PL97878B2 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL97878B2 PL97878B2 PL185683A PL18568375A PL97878B2 PL 97878 B2 PL97878 B2 PL 97878B2 PL 185683 A PL185683 A PL 185683A PL 18568375 A PL18568375 A PL 18568375A PL 97878 B2 PL97878 B2 PL 97878B2
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- tube
- light
- quartz
- light image
- diameter
- Prior art date
Links
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru srednicy rur kwarcowych, zwlaszcza podczas procesu technologicznego wytwarzania rur kwarcowych.Stan techniki. Znany jest sposób pomiaru srednicy rur kwarcowych, w którym wykorzystano zjawisko, polegajace na tym, ze przy oswietleniu bocznym rury kwarcowej za pomoca swiatla laserowego nastepuje jarzenie rury w miejscu padania wiazki swiatla laserowego i wypromieniowanie swietlnego obrazu rury w postaci prazków swietlnych, uformowanych w ksztalcie okragów lub elips. Tak otrzymany swietlny obraz rury kwarcowej jest obserwowany po rzutowaniu jego na ekran. Wymiary obrazu swietlnego rzutowanego na ekran umieszczony na przeciw lasera oswietlajacego mierzone sa za pomoca przymiaru liniowego. Pomiedzy rzeczywis¬ tym wymiarem srednicy i wymiarem srednicy obrazu swietlnego istnieje proporcjonalnosc. Dlatego tez dla okreslonego ustawienia lasera oswietlajacego rure kwarcowa i plaszczyzny, na której obserwuje sie i mierzy obraz swietlny rury kwarcowej, wykonywany jest pomiar rury wzorcowej w celu wyskalowania ukladu przyrzadów.Istota wynalazku. Sposób pomiaru srednicy rur kwarcowych zgodnie z wynalazkiem, polega na tym, ze obraz swietlny rury rzutuje sie na swietlne detektory pozycyjne, które uprzednio umieszcza sie w miejscu prazków swietlnych, uzyskanych dla rury wzorcowej. Natomiast sygnaly elektryczne ze swietlnych detektorów pozycyjnych doprowadza sie do urzadzenia sterujacego procesem wytwarzania kwarcowych rur poprzez ich wyciaganie na goraco.Korzystne skutki techniczne wynalazku. Sposób pomiaru srednicy kwarcowych rur za pomoca pozycyj¬ nych detektorów swietlnych, zapewnia duza dokladnosc oraz to, ze wykonywany jest w czasie wytwarzania rury kwarcowej przez jej wyciaganie na goraco ze stopionego kwarcu, co umozliwia sterowanie procesem produkcyj¬ nym.Objasnienie rysunku. Przyklad stosowania sposobu jest blizej objasniony w oparciu o rysunek, pozwalajacy lepiej zrozumiec proces jego stosowania, przedstawiajacy na fig. 1 schematycznie w rzucie perspektywicznym oswietlenie rury kwarcowej wiazka swiatla laserowego i tworzenie sie swietlnego obrazu rury, zas na fig. 2 uklad do pomiaru srednicy rur kwarcowych realizujacy sposób wedlug wynalazku.2 97 878 Jak uwidoczniono na fig. 1 i fig. 2 rysunku, rure 1 kwarcowa oswietla sie za pomoca wiazki 2 swiatla laserowego. W miejscu oswietlenia 3 rury 1 kwarcowej nastepuje jarzenie w wyniku czego powstaje obraz 4 swietlny rury, którego wymiary mierzy sie za pomoca swietlnych detektorów Dx i D2 pozycyjnych. swietlny obraz 4 rury 1 rzutuje sie na swietlne detektory Di i D2, które umieszcza sie wzdluz osi X, na której umieszczona jest srednica obrazu 4 swietlnego. Sygnaly elektryczne lt i I2 z detektorów Di i D2 sa proporcjonalne do wspólrzednych Xi i X2 obrazu 4 swietlnego rury 1. nastepnie napiecie Uwy wyjsciowe pro¬ porcjonalne do srednicy 2R obrazu 4 swietlnego rury 1 odczytuje sie na woltomierzu dolaczonym do wyjscia u- kladu 5 róznicowego. PL
Claims (2)
- Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru srednicy rur kwarcowych zwlaszcza podczas procesu technologicznego wytwarzania rur kwarcowych, w którym rure kwarcowa oswietla sie wiazka swiatla laserowego, zas powstaly obraz swietlny rury wypromieniowuje sie w postaci okragów lub elips, znamienny tym, ze obraz (4) swietlny rury rzutuje na swietlne detektory (Di iD2) pozycyjne, które uprzednio umieszcza sie w miejscu prazków swietlnych, uzyskanych dla rury wzorcowej.
- 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze sygnaly elektryczne (Ii il2) ze swietlnych detektorów (Dy iD2) pozycyjnych doprowadza sie do urzadzenia sterujacego procesem wytwarzania kwarco¬ wych rur poprzez ich wyciaganie na goraco. fig- 1 fig. 2 Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 45 zl PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL18568375A PL97878B1 (pl) | 1975-12-18 | 1975-12-18 | Sposob pomiaru srednicy rur kwarcowych |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL18568375A PL97878B1 (pl) | 1975-12-18 | 1975-12-18 | Sposob pomiaru srednicy rur kwarcowych |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL97878B1 PL97878B1 (pl) | 1978-03-30 |
| PL97878B2 true PL97878B2 (pl) | 1978-03-31 |
Family
ID=19974781
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL18568375A PL97878B1 (pl) | 1975-12-18 | 1975-12-18 | Sposob pomiaru srednicy rur kwarcowych |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL97878B1 (pl) |
-
1975
- 1975-12-18 PL PL18568375A patent/PL97878B1/pl unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ATE41055T1 (de) | Apparat zum messen einer dicke. | |
| DE3687029D1 (de) | Optische messapparate. | |
| GB2021260A (en) | Optical gauging of cross- sectional dimensions | |
| ES2021389B3 (es) | Dispositivo y procedimiento para la produccion de un rayo de luz telecentrico y procedimiento para la fabricacion de un elemento holografico | |
| UST102104I4 (en) | Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices | |
| PL97878B2 (pl) | ||
| JPS57104803A (en) | Displacement measuring apparatus | |
| Lalanne | Determination of pK of phenolphthalein and its discoloration rate | |
| US2043053A (en) | Quantitative spectroscopic analysis and apparatus therefor | |
| US3022578A (en) | Discontinuity depth gauge | |
| JPS55154402A (en) | Shape measuring apparatus | |
| JPH0835801A (ja) | エルボ寸法測定用治具 | |
| JPS5587004A (en) | Surface-property measuring method | |
| SU712645A1 (ru) | Устройство дл контрол толщины стравливаемого сло металла при получении деталей клиновидной формы | |
| SU861936A1 (ru) | Способ измерени поперечных размеров и глубины щели в объектах | |
| RU1369496C (ru) | Способ определения механических свойств | |
| Klug | Accurate Measurement of X-Ray Diffraction Films | |
| US2905046A (en) | Apparatus for determining the optical density of sheet materials, and particularly for indicating the photometric curve of x-ray photographs and other images | |
| SU1226349A1 (ru) | Устройство дл определени положени фазового центра облучател | |
| SU1379615A1 (ru) | Устройство дл измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали | |
| SU615359A1 (ru) | Способ измерени пр молинейности и плоскостности объекта | |
| FR2307255A1 (fr) | Source de rayonnement de reference pour dispositif de mesure du rayonnement d'un objet | |
| RU2017083C1 (ru) | Оптический центратор для рентгеновского аппарата | |
| SU647556A1 (ru) | Устройство дл оценки чистоты поверхности штырей-калибров | |
| JPS5323657A (en) | High precision length measurilng system o f filament materials |