RU127451U1 - Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала - Google Patents

Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала Download PDF

Info

Publication number
RU127451U1
RU127451U1 RU2012146385/28U RU2012146385U RU127451U1 RU 127451 U1 RU127451 U1 RU 127451U1 RU 2012146385/28 U RU2012146385/28 U RU 2012146385/28U RU 2012146385 U RU2012146385 U RU 2012146385U RU 127451 U1 RU127451 U1 RU 127451U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
pcm
raman
sample
possibility
measuring
Prior art date
Application number
RU2012146385/28U
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Александрович Нелюб
Иван Андреевич Буянов
Алексей Сергеевич Бородулин
Илья Владимирович Чуднов
Юрий Михайлович Миронов
Николай Михайлович Скобелев
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана" (МГТУ им. Н.Э. Баумана)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана" (МГТУ им. Н.Э. Баумана) filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана" (МГТУ им. Н.Э. Баумана)
Priority to RU2012146385/28U priority Critical patent/RU127451U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU127451U1 publication Critical patent/RU127451U1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

1. Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала (ПКМ), содержащий предметный столик с прецизионными направляющими для закрепления исследуемого образца ПКМ, подвергающегося нагрузке с возможностью его нагрева, измерительную аппаратуру и блок нагревателя, отличающийся тем, что добавлен спектрометр комбинационного рассеяния с возможностью измерения и компенсации изменчивости параметров в спектрометре и с возможностью одновременной с измерением деформаций исследуемого образца ПКМ диагностики его физико-химических свойств.2. Стенд по п.1, отличающийся тем, что спектрометр комбинационного рассеяния содержит источник монохроматического излучения, средство, выполненное с возможностью одновременного взаимодействия излучения с исследуемым образцом ПКМ в нагруженном состоянии и эталонным образцом ПКМ без нагрузки, средство для получения спектров комбинационного рассеяния образцов ПКМ на одной длине волны, а также компьютерное средство определения функции свертки указанных спектров, выполненное с возможностью использования функции свертки для корректировки спектра комбинационного рассеяния исследуемого образца ПКМ для получения нормированного спектра комбинационного рассеяния исследуемого образца ПКМ.

Description

Полезная модель относится к измерительной технике, в частности к средствам измерения деформаций полимерных композиционных материалов (ПКМ) и диагностики их физико-химических характеристик при их испытаниях на прочность.
Известно устройство для измерения деформаций конструкций из композиционных материалов при повышенных температурах, принятое за прототип (патент РФ №2149352, МПК G01B 7/16, опубл. 20.05.2000), содержащее упругую подложку (предметный столик), узлы крепления (зажимы), съемную монтажную рамку (прецизионные направляющие), измерительную аппаратуру и нагреватель.
Недостатком устройства является его невозможность одновременного осуществления исследований напряженно-деформированного состояния ПКМ при механическом воздействии и диагностики физико-химических свойств этого ПКМ.
Задачей предлагаемой полезной модели является расширение функциональных возможностей устройства в части одновременного исследования и установления взаимосвязи физико-химических свойств ПКМ с параметрами микроструктуры и напряженно-деформированного состояния ПКМ при механическом воздействии.
Технический результат достигается за счет встраивания в конструктивную схему стенда измерения механических деформаций ПКМ дополнительного спектрометра комбинационного рассеяния (или как принято называть за рубежом: рамановского спектрометра). Стенд для измерения деформаций от механических воздействий на ПКМ и диагностики их физико-химических свойств содержит предметный столик с прецизионными направляющими для закрепления исследуемого образца ПКМ, подвергающегося нагрузке с возможностью нагрева образца, измерительную аппаратуру и блок нагревателя. При этом в стенд добавлен спектрометр комбинационного рассеяния с возможностью измерения и компенсации изменчивости параметров в спектрометре и с возможностью одновременной с измерением деформаций исследуемого образца ПКМ диагностики его физико-химических свойств.
Спектрометр комбинационного рассеяния содержит источник монохроматического излучения, средство, выполненное с возможностью одновременного взаимодействия излучения с исследуемым образцом ПКМ в нагруженном состоянии и эталонным образцом ПКМ без нагрузки, средство для получения спектров комбинационного рассеяния образцов ПКМ на одной длине волны, а также компьютерное средство определения функции свертки указанных спектров, выполненное с возможностью использования функции свертки для корректировки спектра комбинационного рассеяния исследуемого образца ПКМ для получения нормированного спектра комбинационного рассеяния исследуемого образца ПКМ.
На фиг.1 представлена схема предлагаемого стенда.
В состав стенда (фиг.1) включен предметный столик (2), на котором закреплены прецизионные направляющие (3), являющиеся устройствами приведения в движение зажимов (10) исследуемого образца ПКМ на сжатие или растяжение соответственно. Исследуемый образец ПКМ (1) жестко закреплен зажимами (10) к направляющим (3), приводимым в движение силовым актуатором (9) (устройство приложения механического нагружения) через рычаг-шайбу (5) и промежуточный шкив (4). В состав стенда также включены: устройство измерения деформации (6) исследуемого образца ПКМ в результате нагружения, спектрометр комбинационного рассеяния (7), снимающий спектр с образцов ПКМ (1) в нагруженном (исследуемый образец) и ненагруженном (эталонный образец) состояниях при заданной температуре от нагревателя (8). Исследуемый образец ПКМ подвергают нагрузке в результате воздействия устройства приложения (актуатор) и измерения силы нагружения (9), имеющее в своем составе двигатель, создающий нагрузку, и динамометр, измеряющий величину нагрузки.
В состав спектрометра комбинационного рассеяния (7) включены: многомодовый диодный лазер, средство для расщепления излучения по меньшей мере на два луча - волоконно-оптический сплавленный расщепитель луча, включающий призму или полупосеребренное зеркало; средство, выполненное с возможностью одновременного взаимодействия излучения с образцом ПКМ, содержащее оптическую систему хода луча с окнами или ячейками, фильтрами, линзами и иными оптическими элементами, формирующими сфокусированный поток излучения на образец ПКМ (1) в условиях нагружения (исследуемый образец ПКМ) и без нагружения (эталонный образец ПКМ), по меньшей мере один возбуждаемый волоконно-оптический световод, фильтры для уменьшения помехового излучения, спектрограф с интерфейсом в сочетании с многоканальным матричным детектором, включающим фотодиодную матрицу, усилительную фотодиодную матрицу, прибор с зарядовой связью, фотографическую пленку, интерферометр или дисперсионный спектрометр в сочетании с подвижной маской, содержащей ряд щелей; компьютерное средство для определения функции свертки указанного спектра, выполненное с возможностью использования функции свертки для корректировки рамановского спектра образца ПКМ с возможностью получения нормированного рамановского спектра образца ПКМ.
Предлагаемый стенд работает следующим образом.
На предметном столике закреплены прецизионные направляющие. Образец жестко закреплен зажимами к направляющим, которые приведены в движение силовым актуатором, прикладывающим нагружение через рычаг-шайбу и промежуточный шкив. Таким образом, образец ПКМ подвергают нагрузке (растяжению или сжатию) в результате воздействия устройства приложения и измерения силы нагружения, имеющего двигатель, создающий нагрузку, и динамометр, измеряющий величину нагрузки. Одновременно с приложенной к образцу ПКМ нагрузкой при заданной температуре нагревателя производят снятие спектра с поверхности нагруженного исследуемого образца ПКМ и эталонного образца ПКМ рамановским спектрометром комбинационного рассеяния, работающим следующим образом. Одномодовым диодным лазером, используя средство для фокусировки луча - оптическую систему, включающую призму или полупосеребренное зеркало, фильтры для уменьшения помехового излучения, производят облучение через оптические объективы образцов ПКМ с помощью источника монохроматического излучения и одновременно через собирающие оптические объективы, спектрограф с интерфейсом в сочетании с многоканальным матричным детектором, включающим фотодиодную матрицу, усилительную фотодиодную матрицу, прибор с зарядовой связью, фотографическую пленку, интерферометр или дисперсионный спектрометр в сочетании с подвижной маской, содержащей ряд щелей, получают рамановский спектр нагруженного исследуемого образца ПКМ и спектр эталонного образца ПКМ на одной длине волны. Затем осуществляют подбор нормированного спектра эталонного ПКМ и по рамановскому спектру нагруженного исследуемого образца ПКМ и спектру эталонного образца ПКМ определяют с помощью соответствующего компьютерного средства функцию свертки указанного спектра и используют эту функцию свертки для корректировки рамановского спектра исследуемого образца ПКМ для получения таким образом нормированного рамановского спектра исследуемого образца ПКМ для определения взаимосвязи физико-химических свойств ПКМ с параметрами микроструктуры и напряженно-деформированного состояния ПКМ при механическом воздействии с возможностью температурного нагрева.

Claims (2)

1. Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала (ПКМ), содержащий предметный столик с прецизионными направляющими для закрепления исследуемого образца ПКМ, подвергающегося нагрузке с возможностью его нагрева, измерительную аппаратуру и блок нагревателя, отличающийся тем, что добавлен спектрометр комбинационного рассеяния с возможностью измерения и компенсации изменчивости параметров в спектрометре и с возможностью одновременной с измерением деформаций исследуемого образца ПКМ диагностики его физико-химических свойств.
2. Стенд по п.1, отличающийся тем, что спектрометр комбинационного рассеяния содержит источник монохроматического излучения, средство, выполненное с возможностью одновременного взаимодействия излучения с исследуемым образцом ПКМ в нагруженном состоянии и эталонным образцом ПКМ без нагрузки, средство для получения спектров комбинационного рассеяния образцов ПКМ на одной длине волны, а также компьютерное средство определения функции свертки указанных спектров, выполненное с возможностью использования функции свертки для корректировки спектра комбинационного рассеяния исследуемого образца ПКМ для получения нормированного спектра комбинационного рассеяния исследуемого образца ПКМ.
Figure 00000001
RU2012146385/28U 2012-10-31 2012-10-31 Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала RU127451U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012146385/28U RU127451U1 (ru) 2012-10-31 2012-10-31 Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012146385/28U RU127451U1 (ru) 2012-10-31 2012-10-31 Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU127451U1 true RU127451U1 (ru) 2013-04-27

Family

ID=49154224

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012146385/28U RU127451U1 (ru) 2012-10-31 2012-10-31 Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU127451U1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2692825C2 (ru) * 2017-10-23 2019-06-28 Ирлан Витальевич Шабельников Способ спектрального лазерного сканирования композитных материалов в соответствии с оптической плотностью его матрикса и составных компонентов

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2692825C2 (ru) * 2017-10-23 2019-06-28 Ирлан Витальевич Шабельников Способ спектрального лазерного сканирования композитных материалов в соответствии с оптической плотностью его матрикса и составных компонентов

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Deneke et al. An engineer's introduction to mechanophores
EP2799844A1 (en) Method and apparatus for laser differential confocal spectrum microscopy
Wolleschensky et al. Characterization and optimization of a laser-scanning microscope in the femtosecond regime.
CN108562547B (zh) 激光晶体热应力双折射系数测量装置及其方法
CN103487315A (zh) 一种材料力学性能测试装置
CN107192702B (zh) 分光瞳激光共焦cars显微光谱测试方法及装置
CN108827511B (zh) 非晶体透明材料内应力的测量方法及测量装置
WO2010102621A1 (en) Optical probe for measuring light signals in vivo
US20160299080A1 (en) Light Measuring Device and Light Measuring Method
CN105466769A (zh) 杨氏模量测量仪
CN106546334A (zh) 空间自调焦激光共焦拉曼光谱探测方法与装置
CN113960010A (zh) 基于涡旋光束的暗场共聚焦拉曼偏振光谱测量装置与方法
CN112485235B (zh) 具备超快时间分辨光谱能力的透射电子显微镜样品杆系统和应用
CN107167457A (zh) 透射式共焦cars显微光谱测试方法及装置
CN113970540A (zh) 一种基于激光诱导等离子体的元素同位素分析系统及方法
CN114544497B (zh) 一种基于远场显微镜的高分子流变构象观测仪
JP2018205069A (ja) 光計測装置
RU127451U1 (ru) Стенд для измерения деформаций и структуры полимерного композиционного материала
JPWO2016143084A1 (ja) 光計測装置及び光計測方法
CN112945927A (zh) 一种原位高压共焦拉曼光谱测量系统
Freihofer et al. Optical stress probe: in-situ stress mapping with Raman and Photo-stimulated luminescence spectroscopy
CN210294066U (zh) 一种用于获得痕量质量和分子结构信息的高通量探测装置
CN114166760B (zh) 一种基于微区瞬态光谱的载流子扩散系数测量装置与方法
CN201222032Y (zh) 基于z扫描的泵浦探测装置
RU2506559C1 (ru) Способ измерения жесткости оптического кабеля при низких температурах