Claims (6)
1. Способ определения распределения частиц пробы по массе и концентрации искомых элементов в частицах дисперсной пробы, включающий ввод пробы в факел плазмы, регистрацию последовательности атомно-эмиссионных спектров во время поступления пробы в плазму, вычисление интенсивности аналитической спектральной линии искомого элемента в зависимости от времени поступления пробы в факел плазмы, определение по градуировочной зависимости концентрации искомого элемента в пробе, и определение распределения частиц пробы по массе, отличающийся тем, что концентрации всех искомых элементов определяют одновременно за счет того, что каждый спектр последовательности регистрируют в спектральном диапазоне, включающим аналитические спектральные линии искомых элементов, при этом вычисление интенсивности аналитических спектральных линий производят в каждом спектре с учетом фона под линией, после этого получают зависимости концентраций искомых элементов от времени поступления пробы в плазму, а по указанным зависимостям определяют массу частиц и концентрацию искомых элементов в частице.1. A method for determining the distribution of sample particles by mass and concentration of the desired elements in the particles of a dispersed sample, which includes introducing the sample into a plasma torch, recording the sequence of atomic emission spectra when the sample enters the plasma, calculating the intensity of the analytical spectral line of the desired element depending on the time of arrival samples in a plasma torch, determination by the calibration dependence of the concentration of the desired element in the sample, and determination of the distribution of sample particles by mass, differing in those m, that the concentrations of all the desired elements are determined simultaneously due to the fact that each spectrum of the sequence is recorded in the spectral range, including analytical spectral lines of the desired elements, while the intensity of the analytical spectral lines is calculated in each spectrum taking into account the background under the line, after which the dependencies are obtained the concentrations of the desired elements from the time the sample was delivered to the plasma, and the particle mass and the concentration of the desired elements in part ce.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве источника плазмы используют двухструйный дуговой плазмотрон с температурой в аналитической зоне (6000-8000)°К.2. The method according to claim 1, characterized in that as a plasma source using a two-jet arc plasma torch with a temperature in the analytical zone (6000-8000) ° K.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что ввод пробы в факел плазмы осуществляют регулируемым газовым потоком.3. The method according to claim 1, characterized in that the injection of the sample into the plasma torch is carried out by controlled gas flow.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что градуировочные зависимости искомых элементов строят по стандартным образцам с матричным составом, идентичным пробе.4. The method according to claim 1, characterized in that the calibration dependences of the desired elements are built according to standard samples with a matrix composition identical to the sample.
5. Способ по п.1, отличающийся тем, что регистрацию спектров осуществляют набором линейных многоэлементных детекторов.5. The method according to claim 1, characterized in that the registration of the spectra is carried out by a set of linear multi-element detectors.
6. Способ по п.1, отличающийся тем, что среднюю концентрацию каждого искомого элемента в пробе определяют по формуле:6. The method according to claim 1, characterized in that the average concentration of each element in the sample is determined by the formula:
Cср=(∑NmiCi)/∑Nmi, где Сi - концентрация искомого элемента в i-й частице, а mi - масса i-й частицы, которую определяют из выражения: mi=M×N, где М - масса пробы, вводимой в плазму за время регистрации одного спектра, а N - количество спектров, приписываемых частице.
C cf = (∑ N m i C i ) / ∑ N m i , where C i is the concentration of the element in the i-th particle, and m i is the mass of the i-th particle, which is determined from the expression: m i = M × N, where M is the mass of the sample introduced into the plasma during the recording of one spectrum, and N is the number of spectra attributed to the particle.