RU127451U1 - Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала - Google Patents
Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала Download PDFInfo
- Publication number
- RU127451U1 RU127451U1 RU2012146385/28U RU2012146385U RU127451U1 RU 127451 U1 RU127451 U1 RU 127451U1 RU 2012146385/28 U RU2012146385/28 U RU 2012146385/28U RU 2012146385 U RU2012146385 U RU 2012146385U RU 127451 U1 RU127451 U1 RU 127451U1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- pcm
- raman
- sample
- possibility
- measuring
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
1. Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала (ПКМ), содержащий предметный столик с прецизионными направляющими для закрепления исследуемого образца ПКМ, подвергающегося нагрузке с возможностью его нагрева, измерительную аппаратуру и блок нагревателя, отличающийся тем, что добавлен спектрометр комбинационного рассеяния с возможностью измерения и компенсации изменчивости параметров в спектрометре и с возможностью одновременной с измерением деформаций исследуемого образца ПКМ диагностики его физико-химических свойств.2. Стенд по п.1, отличающийся тем, что спектрометр комбинационного рассеяния содержит источник монохроматического излучения, средство, выполненное с возможностью одновременного взаимодействия излучения с исследуемым образцом ПКМ в нагруженном состоянии и эталонным образцом ПКМ без нагрузки, средство для получения спектров комбинационного рассеяния образцов ПКМ на одной длине волны, а также компьютерное средство определения функции свертки указанных спектров, выполненное с возможностью использования функции свертки для корректировки спектра комбинационного рассеяния исследуемого образца ПКМ для получения нормированного спектра комбинационного рассеяния исследуемого образца ПКМ.
Description
Полезная модель относится к измерительной технике, в частности к средствам измерения деформаций полимерных композиционных материалов (ПКМ) и диагностики их физико-химических характеристик при их испытаниях на прочность.
Известно устройство для измерения деформаций конструкций из композиционных материалов при повышенных температурах, принятое за прототип (патент РФ №2149352, МПК G01B 7/16, опубл. 20.05.2000), содержащее упругую подложку (предметный столик), узлы крепления (зажимы), съемную монтажную рамку (прецизионные направляющие), измерительную аппаратуру и нагреватель.
Недостатком устройства является его невозможность одновременного осуществления исследований напряженно-деформированного состояния ПКМ при механическом воздействии и диагностики физико-химических свойств этого ПКМ.
Задачей предлагаемой полезной модели является расширение функциональных возможностей устройства в части одновременного исследования и установления взаимосвязи физико-химических свойств ПКМ с параметрами микроструктуры и напряженно-деформированного состояния ПКМ при механическом воздействии.
Технический результат достигается за счет встраивания в конструктивную схему стенда измерения механических деформаций ПКМ дополнительного спектрометра комбинационного рассеяния (или как принято называть за рубежом: рамановского спектрометра). Стенд для измерения деформаций от механических воздействий на ПКМ и диагностики их физико-химических свойств содержит предметный столик с прецизионными направляющими для закрепления исследуемого образца ПКМ, подвергающегося нагрузке с возможностью нагрева образца, измерительную аппаратуру и блок нагревателя. При этом в стенд добавлен спектрометр комбинационного рассеяния с возможностью измерения и компенсации изменчивости параметров в спектрометре и с возможностью одновременной с измерением деформаций исследуемого образца ПКМ диагностики его физико-химических свойств.
Спектрометр комбинационного рассеяния содержит источник монохроматического излучения, средство, выполненное с возможностью одновременного взаимодействия излучения с исследуемым образцом ПКМ в нагруженном состоянии и эталонным образцом ПКМ без нагрузки, средство для получения спектров комбинационного рассеяния образцов ПКМ на одной длине волны, а также компьютерное средство определения функции свертки указанных спектров, выполненное с возможностью использования функции свертки для корректировки спектра комбинационного рассеяния исследуемого образца ПКМ для получения нормированного спектра комбинационного рассеяния исследуемого образца ПКМ.
На фиг.1 представлена схема предлагаемого стенда.
В состав стенда (фиг.1) включен предметный столик (2), на котором закреплены прецизионные направляющие (3), являющиеся устройствами приведения в движение зажимов (10) исследуемого образца ПКМ на сжатие или растяжение соответственно. Исследуемый образец ПКМ (1) жестко закреплен зажимами (10) к направляющим (3), приводимым в движение силовым актуатором (9) (устройство приложения механического нагружения) через рычаг-шайбу (5) и промежуточный шкив (4). В состав стенда также включены: устройство измерения деформации (6) исследуемого образца ПКМ в результате нагружения, спектрометр комбинационного рассеяния (7), снимающий спектр с образцов ПКМ (1) в нагруженном (исследуемый образец) и ненагруженном (эталонный образец) состояниях при заданной температуре от нагревателя (8). Исследуемый образец ПКМ подвергают нагрузке в результате воздействия устройства приложения (актуатор) и измерения силы нагружения (9), имеющее в своем составе двигатель, создающий нагрузку, и динамометр, измеряющий величину нагрузки.
В состав спектрометра комбинационного рассеяния (7) включены: многомодовый диодный лазер, средство для расщепления излучения по меньшей мере на два луча - волоконно-оптический сплавленный расщепитель луча, включающий призму или полупосеребренное зеркало; средство, выполненное с возможностью одновременного взаимодействия излучения с образцом ПКМ, содержащее оптическую систему хода луча с окнами или ячейками, фильтрами, линзами и иными оптическими элементами, формирующими сфокусированный поток излучения на образец ПКМ (1) в условиях нагружения (исследуемый образец ПКМ) и без нагружения (эталонный образец ПКМ), по меньшей мере один возбуждаемый волоконно-оптический световод, фильтры для уменьшения помехового излучения, спектрограф с интерфейсом в сочетании с многоканальным матричным детектором, включающим фотодиодную матрицу, усилительную фотодиодную матрицу, прибор с зарядовой связью, фотографическую пленку, интерферометр или дисперсионный спектрометр в сочетании с подвижной маской, содержащей ряд щелей; компьютерное средство для определения функции свертки указанного спектра, выполненное с возможностью использования функции свертки для корректировки рамановского спектра образца ПКМ с возможностью получения нормированного рамановского спектра образца ПКМ.
Предлагаемый стенд работает следующим образом.
На предметном столике закреплены прецизионные направляющие. Образец жестко закреплен зажимами к направляющим, которые приведены в движение силовым актуатором, прикладывающим нагружение через рычаг-шайбу и промежуточный шкив. Таким образом, образец ПКМ подвергают нагрузке (растяжению или сжатию) в результате воздействия устройства приложения и измерения силы нагружения, имеющего двигатель, создающий нагрузку, и динамометр, измеряющий величину нагрузки. Одновременно с приложенной к образцу ПКМ нагрузкой при заданной температуре нагревателя производят снятие спектра с поверхности нагруженного исследуемого образца ПКМ и эталонного образца ПКМ рамановским спектрометром комбинационного рассеяния, работающим следующим образом. Одномодовым диодным лазером, используя средство для фокусировки луча - оптическую систему, включающую призму или полупосеребренное зеркало, фильтры для уменьшения помехового излучения, производят облучение через оптические объективы образцов ПКМ с помощью источника монохроматического излучения и одновременно через собирающие оптические объективы, спектрограф с интерфейсом в сочетании с многоканальным матричным детектором, включающим фотодиодную матрицу, усилительную фотодиодную матрицу, прибор с зарядовой связью, фотографическую пленку, интерферометр или дисперсионный спектрометр в сочетании с подвижной маской, содержащей ряд щелей, получают рамановский спектр нагруженного исследуемого образца ПКМ и спектр эталонного образца ПКМ на одной длине волны. Затем осуществляют подбор нормированного спектра эталонного ПКМ и по рамановскому спектру нагруженного исследуемого образца ПКМ и спектру эталонного образца ПКМ определяют с помощью соответствующего компьютерного средства функцию свертки указанного спектра и используют эту функцию свертки для корректировки рамановского спектра исследуемого образца ПКМ для получения таким образом нормированного рамановского спектра исследуемого образца ПКМ для определения взаимосвязи физико-химических свойств ПКМ с параметрами микроструктуры и напряженно-деформированного состояния ПКМ при механическом воздействии с возможностью температурного нагрева.
Claims (2)
1. Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала (ПКМ), содержащий предметный столик с прецизионными направляющими для закрепления исследуемого образца ПКМ, подвергающегося нагрузке с возможностью его нагрева, измерительную аппаратуру и блок нагревателя, отличающийся тем, что добавлен спектрометр комбинационного рассеяния с возможностью измерения и компенсации изменчивости параметров в спектрометре и с возможностью одновременной с измерением деформаций исследуемого образца ПКМ диагностики его физико-химических свойств.
2. Стенд по п.1, отличающийся тем, что спектрометр комбинационного рассеяния содержит источник монохроматического излучения, средство, выполненное с возможностью одновременного взаимодействия излучения с исследуемым образцом ПКМ в нагруженном состоянии и эталонным образцом ПКМ без нагрузки, средство для получения спектров комбинационного рассеяния образцов ПКМ на одной длине волны, а также компьютерное средство определения функции свертки указанных спектров, выполненное с возможностью использования функции свертки для корректировки спектра комбинационного рассеяния исследуемого образца ПКМ для получения нормированного спектра комбинационного рассеяния исследуемого образца ПКМ.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2012146385/28U RU127451U1 (ru) | 2012-10-31 | 2012-10-31 | Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2012146385/28U RU127451U1 (ru) | 2012-10-31 | 2012-10-31 | Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU127451U1 true RU127451U1 (ru) | 2013-04-27 |
Family
ID=49154224
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2012146385/28U RU127451U1 (ru) | 2012-10-31 | 2012-10-31 | Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU127451U1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2692825C2 (ru) * | 2017-10-23 | 2019-06-28 | Ирлан Витальевич Шабельников | Способ спектрального лазерного сканирования композитных материалов в соответствии с оптической плотностью его матрикса и составных компонентов |
-
2012
- 2012-10-31 RU RU2012146385/28U patent/RU127451U1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2692825C2 (ru) * | 2017-10-23 | 2019-06-28 | Ирлан Витальевич Шабельников | Способ спектрального лазерного сканирования композитных материалов в соответствии с оптической плотностью его матрикса и составных компонентов |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Deneke et al. | An engineer's introduction to mechanophores | |
EP2799844A1 (en) | Method and apparatus for laser differential confocal spectrum microscopy | |
Wolleschensky et al. | Characterization and optimization of a laser-scanning microscope in the femtosecond regime. | |
CN108562547B (zh) | 激光晶体热应力双折射系数测量装置及其方法 | |
CN103487315A (zh) | 一种材料力学性能测试装置 | |
CN107192702B (zh) | 分光瞳激光共焦cars显微光谱测试方法及装置 | |
CN108827511B (zh) | 非晶体透明材料内应力的测量方法及测量装置 | |
WO2010102621A1 (en) | Optical probe for measuring light signals in vivo | |
US20160299080A1 (en) | Light Measuring Device and Light Measuring Method | |
CN105466769A (zh) | 杨氏模量测量仪 | |
CN106546334A (zh) | 空间自调焦激光共焦拉曼光谱探测方法与装置 | |
CN113960010A (zh) | 基于涡旋光束的暗场共聚焦拉曼偏振光谱测量装置与方法 | |
CN112485235B (zh) | 具备超快时间分辨光谱能力的透射电子显微镜样品杆系统和应用 | |
CN107167457A (zh) | 透射式共焦cars显微光谱测试方法及装置 | |
CN113970540A (zh) | 一种基于激光诱导等离子体的元素同位素分析系统及方法 | |
CN114544497B (zh) | 一种基于远场显微镜的高分子流变构象观测仪 | |
JP2018205069A (ja) | 光計測装置 | |
RU127451U1 (ru) | Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала | |
JPWO2016143084A1 (ja) | 光計測装置及び光計測方法 | |
CN112945927A (zh) | 一种原位高压共焦拉曼光谱测量系统 | |
Freihofer et al. | Optical stress probe: in-situ stress mapping with Raman and Photo-stimulated luminescence spectroscopy | |
CN210294066U (zh) | 一种用于获得痕量质量和分子结构信息的高通量探测装置 | |
CN114166760B (zh) | 一种基于微区瞬态光谱的载流子扩散系数测量装置与方法 | |
CN201222032Y (zh) | 基于z扫描的泵浦探测装置 | |
RU2506559C1 (ru) | Способ измерения жесткости оптического кабеля при низких температурах |