PL84061B1 - - Google Patents

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób jednostron¬ nego pomiaru grubosci scianki elementu profilo¬ wanego.Znany jest sposób jednostronnego pomiaru gru¬ bosci elementów plaskich w postaci plyt. Do te^o celu stosuje sie ultradzwiekowa metode rezonansowa, polegajaca na przylozeniu do stykajacego sie z ce¬ mentem przetwornika piezoelektrycznego, umiesz¬ czonego w glowicy ultradzwiekowej, napiecia sinu¬ soidalnego o zmiennej czestotliwosci. Wskutek tego drgajacy przetwornik wywiera swa powierzchnia na plaska powierzchnie plyty zmienny nacisk, po¬ budzajacy plyte do mechanicznych drgan rezonan¬ sowych. Oddzialywanie tych drgan na przetwornik piezoelektryczny powoduje zmiany jego impedan- cji, które obserwowane na ekranie lampy oscylo¬ skopowej, w postaci prazków, umozliwiaja doklad¬ ny odczyt grubosci mierzonej plyty.Sposobu tego nie mozna jednak stosowac do po¬ miaru grubosci scianki elementu profilowanego, gdyz wskutek duzej krzywizny takiego elementu, reakcja na przetwornik piezoelektryczny jest zbyt mala, aby móc dokonac pomiaru gru:o:ci.Celem wynalazku jest opracowanie spozobu jed¬ nostronnego pomiaru grubosci scianki elementu profilowanego metoda rezonansowa.Cel ten zostal zgodnie z wynalazkiem osiagniety przez przykladanie do scianki elementu profilowa¬ nego zmiennych w czasie sil sinusoidalnych o zmiennej czestotliwosci, wytworzonych przez przetwornik piezoelektryczny uksztaltowany w for¬ mie prostopadloscianu o stosunku dlugosci do sze¬ rokosci zawartym w granicach od 2:1 do 10:1.S ly te przykiada sie wzdluz linii prostej lezacej w plaszczyznie, w której przekrój elementu profi¬ lowanego ma maksymalny promien krzywizny.Pozwala to na uzyskanie duzej czulosci jednostron¬ nego pomiaru grubosci scianki elementu profilo- io wanego metoda rezonansowa.Przedmiot wynalazku jest blizej wyjasniony na przykladzie. Do przetwornika piezoelektrycznego w ksztalcie prostopadloscianu o stosunku dlugosci do szerokosci zawartym w granicach od 2:1 do 10:1 doprowadzane jest sinusoidalne zmienne na¬ piecie, o zmieniajacej sie w czasie czestotliwosci.Przetwornik, celem uzyskania wystarczajaco duzej reakcji mechanicznych drgan rezonansowych, zo¬ staje przylozony wzdluz prostej lezacej w plasz- czyznie, w której przekrój elementu profilowanego ma maksymalny promien krzywizny. Dzieki temu uzyskuje sie maksymalna t po wierzchnie styku mie¬ dzy przetwornikiem a elementem profLowanym, bedacym obiektem pomiarowym. Na skutek od- dzialywania na przetwornik drgan mechanicznych zmienia sie jego elektryczna impedancja wejscio¬ wa, co powoduje niewielkie zmiany przykladanego napiecia, które po wzmocnieniu i obróbce elek¬ trycznej jest przedstawiane na ekranie oscylo- skopu. 84 1 I84 061 3 4 ceJ oddzialywuje sie silami sinusoidalnie zmiennymi, w plaszczyznie, w której przekrój elementu profi- wytworzonymi przez przetwornik piezoelektryczny, lowanego ma maksymalny promien krzywizny.PZG Bydg., zam. 1644/76, nakl. 120+20 Cena 10 zl i PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe uksztaltowany w formie prostopadloscianu o sto¬ sunku dlugosci do szerokosci zawartym w gra- Sposób jednostronnego pomiaru grubosci scianki - ,•„ „u j « 1 ^ m 1 ^ • i * J fc i- b nicach od 2:1 do 10:1, przy czym oddzialywanie elementu profilowanego metoda rezonansowa, zna- mienny tym, ze na scianke elementu profilowanego 5 tych sil odb^wa sie wzdluz linii ProsteJ lezJ* PL