PL96367B1 - Uklad elektroniczny do synchronicznych zmian czulosci defektoskopu ultradzwiekowego - Google Patents

Uklad elektroniczny do synchronicznych zmian czulosci defektoskopu ultradzwiekowego Download PDF

Info

Publication number
PL96367B1
PL96367B1 PL17684474A PL17684474A PL96367B1 PL 96367 B1 PL96367 B1 PL 96367B1 PL 17684474 A PL17684474 A PL 17684474A PL 17684474 A PL17684474 A PL 17684474A PL 96367 B1 PL96367 B1 PL 96367B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
defectoscope
sensitivity
defect
electronic system
transistor
Prior art date
Application number
PL17684474A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL17684474A priority Critical patent/PL96367B1/pl
Publication of PL96367B1 publication Critical patent/PL96367B1/pl

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest uklad elektroniczny do synchronicznych zmian czulosci defektoskopu.Wynalazek dotyczy urzadzenia do nieniszczacego badania, zwlaszcza rur, metoda ultradzwiekowa.Znane sa defektoskopy ultradzwiekowe pracujace w urzadzeniach do ciaglego badania rur, lecz posiadaja one najczesciej jednakowa czulosc w calym obszarze badania. Preetworniki ultradzwiekowe, wspólpracujace z tymi defektoskopami wykazuja wyrazna róznice czulosci w wykrywaniu wad . na powierzchni wewnetrznej i zewnetrznej rury. Wielkosc tej róznicy zalezna jest od jakosci i konstrukcji samego przetwornika, od jego nastawienia oraz od geometrii rury. Oznacza to, ze przy tej samej czulosci defektoskopu oba rodzaje wad nie sa w jednakowy sposób oceniane, a co za tym idzie samo badanie moze nie byc w pelni obiektywne, zwlaszcza gdy róznica czulosci przetwornika ultradzwiekowego w wykrywaniu wad na powierzchni wewnetrznej i zewnetrznej jest zbyt wielka.Uklad logiczny oceniajacy wade rzeczywista za kryterium oceny przyjmuje amplitude sygnalu wady, która to amplituda zalezy nie tylko od wielkosci wady, ale równiez od czulosci przetwornika w wykrywaniu danego rodzaju wady. Zasada przy nastawianiu czulosci defektoskopu (wedlug wzorca) jest, aby rodzaj wady,dla której czulosc przetwornika ultradzwiekowego jest mniejsza, byl pewnie wychwytywany, skad dla wady drugiego rodzaju czulosci defektoskopu jest duza i szereg sygnalów od wad dopuszczalnych jest traktowana jako wady rzeczywiste.Znane sa równiez uklady do synchronicznej zmiany wzmocnienia wzmacniacza defektoskopu ultradzwiekowego, w którym impuls synchronizujacy generator rozciagu synchronizujejednoczesnie specjalny uklad generujacy lub formujacy napiecie o odpowiednim przebiegu, podawane najeden lub kilka stopni wielkiej czestotliwosci wzmacniacza defektoskopu, przez co wzmocnienie tych stopni zmienia sie synchronicznie z rozciagiem. Uklady te niejednokrotnie sa bardzo rozbudowane. Ten sposób realizacji nie pozwala na skokowa zmiane wzmocnienia, gdyz przy takiej zmianie w stopniu wielkiej czestotliwosci powstaja impulsy zaklócajace.Celem wynalazku jest opracowanie ukladu pozwalajacego na skokowa zmfane wzmocnienia defektoskopu bez generowania impulsów zaklócajacych.2 96 367 Istota wynalazku polega na zastosowaniu ukladu elektronicznego umozliwiajacego kompensacje róznicy czulosci przetworników ultradzwiekowych w wykrywaniu wad na powierzchni zewnetrznej i wewnetrznej rury przez odpowiednie skokowe synchroniczne zmiany czulosci defektoskopu ultradzwiekowego w zakresach wystepowania sygnalów wad jednego i drugiego rodzaju.Istota wynalazku polega na zastosowaniu we wzmacniaczu defektoskopu elementów ujemnego sprzezenia zwrotnego, zwieranych na okreslony przeciag czasu synchronicznie z bramka monitora defektoskopu. Uklad elektroniczny zastosowany w wynalazku umozliwia skokowa zmiane wzmocnienia defektoskopu i tym samym po odpowiednim naregulowaniu pozwala na odbiór z jednakowa czuloscia ech ultradzwiekowych od róznego rodzaju nieciaglosci materialowych, a przede wszystkim zawalcowan w rurach przy powierzchni wewnetrznej i zewnetrznej.Przedmiot wynalazki przedstawiony jest w przykladach wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia uklad elektroniczny w ujeciu schematycznym, fig.6 — stawia schemat ukladu defektoskopu DJ—22 zawierajacy elementy stanowiace istote wynalazku, natomiast fig. 2, 3,4, 5 —przebiegi czasowe poszczególnych sygnalów.Uniwibrator A wyzwolony impulsem B, który ponadto w defektoskopie sluzy do wyzwalania generatora - bramki monitora, steruje tranzystorem C podlaczonym równolegle do elementu ujemnego sprzezenia zwrotnego D znajdujacego sie w obwodzie katody lampy elektronicznej wzmacniacza koncowego defektoskopu. W czasie trwania impulsu wyjsciowego u uniwibratora A tranzystor C zawiera element ujemnego sprzezenia zwrotnego D.Wielkosc ujemnego sprzezenia zwrotnego D moze byc regulowana potencjometrem i powinna byc nastawiona tak, aby korektor wzmacniacza defektoskopu (gdy tranzystor C nie przewodzi) kompensowala nadmiar czulosci przewodnika ultradzwiekowego (dla jednego rodzaju wady). Zmniejszenie wzmacniania defektoskopu nastepuje zawsze w obszarze wystepowania wady, dla której czulosc przewodnika ultradzwiekowego jest wieksza a w pozostalym obszarze bramki wzmocnienia defektoskopu jest normalne. Przelacznik E umozliwia wybór zakresu, w którym zachodzi korekta wzmocnienia defektoskopu zalezna od tego, dla którego rodzaju wady (wady na powierzchni wewnetrznej lub wady r a powierzchni zewnetrznej) przetwornik ultradzwiekowy posiada wieksza czulosc.Jak przedstawiono na fig. 6 na panelu monitora dobudowany jest uniwibrator A oraz przelacznik E.Uniwibrator ten moze byc wykonywany na bazie elementu hybrydowego. Na wejscie uniwibratora podawany jest impuls B z kolektora tranzystora. Wyjscie uniwibratora polaczone jest z poczatkiem jednego ze styków przelacznika E. Poczatek drugiego styku tego przelacznika polaczony jest z zanegowanym sygnalem wyjsciowym uniwibratora. Konce obu styków przelacznika E polaczone sa razem i wyprowadzone przewodem koncentrycznym poprzez laczówke panela monitora do plytki wzmacniacza koncowego defektoskopu i wlaczone do bazy dobudowanego na tej plytce tranzystora C. Odlaczony od masy opornik i kondensator katodowy lampy LII (ostatni stopien wzmacniacza defektoskopu) polaczony jest powtórnie do masy poprzez dodatkowy potencjometr D, którego opornosc okresla wielkosc ujemnego sprzezenia zwrotnego dla lampy LI 1.Kolektor tranzystora C polaczony jegj z punktem polaczenia opornika i kondensatora katodowego z potencjometrem D~a emiter tego tranzystora do masy. Os potencjometru wyprowadzona jest na zewnatrz w celu umozliwienia regulacji wzmocnienia defektoskopu przy nastawieniu defektoskopu wedlug wzorca.Przygotowanie defektoskopu do pracy z synchronicznymi zmianami czulosci przedstawia sie nastepujaco.Przy zwartym potencjometrze D (brak ujemnego sprzezenia zwrotnego) ustawia sie kolejno wzorzec na jeden i drugi rodzaj wady w celu zorientowania sie, dla którego rodzaju wady czulosc przetwornika jest mniejsza i ze wzgledu na wielkosc sygnalu od wady wzorcowej tego rodzaju, ustawia sie wzmocnienie defektoskopu tak^by wada ta byla pewnie przez defektoskop wyrózniona. Przelacznik E ustawia sie w taka pozycje, aby korekta czulosci defektoskopu wypadala w zakresie wystepowania wady, dla której czulosc przetwornika jest wieksza (w tym zakresie tranzystor C nie przewodzi). Ustawia sie wzorzec na wadzie wzorcowej, dla której czulosc przetwornika jest wieksza i potencjometrem D koryguje sie wzmocnienie defektoskopu w zakresie wystepowania tej wady (wprowadza sie ujemne sprzezenie zwrotne), tak aby obnizyc amplitude sygnalu wady do poziomu sygnalu wady, dla której czulosc defektoskopu jest mniejsza, w ten sposób amplitudy sygnalów wad wzorcowych sa wyrównane i istnieja jednakowe warunki do wykrywania wad jednego i drugiego rodzaju niezaleznie od róznicy czulosci przetwornika ultradzwiekowego. Po takim nastawieniu defektoskopu podczas badania nastepuje samoczynna synchronizowana kompensacja niejednakowej dla obu rodzajów wad czulosci przetwornika ultradzwiekowego^ w zwiazku z tym badanie jest bardziej obiektywne.Wynalazek stosuje sie w celu skompensowania róznicy czulosci przetwornika ultradzwiekowego w wykrywaniu wad na powierzchni wewnetrznej i zewnetrznej rury oraz wyeliminowania wplywu tej róznicy na wynik oceny wady.96367 3 PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie paten to we Uklad elektroniczny do synchronicznych zmian czulosci defektoskopu ultradzwiekowego posiadajacy uniwibrator, przelacznik, tranzystor oraz lampe, znamienny tym, ze w obwodzie lampy ostatniego stopnia wzmacniacza defektoskopu ultradzwiekowego posiada dodatkowy element ujemnego sprzezenia zwrotnego (D) w postaci potencjometru wlaczonego miedzy opór katodowy tej lampy, a mase oraz jest bocznikowany tranzystorem (C) sterowanym poprzez uniwibrator (A) i przelacznik (E) impulsami synchronicznymi z generatora bramki monitora.. f'9: ' fig. 2 h 3 fig. 4 KL fuj. 596 367 f,g.6 Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 45 zl PL
PL17684474A 1974-12-24 1974-12-24 Uklad elektroniczny do synchronicznych zmian czulosci defektoskopu ultradzwiekowego PL96367B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL17684474A PL96367B1 (pl) 1974-12-24 1974-12-24 Uklad elektroniczny do synchronicznych zmian czulosci defektoskopu ultradzwiekowego

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL17684474A PL96367B1 (pl) 1974-12-24 1974-12-24 Uklad elektroniczny do synchronicznych zmian czulosci defektoskopu ultradzwiekowego

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL96367B1 true PL96367B1 (pl) 1977-12-31

Family

ID=19970309

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL17684474A PL96367B1 (pl) 1974-12-24 1974-12-24 Uklad elektroniczny do synchronicznych zmian czulosci defektoskopu ultradzwiekowego

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL96367B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4102205A (en) Method and apparatus for ultrasonic nondestructive testing of workpieces with automatic compensation for the probe, workpiece material, and temperature
US4068524A (en) Ultrasonic inspection of articles
US4247818A (en) Automatic sensitivity adjustment apparatus for calibration of a non-destructive inspection instrument
US4513621A (en) Ultrasonic test instrument with controllable amplifier
US4127813A (en) Method for balancing the sensitivity of two channels in a differential detection apparatus
US5804976A (en) Device for determining the ratio of substances
EP0366286A3 (en) A method and apparatus for processing electrical signals
US3274821A (en) Ultrasonic testing apparatus having improved resolution
EP0393828A3 (en) A method and apparatus for testing the response of a stress wave sensor
PL96367B1 (pl) Uklad elektroniczny do synchronicznych zmian czulosci defektoskopu ultradzwiekowego
US3531977A (en) Electronic device for calibrating and referencing ultrasonic instruments
JPS55132950A (en) Defect detector
JPS5682445A (en) Acoustic emission measuring apparatus
SU1721503A2 (ru) Ультразвуковое устройство дл контрол качества материалов
JP2599301B2 (ja) 超音波探傷装置
SU1188640A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента затухани акустических колебаний
SU789736A1 (ru) Способ ультразвуковой дефектоскопии материалов
SU1746293A1 (ru) Способ определени времени распространени акустических колебаний в среде
JPS55436A (en) Automatic ultrasonic flaw detector
SU845083A1 (ru) Ультразвуковой дефектоскоп
SU1173298A1 (ru) Устройство дл измерени механической добротности микроизделий методом свободных колебаний
JPS56151338A (en) Bending tester
Gregor The Influence of Instrument and Transducer on the Ultrasonic Testing Result
Onoe et al. Use of a Compact Ultrasonic Delay Line for the Calibration of a Pulse Echo Instrument
JPS57200859A (en) Ultrasonic fault