RU2008108677A -
CLASSICAL METHOD FOR X-RAY SPECTRAL ANALYSIS OF INHOMOGENEOUS MATERIALS
- Google Patents
CLASSICAL METHOD FOR X-RAY SPECTRAL ANALYSIS OF INHOMOGENEOUS MATERIALS
Download PDF
Info
Publication number
RU2008108677A
RU2008108677ARU2008108677/28ARU2008108677ARU2008108677ARU 2008108677 ARU2008108677 ARU 2008108677ARU 2008108677/28 ARU2008108677/28 ARU 2008108677/28ARU 2008108677 ARU2008108677 ARU 2008108677ARU 2008108677 ARU2008108677 ARU 2008108677A
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Алексей Никифорович Никифоров (RU), Алексей Никифорович НикифоровfiledCriticalАлексей Никифорович Никифоров (RU)
Priority to RU2008108677/28ApriorityCriticalpatent/RU2008108677A/en
Publication of RU2008108677ApublicationCriticalpatent/RU2008108677A/en
Analysing Materials By The Use Of Radiation
(AREA)
Claims (1)
Способ определения содержаний элементов в материалах с использованием рентгеновского квантометра, заключающийся в составлении по исходным образцам, изготовляемым из анализируемого материала, исходной зависимости интенсивности IА аналитической линии элемента А от его содержания СА, в определении интенсивности IА элемента А в анализируемой пробе, в определении расчетным путем базового образца сравнения САВ, интенсивностей IА1i и IA2i в образцах-смесях из анализируемой пробы с расчетными базовым и вспомогательными образцами сравнения соответственно, в количественном сравнении экспериментально измеренной интенсивности элемента А с расчитанными интенсивностями элемента в образцах-смесях, отличающийся тем, что, с целью исключения технологического процесса подготовки образцов анализируемого материала и составления с их помощью исходной зависимости интенсивности определяемого элемента от его содержания, исходную зависимость интенсивности IА от СА составляют с помощью одного исходного образца анализируемой пробы с известным содержанием СА0 и интенсивностью IА0 определяемого элемента в виде прямой, исходящей из начала координат системы СА-IА и проходящей через точку с координатами СА0 и IА0 исходного образца определяемого элемента.A method for determining the contents of elements in materials using an X-ray quantometer, which consists in compiling, according to the initial samples made from the analyzed material, the initial dependence of the intensity I A of the analytical line of element A on its content C A , in determining the intensity I A of element A in the analyzed sample, in determination by calculation of the base sample of comparison with AB , the intensities I A1i and I A2i in the sample mixtures from the analyzed sample with the calculated basic and auxiliary comparison samples accordingly, in a quantitative comparison of the experimentally measured intensity of element A with the calculated intensities of the element in sample mixtures, characterized in that, in order to exclude the technological process of preparing samples of the analyzed material and compiling with their help the initial dependence of the intensity of the element being determined on its content, the initial dependence of the intensity I A from C A make up using a single source sample of the analyzed sample with a known content of C A0 and intensity I A0 op distributed element in the form of a straight line starting from the origin of the coordinate system С А -I А and passing through the point with coordinates С А0 and I А0 of the initial sample of the element being determined.
RU2008108677/28A2008-03-052008-03-05
CLASSICAL METHOD FOR X-RAY SPECTRAL ANALYSIS OF INHOMOGENEOUS MATERIALS
RU2008108677A
(en)
method for determining the concentration of a specific analyte in a sample of biological material, and apparatus for determining the concentration of a specific analyte in a sample of biological material
UV-Vis spectroscopic detection coupled with chemometrics for the measurement of mixed organic acids in water samples enriched by radial electric focusing solid phase extraction