PL97878B2 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL97878B2
PL97878B2 PL185683A PL18568375A PL97878B2 PL 97878 B2 PL97878 B2 PL 97878B2 PL 185683 A PL185683 A PL 185683A PL 18568375 A PL18568375 A PL 18568375A PL 97878 B2 PL97878 B2 PL 97878B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
tube
light
quartz
light image
diameter
Prior art date
Application number
PL185683A
Other languages
English (en)
Other versions
PL97878B1 (pl
Inventor
Gronowska Irena
Madejczyk Barbara
Original Assignee
Politechnika Warszawska
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Warszawska filed Critical Politechnika Warszawska
Priority to PL18568375A priority Critical patent/PL97878B1/pl
Priority claimed from PL18568375A external-priority patent/PL97878B1/pl
Publication of PL97878B1 publication Critical patent/PL97878B1/pl
Publication of PL97878B2 publication Critical patent/PL97878B2/pl

Links

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru srednicy rur kwarcowych, zwlaszcza podczas procesu technologicznego wytwarzania rur kwarcowych.Stan techniki. Znany jest sposób pomiaru srednicy rur kwarcowych, w którym wykorzystano zjawisko, polegajace na tym, ze przy oswietleniu bocznym rury kwarcowej za pomoca swiatla laserowego nastepuje jarzenie rury w miejscu padania wiazki swiatla laserowego i wypromieniowanie swietlnego obrazu rury w postaci prazków swietlnych, uformowanych w ksztalcie okragów lub elips. Tak otrzymany swietlny obraz rury kwarcowej jest obserwowany po rzutowaniu jego na ekran. Wymiary obrazu swietlnego rzutowanego na ekran umieszczony na przeciw lasera oswietlajacego mierzone sa za pomoca przymiaru liniowego. Pomiedzy rzeczywis¬ tym wymiarem srednicy i wymiarem srednicy obrazu swietlnego istnieje proporcjonalnosc. Dlatego tez dla okreslonego ustawienia lasera oswietlajacego rure kwarcowa i plaszczyzny, na której obserwuje sie i mierzy obraz swietlny rury kwarcowej, wykonywany jest pomiar rury wzorcowej w celu wyskalowania ukladu przyrzadów.Istota wynalazku. Sposób pomiaru srednicy rur kwarcowych zgodnie z wynalazkiem, polega na tym, ze obraz swietlny rury rzutuje sie na swietlne detektory pozycyjne, które uprzednio umieszcza sie w miejscu prazków swietlnych, uzyskanych dla rury wzorcowej. Natomiast sygnaly elektryczne ze swietlnych detektorów pozycyjnych doprowadza sie do urzadzenia sterujacego procesem wytwarzania kwarcowych rur poprzez ich wyciaganie na goraco.Korzystne skutki techniczne wynalazku. Sposób pomiaru srednicy kwarcowych rur za pomoca pozycyj¬ nych detektorów swietlnych, zapewnia duza dokladnosc oraz to, ze wykonywany jest w czasie wytwarzania rury kwarcowej przez jej wyciaganie na goraco ze stopionego kwarcu, co umozliwia sterowanie procesem produkcyj¬ nym.Objasnienie rysunku. Przyklad stosowania sposobu jest blizej objasniony w oparciu o rysunek, pozwalajacy lepiej zrozumiec proces jego stosowania, przedstawiajacy na fig. 1 schematycznie w rzucie perspektywicznym oswietlenie rury kwarcowej wiazka swiatla laserowego i tworzenie sie swietlnego obrazu rury, zas na fig. 2 uklad do pomiaru srednicy rur kwarcowych realizujacy sposób wedlug wynalazku.2 97 878 Jak uwidoczniono na fig. 1 i fig. 2 rysunku, rure 1 kwarcowa oswietla sie za pomoca wiazki 2 swiatla laserowego. W miejscu oswietlenia 3 rury 1 kwarcowej nastepuje jarzenie w wyniku czego powstaje obraz 4 swietlny rury, którego wymiary mierzy sie za pomoca swietlnych detektorów Dx i D2 pozycyjnych. swietlny obraz 4 rury 1 rzutuje sie na swietlne detektory Di i D2, które umieszcza sie wzdluz osi X, na której umieszczona jest srednica obrazu 4 swietlnego. Sygnaly elektryczne lt i I2 z detektorów Di i D2 sa proporcjonalne do wspólrzednych Xi i X2 obrazu 4 swietlnego rury 1. nastepnie napiecie Uwy wyjsciowe pro¬ porcjonalne do srednicy 2R obrazu 4 swietlnego rury 1 odczytuje sie na woltomierzu dolaczonym do wyjscia u- kladu 5 róznicowego. PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru srednicy rur kwarcowych zwlaszcza podczas procesu technologicznego wytwarzania rur kwarcowych, w którym rure kwarcowa oswietla sie wiazka swiatla laserowego, zas powstaly obraz swietlny rury wypromieniowuje sie w postaci okragów lub elips, znamienny tym, ze obraz (4) swietlny rury rzutuje na swietlne detektory (Di iD2) pozycyjne, które uprzednio umieszcza sie w miejscu prazków swietlnych, uzyskanych dla rury wzorcowej.
  2. 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze sygnaly elektryczne (Ii il2) ze swietlnych detektorów (Dy iD2) pozycyjnych doprowadza sie do urzadzenia sterujacego procesem wytwarzania kwarco¬ wych rur poprzez ich wyciaganie na goraco. fig- 1 fig. 2 Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 45 zl PL
PL18568375A 1975-12-18 1975-12-18 Sposob pomiaru srednicy rur kwarcowych PL97878B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL18568375A PL97878B1 (pl) 1975-12-18 1975-12-18 Sposob pomiaru srednicy rur kwarcowych

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL18568375A PL97878B1 (pl) 1975-12-18 1975-12-18 Sposob pomiaru srednicy rur kwarcowych

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL97878B1 PL97878B1 (pl) 1978-03-30
PL97878B2 true PL97878B2 (pl) 1978-03-31

Family

ID=19974781

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL18568375A PL97878B1 (pl) 1975-12-18 1975-12-18 Sposob pomiaru srednicy rur kwarcowych

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL97878B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE41055T1 (de) Apparat zum messen einer dicke.
DE3687029D1 (de) Optische messapparate.
GB2021260A (en) Optical gauging of cross- sectional dimensions
ES2021389B3 (es) Dispositivo y procedimiento para la produccion de un rayo de luz telecentrico y procedimiento para la fabricacion de un elemento holografico
UST102104I4 (en) Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices
PL97878B2 (pl)
JPS57104803A (en) Displacement measuring apparatus
Lalanne Determination of pK of phenolphthalein and its discoloration rate
US2043053A (en) Quantitative spectroscopic analysis and apparatus therefor
US3022578A (en) Discontinuity depth gauge
JPS55154402A (en) Shape measuring apparatus
JPH0835801A (ja) エルボ寸法測定用治具
JPS5587004A (en) Surface-property measuring method
SU712645A1 (ru) Устройство дл контрол толщины стравливаемого сло металла при получении деталей клиновидной формы
SU861936A1 (ru) Способ измерени поперечных размеров и глубины щели в объектах
RU1369496C (ru) Способ определения механических свойств
Klug Accurate Measurement of X-Ray Diffraction Films
US2905046A (en) Apparatus for determining the optical density of sheet materials, and particularly for indicating the photometric curve of x-ray photographs and other images
SU1226349A1 (ru) Устройство дл определени положени фазового центра облучател
SU1379615A1 (ru) Устройство дл измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали
SU615359A1 (ru) Способ измерени пр молинейности и плоскостности объекта
FR2307255A1 (fr) Source de rayonnement de reference pour dispositif de mesure du rayonnement d'un objet
RU2017083C1 (ru) Оптический центратор для рентгеновского аппарата
SU647556A1 (ru) Устройство дл оценки чистоты поверхности штырей-калибров
JPS5323657A (en) High precision length measurilng system o f filament materials