RU2007122222A - Устройство для исследования совершенства структуры кристаллических слоев - Google Patents
Устройство для исследования совершенства структуры кристаллических слоев Download PDFInfo
- Publication number
- RU2007122222A RU2007122222A RU2007122222/28A RU2007122222A RU2007122222A RU 2007122222 A RU2007122222 A RU 2007122222A RU 2007122222/28 A RU2007122222/28 A RU 2007122222/28A RU 2007122222 A RU2007122222 A RU 2007122222A RU 2007122222 A RU2007122222 A RU 2007122222A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- energy
- analyzer
- electron detector
- energy analyzer
- ray
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Устройство для исследования совершенства структуры кристаллических слоев, содержащее последовательно расположенные источник рентгеновского излучения, средства монохроматизации и коллимации рентгеновского излучения, исследуемый объект со средствами поворота, первый энергоанализатор, первый детектор электронов и детектор рентгеновского излучения, причем исследуемый объект, первый энергоанализатор и первый детектор электронов кинематически связаны друг с другом и расположены в вакуумной камере, ось первого анализатора совмещена с поверхностью исследуемого объекта, а фокус энергоанализатора совмещен с областью рентгеновского дифракционного отражения, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и экспрессности анализа, устройство дополнительно снабжено вторым детектором электронов, вторым энергоанализатором, размещенным в вакуумной камере аксиально с первым энергоанализатором и кинематически связанным с исследуемым объектом и вторым детектором электронов, при этом в качестве знергоанализаторов использованы сферические зеркальные энергоанализаторы, фокусы которых совмещены, а детекторы электронов размещены на поверхностях внутренних сферических электродов первого и второго энергоанализаторов в точках, диаметрально противоположных фокальным точкам.
Claims (1)
- Устройство для исследования совершенства структуры кристаллических слоев, содержащее последовательно расположенные источник рентгеновского излучения, средства монохроматизации и коллимации рентгеновского излучения, исследуемый объект со средствами поворота, первый энергоанализатор, первый детектор электронов и детектор рентгеновского излучения, причем исследуемый объект, первый энергоанализатор и первый детектор электронов кинематически связаны друг с другом и расположены в вакуумной камере, ось первого анализатора совмещена с поверхностью исследуемого объекта, а фокус энергоанализатора совмещен с областью рентгеновского дифракционного отражения, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и экспрессности анализа, устройство дополнительно снабжено вторым детектором электронов, вторым энергоанализатором, размещенным в вакуумной камере аксиально с первым энергоанализатором и кинематически связанным с исследуемым объектом и вторым детектором электронов, при этом в качестве знергоанализаторов использованы сферические зеркальные энергоанализаторы, фокусы которых совмещены, а детекторы электронов размещены на поверхностях внутренних сферических электродов первого и второго энергоанализаторов в точках, диаметрально противоположных фокальным точкам.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2007122222/28A RU2370758C2 (ru) | 2007-06-13 | 2007-06-13 | Устройство для исследования совершенства структуры кристаллических слоев |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2007122222/28A RU2370758C2 (ru) | 2007-06-13 | 2007-06-13 | Устройство для исследования совершенства структуры кристаллических слоев |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2007122222A true RU2007122222A (ru) | 2008-12-20 |
RU2370758C2 RU2370758C2 (ru) | 2009-10-20 |
Family
ID=41263124
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2007122222/28A RU2370758C2 (ru) | 2007-06-13 | 2007-06-13 | Устройство для исследования совершенства структуры кристаллических слоев |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2370758C2 (ru) |
-
2007
- 2007-06-13 RU RU2007122222/28A patent/RU2370758C2/ru not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2370758C2 (ru) | 2009-10-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7206375B2 (en) | Method and apparatus for implement XANES analysis | |
Tremsin et al. | Neutron radiography with sub-15 μm resolution through event centroiding | |
JP5855573B2 (ja) | 試料のx線解析を実行する方法及び装置 | |
Dar’in et al. | Scanning X-ray microanalysis of bottom sediments using synchrotron radiation from the BINP VEPP-3 storage ring | |
CN1097729C (zh) | 利用散射光的测定方法及测定装置 | |
Giuntini et al. | Detectors and cultural heritage: The INFN-CHNet experience | |
JP2013113782A (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
Miliucci et al. | Silicon drift detectors system for high-precision light kaonic atoms spectroscopy | |
Hirayama et al. | X-Ray/Gamma-Ray Observations of the PSR B1259–63/SS 2883 System near Apastron | |
JP2001133421A (ja) | X線分光装置およびx線分析装置 | |
TW200403448A (en) | Method and apparatus for quantitative phase analysis of textured polycrystalline materials | |
RU2007122222A (ru) | Устройство для исследования совершенства структуры кристаллических слоев | |
Li et al. | Assembly and test of the gas pixel detector for X-ray polarimetry | |
RU132900U1 (ru) | Устройство для рентгеновского абсорбционного спектрального анализа | |
CN115931929A (zh) | 一种基于Johansson弯晶的XAFS谱仪 | |
CN208334244U (zh) | 用于微型化x射线阵列组合折射透镜集成组件的x射线光阑 | |
Tsuji et al. | X-ray spectrometry | |
CN1122830C (zh) | 同步辐射x射线多层膜反射率计装置 | |
Kyele et al. | A transparent two-dimensional in situ beam-position and profile monitor for synchrotron X-ray beamlines | |
RU2007117455A (ru) | Устройство для исследования совершенства структуры монокристаллических слоев | |
Natalucci et al. | CdZnTe detector for hard X-ray and low energy gamma-ray focusing telescope | |
CN209432286U (zh) | 一种小型化高通量反射式光栅光谱仪 | |
Jahrman et al. | Vacuum Formed Temporary Spherical and Toroidal Bent Crystal Analyzers for High Resolution X-ray Spectroscopy | |
Egorov et al. | The compact TXRF cell on base of the planar X-ray waveguide-resonator | |
Chanover et al. | Results from an integrated AOTF-LDTOF spectrometer suite for planetary surfaces |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20090721 |