Centrul De Cercetare Stiintifica Si Inginerie Tehnologica Pentru Semiconductoare
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Centrul De Cercetare Stiintifica Si Inginerie Tehnologica Pentru SemiconductoarefiledCriticalCentrul De Cercetare Stiintifica Si Inginerie Tehnologica Pentru Semiconductoare
Priority to RO107051ApriorityCriticalpatent/RO81736B1/ro
Publication of RO81736B1publicationCriticalpatent/RO81736B1/ro
Testing Of Individual Semiconductor Devices
(AREA)
Abstract
Inventia se refera la un bloc electronic destinat a fi încorporat în echipamente automate de testare (testere) în scopul masurarii caracteristicilor de curent continuu ale dispozitivelor semiconductoare. Sursa bipolara cu limitare automata în curentsi tensiune la valori programabile este destinata echipamentelor de testare automata a componentelor semiconductoare si se compune din: un bloc tampon de tensiune si curent care amplifica semnalul de referinta pentru limita de tensiune, un grup de diode legate în serie care sunt deschise când sursa functioneaza în regim de tensiune constanta, un amplificator a carui intrare neinversoare este conectata printr-o rezistenta la tensiunea de referinta pentru limita de tensiune si printr-o rezistentadereactie la iesirea blocului tampon, un amplificator a carui intrare neinversoare se leaga printr-o rezistenta la tensiunea de referinta pentru limita de curent si printr-o alta rezistenta la un semnal...
RO107051A1982-03-261982-03-26SURSA BIPOLARA CU LIMITARE AUTOMATA îN CURENT SI TENSIUNE LA VALORI PROGRAMABILE
RO81736B1
(ro)