Claims (1)
Способ определения низких и особо низких содержаний элементов в материалах с использованием рентгеновского квантометра, заключающийся в составлении по исходным образцам, изготовляемым с помощью анализируемого материала, исходной зависимости интенсивности IA аналитической линии элемента А от его содержания СA, в определении интенсивности IA элемента А в анализируемой пробе, составлении и использовании для оценки содержания СA элемента А двух или большего числа зависимостей IA от СA, одна из которых так называемая базовая зависимость IA от СA отличается от исходной зависимости IA от СА углом наклона ее графика к оси содержаний СA элемента, и вспомогательных зависимостей IA от СA, графики которых пересекают график исходной рабочей зависимости IA от СА в точках, соответствующих значениям содержаний СMi, расположенных на интервале поиска содержания СA на расстоянии шага h, в определении расчетным путем интенсивностей IA1i и IA2i в расчетных образцах-смесях из анализируемой пробы с расчетными базовым и вспомогательными образцами сравнения соответственно, в количественном сравнении экспериментально измеренной интенсивности IA определяемого элемента с рассчитанными интенсивностями линии элемента IA1i и IA2i в образцах-смесях, определяемыми расчетным путем, отличающийся тем, что, с целью исключения из технологического процесса подготовки образцов анализируемого материала с особо низким содержанием определяемого элемента физической и физико-химической обработки исходных образцов при прецизионном экспрессном рентгеноспектральном анализе материалов, составление базовой зависимости IA от СA производят расчетным путем, используя параметры а и b исходной зависимости IA от СA и значение экспериментально измеренной интенсивности IA аналитической линии определяемого элемента А, при этом по измеренной интенсивности IA элемента и исходной зависимости IA от СА определяют содержание С1 A, относительно которой устанавливают интервал поиска СА, симметричный относительно точки C1 A, начало и окончание которого в зависимости от величины IA элемента находится от точки С1 A на отдалении не менее 1,5-2%, а начало или окончание интервала поиска содержания СА элемента совпадает с содержанием CAB базового образца.A method for determining low and extremely low contents of elements in materials using an X-ray quantometer, which consists in compiling from the initial samples manufactured using the analyzed material the initial dependence of the intensity I A of the analytical line of element A on its content C A , in determining the intensity I A of element A in the analyzed sample, compiling and using for assessing the content A A of element A two or more dependencies I A on C A , one of which is the so-called basic dependence I A from C A differs from the initial dependence of I A from C A by the angle of inclination of its graph to the axis of contents C A of the element, and auxiliary dependences I A from C A , whose graphs intersect the graph of the initial working dependence of I A from C A at points corresponding to the values C content Mi, located in the search range of the C content in the region a step h, in the determination by calculation of the intensities I A1i and I A2i-samples in the calculation of the analysis sample mixes with the calculated basic and auxiliary comparison samples respectively quantitatively with avnenii experimentally measured intensity I A of the element with the calculated intensity of the line element I A1i and I A2i in determined by calculation, samples of the mixture, characterized in that, in order to exclude from the process of preparation analyte samples with very low content of the element of physical and physico-chemical processing of the initial samples with precision express x-ray spectral analysis of materials, the preparation of the basic dependence of I A on C A etnym by using the parameters a and b of the original depending I A by C A, and the value measured experimentally determined intensity I A analytical line element A, while the measured intensity I A element and the original function I A by C A determined content of 1 A, relative to which a search interval C A is established , symmetrical with respect to point C 1 A , the beginning and end of which, depending on the value I A of the element, is at least 1.5-2% from the point C 1 A , and the beginning or end of the content search interval With A lementa coincides with the content of C AB base sample.