RU169451U1 - Устройство для фотометрического изучения свойств металлических расплавов - Google Patents

Устройство для фотометрического изучения свойств металлических расплавов Download PDF

Info

Publication number
RU169451U1
RU169451U1 RU2016113660U RU2016113660U RU169451U1 RU 169451 U1 RU169451 U1 RU 169451U1 RU 2016113660 U RU2016113660 U RU 2016113660U RU 2016113660 U RU2016113660 U RU 2016113660U RU 169451 U1 RU169451 U1 RU 169451U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
image sensor
photodetector
measuring
metal melts
light beam
Prior art date
Application number
RU2016113660U
Other languages
English (en)
Inventor
Аркадий Моисеевич Поводатор
Владимир Степанович Цепелев
Владимир Викторович Вьюхин
Виктор Васильевич Конашков
Original Assignee
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" filed Critical Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина"
Priority to RU2016113660U priority Critical patent/RU169451U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU169451U1 publication Critical patent/RU169451U1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N11/00Investigating flow properties of materials, e.g. viscosity, plasticity; Analysing materials by determining flow properties
    • G01N11/10Investigating flow properties of materials, e.g. viscosity, plasticity; Analysing materials by determining flow properties by moving a body within the material
    • G01N11/16Investigating flow properties of materials, e.g. viscosity, plasticity; Analysing materials by determining flow properties by moving a body within the material by measuring damping effect upon oscillatory body

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

Заявленное изобретение относится к области для анализа материалов путем фотометрического определения удельного электросопротивления нагреваемого тела в зависимости от температуры. Устройство содержит источник света, зеркало, расположенное на закручиваемой упругой нити, на которой подвешен тигель с шихтой, фотоприемное устройство, отличается тем, что фотоприемное устройство выполнено в виде по меньшей мере одного датчика изображения. Технический результата - повышение точности измерений углов отклонений ϕ отраженного светового луча при изменениях температуры и в конечном итоге, электросопротивления ρ металлических расплавов, уменьшение габаритов измерительного комплекса, а также расширение его функциональных возможностей. 3 з.п. ф-лы, 1 ил.

Description

Предлагаемая полезная модель относится к технической физике, а именно - к анализу материалов путем бесконтактного фотометрического определения удельного электросопротивления нагреваемого тела в зависимости от температуры, в частности, к определению удельного электросопротивления металлов и сплавов в жидком состоянии.
Бесконтактное фотометрическое определение параметров металлических жидкостей и расплавов в образце, помещенном в тигель объемом около см3, который подвешен на упругой проволоке внутри вакуумной электропечи, в частности определение удельного электросопротивления ρ образца способом вращающегося магнитного поля, позволяет проводить анализ материалов и давать рекомендации для получения сплавов с заданными характеристиками на предприятиях. Анализ структурно чувствительного термозависимого параметра в виде удельного электросопротивления ρ, позволяет выделять в том числе особые температурные точки, в частности гистерезисные характеристики цикла «нагрев-охлаждение».
Известна расчетная формула для сравнительного вычисления удельного электросопротивления ρ - смотри пат. РФ №2454656:
Figure 00000001
где m m0 - массы исследуемого и эталонного образцов расплава соответственно; d, d0 - плотности исследуемого и эталонного образцов соответственно; ρ0 - удельное электросопротивление эталона; ϕ, ϕ0 - углы поворота исследуемого и эталонного образцов соответственно, равные угловому отклонению отраженного светового луча; I, I0 - ток, проходящий по катушкам источника вращающегося постоянного магнитного поля при исследовании образца и эталона соответственно.
Таким образом, для определения ρ необходимо непрерывное измерение углов отклонений ϕ отраженного светового луча («зайчика») и построение траектории этих отклонений непосредственно в процессе экспериментов. При этом для обеспечения достоверности, точности и линейности измерений значения ϕ выбирают равными единицам градусов. Кроме того, точность увеличивают для каждой из температурных точек посредством осуществления двух измерений значения ϕ. Второе измерении проводят при реверсе направления вращения магнитного поля, а истинный угол ϕ определяют как среднеарифметический результат обоих измерений.
Известно использование светолучевого осциллографа с непрерывной регистрацией измеряемых параметров на фотобумаге в качестве фоторегистратора и последующем измерении фотоизображения посредством, например, линейки - смотри «Политехнический словарь», М., 1980, с. 350. Недостатком такого устройства является разнесенные по времени эксперименты и получение результатов, а также продолжительное их время обработки.
Известно устройство для бесконтактного измерения вязкости высокотемпературных металлических расплавов, содержащее компьютер, источник света, зеркало, расположенное на закручиваемой упругой нити, на которой подвешен тигель с шихтой, фотоприемное устройство, находящееся на фотоизмерительной линейке - шкале с нулем посередине, по которой колебательно движется отраженный от зеркала световой зайчик, содержащее интегральные фотосенсоры - фотодиоды, зафиксированные на минимальном межцентровом расстоянии (измерительной базе) L=6 мм симметрично относительно центра шкалы, а также электромеханический корректор смещения нулевой линии - смотри пат. РФ №2408002 - аналог. Период колебаний T упругой нити с зеркалом составляет единицы секунд.
Известно устройство для бесконтактного фотометрического определения характеристик металлических расплавов, содержащее тигель с исследуемым образцом, зеркало, источник света, компьютер, фотоприемное устройство, состоящее из полупрозрачной измерительной линейки и двух фотосенсоров - фотодиодов в центре шкалы, выходная шина которых соединена с компьютером, а также содержащее по меньшей мере две дополнительные пары фотосенсоров - фотодиодов, причем расстояние между парами фотосенсоров одинаковое и в 5-20 раз превышает межцентровое расстояние (Lρ≈6 мм) фотосенсоров внутри пары - смотри пат. РФ №2473883 - аналог.
Известно устройство для фотометрического изучения свойств металлических расплавов, содержащий компьютер, источник света, зеркало, расположенное на закручиваемой упругой нити, на которой подвешен тигель с шихтой, фотоприемное устройство, компьютер - смотри пат. РФ №2454656 - прототип.
Недостатками аналогов и прототипа в условиях быстроменяющейся величины углов отклонений ϕ отраженного светового луча являются, во первых, как отмечено выше, размер минимальной измерительной базы фотосенсоров (фотодиодов) фотоприемного устройства, определяемой конструкцией фотосенсоров. При этом происходит последовательная регистрация и компьютерная обработка логических электрических сигналов от каждого из фотосенсоров вследствие наличия/отсутствия его (их) засветки. Это не обеспечивает получения возможности непрерывной регистрации текущих координат траектории светового луча, что ограничивает точность и достоверность измерений углов отклонений ϕ и, в конечном итоге, ограничивает точность и достоверность определения удельного электросопротивления ρ расплавов. Во-вторых, расстояние d между зеркалом и фотоприемным устройством, например, при типовом размахе углов отклонений ϕ отраженного светового луча, равном +/- (3-7) град, составляет не меньше (1-1,5) м для вычисления значений ρ с требуемой по методике точностью в единицы процентов. Таким образом, измерительный комплекс занимает много места. В-третьих, точность может уменьшаться из-за влияния температурной деформации в конструкции измерительной установки, например, смещений зеркала и/или упругой нити, либо вибрационных артефактов, что требует внесения корректировочных поправок. Вследствие вышеизложенного, приходится использовать аппроксимацию, а именно алгоритмическую компьютерную обработку последовательных дискретных результатов, определяемых засветкой или ее отсутствием каждого фотосенсора - фотодиода для получения приемлемых по точности и достоверности конечных результатов и/или корректировочных поправок. При этом в типовом случае дрейфа нулевой линии ее корректировка может быть затруднена.
Задачей предлагаемой полезная модель является повышение точности измерений углов отклонений ϕ отраженного светового луча в условиях быстроменяющейся измеряемой величины ϕ при изменениях температуры и, в конечном итоге, электросопротивления ρ металлических расплавов, уменьшение габаритов измерительного комплекса, а также расширение его функциональных возможностей.
Для решения поставленной задачи предлагается полезная модель - устройство для фотометрического изучения свойств металлических расплавов, содержащее источник света, зеркало, расположенное на закручиваемой упругой нити, на которой подвешен тигель с шихтой, фотоприемное устройство, отличающееся тем, что фотоприемное устройство выполнено в виде по меньшей мере одного датчика изображения.
Кроме того, датчик изображения выполнен в виде твердотельного линейного имидж-сенсора.
Кроме того, датчик изображения выполнен в виде твердотельного площадного имидж-сенсора.
Кроме того, датчик изображения выполнен в виде видеокамеры.
Предложенное устройство обеспечивает технический результат - увеличение объема получаемой информации, повышение объективности, достоверности и точности измерений углов отклонений ϕ отраженного светового луча и в конечном итоге, электросопротивления ρ металлических расплавов, уменьшение габаритов измерительного комплекса, а также расширение его функциональных возможностей. Кроме того, обеспечивается возможность удешевления фотоприемного устройства и упрощения эксперимента.
Предлагаемая полезная модель поясняется чертежом:
фиг. 1 Блок- схема измерительного комплекса.
Измерительный комплекс, блок-схема которого приведена на фиг. 1, содержит вакуумную электропечь 1, в зоне нагрева которой на подвеске 2 коаксиально подвешен тигель 3 для размещения в нем исследуемого металлического образца, соединенный с упругой частью подвески 2 посредством керамического стержня 4. Источник 5 вращающегося магнитного поля, магнитная система которого расположена вокруг вакуумной печи 1, расположен в области высокотемпературной зоны, создаваемой коаксиальным цилиндрическим нагревателем 6, питающимся от трехфазной силовой сети (на фиг. 1 не показано). Компьютер 7 управляет экспериментом и осуществляет все вычисления. Датчик изображения 8 соединен с компьютером 7. Зеркало 9 закреплено на верхнем конце керамического стержня 4. Источник света 10 освещает зеркало 9, отраженный луч которого через стеклянное окно с вертикальной риской (на схеме не показано) в электропечи 1 попадает на датчик изображения 8, закрепленный на измерительной линейке 11, которые совокупно составляют собственно фотоприемное устройство.
В качестве закручиваемой упругой части подвески 2 используется нихромовая нить длиной 650 и диаметром 0,08 мм. Объем образца исследуемого металлического расплава в тигле 3 составляет 0,5 см3. Магнитная система источника 5 вращающегося магнитного поля выполнена в виде катушек статора трехфазного электродвигателя мощностью 650 Вт и запитана от трехфазного стабилизатора питания (на схеме не показан) через переключатель направления вращения магнитного поля (на схеме не показан). Молибденовый нагреватель 6 включен постоянно в течение всего эксперимента. Компьютер 7 выполнен на ноутбуке HP и соединен с датчиком изображения 8. Зеркало 9 имеет площадь 1 см2. Свет попадает на него от источника света 10, например, лампы накаливания или лазерного светодиода, через окно - иллюминатор (на схеме не показано) и отражается на датчик изображения 8, а также симметричную горизонтальную полупрозрачную контрольную оптическую линейку 11 с нулем шкалы посередине, в центре которой зафиксирован датчик изображения 8.
Датчик изображения 8 выполнен в виде микросхемы ПЗС (CCD) - или КМОП (CMOS) - имидж-сенсора, например линейного, предназначенного для индустриального применения, который содержит 12-14-мкм пикселы в количестве от 1024 до 4096 - смотри фрагменты каталогов фирм Hamamatsu Photonics K. K. и Toshiba. Использование площадного датчика, например S7171-0909 фирмы Hamamatsu Photonics K. K. форматом 512×512 пикселов целесообразно в случае необходимости корректировки сигналов датчика изображения 8 при смещении нулевого положения отраженного светового луча, например, диаметром в единицах мм (от лазерного источника света 10) не только по горизонтали, но и по вертикали по этому датчику в пределах 3-6 мм. Такое смещение теоретически нельзя исключить, поскольку при высокотемпературных (до 2000°C) исследованиях расплавов возможно смещение зеркала 9 вследствие нагрева упругой нити - подвески 2, на которой это зеркало 9 закреплено. При нелазерном источнике света 10, например, в виде лампы накаливания, обладающем большим диаметром отраженного светового пятна, вертикальная метка на нем в виде риски позволяет пренебречь необходимостью вертикальной корректировки. Оптимально выполнение датчика изображения 8 в виде недорогой (5$) микросхемы линейного ПЗС монохромного имидж-сенсора TCD1201D фирмы Toshiba, который содержит 2048 пикселов размером 14 мкм, с суммарной длиной фоточувствительной базы 28,6 мм, работающего в видимой спектральной области - смотри вышеуказанные фрагменты каталогов, а также www.DatasheetCatalog.com. Использование дополнительной оптической фокусирующей системы возможно, но не является обязательным условием использования имидж-сенсора в качестве датчика изображения 8. Расстояние между ним и зеркалом 9 составляет 0,3-0,5 м. Его дальнейшее уменьшение нецелесообразно из-за возрастания теплового нагрева датчика изображения 8 от электропечи 1. Такое расстояние позволяет получить в 2-4 раз меньшую длину оптического пути в сравнении с прототипом и уменьшить габариты измерительного комплекса. Погрешность вышеуказанного имидж-сенсора в качестве датчика изображения 8 составляет менее 0,1 мм. Это по меньшей мере в 5 раз точнее, чем стандартная измерительная линейка 11 с делениями в 1 мм, в ≈50 раз точнее фотосенсоров, используемых в аналогах и прототипе, что позволяет получить непрерывную, практически без дискретной структуры, регистрацию оптического луча. С учетом вышеизложенного, при анализе траектории светового луча посредством определения текущих номеров засвеченных пикселов, компьютер 7 обеспечивает отображение координат нахождения светового луча даже без специальных аппроксимационных алгоритмов не хуже 0,1 мм. Соответственно, измерение углов отклонений может быть также по меньшей мере в 5 раз точнее в сравнении со стандартной измерительной линейкой 11 при сохранении длины оптического пути в 1 метр. Можно уменьшить длину оптического пути в 5 раз при сохранении точности, аналогичной стандартной измерительной линейке 11.
В случае дрейфа нулевой точки (изолинии, нулевой линии) датчик изображения 8 с вышеуказанным количеством пикселов в сочетании с компьютером 7 позволяет программным способом определять и вводить в процедуру расчетов поправку. Таким образом, предлагаемое устройство обеспечивает расширение функциональных возможностей за счет использования одного датчика изображения 8 в роли как измерительного, так и корректировочного. При этом его перемещение не требуется.
Количество датчиков изображения 8 в виде имидж-сенсоров может быть выбрано в диапазоне от 1 - смотри фиг. 1 до 3. Это обусловлено амплитудной динамикой углов отклонений ϕi отраженного светового луча для исследуемого расплава, обладающего характерными для его состава значениями плотности, массы, термозависимостью удельного электросопротивления ρ (t), значениями токов в катушках, создающих вращающееся магнитное поле - смотри вышеприведенную формулу. Например, при сравнительно небольших углах ϕi - меньше 5 град, и близком размещении датчика изображения 8 и электропечи 1 с зеркалом 9, т.е. при сравнительно коротком, меньше 0,3 м, пути отраженного светового луча, может быть достаточно одного датчика изображения 8. При длине пути 1 м, в случае изучении высокотемпературных расплавов на основе Fe, Co, Ni и углах ϕimax до +/- 20 град., а также несимметричности углов отклонения ϕi вправо или влево относительно нулевой точки, которая обусловлена как дрейфом изолинии, так и конструктивными артефактами, оптимально использовать три датчика изображения 8. Один из них центральный - смотри фиг. 1, два других размещают симметрично относительно него на фиксированном угловом расстоянии, характерном для наиболее часто исследуемых расплавов. При этом угол отклонения ϕi определяют как среднеарифметическое значение углов отклонения ϕ1, 2 в одну и другую сторону от нулевой линии посредине шкалы для каждой изучаемой температурной точки ti. Например, при вышеприведенном случае с длиной пути отраженного светового луча 1 м, высокотемпературных расплавах на основе Fe, Co, Ni и углах ϕimax до +/- 20 град., центры этих двух датчиков симметрично размещены на угловом расстоянии ϕдат в диапазоне ϕдат = +/- (10-20) град.
Кроме того, в случае высококачественного выполнения конструкции исследовательского комплекса, исключения дрейфа изолинии, изучении низкотемпературных расплавов можно использовать два датчика изображения 8 -центральный и один из боковых, либо единственный датчик изображения 8 - боковой или центральный.
Применение в качестве датчика изображения 8 стандартной цифровой видеокамеры, обладающей разрешением, по меньшей мере - несколько мегапикселов и возможностью стоп-кадра, или цифрового фотоаппарата в режиме видеосъемки, позволяет получать в режиме on-line комплект файлов для каждой из температур, с дополнительной возможностью постэкспериментального анализа динамики траекторий светового луча.
Предложенная полезная модель обеспечивает технический результат - увеличение объема получаемой информации, повышение объективности, достоверности и точности измерений углов отклонений ϕ отраженного светового луча и в конечном итоге, электросопротивления ρ металлических расплавов, уменьшение габаритов измерительного комплекса, а также расширение его функциональных возможностей. Кроме того, обеспечивается возможность удешевления фотоприемного устройства и упрощения эксперимента.
Предложенное техническое решение, содержащее вышеуказанную совокупность ограничительных и отличительных признаков, не выявлено в известном уровне техники, что позволяет считать предложенное техническое решение имеющим уровень полезной модели

Claims (4)

1. Устройство для фотометрического определения удельного электросопротивления металлических расплавов, содержащее источник света, зеркало, расположенное на закручиваемой упругой нити, на которой подвешен тигель с шихтой, фотоприемное устройство, отличающееся тем, что фотоприемное устройство выполнено в виде по меньшей мере одного датчика изображения.
2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что датчик изображения выполнен в виде твердотельного линейного имидж-сенсора.
3. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что датчик изображения выполнен в виде твердотельного площадного имидж-сенсора.
4. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что датчик изображения выполнен в виде видеокамеры.
RU2016113660U 2016-04-08 2016-04-08 Устройство для фотометрического изучения свойств металлических расплавов RU169451U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016113660U RU169451U1 (ru) 2016-04-08 2016-04-08 Устройство для фотометрического изучения свойств металлических расплавов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016113660U RU169451U1 (ru) 2016-04-08 2016-04-08 Устройство для фотометрического изучения свойств металлических расплавов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU169451U1 true RU169451U1 (ru) 2017-03-17

Family

ID=58450041

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2016113660U RU169451U1 (ru) 2016-04-08 2016-04-08 Устройство для фотометрического изучения свойств металлических расплавов

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU169451U1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2755622C1 (ru) * 2020-12-17 2021-09-17 Ооо "Кортех" Шариковый вискозиметр

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5915837A (ja) * 1982-07-16 1984-01-26 Sumitomo Metal Ind Ltd 高温流体の粘度測定装置
RU69249U1 (ru) * 2007-07-02 2007-12-10 Государственное общеобразовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский государственный технический университет-УПИ" Устройство для бесконтактного измерения вязкости высокотемпературных металлических расплавов
RU2349898C1 (ru) * 2007-06-28 2009-03-20 Государственное общеобразовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский государственный технический университет - УПИ имени первого Президента России Б.Н.Ельцина" Способ бесконтактного измерения вязкости высокотемпературных металлических расплавов и устройство для его осуществления (варианты)
RU2434222C2 (ru) * 2009-12-02 2011-11-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский государственный технический университет - УПИ имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Устройство для изучения кинематической вязкости расплавов

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5915837A (ja) * 1982-07-16 1984-01-26 Sumitomo Metal Ind Ltd 高温流体の粘度測定装置
RU2349898C1 (ru) * 2007-06-28 2009-03-20 Государственное общеобразовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский государственный технический университет - УПИ имени первого Президента России Б.Н.Ельцина" Способ бесконтактного измерения вязкости высокотемпературных металлических расплавов и устройство для его осуществления (варианты)
RU69249U1 (ru) * 2007-07-02 2007-12-10 Государственное общеобразовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский государственный технический университет-УПИ" Устройство для бесконтактного измерения вязкости высокотемпературных металлических расплавов
RU2434222C2 (ru) * 2009-12-02 2011-11-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский государственный технический университет - УПИ имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Устройство для изучения кинематической вязкости расплавов

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2755622C1 (ru) * 2020-12-17 2021-09-17 Ооо "Кортех" Шариковый вискозиметр

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4209709B2 (ja) 変位計
NO753655L (ru)
US11204383B2 (en) Methods for maintaining gap spacing between an optical probe of a probe system and an optical device of a device under test, and probe systems that perform the methods
RU169451U1 (ru) Устройство для фотометрического изучения свойств металлических расплавов
US4064754A (en) Method for measuring the filling level in containers and apparatus for performing the method
US5088827A (en) Measuring apparatus for determining the dimension and position of an elongate object
US3045472A (en) Apparatus for simultaneously carrying out thermogravimetric, differentialthermal andderivative-thermo-gravimetric analysis
JP4216679B2 (ja) 変位計および変位測定方法
Kirk et al. Quartz microgram balance
RU2629699C1 (ru) Устройство для фотометрического определения удельного электросопротивления металлических расплавов
US3406292A (en) Surface checking device
US2533686A (en) Gyroscopic sextant
CN207074147U (zh) 一种利用线阵ccd成像法测量杨氏弹性模量的实验系统
CN206514844U (zh) 具有仪器高实时精确测量功能的电子水准仪
RU2457473C2 (ru) Способ измерения электрического сопротивления металлического расплава методом вращающегося магнитного поля
Muller American apparatus, instruments, and instrumentation
JPH03269352A (ja) 長尺状試料の熱膨張係数測定方法およびその装置
Sasaki A New Method for Surface‐Temperature Measurement
CN104897077B (zh) 高速变焦摄像对曲面轮廓线的自适应检测系统及方法
US3632226A (en) Method and apparatus for determining opacity of an object
US3220113A (en) Surface checking device
Conway et al. New technique for electrocapillary measurements using the lippmann electrometer
CN107941623A (zh) 一种利用线阵ccd成像法测量杨氏弹性模量的实验系统
JPH0446371B2 (ru)
CN108020203A (zh) 一种具有仪器高实时精确测量功能的电子水准仪及其用法

Legal Events

Date Code Title Description
MM1K Utility model has become invalid (non-payment of fees)

Effective date: 20170409