминесценции.
8. Устройство определения характеристик по п.7, в котором прибор (9) обнаружения содержит фильтр (7) длин волн, выполненный с возможностью позволить свету (12) с длиной волны люминесценции проходить фильтр (7) длин волн, и фотодетектор (8) для обнаружения отфильтрованного света.
9. Устройство определения характеристик по п.1, при этом устройство (1) определения характеристик выполнено так, что временной интервал между прекращением облучения сцинтилляционного материала (3) первым излучением (4) и началом облучения сцинтилляционного материала (3) вторым излучением (6) равен 500 с или менее.
10. Устройство определения характеристик по п.1, при этом устройство (1) определения характеристик выполнено с возможностью определения характеристик сцинтилляционного материала (3) для позитронно-эмиссионной томографии, сцинтилляционного материала (3) для однофотонной эмиссионной компьютерной томографии и/или сцинтилляционного материала (3) для компьютерной томографии.
11. Устройство определения характеристик по п.1, при этом устройство (1) определения характеристик выполнено с возможностью определения характеристик сцинтилляционного материала (3), содержащего германат висмута и/или вольфрамат кадмия, и/или ортосиликат лютеция, и/или ортосиликат лютеция, модифицированный 10-ю процентами иттрия вместо лютеция, и/или гранат на основе гадолиния.
12. Способ определения характеристик сцинтилляционного материала (3), включающий:
- облучение сцинтилляционного материала (3) первым излучением (4) с длиной волны менее 450 нм,
- облучение сцинтилляционного материала (3) импульсным вторым излучением (6) с длиной волны более 600 нм и с длительностью импульса, равной или меньшей 50 с, после облучения сцинтилляционного материала (3) первым излучением (4),
- обнаружение третьего излучения (12) от сцинтилляционного материала (3) в течение и/или после облучения вторым излучением (6), причем третье излучение можно использовать в качестве индикатора количества ловушек, захватывающих носители заряда, для того, чтобы создать возможность для определения характеристик сцинтилляционного материала (3) на основе обнаруженного третьего излучения (12).
13. Способ изготовления прибора обнаружения ионизирующего излучения, включающий:
- предоставление сцинтилляционного материала (3), который генерирует люминесценцию при облучении ионизирующим излучением, и предоставление датчика для обнаружения люминесценции,
- определение характеристик сцинтилляционного материала (3) путем выполнения способа определения характеристик по п.12,
- выбор сцинтилляционного материала (3), который должен использоваться для изготовления прибора (9) обнаружения, на основе определения характеристик,
- изготовление прибора (9) обнаружения на основе выбранного сцинтилляционного материала (3) и предоставленного датчика.
14. Компьютерная программа для управления устройством определения характеристик по п.1, причем компьютерная программа содержит средство программного кода для побуждения устройства определения характеристик выполнять этапы способа определения характеристик по п.12, когда компьютерная программа выполняется на компьютере, управляя устройством определения характеристик.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP14178160 | 2014-07-23 | ||
| EP14178160.9 | 2014-07-23 | ||
| PCT/EP2015/065802 WO2016012269A1 (en) | 2014-07-23 | 2015-07-10 | Characterization apparatus for characterizing scintillator material |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2017105815A true RU2017105815A (ru) | 2018-08-27 |
| RU2017105815A3 RU2017105815A3 (ru) | 2019-01-22 |
| RU2694592C2 RU2694592C2 (ru) | 2019-07-16 |
Family
ID=51211700
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2017105815A RU2694592C2 (ru) | 2014-07-23 | 2015-07-10 | Устройство определения характеристик для определения характеристик сцинтилляционного материала |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10101471B2 (ru) |
| EP (1) | EP3172594B1 (ru) |
| CN (1) | CN107209275B (ru) |
| RU (1) | RU2694592C2 (ru) |
| WO (1) | WO2016012269A1 (ru) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113582679B (zh) * | 2021-07-26 | 2023-02-07 | 江苏师范大学 | 一种白光照明用高显色指数高热稳定性荧光陶瓷及其制备方法 |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE68905107T2 (de) | 1988-08-05 | 1993-09-16 | Agfa Gevaert Nv | Reproduktion von roentgenbildern mit einem photostimulierbaren leuchtstoff. |
| JP4150079B2 (ja) | 1996-07-08 | 2008-09-17 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 半導体ｘ線検出器を有するｘ線検査装置 |
| US6123455A (en) * | 1997-05-02 | 2000-09-26 | American Iron And Steel Institute | Phosphor thermometry system |
| US5949539A (en) * | 1997-11-10 | 1999-09-07 | American Iron And Steel Institute | Real-time method and apparatus for measuring the decay-time constant of a fluorescing phosphor |
| US6307212B1 (en) | 1999-04-01 | 2001-10-23 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | High resolution imaging using optically transparent phosphors |
| RU2173469C2 (ru) * | 1999-05-14 | 2001-09-10 | Горохова Елена Ильинична | Способ обнаружения и регистрации заряженных частиц |
| DE10201995B4 (de) * | 2002-01-21 | 2004-03-25 | Forschungszentrum Jülich GmbH | Verfahren zur Zuordnung eines Pulslaufes zu einem von einer Mehrzahl von Pulstypen verschiedener Abklingzeit und Vorrichtung zu dessen Durchführung |
| US6757354B2 (en) * | 2002-09-20 | 2004-06-29 | Invision Technologies, Inc. | Multi-view x-ray imaging of logs |
| EP1774362A1 (de) * | 2004-08-02 | 2007-04-18 | Target Systemelectronic GmbH | Optische stabilisierung eines detektors |
| US7482602B2 (en) * | 2005-11-16 | 2009-01-27 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | Scintillator plate for radiation and production method of the same |
| US20100027743A1 (en) * | 2006-11-21 | 2010-02-04 | Koninklijke Philips Electronics N. V. | Apparatus and method for determiining a detector energy weighting function of a detection unit |
| RU2479857C2 (ru) * | 2007-04-12 | 2013-04-20 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Определение пространственного распределения отдачи сцинтиллятора |
| RU2472180C2 (ru) * | 2007-04-12 | 2013-01-10 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Уменьшение эффектов захвата в сцинтилляторе за счет применения вторичного излучения |
| US8049175B2 (en) | 2009-05-01 | 2011-11-01 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Scintillator operation and control |
| CN102596040B (zh) * | 2009-11-03 | 2015-02-11 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 计算机断层摄影设备 |
| JP5609327B2 (ja) * | 2010-07-01 | 2014-10-22 | 株式会社大真空 | シンチレータ材料、及びシンチレーション検出器 |
| US8957384B2 (en) * | 2011-02-02 | 2015-02-17 | General Electric Company | Gamma ray detector linearity calibration |
| RU2596715C2 (ru) * | 2011-02-22 | 2016-09-10 | Конинклейке Филипс Н.В. | Устройство детектирования |
| WO2013080104A2 (en) * | 2011-12-02 | 2013-06-06 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Detection apparatus for detecting radiation |
| CN103605148B (zh) * | 2013-10-28 | 2016-08-24 | 西北核技术研究所 | 一种高计数率下的伽马能谱测量方法 |
-
2015
- 2015-07-10 US US15/326,685 patent/US10101471B2/en active Active
- 2015-07-10 EP EP15736264.1A patent/EP3172594B1/en not_active Not-in-force
- 2015-07-10 CN CN201580040855.XA patent/CN107209275B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2015-07-10 RU RU2017105815A patent/RU2694592C2/ru active
- 2015-07-10 WO PCT/EP2015/065802 patent/WO2016012269A1/en active Application Filing
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN107209275B (zh) | 2019-08-20 |
| RU2017105815A3 (ru) | 2019-01-22 |
| US20170205515A1 (en) | 2017-07-20 |
| WO2016012269A1 (en) | 2016-01-28 |
| EP3172594B1 (en) | 2020-09-09 |
| RU2694592C2 (ru) | 2019-07-16 |
| CN107209275A (zh) | 2017-09-26 |
| US10101471B2 (en) | 2018-10-16 |
| EP3172594A1 (en) | 2017-05-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6697490B2 (ja) | 安定化光出力を有する画像化応用のための放射線検出器 | |
| JP2013539671A5 (ru) | ||
| RU2014126858A (ru) | Аппарат для обнаружения, содержащий два сцинтиллятора для обнаружения рентгеновского излучения | |
| JP6495923B2 (ja) | エネルギー較正を介した散乱除去方法 | |
| JP2018537149A5 (ru) | ||
| JP2017501830A5 (ru) | ||
| US20100276601A1 (en) | Scintillator Operation and Control | |
| EP3368917A1 (en) | Energy calibration with lu spectrum subtraction | |
| JP2017003560A5 (ru) | ||
| DE602007012839D1 (de) | Festkörperneutrondetektor | |
| EP2853925A3 (en) | Radiation detector and radiation detection method | |
| RU2017105815A (ru) | Устройство определения характеристик для определения характеристик сцинтилляционного материала | |
| JP6675127B2 (ja) | ＬａＢｒ３シンチレーション検出器及び特定イベント排除方法 | |
| JP6469412B2 (ja) | 放射性物質測定器 | |
| WO2013084106A3 (en) | Detection apparatus for detecting radiation | |
| RU2015140137A (ru) | Способ измерения дозы посредством детектора излучения, в частности детектора рентгеновского излучения или гамма-излучения, используемого в спектроскопическом режиме, и система для измерения дозы с применением такого способа | |
| Kłosowski et al. | Dosimetric properties and stability of thermoluminescent foils made from LiF: Mg, Cu, P or CaSO4: Dy during long-term use | |
| JP6344096B2 (ja) | 放射線撮影装置 | |
| RU2011118254A (ru) | Способ измерения энергетических спектров импульсного гамма-излучения | |
| Ihara et al. | A compact system for measurement of radiophotoluminescence of phosphate glass dosimeter | |
| JP2016036374A5 (ru) | ||
| WO2012107870A3 (en) | Detection apparatus for detecting radiation | |
| Nepokupnaya et al. | Large area detector of low-energy gamma radiation | |
| Varma et al. | Aspects of Infrared Radioluminescence dosimetry in K-feldspar | |
| RU2004124111A (ru) | Способ обнаружения взрывчатого вещества в контролируемом предмете |