PL88457B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL88457B1
PL88457B1 PL16588373A PL16588373A PL88457B1 PL 88457 B1 PL88457 B1 PL 88457B1 PL 16588373 A PL16588373 A PL 16588373A PL 16588373 A PL16588373 A PL 16588373A PL 88457 B1 PL88457 B1 PL 88457B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
optical
lenses
lava
micro
light
Prior art date
Application number
PL16588373A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL16588373A priority Critical patent/PL88457B1/pl
Publication of PL88457B1 publication Critical patent/PL88457B1/pl

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazkujest uklad optyczny urzadzenia do zliczania mikroobiektów przeznaczony do wytwarzania swietlnego obszaru pomiarowego.W dotychczasowych znanych urzadzeniach stosowano pojedyncze uklady optyczne zawierajace od strony oswiet- 5 lajacej zarówke z reflektorem oraz typowy zespól soczewek i przyslon, które ksztaltowaly przestrzen pomiarowa o ograniczonej objetosci rzedu kilku milimetrów szescien¬ nych. W takiej pojedynczej przestrzeni pomiarowej doko¬ nywano zliczania mikroobiektów. 10 Na ogól przekrój przestrzeni pomiarowej jest mniejszy od obszaru przez który porusza sie badany zbiór mikroo¬ biektów i wówczas stosuje sie sondowanie tego obszaru w warunkach ustalonego przeplywu tak, aby mozna bylo na podstawie otrzymanych wyników okreslic caly zbiór mikroobiektów przeplywajacy przez dany obszar. Ze wzgledu na zmieniajace sie dynamiczne warunki przeply¬ wu pomiar byl uciazliwy i malo dokladny. Na zwiekszenie dokladnosci pomiaru poza innymi czynnikami ma decydu¬ jacy wplyw zmniejszenie stopnia koncentracji badanych zbiorów mikroobiektów. Zmiane koncentracji najlatwiej mozna otrzymac przez zwiekszenie obszaru, w którym zawarta jest czynna powierzchnia pomiarowa okreslona pojedynczym ukladem optycznym. Ta droga nie zawsze jest mozliwa do realizacji przy dotychczasowych ukladach pomiarowych i stanowi ich glówna wade.Celem wynalazku jest unikniecie podanych wad iniedo¬ godnosci przez zbudowanie ukladu umozliwiajacego zli¬ czanie mikroobiektów w dowolnie duzym obszarze pomia¬ rowym wyznaczonym przez calkowity przekrój kanalu. 30 Uklad wedlug wynalazku sklada sie od strony oswietla¬ jacej ze zródla swiatla i szeregu wezlów optycznych, z któ¬ rych kazdy zawiera pryzmat kierujacypromienie swietlne poprzez obiektyw od wnetrza lawy optycznej, prostopadle do jej osi a obiektywy sa zestawione swymi obrzezami bezposrednio jeden obok drugiego i sa zogniskowane po¬ przez pryzmaty na zródle swiatla, zas po przeciwleglej stronie lawy optycznej na przedluzeniu osi optycznej obiektywów, znajduja sie dodatkowe uklady optyczne, których soczewki skupiajace sa ustawione identycznie jak obiektywy, przy czym soczewki skupiajace ogniskuja wiazki swiatla na czynnych powierzchniach fotoele- mentów.Takskonstruowany uklad pozwala na tworzenie dowol¬ nie duzych swietlnych powierzchni pomiarowych sklada¬ jacych sie z pojedynczych plaszczyzn, które mozna zesta-. wiac w zaleznosci od potrzeb narzuconych metodyka po¬ miaru. Zapewnia to jednoczesne objecie pomiarem calych, dostatecznie duzych zbiorów mikroobiektów, przy czym poszczególne mikroobiekty moga poruszac sie po róznych torach. Oswietlenie calej powierzchni pomiarowejz jedne¬ go zródla swiatla zapewnia w kazdym miejscu swiatlo ojednakowym natezeniuistanowi oprostocie konstrukcji.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykladzie wykonania rysunku, na którym fig. 1 przedstawia widok lawy optycznej od stronyoswietlajacej, a fig. 2 przedstawia przekrój lawy optycznej wzdluz linii A-A zaznaczonej na fig. 1. Lawa optyczna 1 jest wykonana w postaci rury o przekroju identycznym z przekrojem kanalu 2, w którym poruszaja sie mikroobiekty unoszone przeplywajacym ga- 8845788457 zem. Lawa ta jest ustawiona pomiedzyodcinkami kanalu 2 i zapewnia ciaglosc przeplywu przez kanal 2.Do lawy 1 z jednej strony zamocowany jest zespól wez¬ lów optycznych 3 zogniskowanych we wspólnym punkcie i formujacy wiazki swiatla 4, zas z drugiej strony zespól dodatkowych ukladów optycznych 5. Zespól wezlów opty¬ cznych 3 oswietla jedna zarówka 6 umocowana do lawy 1 w regulowanej oprawce 7 na dwóch sworzniach 8. Zarów¬ ka 6 umieszczona jest we wspólnym ognisku poszczegól¬ nych wezlów optycznych 3.W scianach lawy optycznej 1 wyciete sa kanaly 9 w celu przepuszczenia swiatla. Wezel optyczny 3 sklada sie z pryzmatu 10, kierujacego promienie swiatla do wnetrza lawy optycznej 1 zamocowanego na ruchomym ramieniu 11 i z obiektu 12 zamocowanego na suporcie 13. Konstruk¬ cja wezla optycznego 3 zapewnia calkowita przestrzenna regulacje osi optycznej. Dodatkowyuklad optyczny 5 skla¬ da sie z asfery 14 zamocowanej w widlastym korpusie 15 i oslonietej z kierunku padania równoleglej wiazki swiatla 4 regulowanymi przyslonami 16. Fotoelement 17 zamoco¬ wany jest na ruchomym suporcie 18 polaczonym z korpu- sem asfery 15. Asfera 15 ogniskuje wiazke swiatla 4 na czynnej powierzchni fotoelementu 17.Obiektyw 12 i asfera 14 wykonane sa z centralnej czesci osiowo-symetrycznych soczewek. PL

Claims (2)

1. Zastrzezenie patentowe Uklad optyczny urzadzenia dozliczania mikroobiektów, znamienny tym, ze od strony oswietlajacej ma szereg wez¬ lów optycznych (3), z których kazdy zawiera pryzmat (10) kierujacy prostopadle promienie swietlne poprzez obiek¬ tyw (12) do wnetrza lawy optycznej (1), przy czym obiekty¬ wy (12) sa zestawione swymi obrzezami bezposrednio je¬ den obok drugiego i sa zogniskowane poprzez pryzmaty (10) na zródle swiatla (6), zas po przeciwleglej stronie lawy optycznej (1) na przedluzeniu osi optycznej obiektywów (12) znajduja sie dodatkowe uklady optyczne (5), których soczewki skupiajace (14) sa ustawione tak jak obiektywy (12), przy czym soczewki skupiajace (14) ogniskuja wiazki swiatla (4) na czynnych powierzchniach fotoelementów v (17). ,fl 12 Fig.1 / /,///?»/»/» VSSAQ_'/S» IIpwww^ Fig.
2. Skbi^^ano w DSP, zam. 6148 hlskfij Rzeczifpos^rrc] Lm;nwej PL
PL16588373A 1973-10-16 1973-10-16 PL88457B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL16588373A PL88457B1 (pl) 1973-10-16 1973-10-16

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL16588373A PL88457B1 (pl) 1973-10-16 1973-10-16

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL88457B1 true PL88457B1 (pl) 1976-09-30

Family

ID=19964460

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL16588373A PL88457B1 (pl) 1973-10-16 1973-10-16

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL88457B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0108524B1 (en) Fluorometer
US3727069A (en) Target measurement system for precise projectile location
US4099872A (en) Fluorescence spectrophotometer
US4273443A (en) Method and apparatus for measurement of reradiation in particle flow cell systems
JPS6113139A (ja) 高い收集効率の光学装置とそれを利用した細胞蛍光光度計
DE60018540D1 (de) Wellenfrontsensor mit multifokaler Hartmannplatte und seine Verwendung in einer Linsenmessvorrichtung oder einem aktiven optischen Reflexionsteleskop
SE428972B (sv) Anordning for detektering av forekommande av svevande, fasta eller vetskeformade partiklar i en gas
US3966324A (en) Laser doppler anemometer
PL88457B1 (pl)
SU1223092A1 (ru) Малоугловой нефелометр
US3602596A (en) Roughness testing meters
US20060077402A1 (en) Co-ordinate-measuring instrument
JPH04184241A (ja) 粒子分析装置
TWI647430B (zh) 光學量測裝置
GB2041516A (en) Methods and apparatus for measurement of reradiation in particle flow cell systems
EP0022506A1 (en) Optical measuring apparatus
SU1080076A1 (ru) Многоходовой газоанализатор
SU1048346A1 (ru) Способ определени оптических характеристик длиннофокусных объективов
RU2025692C1 (ru) Способ измерения характеристик оптических систем: фокусных расстояний и децентрировки
SU1143992A1 (ru) Двухлучевой микроспектрофотометр
SU1612273A1 (ru) Интерференционный резольвометр
SU669214A1 (ru) Оптический аттенюатор
SU1000745A1 (ru) Интерферометр дл контрол вогнутых цилиндрических поверхностей
RU1800318C (ru) Прибор дл определени размеров частиц
US3001079A (en) Optical devices for producing parallel beams