RU2013139893A - Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах - Google Patents
Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах Download PDFInfo
- Publication number
- RU2013139893A RU2013139893A RU2013139893/07A RU2013139893A RU2013139893A RU 2013139893 A RU2013139893 A RU 2013139893A RU 2013139893/07 A RU2013139893/07 A RU 2013139893/07A RU 2013139893 A RU2013139893 A RU 2013139893A RU 2013139893 A RU2013139893 A RU 2013139893A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- ions
- specific charge
- value
- charged particles
- axis
- Prior art date
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
Способ анализа заряженных частиц (ионов) по удельным зарядам в гиперболоидных масс-спектрометрах, по которому анализируемые заряженные частицы вводят в анализатор масс-спектрометра, удерживают в его рабочем объеме ионы с избранным значением удельного заряда путем воздействия на них импульсным высокочастотным с постоянной составляющей электрическим полем, заставляя такие ионы совершать движение по "базовым траекториям", а ионы с отличным от избранного значения удельного заряда выводят из рабочего объема на полезадающие электроды анализатора, после чего оставшиеся в объеме анализатора ионы с избранным значением удельного заряда направляют в измерительное устройство, отличающийся тем, что рабочую точку ионов с избранным удельным зарядом на общей диаграмме стабильности путем подбора параметров электрического поля размещают на прямой, перпендикулярной оси общей диаграммы стабильности, проходящей через точку пересечения этой оси с границей зоны стабильности, соответствующей значению параметра стабильности β=-1, при этом по другой координатной оси рабочую точку располагают в одной из стабильных областей общей диаграммы стабильности.
Claims (1)
- Способ анализа заряженных частиц (ионов) по удельным зарядам в гиперболоидных масс-спектрометрах, по которому анализируемые заряженные частицы вводят в анализатор масс-спектрометра, удерживают в его рабочем объеме ионы с избранным значением удельного заряда путем воздействия на них импульсным высокочастотным с постоянной составляющей электрическим полем, заставляя такие ионы совершать движение по "базовым траекториям", а ионы с отличным от избранного значения удельного заряда выводят из рабочего объема на полезадающие электроды анализатора, после чего оставшиеся в объеме анализатора ионы с избранным значением удельного заряда направляют в измерительное устройство, отличающийся тем, что рабочую точку ионов с избранным удельным зарядом на общей диаграмме стабильности путем подбора параметров электрического поля размещают на прямой, перпендикулярной оси общей диаграммы стабильности, проходящей через точку пересечения этой оси с границей зоны стабильности, соответствующей значению параметра стабильности β0=-1, при этом по другой координатной оси рабочую точку располагают в одной из стабильных областей общей диаграммы стабильности.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2013139893/07A RU2557010C2 (ru) | 2013-08-27 | 2013-08-27 | Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2013139893/07A RU2557010C2 (ru) | 2013-08-27 | 2013-08-27 | Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2013139893A true RU2013139893A (ru) | 2015-03-10 |
| RU2557010C2 RU2557010C2 (ru) | 2015-07-20 |
Family
ID=53279541
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2013139893/07A RU2557010C2 (ru) | 2013-08-27 | 2013-08-27 | Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2557010C2 (ru) |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2199793C2 (ru) * | 1998-10-23 | 2003-02-27 | Шеретов Эрнст Пантелеймонович | Способ анализа заряженных частиц в гиперболоидном масс-спектрометре |
| RU2260871C2 (ru) * | 2001-07-18 | 2005-09-20 | Шеретов Эрнст Пантелеймонович | Способ анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ионная ловушка" |
| US7329864B2 (en) * | 2005-09-12 | 2008-02-12 | Yang Wang | Mass spectrometry with multiple ionization sources and multiple mass analyzers |
| RU2391740C2 (ru) * | 2008-06-06 | 2010-06-10 | Институт аналитического приборостроения Российской Академии Наук (ИАнП РАН) | Квадрупольный масс-спектрометр |
-
2013
- 2013-08-27 RU RU2013139893/07A patent/RU2557010C2/ru not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| RU2557010C2 (ru) | 2015-07-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| GB2554181B (en) | Inlet instrumentation for ion analyser coupled to rapid evaporative ionisation mass spectrometry ("REIMS") device | |
| US10361074B2 (en) | Ionization chamber having a potential-well for ion trapping and ion compression | |
| MX2017001307A (es) | Embudo de iones para transmision eficiente de iones con relacion baja de masa a carga con flujo reducido de gas en la salida. | |
| GB202110454D0 (en) | Inlet instrumentation for ion analyser coupled to rapid evaporative ionisation mass spectrometry ("REIMS") device | |
| GB2547296A (en) | Method of targeted mass spectrometric analysis | |
| CN105738461A (zh) | 离子迁移率质谱仪及其使用方法 | |
| EP2797104A3 (en) | Imaging mass analysis data processing method and imaging mass spectrometer | |
| GB201022050D0 (en) | Electrostatic trap mass spectrometer with improved ion injection | |
| EP2610892A3 (en) | Mass spectrometer and mass spectrometry | |
| EP2642508A3 (en) | A method of processing image charge/current signals | |
| JP6339188B2 (ja) | 二極性スパークイオン源 | |
| GB201305639D0 (en) | A method of mass spectrometry and a mass spectrometer | |
| Pennington et al. | Trapping charged nanoparticles in the nano aerosol mass spectrometer (NAMS) | |
| MX2017004730A (es) | Metodo y aparato. | |
| NZ709734A (en) | Mass spectrometer with improved magnetic sector | |
| RU2013139893A (ru) | Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах | |
| GB201211048D0 (en) | Methods and apparatus for controlling the supply of ions | |
| RU2585249C2 (ru) | Способ управления длительностью прошедшего ионного пакета (импульса) через затвор бредбери-нильсена | |
| Jolliffe et al. | Understanding the impact of space charge upon the sensitivity of atmospheric ion sampling | |
| Samotaev et al. | Electric modeling of charged particles trajectories in the drift tube of ion mobility spectrometer for hazardous industrial chemicals detection | |
| GB201219576D0 (en) | Mass spectrometers including detector arrays | |
| RU2399985C1 (ru) | Способ анализа ионов по удельным зарядам в квадрупольных масс-спектрометрах пролетного типа (монополь, триполь и фильтр масс) | |
| RU2010132785A (ru) | Способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство для его осуществления | |
| RU2010119323A (ru) | Способ времяпролетного разделения ионов по массам и устройство для его осуществления | |
| RU2016132418A (ru) | Способы и системы для неразрушающего контроля |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20160828 |