RU151235U1 - Острийный полевой эмиттер - Google Patents

Острийный полевой эмиттер Download PDF

Info

Publication number
RU151235U1
RU151235U1 RU2014117341/07U RU2014117341U RU151235U1 RU 151235 U1 RU151235 U1 RU 151235U1 RU 2014117341/07 U RU2014117341/07 U RU 2014117341/07U RU 2014117341 U RU2014117341 U RU 2014117341U RU 151235 U1 RU151235 U1 RU 151235U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
tip
coating
field emitter
fullerene
metal
Prior art date
Application number
RU2014117341/07U
Other languages
English (en)
Inventor
Геннадий Гиршевич Соминский
Татьяна Алексеевна Тумарева
Евгений Петрович Тарадаев
Original Assignee
федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный политехнический университет" (ФГАОУ ВО "СПбПУ")
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный политехнический университет" (ФГАОУ ВО "СПбПУ") filed Critical федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный политехнический университет" (ФГАОУ ВО "СПбПУ")
Priority to RU2014117341/07U priority Critical patent/RU151235U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU151235U1 publication Critical patent/RU151235U1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)

Abstract

1. Острийный полевой эмиттер, включающий по меньшей мере одно острие, с покрытием из молекул фуллеренов и/или металлофуллеренов, отличающийся тем, что содержит полупроводниковую основу с покрытием из металла и покрытие толщиной 2-6 монослоев из молекул фуллеренов и/или металлофуллеренов, нанесенное поверх металла, причем толщина Δ покрытия из металла удовлетворяет соотношению 1-4 нм ≤Δ≤Δ, где Δ- максимальная толщина покрытия, при которой рабочее напряжение при отборе необходимого тока эмиссии не превосходит заданного значения.2. Острийный полевой эмиттер по п. 1, отличающийся тем, что он имеет покрытие из молекул металлофуллеренов типа эндоэдралов С@K и/или экзоэдралов K@С.3. Острийный полевой эмиттер по п. 1, отличающийся тем, что он имеет покрытие из молекул металлофуллеренов типа эндоэдралов C@Cs и/или экзоэдралов Cs@C.4. Острийный полевой эмиттер по п. 1, отличающийся тем, что он содержит более одного острия, причем острия одинаковы по длине и радиусу вершины.

Description

Полезная модель относится к материалам электронной техники, а более конкретно к полевым электронным эмиттерам.
Использование полевых эмиттеров представляется привлекательным при построении широкого класса вакуумных электронных устройств. Для получения полевой эмиссии при умеренных рабочих напряжениях создают острийные полевые эмиттеры. Однако такие эмиттеры достаточно долговечны только в низковольтных электронных приборах, эксплуатируемых при низком давлении остаточного газа и при отборе малых токов. В высоковольтных электронных приборах, работающих в техническом вакууме и при отборе больших токов эмиссии, такие полевые эмиттеры быстро разрушаются под действием бомбардировки ионами остаточных газов.
Хорошо отработана технология создания острийных полевых эмиттеров из разного типа полупроводников, например, из кремния [Е.И. Гиваргизов, Контролируемый рост нитевидных кристаллов и создание монокристаллических вискерных зондов, Кристаллография, 2006, т. 51, №5, с.947-953]. Применение таких эмиттеров зачастую затруднено не только потому, что они разрушаются под действием ионной бомбардировки, но также и по той причине, что они имеют недостаточную проводимость. Кроме того, тонкие полупроводниковые острия на поверхности острийных полевых эмиттеров, обеспечивающие возможность получения токов эмиссии при низких рабочих напряжениях, как правило, недостаточно прочны и разрушаются под действием пондеромоторных сил уже при умеренных значениях электрического поля и отбираемого тока эмиссии. Использование острийных полупроводниковых полевых эмиттеров в высоковольтных электронных приборах, работающих в техническом вакууме (10-7-10-8 Тор), становится возможным, если одновременно повысить их проводимость и прочность, а также устойчивость к воздействию ионной бомбардировки.
Легирование полупроводниковых материалов позволяет, в принципе, заметно увеличить их проводимость. Однако, прочность острийных полевых эмиттеров, изготовленных из сильно легированных полупроводников, как правило, невелика. Как показано в работе [A.V. Karabutov et al., Peculiarities of field electron emission from CVD diamond films, J. De Physique IV, C5 (1996) 113], проводимость исходно плохо проводящей поверхности острийного полевого эмиттера может быть повышена, если на него нанести, даже тонкий слой металла. Авторы исследовали исходно плохо проводящие полевые эмиттеры с тонким (4 нм) слоем никеля на поверхности. Такой слой металла повышал проводимость поверхности полевого эмиттера. Но очевидно, что столь тонкое покрытие не может существенно увеличить прочность эмиттера. Не может такая металлизация и защитить эмиттер от разрушающего воздействия ионной бомбардировки. Поэтому она практически не повышает долговечности эмиттера при его эксплуатации в техническом вакууме.
В прототипе изобретения [Т.А. Тумарева, Г.Г. Соминский, Разработка и совершенствование полевых эмиттеров на основе содержащих углерод материалов, Известия вузов, Прикладная нелинейная динамика, 2009, т. 17, №3, с. 17-54] разработаны и исследованы острийные полевые эмиттеры с остриями длиной l и с радиусом вершины R, имеющие аспектное отношение l/R более 10, оснащенные покрытием из молекул фуллеренов и/или металлофуллеренов.
Тонкие фуллереновые покрытия (толщиной до 2-6 монослоев) защищают острийный полевой эмиттер от разрушающего воздействия ионной бомбардировки и самовоспроизводятся в присутствии интенсивной ионной бомбардировки. Поэтому острийные полевые эмиттеры с таким покрытием способны долговечно работать при эксплуатации катода в техническом вакууме. Чисто фуллереновые покрытия имеют большую работу выхода (более 5 эВ). Но работа выхода фуллереновых покрытий может быть уменьшена в результате его обработки (активирования) потоком медленных (с энергиями ~40-100 эВ) ионов калия. Активирование потоком ионов калия позволяет понизить рабочие напряжения, необходимые для отбора фиксированного тока полевой эмиссии из-за образования в покрытии устойчивых металлофуллеренов типа эндоэдралов С60@K и/или экзоэдралов K@С60.
Авторы работы-прототипа исследовали функционирование острийных полевых эмиттеров из вольфрама с чисто фуллереновыми и с активированными фуллереновыми покрытиями. Однако, можно предположить, что фуллереновые покрытия могут быть использованы для защиты от ионной бомбардировки не только металлических, но и полупроводниковых катодов. Понятно, что тонкий слой молекул фуллеренов и/или металлофуллеренов (несколько монослоев) не может существенно увеличить ни прочность острийного полевого эмиттера, ни проводимость его поверхности.
В предлагаемой полезной модели одновременно решаются задачи по улучшению характеристик острийных полевых эмиттеров, в том числе:
- по повышению их долговечности;
- увеличению их проводимости, а вместе с этим уменьшению падения напряжения на эмиттере при отборе тока;
- к увеличению прочности эмиттеров и к обеспечению в связи с этим отбора больших токов эмиссии.
Обеспечивает решение всех перечисленных проблем острийный полевой эмиттер, включающий по меньшей мере одно острие, который содержит полупроводниковую основу с покрытием из металла и покрытие толщиной 2-6 монослоев из молекул фуллеренов и/или металлофуллеренов, нанесенное поверх металла, причем толщина Δ покрытия из металла удовлетворяет соотношению 1-4 нм ≤Δ≤Δmax, где Δmax - максимальная толщина покрытия, при которой рабочее напряжение при отборе необходимого тока эмиссии не превосходит заданного значения (определяется техническим заданием).
Острийный полевой эмиттер с перечисленными выше отличительными признаками может содержать более одного острия.
В случае, если эмиттер содержит более одного острия, острия примерно одинаковы по длине l и радиусу вершины R и расположены на расстоянии h друг от друга. При выполнении условия h≈2l практически отсутствует экранировка эмиттеров и можно получить фиксированный ток эмиссии при минимальном напряжении [Г.С. Бочаров, А.В. Елецкий, Влияние экранировки на эмиссионные характеристики холодных полевых катодов на основе углеродных нанотрубок, ЖТФ, 2005, т. 75, №7, с. 126-130]. Принципиально могут использоваться острийные полевые эмиттеры, у которых h>2l или h<2l, если допустима работа эмиттера при повышенных напряжениях.
Острийный полевой эмиттер с перечисленными выше отличительными признаками может иметь покрытие из молекул фуллеренов и/или металлофуллеренов типа типа эндоэдралов С60@K и/или экзоэдралов K@С60, котороле защищает эмиттер от разрушающего воздействия ионной бомбардировки.
Острийный полевой эмиттер с перечисленными выше отличительными признаками может быть защищен от разрушающего воздействия ионной бомбардировки также покрытием из молекул фуллеренов и/или металлофуллеренов типа эндоэдралов C60@Cs и/или экзоэдралов Cs@C60.
Поставленная техническая задача успешно решается при использовании обоих типов метало-фуллереновых покрытий.
Предлагаемое решение за счет указанных выше отличительных признаков обеспечивает высокую долговечность острийных полупроводниковых полевых эмиттеров с двухслойным металл-фуллереновым покрытием при отборе с их поверхности больших токов в условиях технического вакуума.
Для проверки возможности реализации полезной модели было проведено исследование одноострийных и многоострийных полевых эмиттеров из кремния. Измерялись токи эмиссии эмиттеров без каких-либо покрытий, с покрытиями из молибдена, а также с двухслойными металл-фуллереновыми покрытиями.
Сущность полезной модели и возможность ее реализации поясняют фиг. 1-3. Фиг. 1 - Схематическое изображение диодной измерительной системы с острийным полевым эмиттером, использованной в экспериментах. Фиг. 2 - Изображение участка поверхности одного из острийных полевых эмиттеров. Фиг. 3 - Типичные изменения тока эмиссии острийного полевого эмиттера во время его работы.
Диодная измерительная система (фиг. 1), создана на основе полевого эмиссионного проектора. Здесь 1 - острийный полевой эмиттер, 2 - экран проектора, выполняющий одновременно функцию анода, 3 - источник напряжения U, которое подавалось между острийным полевым эмиттером (катодом) и анодом, 4 - прибор для измерения тока полевой эмиссии с острийного полевого эмиттера. Экран 2 располагался на расстоянии 1-3 см от торца острийного полевого эмиттера 1. В процессе измерений можно было наблюдать эмиссионные изображения острийного полевого эмиттера на экране проектора. Измерения эмиссионных характеристик острийных полевых эмиттеров проводились при комнатной температуре катода 1.
Экспериментальный прибор подвергался непрерывной откачке с помощью криосорбционного форвакуумного насоса и высоковакуумного магнитно-разрядного насоса. Прибор был оснащен системой напуска азота. Напуск азота позволял оперативно менять давление в экспериментальном приборе от минимального порядка 10-10-10-9 Тор до 10-6 Тор и обратно.
Вакуумная камера экспериментального прибора была оснащена испарителем молибдена, который использовался для нанесения молибденовых покрытий на острийный полевой эмиттер, источником для напыления молекул фуллерена, а также источником ионов калия, который использовался для обработки (активирования) фуллереновых покрытий. Острийный полевой эмиттер крепился на подвижной подвеске и его можно было оперативно перемещать в откачиваемом приборе с помощью специального манипулятора к напылителю молибдена (для создания металлизации), к напылителю фуллеренов (для создания фуллеренового покрытия) и к источнику ионов калия (для активирования фуллеренового покрытия).
Морфология поверхности острийных полевых эмиттеров контролировалась с использованием растровых электронных микроскопов до установки в экспериментальный прибор и после окончания экспериментов.
Радиус R вершины кремниевых острий на поверхности острийных полевых эмиттеров варьировался для разных образцов в пределах примерно от 5 до 25 нм. Длина острий l менялась приблизительно от 5 до 40 мкм. У острийных полевых эмиттеров, изображенных на фиг. 1, на торцевой поверхности кремниевого штабика диаметром 0,2-0,7 мм располагались острия, которые и являлись источником полевой эмиссии. Количество острий на этой поверхности менялось от 1 приблизительно до 350. Кроме эмиттеров типа приведенных на фиг. 1, исследованы также многоострийные полевые эмиттеры существенно большей площади порядка 0,5-1 см2.
Расстояние h между остриями многоострийных полевых эмиттеров, а также высота острий менялись для разных образцов эмиттеров. Как правило, для исследованных многоострийных полевых эмиттеров отношение h/l не превышало значений ~1-1,5. При такой морфологии поверхности не исключается частичная экранировка острийных полевых эмиттеров, приводящая в диодной структуре заданной конфигурации к уменьшению электрического поля у поверхности острий и к увеличению рабочих напряжений, необходимых для отбора фиксированных токов полевой эмиссии [Г.С. Бочаров, А.В. Елецкий, Влияние экранировки на эмиссионные характеристики холодных полевых катодов на основе углеродных нанотрубок, ЖТФ, 2005, т. 75, №7, с. 126-130]. Однако это обстоятельство не помешало получению экспериментальных доказательств реализуемости полезной модели.
Проведенные измерения свидетельствуют, что прочность острийных полевых эмиттеров, изготовленных из сильно легированного кремния n-типа с довольно высокой проводимостью ~103-104 Ом-1·см-1, невелика. Острийные полевые эмиттеры из кремния p-типа с низкой в холодном состоянии проводимостью ~10 Ом-1·см-1 прочнее и поэтому позволяют отбирать большие токи, однако, только в условиях, когда их проводимость увеличена нагревом до температуры ~200-400 C. Создание даже тонкого (1-4 нм) молибденового покрытия обеспечивает достаточную проводимость поверхности эмиттеров из кремния p-типа.
Для того, чтобы увеличить прочность острийного полевого эмиттера, приходится создавать на его поверхности существенно более толстый слой металла. Выбирая толщину слоя металлизации, следует учитывать, что прочность эмиттера зависит от материала, из которого изготовлены острия и от радиуса их вершины. Исследованные острийные полевые эмиттеры имели малый радиус вершины острий порядка 5-25 нм и для того, чтобы они не разрушались при отборе с их поверхности токов более 100-150 мкА, требуется металлизация толщиной порядка или даже больше радиуса вершины кремниевых острий.
Острийные полевые эмиттеры из кремния с молибденовым покрытием при работе с отбором больших токов в техническом вакууме разрушаются под действием ионной бомбардировки. Как показали проведенные измерения, нанесение поверх молибденового покрытия, даже тонкого (толщиной 2-6 монослоев) слоя молекул фуллеренов делает острийный полевой эмиттер стойким к воздействию ионной бомбардировки. Однако нанесение такого покрытия сопровождается увеличением примерно на 10% рабочих напряжений, необходимых для отбора фиксированных токов эмиссии. Обработка созданного фуллеренового покрытия потоком медленных ионов калия с энергией 40 эВ (активирование покрытия) позволяла снизить рабочие напряжения на 25%.
Полученные данные свидетельствуют, что острийный полевой эмиттер с двухслойным покрытием, включающим слой молибдена с нанесенным поверх него активированным фуллереновым покрытием, долговечно работает в техническом вакууме при отборе больших токов. Типичные изменения во времени тока эмиссии I(t) с много-острийного (примерно 300 острий) полевого эмиттера из кремния p-типа с покрытием острий, включающим слой молибдена толщиной ~30 нм на остриях с радиусом вершины ~20 нм и нанесенное поверх металлизации активированное в результате бомбардировки ионами калия фуллереновое покрытие толщиной 2 монослоя, показаны на фиг. 3. Приведенная на фиг. 3 характеристика измерена при постоянном напряжении U=6,26 кВ и типичном техническом давлении в экспериментальном приборе ~10-7 Тор. Полученный ток эмиссии 240 мкА соответствует чрезвычайно большим значениям плотности тока ~103-104 А/см2 с каждого из острий острийного полевого эмиттера. Работа острийного полевого эмиттера стабильна. Ток эмиссии практически не меняется в течение 5 часов. Флюктуации тока, типичные для высококачественных полевых эмиттеров, не превышают приблизительно ±2-3%. При измерении характеристик I(t) максимальный интервал времени в течение одного рабочего дня обычно не превышал 5-6 часов. Однако высокую долговечность созданных острийных полевых эмиттеров при эксплуатации в техническом вакууме подтверждают многократные длительные измерения характеристик I(f), выполненные в разные дни.
Увеличение толщины молибденового покрытия позволяет увеличить прочность острий и обеспечить получение больших эмиссионных токов. Однако утолщение молибденового покрытия ведет к увеличению диаметра вершины острий и к повышению напряжений, необходимых для отбора фиксированных токов. В связи с этим толщина покрытия Δ не должна превышать значения Δmax, при котором напряжение достигает максимальной допустимой величины.
Таким образом, в проведенных экспериментах получено подтверждение возможности практической реализации предлагаемых в заявке острийных полевых эмиттеров.
Существующие литературные данные [Е.Е.В. Campbell, R. Tellgmann, Ν. Krawez, I.V. Hertel, Production LDMS characterization of Endohedral Alkali-fullerene Films, J. Phys. Chem. Solids., 1997, v. 58, №11, p. 1763-1769] свидетельствуют, что активирование фуллереновых покрытий может производиться не только потоком ионов калия, но, например, и ионами цезия. Образование металлофуллеренов типа эндоэдралов C60@Cs и/или экзоэдралов Cs@C60. должно также вести к уменьшению работы выхода покрытия.
Предлагаемые полевые эмиттеры устойчивы к ионной бомбардировке, могут быть использованы для получения больших токов эмиссии в высоковольтных вакуумных приборах, в том числе, в устройствах СВЧ электроники, а также в портативных источниках рентгеновского излучения, работающих в техническом вакууме.

Claims (4)

1. Острийный полевой эмиттер, включающий по меньшей мере одно острие, с покрытием из молекул фуллеренов и/или металлофуллеренов, отличающийся тем, что содержит полупроводниковую основу с покрытием из металла и покрытие толщиной 2-6 монослоев из молекул фуллеренов и/или металлофуллеренов, нанесенное поверх металла, причем толщина Δ покрытия из металла удовлетворяет соотношению 1-4 нм ≤Δ≤Δmax, где Δmax - максимальная толщина покрытия, при которой рабочее напряжение при отборе необходимого тока эмиссии не превосходит заданного значения.
2. Острийный полевой эмиттер по п. 1, отличающийся тем, что он имеет покрытие из молекул металлофуллеренов типа эндоэдралов С60@K и/или экзоэдралов K@С60.
3. Острийный полевой эмиттер по п. 1, отличающийся тем, что он имеет покрытие из молекул металлофуллеренов типа эндоэдралов C60@Cs и/или экзоэдралов Cs@C60.
4. Острийный полевой эмиттер по п. 1, отличающийся тем, что он содержит более одного острия, причем острия одинаковы по длине и радиусу вершины.
Figure 00000001
RU2014117341/07U 2014-04-29 2014-04-29 Острийный полевой эмиттер RU151235U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2014117341/07U RU151235U1 (ru) 2014-04-29 2014-04-29 Острийный полевой эмиттер

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2014117341/07U RU151235U1 (ru) 2014-04-29 2014-04-29 Острийный полевой эмиттер

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU151235U1 true RU151235U1 (ru) 2015-03-27

Family

ID=53293647

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2014117341/07U RU151235U1 (ru) 2014-04-29 2014-04-29 Острийный полевой эмиттер

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU151235U1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU205789U1 (ru) * 2020-12-18 2021-08-11 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Южный федеральный университет" Автоэмиссионная ячейка на основе наноразмерного углеродного материала

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU205789U1 (ru) * 2020-12-18 2021-08-11 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Южный федеральный университет" Автоэмиссионная ячейка на основе наноразмерного углеродного материала

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Xiang et al. Field-emission properties of TiO2 nanowire arrays
US9053890B2 (en) Nanostructure field emission cathode structure and method for making
Gröning et al. Field emission properties of nanocrystalline chemically vapor deposited-diamond films
Nilsson et al. Collective emission degradation behavior of carbon nanotube thin-film electron emitters
WO2017031004A1 (en) Electron source
JP5660564B2 (ja) 希土類六ホウ化物冷陰極電界放出型電子源
Wang et al. Field emission properties of zinc oxide nanowires fabricated by thermal evaporation
Mousa et al. Investigating of the field emission performance on nano-apex carbon fiber and tungsten tips
US6891324B2 (en) Carbon-metal nano-composite materials for field emission cathodes and devices
Park et al. X-ray images obtained from cold cathodes using carbon nanotubes coated with gallium-doped zinc oxide thin films
RU151235U1 (ru) Острийный полевой эмиттер
US20140099852A1 (en) Method for making field emission electron source
Gazzadi et al. Fabrication of 5 nm gap pillar electrodes by electron-beam Pt deposition
Neo et al. Field emission characteristics of a graphite nanoneedle cathode and its application to scanning electron microscopy
Schlesser et al. Energy distribution of field emitted electrons from carbon nanotubes
Al-Qudah et al. Relationship of the distribution thickness of dielectric layer on the nano-tip apex and distribution of emitted electrons
Mousa et al. Field Electron Emission Characteristics of Single-Walled Carbon Nanotube on Tungsten Blunt Tip
Ionov et al. Field electron emission from flat metal cathodes covered by thin polymer films
Egorov et al. Field Emission Cathodes
Uppireddi et al. Study of temporal current stability and fluctuations of field emitted electrons from ZnO nanostructure films
Stewart et al. Energy spectra of electrons field emitted from a broad area composite cathode of tantalum carbide
Sominski et al. Silicon field emitters with two-layer metal-fullerene coatings for diagnostic gyrotrons
Lyashenko et al. Limitation of the current from nanographite multiemitter field-emission cathodes
Hsu et al. Vertical thin-film-edge field emitters: fabrication by chemical beam deposition, imaging of cathodoluminescence and characterization of emission
Abu-Najm et al. Jordan Journal of Physics

Legal Events

Date Code Title Description
MM1K Utility model has become invalid (non-payment of fees)

Effective date: 20160430