Pierwszenstwo: 82197 KI. 42e,27 42f,11/04 MKP. G01f 13/00 G01g 11/04 Zgloszenie ogloszono: 05.05.1973 Opis patentowy opublikowano:. 30.10.1975 CZYTELNIA O *du Palantowego Twórcywynalazku: Jerzy Kedzierski, Krzysztof Zarnowiecki Uprawniony z patentu tymczasowego: Zjednoczone Zaklady Urzadzen Jadrowych „Polon", Warszawa (Polska) Uklad do pomiaru masy przesuwajacego sie materialu,zwlaszcza warstw grubszych Przedmiotem wynalazku jest uklad do pomiaru masy przesuwajacego sie materialu metoda rozproszeniowa przy pomocy przenikliwego promieniowania. Uklad ten moze znalezc zastosowanie do pomiaru masy,zwlaszcza grubszych warstw materialów sypkich, ziarnistych i tym podobnych, które przesuwaja sie na tasmociagu.Znane sa uklady do pomiaru masy przesuwajacego sie materialu z zastosowaniem ukladów mechanicz¬ nych, tensometrycznych i innych,w których pomiar masy odbywa sie metoda stykowa. Uklady te nie moga pracowac prawidlowo w trudnych warunkach srodowiskowych, przy duzym zapyleniu i wilgotnosci. Znane uklady bezstykowe wykorzystujace absorpcje promieniowania sa niedogodne do stosowania, poniewaz przy ich stosowaniu najwiekszy sygnal i jednoczesnie najwiekszy blad bezwzgledny wystepuje przy malej ilosci wazonego materialu, co jest zwiazane z duzym bledem wzglednym. Stosowane obecnie uklady bezstykowe wykorzystujace promieniowanie rozproszone posiadaja jedno zródlo promieniowania i jeden detektor promienio¬ wania. Uklad ten ma zastosowanie ograniczone do cienkich warstw materialu, poniewaz przy wzroscie grubosci warstwy natezenie promieniowania rozproszonego rosnie proporcjonalnie do masy tylko przy malej grubosci warstwy, a przy grubosciach wiekszych, material lezacy dalej o& zródla promieniowania znajduje sie w polu promieniowania o mniejszym natezeniu i daje sygnal zbyt maly, nieproporcjonalny do masy.Celem wynalazku jest opracowanie takiego ukladu, który wykorzystujac promieniowanie rozproszone w materiale mierzonym umozliwilby pomiar masy warstw o wiekszej grubosci.Istota ukladu wedlug wynalazku jest to, ze oprócz znanych zródel promieniowania, detektora i przeslon niedopuszczajacych do detektora promieniowania nierozproszonego posiada on co najmniej jeden dodatkowy detektor lezacy powyzej lub ponizej detektora glównego, w którym podawana jest detekcji czesc promieniowa¬ nia rozproszonego w mierzonym materiale, przy czym obszary materialu rozpraszajace promieniowanie w kierun¬ ku detektora glównego i w kierunku detektora pomocniczego nie pokrywaja sie.Uklad przedstawiony na rysunku posiada czesc znana skladajaca sie ze zródla 4 w pojemniku 5, z detektora glównego 3 rejestrujacego promieniowanie rozproszone w materiale 6 i przeslony 2 niedopuszczaja¬ cej do detektora 3 promieniowania rozproszonego oraz wedlug wynalazku co najmniej jeden detektor promieniowania 1 lezacy poza przeslona 2 niedopuszczajaca do detektora 1 promieniowania nierozproszonego,2 82 197 w którym poddane jest detekcji promieniowanie rozproszone w warstwie materialu bardziej odleglej od zródla 4. Dodatkowy detektor 1, który moze byc taki sam jak detektor glówny np. licznik Geigera Millera daje przy grubej warstwie materialu dodatkowy sygnal, który odpowiednio dodany do sygnalu detektora glównego 3 pozwala na pomiar równiez przy grubszych warstwach materialu przy odpowiednim wyskalowaniu miernika zamieniajacym ilosc impulsów z detektorów na wskazanie masy przesuwajacego sie materialu. PLPriority: 82197 KI. 42e, 27 42f, 11/04 MKP. G01f 13/00 G01g 11/04 Application announced: 05/05/1973 The patent description was published on :. October 30, 1975 READING ROOM OF THE PALANT Creators of the invention: Jerzy Kedzierski, Krzysztof Zarnowiecki Authorized by the provisional patent: United Zaklady Urzadzen Jadrowych "Polon", Warsaw (Poland) System for measuring the mass of moving material, especially thicker layers. Scattering method by means of penetrating radiation This system can be used to measure the mass, especially of thicker layers of loose, granular materials and the like, which move on a conveyor belt. There are known systems for measuring the mass of the moving material with the use of mechanical systems. These systems cannot work properly in difficult environmental conditions, with high dust and humidity. Known contactless systems that use radiation absorption are inconvenient to use, because they are used mostly by y signal and at the same time the largest absolute error occurs with a small amount of weighted material, which is associated with a large relative error. The currently used contactless systems using scattered radiation have one source of radiation and one radiation detector. This system is only applicable to thin material layers, because when the layer thickness is increased, the diffuse radiation intensity increases proportionally to the mass only with a thinner layer thickness, and with larger thicknesses, the material lying further on the radiation source is in the radiation field with a lower intensity and gives a signal too small, disproportionate to mass. The aim of the invention is to develop such a system, which, using the radiation scattered in the measured material, would enable the measurement of the mass of layers of greater thickness. The essence of the system according to the invention is that in addition to the known radiation sources, detector and shutters preventing the detector of non-diffused radiation it has at least one additional detector located above or below the main detector, in which part of the scattered radiation in the measured material is detected, the areas of the material scattering the radiation towards the detector The system shown in the drawing has a known part consisting of a source 4 in a container 5, a main detector 3 recording radiation scattered in the material 6, and a diffuser 2 preventing the scattered radiation from the detector 3 and, according to the invention, which at least one radiation detector 1 lying outside the diaphragm 2 preventing the diffuse radiation detector 1, 2 82 197 in which the scattered radiation in the material layer more distant from the source is detected 4. Additional detector 1, which can be the same as the main detector, e.g. a counter Miller Geiger gives an additional signal with a thick layer of material, which, when appropriately added to the signal of the main detector 3, allows for measurement also with thicker layers of material with an appropriate scale of the meter changing the number of pulses from the detectors into an indication of the mass of the moving material. PL