RU2001107987A -
METHOD OF SELECTIVE CONTROL OF RELIABILITY OF TRANSISTORS IN A PARTY
- Google Patents
METHOD OF SELECTIVE CONTROL OF RELIABILITY OF TRANSISTORS IN A PARTY
Info
Publication number
RU2001107987A
RU2001107987ARU2001107987/09ARU2001107987ARU2001107987ARU 2001107987 ARU2001107987 ARU 2001107987ARU 2001107987/09 ARU2001107987/09 ARU 2001107987/09ARU 2001107987 ARU2001107987 ARU 2001107987ARU 2001107987 ARU2001107987 ARU 2001107987A
Способ выборочного контроля надежности транзисторов в партии, в соответствии с которым на какой-либо переход транзистора осуществляют воздействие внешнего фактора, отличающийся тем, что на транзисторы подают импульсы ЭСР напряжением на 5-10% ниже опасного потенциала, после чего отжиг дефектов производят сначала в нормальных условиях в течение трех-семи дней, далее - при предельно допустимой температуре в течение одного часа, затем рассчитывают несколько специальных коэффициентов изменения информативного параметра (обычно обратного тока исследуемого перехода), по величине которых делают вывод о степени надежности транзистора.The method of selective control of the reliability of transistors in a batch, in accordance with which an external factor acts on a transistor transition, characterized in that the transistors supply ESR pulses with a voltage of 5-10% below the dangerous potential, after which the defects are annealed first in normal conditions for three to seven days, then at the maximum permissible temperature for one hour, then several special coefficients of change of the informative parameter are calculated (usually the reverse current of the transition), the magnitude of which conclude about the degree of reliability of the transistor.
RU2001107987/09A2001-03-262001-03-26Method of selective test of reliability of transistors in lot
RU2204142C2
(en)
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет"
Method of comparative test for reliability of batches of integrated circuits