RU2016110060A - Способ исследования поверхности на атомно-силовом микроскопе с помощью флуоресцентных квантовых точек - Google Patents

Способ исследования поверхности на атомно-силовом микроскопе с помощью флуоресцентных квантовых точек Download PDF

Info

Publication number
RU2016110060A
RU2016110060A RU2016110060A RU2016110060A RU2016110060A RU 2016110060 A RU2016110060 A RU 2016110060A RU 2016110060 A RU2016110060 A RU 2016110060A RU 2016110060 A RU2016110060 A RU 2016110060A RU 2016110060 A RU2016110060 A RU 2016110060A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
quantum dot
studying
atomic force
force microscope
quantum dots
Prior art date
Application number
RU2016110060A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2631529C2 (ru
Inventor
Александр Борисович Петров
Рауф Загидович Бахтизин
Сергей Степанович Гоц
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Башкирский государственный университет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Башкирский государственный университет" filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Башкирский государственный университет"
Priority to RU2016110060A priority Critical patent/RU2631529C2/ru
Priority to EA201650138A priority patent/EA034576B1/ru
Publication of RU2016110060A publication Critical patent/RU2016110060A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2631529C2 publication Critical patent/RU2631529C2/ru

Links

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82—NANOTECHNOLOGY
    • B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y35/00—Methods or apparatus for measurement or analysis of nanostructures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
    • G01Q60/24—AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
    • G01Q60/38—Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q70/00—General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
    • G01Q70/08—Probe characteristics

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Claims (1)

  1. Способ исследования поверхности на атомно-силовом микроскопе с помощью флуоресцентных квантовых точек, включающий облучение лазером активного слоя материала, нанесенного на острие иглы кантилевера, прижатой к исследуемому образцу, возбуждение и регистрацию в нем оптических фононов, обработку полученной информации, отличающийся тем, что в качестве слоя материала, нанесенного на острие иглы кантилевера, служит взаимодействующая с исследуемой поверхностью квантовая точка, в которой возбуждаются электроны с помощью импульса лазерного излучения, далее с помощью регистрирующего устройства, сфокусированного на квантовой точке, регистрируется флуоресцентное излучение, которое высвечивается квантовой точкой, обрабатывают полученную информацию и на основании характеристик флуоресцентного излучения делается вывод о свойствах среды, в которой находится квантовая точка.
RU2016110060A 2016-03-18 2016-03-18 Способ исследования поверхности на атомно-силовом микроскопе с помощью флуоресцентных квантовых точек RU2631529C2 (ru)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016110060A RU2631529C2 (ru) 2016-03-18 2016-03-18 Способ исследования поверхности на атомно-силовом микроскопе с помощью флуоресцентных квантовых точек
EA201650138A EA034576B1 (ru) 2016-03-18 2016-12-30 Способ исследования поверхности на атомно-силовом микроскопе с помощью флуоресцентных квантовых точек

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016110060A RU2631529C2 (ru) 2016-03-18 2016-03-18 Способ исследования поверхности на атомно-силовом микроскопе с помощью флуоресцентных квантовых точек

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2016110060A true RU2016110060A (ru) 2017-09-21
RU2631529C2 RU2631529C2 (ru) 2017-09-25

Family

ID=59930983

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2016110060A RU2631529C2 (ru) 2016-03-18 2016-03-18 Способ исследования поверхности на атомно-силовом микроскопе с помощью флуоресцентных квантовых точек

Country Status (2)

Country Link
EA (1) EA034576B1 (ru)
RU (1) RU2631529C2 (ru)

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005006347A1 (en) * 2003-07-10 2005-01-20 Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem Nanoparticles functionalized probes and methods for preparing such probes
US7608820B1 (en) * 2007-08-28 2009-10-27 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Spin microscope based on optically detected magnetic resonance
GB2453529A (en) * 2007-10-01 2009-04-15 Wesfaelische Wilhelms Uni Muen Cantilever sensor for atomic force microscopes
US8766630B2 (en) * 2008-11-04 2014-07-01 The University Of Melbourne Method and apparatus for monitoring a property of a sample
ES2369943B1 (es) * 2010-05-13 2012-10-15 Consejo Superior De Investigaciones Científicas (Csic) Modificación de puntas de microscopía de fuerzas atómicas mediante depósito de nanopartículas con una fuente de agregados.

Also Published As

Publication number Publication date
EA201650138A1 (ru) 2017-11-30
RU2631529C2 (ru) 2017-09-25
EA034576B1 (ru) 2020-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Yao et al. Photoimprint photoacoustic microscopy for three-dimensional label-free subdiffraction imaging
Heinemann et al. Gold nanoparticle mediated laser transfection for efficient siRNA mediated gene knock down
US20150346103A1 (en) Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS) Apparatus and Method for Performing Spectral Imaging of a Sample Surface
CN110582833B (zh) 试样检查装置及试样检查方法
JP2014501915A5 (ru)
Navratil et al. Chemical microscopy applied to biological systems
JP2013543980A5 (ja) 自然放出蛍光をパルス励起、連続脱励起、およびゲート記録するｓｔｅｄ顕微鏡法、ｓｔｅｄ蛍光相関分光法、およびｓｔｅｄ蛍光顕微鏡
Tae Kim et al. Scanning-aperture trapping and manipulation of single charged nanoparticles
WO2018011583A2 (en) Scanning microsphere lens nanoscope
Rigutti et al. Coupling atom probe tomography and photoluminescence spectroscopy: Exploratory results and perspectives
Almutairi et al. Direct writing of divacancy centers in silicon carbide by femtosecond laser irradiation and subsequent thermal annealing
RU2016110060A (ru) Способ исследования поверхности на атомно-силовом микроскопе с помощью флуоресцентных квантовых точек
Park et al. Ultraviolet tip‐enhanced nanoscale Raman imaging
Cleveland et al. A review of near‐field laser ablation for high‐resolution nanoscale surface analysis
JP5897332B2 (ja) 観察方法
JP6654778B2 (ja) 光源生成薄膜、微小光源励起装置、光学顕微鏡および光源生成薄膜の製造方法
RU171556U1 (ru) Зонд ближнепольного оптического микроскопа
CN104198389A (zh) 用于超高分辨率荧光成像的铜基悬空样品台制备方法
JP5095663B2 (ja) 蛍光顕微鏡、蛍光観察方法
KR20140116305A (ko) 형광 공명 에너지 전이(ｆｒｅｔ)를 이용한 초고해상도 형광 물질 영상화 방법 및 장치
Oketani et al. Super-resolution in two-photon excitation microscopy via saturated excitation
Coenen et al. Nanoscale inspection of GaN LED devices using g (2) cathodoluminescence imaging
Inami et al. Nanophotonics for live cell observation with high resolution
Narváez Cathodoluminescence Microscopy of Nanostructures on Transparent Substrates
Baggaley et al. Two-photon phosphorescence lifetime imaging of cells and tissues using a long-lived cyclometallated Nₚyᵣᵢdyₗ^ Cₚₕₑₙyₗ^ Nₚyᵣᵢdyₗ Pt (ii) complex

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20190319