RU192540U1 - Охлаждаемый планарный фотодиод на основе кристаллов антимонида индия - Google Patents

Охлаждаемый планарный фотодиод на основе кристаллов антимонида индия Download PDF

Info

Publication number
RU192540U1
RU192540U1 RU2019123142U RU2019123142U RU192540U1 RU 192540 U1 RU192540 U1 RU 192540U1 RU 2019123142 U RU2019123142 U RU 2019123142U RU 2019123142 U RU2019123142 U RU 2019123142U RU 192540 U1 RU192540 U1 RU 192540U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
base
crystal
filter
photodiode
glued
Prior art date
Application number
RU2019123142U
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Петрович Астахов
Павел Дмитриевич Гиндин
Владимир Владимирович Карпов
Николай Сергеевич Кузнецов
Сергей Алексеевич Кузнецов
Андрей Вячеславович Марущенко
Галина Васильевна Чеканова
Рафаэль Иосифович Шакирзянов
Original Assignee
Акционерное общество "Московский завод "САПФИР"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Акционерное общество "Московский завод "САПФИР" filed Critical Акционерное общество "Московский завод "САПФИР"
Priority to RU2019123142U priority Critical patent/RU192540U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU192540U1 publication Critical patent/RU192540U1/ru

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/024Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

Предлагаемая полезная модель относится к полупроводниковым приборам, чувствительным к ИК-излучению диапазона (3-5,5) мкм и может использоваться при изготовлении дискретных, линейчатых и матричных приемников излучения на основе фотодиодных кристаллов из антимонида индия. Задачей, решаемой предлагаемой полезной моделью, является уменьшение веса и габаритов охлаждаемого ФД на основе InSb. Указанный технический результат достигается тем, что в охлаждаемом планарном фотодиоде на основе кристаллов антимонида индия, состоящем из металлического цоколя с закрепленным на нем стеклянным баллоном с сапфировым двухстенным входным окном, внутри которого также на цоколе закреплен металлический цилиндрический держатель, на котором установлен ФЧЭ, состоящий из керамического основания с приклеенным на него фотодиодным кристаллом, который окружен керамическим кольцом, на которое приклеен малоразмерный фильтр, с приклеенной на него металлической апертурной диафрагмой, экранирующей также цилиндрическую (боковую) поверхность фильтра, и на керамическом основании нанесен рисунок растра в виде токопроводящих дорожек.

Description

Заявляемая полезная модель относится к полупроводниковым приборам, чувствительным к ИК-излучению диапазона (3-5,5) мкм и может использоваться при изготовлении дискретных, линейчатых и матричных приемников излучения на основе фотодиодных кристаллов из антимонида индия.
При проектировании охлаждаемых планарных фотодиодов (ФД) с кристаллами из антимонида индия (InSb) вместе с обеспечением охлаждения кристаллов до температур 80±2К требуется обеспечить попадание на кристалл излучения только заданного (рабочего) спектрального диапазона. При этом подразумевается полное экранирование кристалла от попадания коротковолнового излучения среды (видимого и ближнего ИК-диапазонов), приводящего к зарядке поверхности планарных фотодиодных кристаллов электронами. Следствием такой зарядки является формирование на поверхности высокоомной (базовой) области кристалла «наведенного» р+-слоя. В случае планарных структур р+-n типа этот слой находится на поверхности базы n-типа и, соединяясь с р+-эмиттером, шунтирует рабочий р+-n переход. В случае планарных структур n+-р-типа он находится на поверхности базы р-типа, образуя с n+-эмиттером поверхностный туннельный n++-переход, также шунтирующий рабочий n+-р переход. В обоих случаях это приводит к деградации фотоэлектрических параметров ФД.
Решение этой проблемы обеспечивается закреплением плоского спектроделительного фильтра, пропускающего излучение только рабочего спектрального диапазона, параллельно плоскости кристалла и экранированием всех путей возможных боковых подсветок кристалла коротковолновым излучением среды.
Известен охлаждаемый планарный ФД на основе InSb (см. техническую документацию АО «МЗ «САПФИР» АГЦ 2.003.003), состоящий из закрепленных на цоколе ФД стеклянного баллона (сосуда Дьюара) и металлического цилиндрического держателя, вставленного соосно в баллон, а также герметичного фоточувствительного элемента (ФЧЭ), закрепленного на торцевой плоскости держателя. При этом ФЧЭ представляет собой сапфировое основание, в центре которого закреплен фотодиодный кристалл InSb вместе с сапфировым кольцом, охватывающим кристалл; сверху кристалл экранируется фильтром, приклеенным к периферии кольца. Сигнальные выводы от кристалла пропускаются через отверстия в кольце и припаиваются к металлизированным дорожкам на внешней поверхности кольца, которые соединены с проводниками кабеля, выводящего сигналы в аппаратуру применения. Боковая поверхность кольца, а также торцевые поверхности фильтра и основания вместе с поверхностью обратной стороны основания, находящейся за пределами держателя, обмазываются непрозрачным компаундом для исключения возможных непрямых подсветок кристалла.
Недостатками такой конструкции являются сложность изготовления кольца и сборки ФД, а также низкая технологичность и недостаточная надежность обеспечения отсутствия подсветки кристалла из-за применения обмазки. По этим же причинам такая конструкция практически неприменима для создания многоплощадочных ФД, реализация которых требует применения развитого контактного растра.
Известен наиболее близкий по технической сущности к предлагаемому и взятый за прототип охлаждаемый планарный многоплощадочный ФД на основе InSb (см. техническую документацию АО «МЗ» САПФИР» ОС2.003.023), принципиальная схема которого представлена на чертеже фиг. 1. ФД-прототип содержит закрепленные на металлокерамическом цоколе 1 стеклянный баллон (сосуд Дьюара) 2, расположенный внутри стеклянного баллона 2 металлический держатель 3 для крепления ФЧЭ и металлический корпус 13 для закрепления на его конце металлической оправы 11 с фильтром 12. ФЧЭ образуют сапфировое основание 4, приклеенное на торцевую поверхность держателя 3, приклеенный к сапфировому основанию 4 фото диодный кристалл 5 с окружающим его сапфировым контактным растром 6, сапфировое кольцо 7, симметрично охватывающее фотодиодный кристалл 5 и приклеенное на растр 6, сапфировая крышка 8, приклеенная на сапфировое кольцо 7 и образующая герметичную капсулу вместе с сапфировым основанием 4, сапфировым растром 6 и сапфировым кольцом 7, и черненая металлическая диафрагма 9, формирующая апертурный угол и приклеенная на сапфировую крышку 8. Детали такого ФЧЭ являются прозрачными для коротковолнового излучения. Поэтому экранирование возможных подсветок кристалла 5 в таком ФД обеспечивается металлическим корпусом 13, окружающим стеклянный баллон 2 с двумя входными сапфировыми окнами 10, и ввинченной в корпус металлической оправой 11 с вклеенным в нее фильтром 12, прозрачным только для сигнального излучения. Таким образом, вся внутренняя полость баллона, а значит и кристалл недоступны для коротковолнового излучения среды.
Недостатком ФД-прототипа являются избыточные габариты и вес, обусловленные наличием металлического корпуса 13, охватывающего стеклянный баллон 2, и удлиняющей конструкцию ФД металлической оправы 11 с массивным фильтром из кристаллического арсенида индия 12, а также сапфировых растра 6 и крышки капсулы 8.
Задачей, решаемой предлагаемой полезной моделью, является уменьшение веса и габаритов охлаждаемого ФД на основе InSb.
Техническим результатом является обеспечение экранирования фотодиодного кристалла от коротковолнового излучения среды путем создания экранирующей зоны в непосредственной близости с кристаллом, что позволяет отказаться от использования массивных металлических деталей - корпуса и оправы фильтра, сапфировых растра и крышки, и использовать фильтр значительно меньших габаритов. Это привело к использованию непрозрачных малогабаритных, дешевых и облегченных деталей из керамики ВК94-01: основания, на которое нанесен токопроводящий рисунок растра (это позволило отказаться от сапфирового растра как от отдельной детали) и керамического кольца для крепления фильтра с металлической апертурной диафрагмой, закрывающей одновременно цилиндрическую (боковую) поверхность фильтра, взамен сапфировых кольца и крышки капсулы.
Указанный технический результат достигается тем, что в охлаждаемом планарном фотодиоде на основе кристаллов антимонида индия, состоящем из металлического цоколя с закрепленным на нем стеклянным баллоном с сапфировым двухстенным входным окном, внутри которого также на цоколе закреплен металлический цилиндрический держатель, на котором установлен ФЧЭ, состоящий из керамического основания с приклеенным на него фотодиодным кристаллом, который окружен керамическим кольцом, на которое приклеен малоразмерный фильтр с металлической диафрагмой, закрывающей одновременно цилиндрическую (боковую) поверхность фильтра, и на керамическом основании нанесен рисунок растра в виде токопроводящих дорожек.
Сущность полезной модели поясняется чертежом фиг. 2, на котором представлена принципиальная схема ФД.
Предлагаемый ФД содержат цоколь 1, на котором закреплены стеклянный баллон (сосуд Дьюара) 2 с сапфировым двухстенным входным окном 10. Внутри стеклянного баллона 2 также на цоколе 1 закреплен металлический цилиндрический держатель 3. На держателе 3 установлен ФЧЭ, состоящий из керамического основания 4 с нанесенным на него рисунком растра в виде токопроводящих дорожек, на котором установлен фотодиодный кристалл 5, снабженный проволочными выводами, соединяющими фоточувствительные площадки с соответствующими дорожками растра, на керамическом основании 4 закреплено керамическое кольцо 7 с приклеенными на него малоразмерным фильтром 12 и апертурной диафрагмой 9. Последние четыре детали фиг. 2 (позиции 4, 7, 9 и 12) образуют малоразмерный замкнутый экран от коротковолнового излучения внешней среды вокруг фотодиодного кристалла 5. На ФД-прототипе такой экран формируется массивным металлическим корпусом 13 с ввернутой в него массивной металлической оправой 11, в которой закреплен фильтр 12 из просветленного кристалла арсенида индия значительных габаритов. Отсутствие металлического корпуса 13 с ввернутой в него массивной металлической оправой 11, сапфировых растра 6 и крышки капсулы 8 позволило уменьшить вес и габариты охлаждаемого ФД на основе InSb.
В предлагаемой полезной модели отсутствует корпус 3 и оправа 11 с массивным фильтром 12. Однако если просто удалить эти детали, то появляется возможность прохождения коротковолнового излучения среды через входные окна 10 стеклянного баллона 2. «Прямые» лучи, перпендикулярные поверхности окон, попадают на поверхность кристалла и создают на ней отрицательный заряд электронов, который в свою очередь создает у поверхности кристалла «наведенный» р-слой, шунтирующий «рабочий» р-n переход. В результате возрастает шумовой ток и (или) уменьшается ток сигнала. «Косые» лучи, входя в полость стеклянного баллона и отражаясь от его стенок, ослабляясь, могут попадать на цилиндрические (боковые) поверхности прозрачных сапфировых деталей основания 4 и растра 6 и далее, ослабляясь, проникать внутрь ФЧЭ, где отражаясь от стенок сапфирового кольца 7 и крышки капсулы 8 в конечном счете также попадают на поверхность кристалла 5. Как и в случае «прямого» падения на кристалл, несмотря на существенно меньший уровень засветки, по той же причине происходит деградация фотоэлектрических параметров ФД.
В предлагаемой модели (см. фиг. 2) все возможные пути попадания коротковолнового излучения непосредственно на кристалл ФД закрыты: «прямые» лучи экранирует малоразмерный фильтр 12, установленный непосредственно перед кристаллом 5, «косые» лучи экранируют непрозрачные (керамические) основание 4 и кольцо 7, а также стенка металлической диафрагмы 9, закрывающая цилиндрическую (боковую) поверхность фильтра.
Следует также отметить, что предложенный ФД является более надежным по сравнению с прототипом и более технологичным, поскольку его охлаждение в условиях воздействия коротковолнового излучения внешней среды не приводит к зарядке поверхности кристалла и как следствие - деградации его параметров, что может происходить при промежуточных проверках ФД-прототипа до установки фильтра.
Таким образом, модель ФД по сравнению с ФД-прототипом укорочена на толщину оправы и длину части корпуса ФД-прототипа, выступающей за пределы стеклянного баллона. В диаметре модель ФД уменьшена до внешнего диаметра стеклянного баллона. В соответствии с этим значительно уменьшены вес и габариты модели.

Claims (2)

1. Охлаждаемый планарный фотодиод (ФД) на основе кристаллов антимонида индия, содержащий закрепленные на цоколе снабженный входными окнами сосуд Дьюара (баллон) и расположенный внутри него держатель, на котором установлен фоточувствительный элемент (ФЧЭ) в виде диэлектрического основания с закрепленным на нем фотодиодным кристаллом, растром для вывода сигнала от кристалла и спектроделительным фильтром, обеспечивающим прямое попадание на кристалл излучения только заданного спектрального диапазона и закрепленного в ФД таким образом, чтобы исключить непрямое попадание на кристалл коротковолнового излучения окружающей среды, отличающийся тем, что функции основания и растра ФЧЭ выполняет единая деталь, в которой металлический рисунок растра нанесен на основание из непрозрачного диэлектрического материала, а фильтр с приклеенной на него металлической апертурной диафрагмой, экранирующей также цилиндрическую (боковую) поверхность фильтра, приклеен на непрозрачное диэлектрическое кольцо, охватывающее кристалл и приклеенное на непрозрачное основание.
2. Охлаждаемый планарный ФД по п. 1, в котором непрозрачные детали, основание и керамическое кольцо, выполняются из керамики ВК 94-1.
RU2019123142U 2019-07-23 2019-07-23 Охлаждаемый планарный фотодиод на основе кристаллов антимонида индия RU192540U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019123142U RU192540U1 (ru) 2019-07-23 2019-07-23 Охлаждаемый планарный фотодиод на основе кристаллов антимонида индия

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019123142U RU192540U1 (ru) 2019-07-23 2019-07-23 Охлаждаемый планарный фотодиод на основе кристаллов антимонида индия

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU192540U1 true RU192540U1 (ru) 2019-09-23

Family

ID=68064054

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2019123142U RU192540U1 (ru) 2019-07-23 2019-07-23 Охлаждаемый планарный фотодиод на основе кристаллов антимонида индия

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU192540U1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114353953A (zh) * 2022-01-13 2022-04-15 浙江珏芯微电子有限公司 一种用于快速制冷的杜瓦冷头及红外探测器杜瓦组件

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63208727A (ja) * 1987-02-25 1988-08-30 Mitsubishi Electric Corp 赤外線検出器
RU14666U1 (ru) * 2000-04-11 2000-08-10 Закрытое акционерное общество "Матричные технологии" Приемник инфракрасного излучения
RU2194254C1 (ru) * 2001-08-21 2002-12-10 Закрытое акционерное общество "Матричные технологии" Приемник инфракрасного излучения
RU2204812C1 (ru) * 2001-09-18 2003-05-20 Закрытое акционерное общество "Матричные технологии" Приемник инфракрасного излучения
RU53772U1 (ru) * 2006-02-28 2006-05-27 Закрытое акционерное общество "Матричные технологии" Приемник инфракрасного излучения (варианты)

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63208727A (ja) * 1987-02-25 1988-08-30 Mitsubishi Electric Corp 赤外線検出器
RU14666U1 (ru) * 2000-04-11 2000-08-10 Закрытое акционерное общество "Матричные технологии" Приемник инфракрасного излучения
RU2194254C1 (ru) * 2001-08-21 2002-12-10 Закрытое акционерное общество "Матричные технологии" Приемник инфракрасного излучения
RU2204812C1 (ru) * 2001-09-18 2003-05-20 Закрытое акционерное общество "Матричные технологии" Приемник инфракрасного излучения
RU53772U1 (ru) * 2006-02-28 2006-05-27 Закрытое акционерное общество "Матричные технологии" Приемник инфракрасного излучения (варианты)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114353953A (zh) * 2022-01-13 2022-04-15 浙江珏芯微电子有限公司 一种用于快速制冷的杜瓦冷头及红外探测器杜瓦组件
CN114353953B (zh) * 2022-01-13 2024-04-12 浙江珏芯微电子有限公司 一种用于快速制冷的杜瓦冷头及红外探测器杜瓦组件

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4234792A (en) Scintillator crystal radiation detector
WO2020025014A1 (zh) 光电转换阵列基板及光电转换装置
JPH0122746B2 (ru)
TWI685641B (zh) 光學感測系統、光學感測組件及其製造方法
US11237280B2 (en) Radiation image detector
WO2022100503A1 (zh) 一种电子设备及屏下光检测组件
RU192540U1 (ru) Охлаждаемый планарный фотодиод на основе кристаллов антимонида индия
JPH02173590A (ja) 放射線検出器ならびにその製作方法
US20180011205A1 (en) Combined scintillation crystal, combined scintillation detector and radiation detection device
WO1982003493A1 (en) Improved photodetector
US4845363A (en) Device for detecting radioactive rays
JP2004061482A (ja) 反射型光センサー
CN113503976A (zh) 一种红外测温装置
EP3855218A1 (en) Radiation image detector
KR20150019995A (ko) 전체 두께를 줄이기 위한 이미지 센싱 모듈 및 그 제조 방법
JP2013228366A (ja) 放射線検出装置及び放射線検出システム
US20220390623A1 (en) Flat panel detector and manufacturing method thereof
CN210351319U (zh) 镜头模组及终端
JPH05236361A (ja) 画像検出器
TW524989B (en) Detector for radiation rays
JP2018040582A (ja) 放射線検出器
JPH03188680A (ja) 固体撮像装置
US10061036B2 (en) Radiation detector, method of manufacturing radiation detector, and imaging apparatus
CN220556462U (zh) 闪烁体封装结构和探测器
KR20210084149A (ko) 내방사선 특성을 갖는 이미지 센서 패키지