RU1805513C - Фоточувствительный прибор с зар довой св зью - Google Patents
Фоточувствительный прибор с зар довой св зьюInfo
- Publication number
- RU1805513C RU1805513C SU904839859A SU4839859A RU1805513C RU 1805513 C RU1805513 C RU 1805513C SU 904839859 A SU904839859 A SU 904839859A SU 4839859 A SU4839859 A SU 4839859A RU 1805513 C RU1805513 C RU 1805513C
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- bus
- circuit
- charge
- semiconductor substrate
- diffusion
- Prior art date
Links
Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
Использование: фоточувствительный прибор с зар довой св зью может быть использован в устройствах дл передачи,анализа и обработки изображений. Сущность изобретени : фоточувствительный прибор с зар довой св зью выполнен на полупроводниковой подложке и огражден на ней стопорной диффузионной шиной. На участках, свободных от функциональных элементов схемы, создают охранные зоны в виде закороченных p-n-переходов, которые примыкают к стопорной диффузионной шине, причем размеры охранной зоны должны быть не менее диффузионной длины дл носителей зар да в полупроводниковой подложке , а место закоротки должно быть внутри р-п-перехода. 2 ил.
Description
Изобретение относитс к полупроводниковой электронике, а именно к устройствам дл преобразовани оптических изображений в электрические сигналы. Оно может быть использовано в телевизионной технике в системах обнаружени , передачи и анализа изображений.
Цель изобретени - повышение точности фотоэлектрического преобразовани путем ограничени притока зар дов с периферии схемы.
На фиг. 1 представлена принципиальна схема предлагаемого прибора. В качестве примера вз т двухрегистровый линейный фоточувствительный прибор с зар довой св зью. Это может быть и любой другой линейный или матричный прибор с зар довой св зью. Прибор содержит р д фоточувствительных элементов 1, секцию 2 переноса зар дов с четных фоточувствительных элементов 8, секцию 3 переноса зар дов с нечетных фоточувствительных элементов, считывающие регистры 4, входные устройства 5 считывающих регистров, выходное устройство 6 считывающих регистров , охранную зону 7, стопорную диффузионную шину 8. На фиг. 1 положение охранной зоны 7 показано дл примера. Подобные зоны могут быть размещены на любых местах прибора с зар довой св з.ью, свободных от его функциональных элементов . Стопорна диффузионна шина 8 (пунктир ) показана частично. Такие шины помещают во всех местах, где нужно устранить паразитные зар довые св зи, в частности ими ограждают с внешней стороны указанные функциональные секции прибора с 1 по 6.
Структурна схема охранной зоны 7 показаны на фиг. 2, где стопорна диффузионна шина 8, полупроводникова подложка 9, слой диэлектрика 10, диффузионна область 11, противоположна подложке 9 по типу проводимости и образующа р-п-пере- ход, шинка 12, закорачивающа р-п-пере- ход на подложку 9. Световое изображение
(Л
С
00
о
СП
ел
СА)
проецируют на р д фоточувствительных элементов 1 например фотодиодов. Излучение , проникающее в фотодиоды 1, генерирует электронно-дырочные пары, которые раздел ютс на переходе фотодиодов . Неосновные носители зар да, например дырки, уход т из фотодиодов 1 в потенциальные мы секций переноса зар дов 2 и 3. После завершени процесса накоплени зар да считывают, дл чего их перевод т в считывающие регистра 4. Затем эти зар ды последовательно сдвигают вдоль регистров 4 до их выходного устройства 6, вырабатывающего импульсы выходного напр жени соответственно величине поступающих зар дов. Выходные устройства 5 служат дл ввода фоновых зар дов, повышающих эффективность переноса информационных зар дов по регистрам 4.
Участок 7 или любой подобный положенный в другом месте, функционирует как фотодиод в режиме короткого замыкани . Электронно-дырочные пары, генерируемые в полупроводниковой подложке 9 на участке 7 и в диффузионной области 11, определ ющей участок 7, раздел ютс на p-n-переходе и создают ЭДС между полупроводниковой подложкой 9 и диффузионной областью 11. Ток этой ЭДС замыкаетс шинкой 12, выполненной, например , из алюмини . Дырки и электроны комбинируют на контактной площадке шинки 12 с полупроводниковой подложкой 9 или с диффузионной областью 11. Тем самым участок 7, захватыва электронно-дырочные пары, ограждает функциональные элементы прибора с зар довой св зью от поступлени к ним таких электронно-дырочных пар, которые генерируютс за пределами функциональных элементов. Тем самым повышаетс точность фотоэлектрического преобразовани , осуществл емого прибором с зар довой св зью.
Так как охранна зона должна перехватывать возможно больший поток паразитив- ных зар дов, то ее следует помещать вплотную к той стопорной шине, котора ограждает прибор с зар довой св зью с внешней стороны: Это не будет нарушать работу прибора, так как стопорна шина создает надежный потенциальный барьер дл перехода зар дов между функциональными элементами прибора и р-п-переходом охранной зоны.
В противоположную от стопорной шины сторону охранна зона может, в принципе , простиратьс до тех пор, пока она не будет ограничена другими конструктивны- ми элементами. Минимальна ширина охранной зоны должна соответствовать диффузионной длине L электронно-дырочных пар, так как неравновесна концентраци этих пар убывает с рассто нием х от
источника их генерации в подложке по закону exp (-X/L). Дл кремни , примен емого дл изготовлени фоточувствительных приборов с зар довой св зью L 30 мкм.
Место закоротки должно быть внутри
контура p-n-перехода, в районе геометрического центра охранной зоны. При этом, во- первых, схема получаетс компактной, а во-вторых ее инерционность становитс минимальной , так как минимальной становитс траектори захваченного диффузионной областью 11 зар да до места контакта с закорачивающей шинкой 12. Шинка 12 кроме закорачивани p-n-перехода экранирует полупроводниковую подложку от проникновени в нее света, поэтому расширение ее поверх сло 10 диэлектрика улучшает функционирование прибора. Размер шинки 12 при этом ограничиваетс только возможностью закоротки с другими шинками прибора .
Форма охранной зоны, т.е. р-п-перехо- да с закорачивающей шинки может быть, в принципе,любой. Предложенные структуры могут быть помещены в любом свободном
месте интегральной схемы устройства, так как к ним не требуетс подводки, например, так, как показано на фиг. 1, т. е. в окружении функциональных элементов.
Claims (1)
- Формула изобретениФоточувствительный прибор с зар довой св зью, выполненный на полупроводниковой подложке и изолированный стопорной шиной, отличающийс тем, что, с целью повышени точности фотоэлектрического преобразовани путем ограничени притока зар дов с периферии схемы, на участках, свободных от функциональных элементов схемы, создают охранные зоны в виде закороченных p-n-переходов, которыепримыкают к стопорной диффузионной шине , причем линейные размеры охранной зоны выполнены не меньшими диффузионной длины носителей зар да в полупроводниковой подложке, а место закоротки выполненовнутри контура р-п-перехода./иФиг. 2
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904839859A RU1805513C (ru) | 1990-05-07 | 1990-05-07 | Фоточувствительный прибор с зар довой св зью |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904839859A RU1805513C (ru) | 1990-05-07 | 1990-05-07 | Фоточувствительный прибор с зар довой св зью |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU1805513C true RU1805513C (ru) | 1993-03-30 |
Family
ID=21521287
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU904839859A RU1805513C (ru) | 1990-05-07 | 1990-05-07 | Фоточувствительный прибор с зар довой св зью |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU1805513C (ru) |
-
1990
- 1990-05-07 RU SU904839859A patent/RU1805513C/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Секен К., Томпсет М.Приборы с переносом зар да, М.: Мир, 1978,.с. 156-217. Хоувз М., Морган Д. Приборы с зар довой св зью. М.: Энергоиздат, 1981, с. 307. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR0136933B1 (ko) | 씨씨디(ccd) 영상소자 및 제조방법 | |
US5235198A (en) | Non-interlaced interline transfer CCD image sensing device with simplified electrode structure for each pixel | |
Dyck et al. | Integrated arrays of silicon photodetectors for image sensing | |
US4190851A (en) | Monolithic extrinsic silicon infrared detectors with charge coupled device readout | |
US5060245A (en) | Interline transfer CCD image sensing apparatus | |
KR940027509A (ko) | 오버-플로우 드레인(ofd)구조를 가지는 전하결합소자형 고체촬상장치 | |
EP0486141A2 (en) | A solid state imaging element | |
RU1805513C (ru) | Фоточувствительный прибор с зар довой св зью | |
US5115293A (en) | Solid-state imaging device | |
KR960001182B1 (ko) | 고체 촬상 소자 | |
Konuma et al. | 324* 487 Schottky-barrier infrared imager | |
JPH10209417A (ja) | 固体放射線検出装置 | |
Kimata et al. | 256 x 256 element platinum silicide Schottky-barrier infrared charge-coupled device image sensor | |
KR100541712B1 (ko) | 선형ccd촬상소자 | |
US3838276A (en) | Phototransistor array having reduced crosstalk | |
Hynecek | Design and performance of a high-resolution image sensor for color TV applications | |
Daigle et al. | High-resolution 2048 x 16 TDI PtSi IR imaging CCD | |
Kohn | A charge-coupled infrared imaging array with Schottky-barrier detectors | |
US4727406A (en) | Pre-multiplexed detector array | |
KR0147409B1 (ko) | 고체촬상소자의 제조방법 | |
KR0147684B1 (ko) | 고체촬상소자 | |
Elloumi et al. | Study of a photosite for snapshot video | |
JPS63142859A (ja) | 固体撮像装置 | |
JPS6086975A (ja) | 固体撮像装置 | |
KR0172833B1 (ko) | 고체촬상소자 |