PL89437B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL89437B1 PL89437B1 PL1973165867A PL16586773A PL89437B1 PL 89437 B1 PL89437 B1 PL 89437B1 PL 1973165867 A PL1973165867 A PL 1973165867A PL 16586773 A PL16586773 A PL 16586773A PL 89437 B1 PL89437 B1 PL 89437B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- current
- constant
- melting zone
- generator
- deflection coil
- Prior art date
Links
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 16
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 16
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 claims description 3
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000004857 zone melting Methods 0.000 description 4
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000009776 industrial production Methods 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N3/00—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
- H04N3/10—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical
- H04N3/16—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by deflecting electron beam in cathode-ray tube, e.g. scanning corrections
- H04N3/22—Circuits for controlling dimensions, shape or centering of picture on screen
- H04N3/223—Controlling dimensions
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/40—Circuit details for pick-up tubes
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/40—Circuit details for pick-up tubes
- H04N23/41—Beam current control
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Details Of Television Scanning (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Manufacture And Refinement Of Metals (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest uklad stabilizacji przebiegu pradu odchylania linii lampy analizuja¬ cej w komorze telewizyjnej pracujacej jako urza¬ dzenie kontrolujace srednice strefy topienia preta.Znany jest uklad stabilizacji przebiegu pradu od- 5 chylania linii lampy analizujacej w komorze tele¬ wizyjnej pracujacej jako urzadzenie kontrolujace srednice strefy topienia preta, przedstawiony w amerykanskim opisie patentowym 3 757 071.W celu kontroli srednicy strefy topienia preta 10 pólprzewodnikowego, szczególnie preta krzemowego, podczas beztyglowego topienia strefowego, zastoso¬ wano w tym ukladzie kamere telewizyjna, za po¬ moca której obraz strefy topienia przemieszczajacej sie poprzez pret pólprzewodnikowy, jest rzutowany 15 na widiikon lampy analizujacej znajdujacej sie w kamerze i jest analizowany wzdluz linii poziomych przez wiazke elektronowa. W wyniku tego prad elektryczny warunkujacy wiazke elektronowa jest modulowany w sposób impulsowy. Z otrzymanych 20 impulsów elektrycznych mozna uzyskac informacje o srednicy strefy topienia, wzglednie kontrolowac ja.Znany uklad stabilizacji zawiera cewke odchyla¬ nia poziomego do przemieszczania wiazki elektro¬ nowej wzdluz pojedynczej linii poziomej oraz gene¬ rator przebiegu piloksztaltnego dostarczajacy prad zmienny do cewki odchylania przez rezystor staly polaczony z nia szeregowo.Uzycie kamery telewizyjnej przy beztyglowym topieniu strefowym prowadzi w praktyce do znacz- 30 nego nagrzania sie kamery na skutek ciepla wypro- mieniowanego przez strefe topienia. W zwiazku z tym nie jest mozliwa dokladna kontrola wyniku pomiaru przy uzyciu zwyklej kamery telewizyjnej.Przyczyna tego jest zmiana amplitudy pradu odchy¬ lania linii, wywolywujacego odchylanie analizujacej wiazki elektronowej wskutek zaleznych od tempe¬ ratury zmian elementów konstrukcyjnych elektrycz¬ nych i przewodów kamery telewizyjnej, znajduja¬ cych sie w obwodzie zespolu cewek odchylania linii.W zwiazku z tym, ze amplituda pradu odchylania linii wyznacza kat wiazki elektronowej okreslajacy dlugosc poszczególnych linii analizowanego obrazu, zmienia sie równiez predkosc analizowania, a zatem i czas analizowania, w którym plamka swietlna po¬ wstala na skutek padania wiazki elektronów na elektrode akumulujaca widikonu przebiegnie obraz strefy topienia. W ten sposób odwzorowuje sie sred¬ nice strefy topienia a zatem niekontrolowane wyniki pomiaru rzeczywistej srednicy strefy topienia beda zawieraly blad i to tym wiekszy, im bardziej na¬ grzala sie komora telewizyjna w czasie przebiegu procesu topienia strefowego.Celem wynalazku jest opracowanie ukladu stabi¬ lizacji, który utrzymuje stala amplitude pradu od¬ chylania poziomego wiazki elektronów analizujacej obraz strefy topienia na widikonie lampy analizuja¬ cej w kamerze telewizyjnej. ' Cel ten osiagnieto wedlug wynalazku dzieki za¬ stosowaniu ukladu stabilizacji przebiegu pradu od- 89 43789 437 3 chylania linii lampy analizujacej w kamerze telewi¬ zyjnej pracujacej jako urzadzenie kontrolujace srednice strefy topienia preta, w którym rezystor staly jest polaczony z prostownikiem pomiarowym dla sterowania prostownika pomiarowego spadkiem napiecia z rezystora stalego, prostownik pomiarowy dostarczajacy prad staly o wartosci odpowiadajacej wartosci szczytowej pradu zmiennego w cewce od¬ chylania jest polaczony z wezlem sumacyjnym ob¬ wodu regulacyjnego, którym jest polaczony równiez nadajnik wartosci zadanej dostarczajacy prad staly dla uzyskania pradu róznicowego w wezle sumacyj¬ nym, który jest polaczony nastepnie z generatorem przebiegu piloksztaltnego dla utrzymania na stalym poziomie amplitudy wytwarzanego przez generator pradu zmiennego. Wedlug wynalazku pomiedzy re¬ zystor staly i prostownik pomiarowy jest wlaczony wzmacniacz.Zaleta wynalazku jest to, ze wiazka elektronowa podlega stalemu odchylaniu niezaleznie od wa¬ runków pracy, dzieki czemu czas analizowania przedmiotu, który jest miara szerokosci geometrycz¬ nej tego przedmiotu, zachowuje stala wartosc.W urzadzeniach telewizyjnych przy zastosowaniu ukladu wedlug wynalazku prad odchylania linii za¬ chowuje amplitude o stalej wartosci, dzieki czemu mozna uzywac je do celów pomiarowych, gdzie wy¬ magane sa bardzo dokladne pomiary, na przyklad przy produkcji przemyslowej monokrystalicznego krzemu w procesie beztyglowego wyciagania stre¬ fowego.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przy¬ kladzie wykonania na rysunku, na którym jest uwidoczniony uklad stabilizacji przebiegu pradu od¬ chylania linii lampy analizujacej w komorze tele¬ wizyjnej pracujacej jako urzadzenie kontrolujace srednice strefy topienia preta.Mierzony przedmiot 2, na przyklad obszar topie¬ nia przy beztyglowym topieniu strefowym preta pólprzewodnikowego, jest rzutowany przez uklad optyczny 12 kamery telewizyjnej 1 na mozaike 13 lampy analizujacej 14 w kamerze 1. Mozaika 13 jest analizowana liniowo przez wychodzaca z katody 15 wiazke elektronowa 16. W tym celu aby wiazka elektronowa 16 byla prowadzona zawsze wzdluz okreslonej linii na mozaice 13, zastosowana jest; cewka 11 odchylania poziomego.Wiazka elektronów 16 jest wytwarzana w obwo¬ dzie elektrycznym (mieprzedstawionym szczególowo), który wspólpracuje z obwodem 3 przetwarzania sygnalu obrazu. Obwód 3 przetwarzania sygnalu obrazu dokonuje dalszej analizy obrazu przedmiotu 2. Do wytwarzania pradu odchylania linii w cewce 11 odchylania poziomego zastosowany jest generator 4 przebiegu piloksztaltnego, który poprzez cewke 11 odchylania poziomego lampy analizujacej 14 powo¬ duje odchylanie poziome wiazki elektronowej 16 wzdluz poszczególnych linii.W celu uzyskania wartosci mierzonej proporcjo¬ nalnej do pradu w cewce 11 odchylania poziomego, w obwód pradu odchylania linii wlaczony jest re¬ zystor staly 5. Spadek napiecia na tym rezystorze stalym 5 jest proporcjonalny do pradu odchylania 4 w cewce 11 odchylania poziomego. To piloksztaltne napiecie na rezystorze stalym 5 jest podawane na wzmacniacz 6, z którego podawane jest na prostow¬ nik pomiarowy 7. W wyniku wyprostowania napie¬ cia na wyjsciu prostownika pomiarowego 7 otrzy¬ muje sie napiecie stale, proporcjonalne do wartosci szczytowej pradu odchylania, które jest nastepnie wykorzystywane w procesie regulacji. To mierzone napiecie stale porównuje sie z napieciem zadanym wytwarzanym przez nadajnik 8 wartosci zadanej.Napieoie zadane mozna nastawiac na rózne wartosci dla dokonania zmiany skali optyczno-elektroniczne- go przetwarzania obrazu.Napiecie róznicowe uzyskane przez porównywa¬ nie wartosci mierzonego .napiecia stalego i napiecia zadanego jest wzmacniane we wzmacniaczu regula¬ cyjnym 9, na wyjsciu którego wystepuje napiecie regulacyjne wykorzystane do regulacji amplitudy piloksztaltnego napiecia w generatorze 4 przy uzy¬ ciu znanych, nie pokazanych na rysunku ukladów.Wytwarzane przez wzmacniacz regulacyjny 9 napie¬ cie regulacyjne sluzy do utrzymywania stalej war¬ tosci amplitudy wytwarzanego przez generator 4 pradu o charakterystyce plloksztaltnej, odpowiada¬ jacej aktualnym wymaganiom.Amplitude pradu piloksztaltnego mozna w przy¬ padku uszkodzenia urzadzenia regulacyjnego regu¬ lowac równiez recznie za pomoca przelacznika 10. PL PL PL
Claims (2)
1. Zastrzezenia patentowe 1. Uklad stabilizacji przebiegu pradu odchylania linii lampy analizujacej w kamerze telewizyjnej pra¬ cujacej jako urzadzenie kontrolujace srednice strefy topienia preta, która przemieszcza sie w zakresie analizowania kamery telewizyjnej, zawierajacy mo¬ zaike lampy analizujacej do uzyskania obrazu stre¬ fy topienia, wiazke elektronów automatycznie ana¬ lizujaca wzdluz linii poziomych obraz strefy topie¬ nia na mozaice, cewke odchylania poziomego do przemieszczania wiazki elektronów wzdluz pojedyn¬ czej linii poziomej, generator przebiegu piloksztalt¬ nego dostarczajacy prad zmienny do cewki odchyla¬ nia poprzez rezystor staly polaczony szeregowo z cew¬ ka odchylania poziomego, znamienny tym, ze rezy¬ stor staly (5) jest polaczony z prostownikiem po¬ miarowym i(7) dla sterowania prostownika pomiaro¬ wego (7) spadkiem napiecia z rezystora stalego (5), prostownik pomiarowy i(7) dostarczajacy prad staly o wartosci odpowiadajacej wartosci szczytowej pra¬ du zmiennego w cewce odchylania poziomego jest polaczony z wezlem sumacyjnym (S) obwodu re¬ gulacyjnego, z którym jest polaczony równiez na¬ dajnik (8) wartosci zadanej dostarczajacy prad sta¬ ly dla uzyskania pradu róznicowego w wezle suma¬ cyjnym i(S), który jest polaczony nastepnie z gene¬ ratorem i(4) przebiegu piloksztaltnego dla utrzyma¬ nia na stalym poziomie amplitudy wytwarzanego przez generator <4) pradu zmiennego.
2. Uklad wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze po¬ miedzy rezystor staly (5) i prostownik pomiarowy (7) jest wlaczony wzmacniacz i(6). 10 15 20 25 30 35 40 45 50 5589 437 A /% (N52, (!^M6 33 H- 3 ,12 ^-* /W ,6 7 H~h<5 m/1 10' L ^ PL PL PL
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2250721A DE2250721C3 (de) | 1972-10-16 | 1972-10-16 | Vorrichtung zum tiegellosen Zonenschmelzen eines Halbleiterstabes mit einer die Schmelzzone überwachenden Fernsehkamera |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
PL89437B1 true PL89437B1 (pl) | 1976-11-30 |
Family
ID=5859195
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PL1973165867A PL89437B1 (pl) | 1972-10-16 | 1973-10-15 |
Country Status (12)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3944737A (pl) |
JP (1) | JPS5528459B2 (pl) |
BE (1) | BE796997A (pl) |
DD (1) | DD108019A5 (pl) |
DE (1) | DE2250721C3 (pl) |
FR (1) | FR2203241B1 (pl) |
GB (1) | GB1440123A (pl) |
HK (1) | HK26377A (pl) |
IT (1) | IT1006101B (pl) |
NL (1) | NL7311952A (pl) |
PL (1) | PL89437B1 (pl) |
SU (1) | SU518169A3 (pl) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4287506A (en) * | 1978-12-22 | 1981-09-01 | Raytheon Company | Voltage generator with self-contained performance monitor |
US4673986A (en) * | 1982-11-23 | 1987-06-16 | Tektronix, Inc. | Image distortion correction method and apparatus |
JPS59213373A (ja) * | 1983-05-19 | 1984-12-03 | Tookiyoo Menki:Kk | 麺生地等の混練方法及び混練装置 |
JPS60251777A (ja) * | 1984-05-29 | 1985-12-12 | Sony Corp | 垂直偏向信号の振幅検出回路 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE631568A (pl) * | 1962-04-27 | |||
US3598963A (en) * | 1966-06-10 | 1971-08-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Curve reader |
-
1972
- 1972-10-16 DE DE2250721A patent/DE2250721C3/de not_active Expired
-
1973
- 1973-03-19 BE BE128973A patent/BE796997A/xx unknown
- 1973-06-11 GB GB2766773A patent/GB1440123A/en not_active Expired
- 1973-08-30 NL NL7311952A patent/NL7311952A/xx not_active Application Discontinuation
- 1973-10-04 US US05/403,555 patent/US3944737A/en not_active Expired - Lifetime
- 1973-10-11 JP JP11433573A patent/JPS5528459B2/ja not_active Expired
- 1973-10-12 SU SU1978151A patent/SU518169A3/ru active
- 1973-10-15 FR FR7336706A patent/FR2203241B1/fr not_active Expired
- 1973-10-15 IT IT30112/73A patent/IT1006101B/it active
- 1973-10-15 PL PL1973165867A patent/PL89437B1/pl unknown
- 1973-10-15 DD DD174060A patent/DD108019A5/xx unknown
-
1977
- 1977-06-02 HK HK263/77A patent/HK26377A/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5528459B2 (pl) | 1980-07-28 |
FR2203241A1 (pl) | 1974-05-10 |
FR2203241B1 (pl) | 1982-03-19 |
DD108019A5 (pl) | 1974-08-20 |
BE796997A (fr) | 1973-07-16 |
JPS4974820A (pl) | 1974-07-19 |
HK26377A (en) | 1977-06-10 |
NL7311952A (pl) | 1974-04-18 |
DE2250721A1 (de) | 1974-04-18 |
DE2250721B2 (de) | 1977-09-29 |
DE2250721C3 (de) | 1978-05-18 |
US3944737A (en) | 1976-03-16 |
GB1440123A (en) | 1976-06-23 |
IT1006101B (it) | 1976-09-30 |
SU518169A3 (ru) | 1976-06-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2310955A (en) | System of measurement and/or control | |
US2653247A (en) | X-ray thickness gauge | |
IE46330B1 (en) | Graphite tube analyzer | |
US5055648A (en) | Apparatus and method for mechanical properties testing | |
US2136682A (en) | Automatic control system | |
EP0315572A2 (en) | Apparatus for measuring the diameter of a crystal | |
US2302049A (en) | Measuring and control method and apparatus | |
PL89437B1 (pl) | ||
US2813186A (en) | Heat treatment apparatus | |
US3980042A (en) | Vapor deposition apparatus with computer control | |
US2769076A (en) | Automatic temperature control for high temperature ovens | |
US2803752A (en) | Apparatus for compensating radiant beams | |
US4594087A (en) | Three-terminal controller for fiber glass bushing | |
US2215805A (en) | Measuring and control apparatus | |
US3825839A (en) | Constant current field emission electron gun | |
US3246124A (en) | Voltage magnitude and temperature control in a heated device | |
US2244732A (en) | Measuring apparatus | |
US2219775A (en) | Measuring apparatus | |
US3284172A (en) | Apparatus and process for preparing semiconductor rods | |
GB954634A (en) | Apparatus for controlling the temperature of a work piece being heated by a heating device | |
US2218464A (en) | Throttling regulator for electric furnaces | |
McFee | Blackbody Source Unit with Electronic Temperature Control | |
GB1104719A (en) | The maintenance of a desired mean temperature in a length of material | |
CA1075760A (en) | On-off lamp regulator for an electro-optical sensor | |
US2211114A (en) | Control apparatus |