PL79457B1 - - Google Patents

Description

Uprawniony z patentu: Eli Lilly and Company, Indianapolis (Stany Zjednoczone Ameryki) Uklad optyczny do kontroli kapsulek Wynalazek odnosi sie ogólnie do urzadzen do przerywanej kontroli wytwarzanych artykulów a w szczególnosci do ukladu optycznego do szyb¬ kiej kontroli duzej liczby kapsulek do leków, umiesziczanyich kolejno w polozeniu bornitrolnym, w którym kazda z nich obraca sie dokola jej osi w celu poddania badaniu calej jej powierzchni.Kapsulki do leków wytwarza sie w duzych ilos¬ ciach z zelatyny lub innego materialu na zlozo¬ nych i czulych maszynach.Kapsulki zelatynowe skladaja sie z kapturków i korpusów, które wytwarza sie przez zanurzenie kolków w roztworze zelatyny, spowodowanie ze¬ stalenia sie powlok na kolkach, sciagniecie zesta¬ lonych powlok, przyciecie ich na dlugosc oraz zlo¬ zenie pustych kapturków i kadlubów teleskopowo dostatecznie ciasno, azeby trzymaly sie przy ma¬ nipulowaniu nimi w stanie pustym, lecz dosta¬ tecznie luzno, aby mozliwe bylo rozlaczenie ich do napelniania. Puste kapsulki musza byc w naj¬ wiekszym mozliwym stopniu wolne od usterek nie tylko z uwagi na jakosc produktu, lecz zwlaszcza celem zapewnienia prawidlowosci dzialania ma¬ szyn do ich napelniania, unikniecia braków i nie¬ wlasciwego dawkowania leku, oraz zapobiezenia wytwarzaniu kapsulek niedokladnie napelnionych.Zadana jakosc kapsulek wymaga 100°/o-owej kontroli kapsulek pustych przed uzyciem ich lub sprzedaniem do uzytku przez innych. Dotychczas odbywalo j&a to droga obserwacji wzrokowej 10 15 przez kontrolerów podczas przenoszenia kapsulek w warstwie o pojedynczej grubosci przed oswie¬ tlonym ekranem. Taka kontrola wzrokowa jest kosztowna i niezupelnie skuteczna.Typowe kapsulki skladaja sie z kapturków i korpusów o ksztalcie glebokich kubków, na ogól z walcowymi sciankami bocznymi i zaokraglony¬ mi koncami. Kapsulki zlozone teleskopowo moga róznic sie znacznie dlugoscia. Plaszcz kapturka ma zwykle zewnetrzne rozszerzenie lub stozek.Powierzchnie zewnetrzne moga wykazywac odchy¬ lenia od ksztaltu kolowego badz to sfcutkdem zmian grubosci scianki, badz tez wskutek od¬ ksztalcenia. W kapsulkach nadajacych sie do przyjecia moze wystepowac szereg innych jeszcze dopuszczalnych odchylen. Stad wiec nawet „do¬ bre" kapsulki maja ksztalt cokolwiek nieregular¬ ny, co powoduje trudnosci kontroli.Skuteczna kontrole utrudnia równiez duza licz- 20 ba i rczmaitosc usterek, jakie moga wystepowac.Usterki do wykrycia podczas kontroli to: kapsul¬ ki rozszczepione lub pekniete, z otworami lub rowkami w sciankach, zgniecione lub splaszczone, odksztalcone teleskopowo, ze sciankami dokola lub 25 w innej konfiguracji, niekompletne, sfaldowane, z rozwinietymi krawedziami kapturków, z czar¬ nymi plamami, karbami, pecherzami, wgnieciony¬ mi koncami, zacietymi krawedziami kapturka, za¬ drapaniami, nakluciami, cieniznami itd. Te rózne 30 usterki ujawniaja sie w rózny sposób podczas 794573 79457 4 kontroli wzrokowej, a niektóre z nich wymagaja innych warunków sprawdzania. Aparatura kon¬ trolna powinna równiez wykrywac usterki zarów¬ no w kapsulkach bezbarwnych i przezroczystych, jak i o róznych barwach i stopniach przeswiece¬ nia, jak równiez w kapsulkach dwubarwnych, tj. o kapturkach i korpusach rózniacych sie bar¬ wa. Kontrola powinna obejmowac równiez kap¬ sulki o róznych ksztaltach lacznie z takowymi o koncach pólkulistytch i o ksztalcie parabolicz¬ nym. Stwierdzono szczególna trudnosc kontroli usterek w zaokraglonych obszarach przejsciowych na koncach kapsulek, miedzy na ogól prostymi krawedziami i zaokraglonymi koncami, zwlaszcza zas na parabolicznych powierzchniach kapsulek o parabolicznych zakonczeniach korpusu.Kontrola musi równiez uwzgledniac odchylenia wytworzone w kapsulkach do celów specjalnych.W niektórych kapsulkach formuje sie w kapturku pare wewnetrznych wystepów po przeciwleglych stronach w celu zabezpieczenia kapturków i kor¬ pusów pustych kapsulek przed rozlaczeniem. Nie¬ które kapsulki maja równiez w kapturku szereg rozstawionych na obwodzie wewnetrznych prowa¬ dzen do utrzymywania w zlaczeniu kapturków i korpusów napelnionych kapsulek. Takie we¬ wnetrzne wystepy i prowadzenia wywoluja od¬ chylenia powierzchni zewnetrznej podobne do pewnych usterek. Poprzednio nie stosowano kon¬ troli samoczynnej ani tez maszynowej. W po¬ przednim studium padjejtyim przez zglaszajacego rozwazano system kontroli, w którym kapsulki obracano szybko przed poruszajacym sie zesta¬ wem malych analizujacych otworów wrazliwych na swiatlo, oraz zbudowano recznie napedzana la¬ boratoryjna maszyne analizujaca do wypróbowa¬ nia tego projektu. Jakkolwiek uklad optyczny tego opracowania wydal sie obiecujacy, to jed¬ nak nie rozporzadzano odpowiednimi srodkami do manipulowania kapsulkami i przedstawiania ich do kontroli z dostatecznie duza szybkoscia.W niniejszym wynalazku przewidziano uklad optyczny do kontroli kapsulek przedstawianych kolejno w takim samym polozeniu i ustawieniu i obracanych^ szybko dokola wlasnych osi celem poddania optycznej kontroli calej ich powierzchni Umozliwia on kontrolowanie nie tylko powierzch¬ ni bocznych kapsulek, na ogól walcowych, lecz równiez zaokraglonych konców i partii przejscio¬ wych miedzy bokami i koncami, tak ze w jednym cyklu robocznym na danym stanowisku mozna dokonac pelnej kontroli. Wynalazek mozna stoso¬ wac zarówno do kapsulek przezroczystych lub bezbarwnych, jak i do jednobarwnych i dwu¬ barwnych. Mozna go równiez stosowac do kapsu¬ lek z normalnymi odchyleniami powierzchni wy¬ wolanymi przez wewnetrzne wystepy i prowadze¬ nia, oraz do kapsulek o róznych rozmiarach i ksztaltach, wlaczajac w to zarówno kapsulki o koncach kulistych, jak i te, w których koniec korpusu ma ksztalt paraboliczny lub ostrolukowy.Dogodna rzecza jest omawianie warunków oswie¬ tlenia i obserwacji przy kontroli na przykladach lustrzanego odbicia lub linii odblasku na po¬ wierzchniach „dobrych" kapsulek, nalezy jednak pamietac, ze celem kontroli jest nie tyle obser¬ wacja kapsulek dobrych, ile raczej dostrzezenie usterek, które powodowalyby odrzucenie kapsu¬ lek. Przy kontroli dokladnych powierzchni obroto¬ wych, np. powierzchni waleczków lozyskowych, proponowano, np. w patencie USA nr 2 944 667, obserwowanie swiatla odbijanego lustrzanie od li¬ nii odblasku i wykrywanie ubytków swiatla w ta¬ kim lustrzanym odbiciu. Nie jest to skuteczno przy kontroli kapsulek, po czesci z tej przyczyny, ze dopuszczalne nieregularnosci kapsulki powodu¬ ja niestalosc odblasku, ponadto zas z powodu róz¬ norodnosci i niewyraznosci usterek jakie nalezy wykryc.Przedmiotem wynalazku jest uklad optyczny do kontroli kapsulek do leków lub tp. o po¬ wierzchniach zakrzywionych wzdluznie, przy czym kazda kapsulka wiruje dokola swej osi w polo¬ zeniu kontrolnym, zawierajacy: optyczny uklad obserwacyjny z jednym lub wieksza liczba obiek¬ tywów obserwacyjnych przystosowanych do two¬ rzenia w plaszczyznach obrazowych obrazu kon¬ trolowanego obszaru powierzchni kapsulki, obej¬ mujacego zarówno powierzchnie boczna kapsulki, jak i wzdluznie zakrzywiona powierzchnie konco¬ wa co najmniej w jednym koncu kapsulki; uklad oswietlajacy ze zródlem swiatla kierujacym pro¬ mienie swiatla w obszar kontrolowany celem wy¬ wolania ich lustrzanego odbicia oden do ukladu obserwacyjnego, przy czym promienie te wycho¬ dza z szeregu punktów w obszarze zródla swiatla, rozciagajacym sie wzdluz kapsulki na dlugim luku otaczajacym co najmniej jeden koniec kap¬ sulki w celu wytworzenia na kapsulce, patrzac od strony ukladu obserwacyjnego, pola odblasku o lustrzanym odbiciu zawierajacego zarówno czesc boczna na bocznej powierzchni kapsulki jak i czesc koncowa na wydluzonym luku na wzdluz¬ nie zakrzywionej koncowej powierzchni kapsulki; urzadzenie fotoczujnikowe reagujace na swiatlo w jednym lub wiekszej liczbie obszarów wspo¬ mnianego obrazu odchylonych od pola odblasku.Przedmiotem wynalazku jest równiez optyczne urzadzenie kontrolne do kontroli kapsulek do le¬ ków lub tp., zawierajace: srodki do podtrzymy¬ wania i obracania kazdej kapsulki dokola jej osi w polozeniu kontrolnym, z jej koncami ustawio¬ nymi osiowo i bokiem odslonietym dla kontroli; uklad optyczny do obserwacji bocznej o osi nor¬ malnej do osi kapsulki, co najmniej jeden uklad optyczny do obserwacji od konca, o osi pod ka¬ tem do osi kapsulki, umieszczony po tej samej stronie kapsulki co wspomniany uklad do obser¬ wacji bocznej; oraz zwierciadlo na osi kapsulki ustawione tak, aby odbijalo widok jej od konca do ukladu obserwacji.Przedmiotem wynalazku jest dalej uklad optyczny do kontroli kapsulek lub podobnych obiektów o powierzchni obrotowej kulistej lub in¬ nej wypuklej, powstalej przez obrót wypuklej krzywej dokola osi, w którym obiekt obraca sie dokola swej osi obrotu, zawierajacy optyczny uklad obserwacyjny do obserwacji powierzchni wypuklej ze z góry okreslonego kierunku,, uklad oswietlajacy ze zródlem swiatla kierujacym pro- 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 6079457 6 mienie swiatla na te wypukla powierzchnie celem wywolania lustrzanego odbicia od niej do ukladu obserwacyjnego, przy czym promienie te zbiegaja sie ku tej powierzchni wypuklej z szeregu punk¬ tów w obszarze zródla swiatla, rozlozonych na duzym luku, otaczajacym te powierzchnie, tak aby wywolac na niej, patrzac przez uklad obser¬ wacyjny, pole odblasku lustrzanego odbicia, roz¬ ciagajace sie wydluzonym lukiem na tej po¬ wierzchni, przy czym ten optyczny uklad obser¬ wacyjny zawiera srodki do wykrywania odchylen swiatla w obszarze obserwowanym tak oswietlo¬ nej powierzchni wypuklej podczas obracania obiektu.Kapsulka ma wypukla powierzchnie odbijajaca, która stanowi czesc ukladu optycznego, a uklad oswietlajacy wytwarza lustrzane odbicie od tej powierzchni do ukladu obserwacyjnego na polach odblasku, których ksztalt i definicja moga zmie¬ niac sie zaleznie od ksztaltu kapsulki i ksztaltu oswietlajacej ja wiazki swietlnej. Ogólnie biorac, uprzywilejowane urzadzenie kontrolne zawiera: 1) uklad obserwacyjny, mogacy obejmowac uklad optyczny obserwacji bocznej i dwa uklady obser¬ wacji od konca; 2) uklad oswietlajacy, rzucajacy swiatlo na kapsulke z rzedu punktów w waskim, wydluzonym obszarze, który otacza kapsulke w kierunku wzdluznym i, patrzac przez uklad optyczny, wytwarza lustrzane odbicie na linii od¬ blasku, przebiegajacej w zasadzie w sposób cia¬ gly od konca wzdluz kapsulki i dokola jej za¬ okraglonych konców; 3) plaszczyzny obrazu, w których uklad optyczny tworzy obrazy boku i konców kapsulki, oraz 4) czujniki swietlne, wy¬ krywajace swiatlo w tych obrazach na obszarach liniowych oddalonych od linii odblasku.Cykl kontrolny przy kazdej wirujacej kapsulce kontynuuje sie w ciagu szeregu jej obrotów, np. pieciu, celem zapewnienia dostatecznego czasu kontroli.Uklad optyczny obserwacji bocznej dostrzega li¬ nie odblasku na calej dlugosci powierzchni bocz¬ nej, na ogól walcowej i w pewnym stopniu moze dostrzegac takaz linie na sasiadujacych powierzch¬ niach przejsciowych kapsulki. Do kontroli bocz¬ nej korzystne jest zastosowanie szeregu czujników swietlnych reagujacych na swiatlo w róznych czesciach w zasadzie ciaglego obszaru liniowego równoleglego do linii odblasku i oddalonego od niej na bocznym obrazie kapsulki. Jeden lub kil¬ ka z tych czujników moze wykrywac celowe od¬ chylenia, np. spowodowane wewnetrznymi prowa¬ dzeniami zapobiegajacymi rozlaczeniu i wystepa¬ mi w sciance kapsulki.Kontrole obszarów koncowych i przejsciowych kapsulki ulatwia znacznie „otaczajacy" uklad oswietlajacy, który wytwarza wydluzona linie od¬ blasku w zasadzie na calej zakrzywionej w kie¬ runku wzdluznym powierzchni konca kapsulki, patrzac przez uklad optyczny umieszczony za kon¬ cem kapsulki. W braku takiego otaczajacego oswietlenia pojawia sie tylko maly odblask punk¬ towy. Oswietlenie to i linia odblasku umozliwiaja dostrzezenie przez uklad obserwacyjny usterek we wszystkich partiach trudnych obszarów: koncowe¬ go i przejsciowego.Przy ukladzie optycznym do obserwacji od kon¬ ca, ukazujacym kapsulke od strony jej konca, 5 wydluzona linia odblasku pojawia, sie w postaci linii promieniowej na obrazie konca kapsulki.Przy kontroli konca mozna uzywac tylko jednego czujnika swietlnego przystosowanego do wykry¬ wania swiatla w obszarach promieniowych obra- 10 zu konca, rozstawionych katowo w stosunku 4o promieniowego polozenia linii odblasku.Czujniki boczne i koncowe, przystosowane do wykrywania swiatla w partiach obrazu, oddalo¬ nych od obszarów odblasku, reaguja zarówno na 15 ubytki swiatla, jak i na jego przyrosty. Dostrze¬ gaja r one zatem ubytki swiatla rozproszonego z obszarów kontrolowanych, które to ubytki moga byc spowodowane czarnymi plamami, otworami, nacieciami itp. wystepujacymi w tych obszarach. 20 Beda one dostrzegac równiez, i zwlaszcza, przy¬ rosty swiatla wywolane odbiciem lustrzanym od takich usterek jak: pecherze, zmarszczenia itp., które wywoluja gwaltowne zmiany krzywizny po¬ wierzchni kapsulki. Czujniki sa polaczone z ukla- 25 darni elektrycznymi i wywoluja w nich sygnaly zawierajace zmiany lub „ostrza" odpowiadajace zmianom swiatla, które reprezentuja obserwowane usterki kapsulki. Sygnaly te przetwarza sie i ana¬ lizuje w celu sterowania dzialania mechanizmu, 30 który akceptuje lub odrzuca sprawdzane kapsulki i liczy obie te grupy.Przy obserwacji sygnalów z czujników swietl¬ nych przystosowanych do obserwacji usterek w obszarach kapsulki, nie zawierajacych odchylen 35 celowych, pojawienie sie pojedynczego „ostrza" o okreslonej z góry wielkosci przy kazdym obro¬ cie kapsulki moze byc uznane za dostateczny po¬ wód do odrzucenia kapsulki. O ile czujnik swietl¬ ny jest tego rodzaju, ze dostrzega odchylenia ce- 40 lowe, to przetwarzanie i analiza sygnalów musza uwzgledniac fakt pojawienia sie w sygnale zmian odpowiadajacym takim celowym odchyleniom. .Uprzywilejowanym sposobem przetwarzania spo¬ sobów zawierajacych takie celowe „ostrza" jest 45 mierzenie odstepów czasowych miedzy tymi ostat¬ nimi, przy czym obecnosc „ostrza" spowodowane¬ go usterka da w wyniku skrócenie zmierzonego odstepu czasu miedzy dwoma sasiednimi ^ostrza¬ mi" w stosunku do z góry zalozonego normalnego 50 odstepu miedzy „ostrzami", wywolywanymi przez celowe odchylenia. Nienormalnie krótki odstep czasu moze wtedy byc uzyty do wytworzenia sy¬ gnalu odrzucenia kapsulki.W zasadzie ciagla linia odblasku od konca dc 55 konca kapsulki jest wytwarzana przez odbicie lu¬ strzane promieni swietlnych, skierowanych odpo¬ wiednio na powierzchnie wirujacej kapsulki z sze¬ regu punktów waskiego, wydluzonego obszaru zródla swiatla. Waskosc jest pozadana dla odgirami- 60 czenia waskiego pasa odblasku na kapsulce i w jej obrazie, co zapewnia uzyskanie z góry okreslonej jednostajnej zaleznosci miedzy polem odblasku i obszarem Wykrywania swiatla. Wy¬ dluzenie powierzchni zródla swiatla jest pozadane 65 w celu wytworzenia równomiernego oswietlenia79457 kapsulki od konca do konca. Powierzchnia ta po¬ winna rozciagac sie na duzym kacie w plaszczyz¬ nie kapsulki, azeby promienie swiatla zbiegaly sie ku kapsulce na tym kacie i tworzyly w za¬ sadzie ciagla linie odblasku od konca do konca.Skuteczne oswietlenie mozna uzyskac w sposób rózny. Zródlo swiatla o waskiej wydluzonej po¬ wierzchni mozna otrzymac np. przez zastosowa¬ nie jednej lub wiecej lamp o wydluzonych wlók¬ nach, ksztaltowej jarzeniówki lub tez za pomoca swiatlowodów wlóknistych, urzadzen optycznych rozszczepiajacych itd. Stwierdzilismy jednakze, iz najlepsze wyniki otrzymuje sie przy uzyciu po¬ jedynczego zródla swiatla i ksztaltowego zwier¬ ciadla w postaci waskiego segmentu powierzchni elipsoidalnej, przy czym zwierciadlo jest ustawio¬ ne tak, ze zródlo swiatla sasiaduje z jednym jego ogniskiem, kapsulka zas z drugim. Ten uklad oswietlenia wytwarza cienka klinowa wiazke zbieznych promieni swietlnych, skierowana ku kapsulce na duzym kacie i zachodzaca za jej kon¬ ce w celu spowodowania odbicia lustrzanego na waskiej linii odblasku, która przebiega w sposób ciagly na powierzchni wirujacej kapsulki od kon¬ ca do konca.Wynalazek i w szczególnosci jego specjalna uprzywilejowana odmiana sa pokazane na zala¬ czonych rysunkach, które przedstawiaja: fig. 1 — rzut boczny mechanizmu o szybkim dzialaniu, do¬ prowadzajacego kolejno kapsulki do obracajacej sie glowicy kontrolnej w przekroju; fig. 2 — glo¬ wice kontrolna ze schematycznie pokazanym op¬ tycznym ukladem kontrolnym wedlug wynalazku, W widoku z góry z czesciowymi wyrwaniami; fig 3 — przekrój pionowy wedlug 3—3 z fig. 2; fig. 4 — jeden z walków napedowych glowicy kontrolnej z typowa kapsulka w widoku bocznym w powiekszeniu; fig. 5 — optyczny mechanizm kontrolny wg wynalazku z fragmentem glowicy kontrolnej w polozeniu roboczym, w widoku z gó¬ ry; fig. 6 — mechanizm optyczny z fig. 5 w wi¬ doku od konca; fig. 7 — mechanizm optyczny z fig. 5 i 6 w widoku bocznym; fig. 8 — uprzy¬ wilejowany uklad oswietlajacy ze zdjeta przykry¬ wa w widoku bocznym, ze schematycznym zazna¬ czeniem polozenia zródla swiatla i kapsulki w sto¬ sunku do ognisk elipsoidalnego zwierciadla; fig. 9 — mechanizm oswietlajacy z fig. 8 po zdjeciu okienka przedniego, w widoku od przodu, z prze¬ krojami czesci; fig. 10 — oswietlona kapsulke wi¬ dziana z optycznego ukladu sprawdzania boczne¬ go, w widoku z boku; fig. 11 — oswietlona kap¬ sulke z ukladu optycznego sprawdzania od konca, w widoku od konca; fig. 12 — oswietlona kapsul¬ ke z zakonczeniem parabolicznym, nazywana cza¬ sem kapsulka „paracap", w widoku z boku jak na fig. 11; fig. 13 — rysunek ukladu optycznego kon¬ troli bocznej, stanowiacy w zasadzie przekrój po¬ ziomy wg 13—13 z fig. 8; fig. 14a i 14b — po¬ wiekszone fragmenty ukladu optycznego z fig. 13; fig. 15 — widok obrazu kapsulki w plaszczyznie obrazu ukladu optycznego kontroli bocznej, uka¬ zujacy zaleznosc linii odblasku i otworów maski; fig. 16 — schematyczny przekrój pionowy ukazu¬ jacy zaleznosc maisfkd w plaszczyznie obrazu i czte¬ rech fotoczujinilków uzywanych do kontroli czterech obszarów kapsulki pokazanych na fig. 15; fig. 17 — rysunek ukladu optycznego kontroli od konca, stanowiacy w zasadzie przekrój pionowy w plasz- 5 czyznie fig. 8; fig. 18 — powiekszony fragment rysunku z fig. 17; i fig. 19 — obraz konca kap¬ sulki widzianego w plaszczyznie obrazu z fig. 17, ukazujacy wzajemna zaleznosc linii odblasku oraz otworu w masce o uprzywilejowanym ksztalcie. 10 Typowa kapsulka 25, przedstawiona na fig. 4 i 10, ma korpus 50 o na ogól walcowych lub lek¬ ko zbieznych sciankach bocznych 49 i pólkolistym koncu 51. Na otwarty koniec korpusu 50 jest na- 15 suniety teleskopowo kapturek 52 o pólkolistym zakonczeniu 53 i sciankach bocznych 55 na ogól walcowych, lecz czesto rozszerzajacych sie ku otwartemu koncowi. Kapturek ma po przeciwle¬ glych stronach dwa wystepy wewnetrzne 54 za- 20 ciskajace korpus 50 w celu przeciwstawienia sie zdjeciu kapturka z korpusu; obecnosc tych wy¬ stepów wywoluje nieznaczne wglebienia w ze¬ wnetrznej powierzchni kapturka. Ten ostatni ma * ponadto trzy szerokie wewnetrzne prowadzenia 56 25 w czesci przejsciowej, gdzie koniec 53 laczy sie ze sciankami bocznymi 55; tworza one trzy zespoly wglebien i zeberek na powierzchni kapturka. Wy¬ stepujace stad odksztalcenia powierzchni kapsulki, która poza tym stanowi z zalozenia powierzchnie 30 obrotowa, uwzglednia sie podczas przetwarzania i analizowania wyników kontroli.Mechanizm do manipulowania i podawania kap¬ sulek, pokazany na fig. 1, ma kosz 10 do wsypy¬ wania wiekszej liczby kapsulek, wyposazony na 35 dnie w pret poruszajacy 12 o ruchu zwrotnym, przystosowany do przesuwania kapsulek z kosza 10 do dennego koryta i górnego odcinka przenos¬ nika lancuchowego 14, owijajacego sie dokola dol¬ nego kola 16 i górnego przejsciowego kola 18. 40 Opuszczajac kosz 10, przenosnik przechodzi przez stanowisko- prostujace ze szczotka 20 i pasem 22, wspólpracujacymi ze specjalnie uksztaltowanymi miskami 15 przenosnika przy zmienianiu poloze¬ nia kapsulek ulozonych korpusem na przód, 45 w wyniku czego wszystkie kapsulki sa w jedno¬ lity sposób podawane przez przenosnik w poloze¬ niu kapturkiem do przodu. Kapsulki przechodza nastepnie ponad górnym kolem lancuchowym 18, gdzie wewnetrzne tloczki 19 unosza je z misek 50 przenosnika i przenosza foolejmo do obrotowej glo¬ wicy kontrolnej 24.Glowica 24, (fig. 2 i 3) zawiera szereg piono¬ wych walków 26 rozstawionych w odstepach na obwodzie i tworzacych miedzy soba szereg row- 55 ków 28 na kapsulki. Dno kazdego rowka laczy sie z kanalem ssacym 30, prowadzacym do komór sterujacych i kanalów wewnatrz glowicy. Podcis¬ nienie w tych kanalach 30 utrzymuje kapsulki w rowkach, przerwanie zas ssania i/lub zastoso- 60 wania podmuchu powietrza powoduje wyrzucenie kapsulek z glowicy. Glowica 24 obraca sie w sen¬ sie wskazówek zegara, jak widac na fig. 2, prze¬ noszac . kapsulki ze stanowiska zaladowania na dole poprzez trzy kolejne polozenia glowicy do «5 stanowiska kontrolnego z prawej strony, nastep-79457 10 nie zas poprzez trzy dalsze polozenia do stanowi¬ ska odrzucania u góry i nastepnego stanowiska akceptacji.Naped obrotowy glowicy 24 nastepuje przez wa¬ lek centralny 32 pokazany na fig. 3. Napedza on piaste 34, na której lozysko kulkowe 36 podtrzy¬ muje pierscieniowe kolo zebate 38 napedzane sta¬ le przez kolo napedowe 40 i napedzajace z kolei male kola zebate 42 osadzone na czopach 43 wal¬ ków napedu kapsulek 26. Ta przekladnia powo¬ duje obracanie przez walki 26 kapsulek 25 w row¬ kach 28 podczas kazdego zatrzymania sie glowicy w kolejnym polozeniu. Pozadane jest, aby kolo 38 bylo napedzane stale w tym samym kierunku, co obracajaca sie piasta 34. Wywoluje to zadane obracanie sie walków 26 i kapsulek 25 podczas kolejnych zatrzyman i czasowo ogranicza takie obracanie sie podczas ruchu miedzy zatrzyma¬ niami.Pozadane jest uksztaltowanie walków 26 jak na fig. 4 tj. z górna polowa 44 walcowa, dolna po¬ lowa 46 stozkowa, oraz ostro zarysowanym odsa¬ dzeniem 48 miedzy nimi. Kapsulka znajduje sie w polozeniu odwróconym kapturkiem do dolu, tak ze scianka boczna jej walcowego korpusu 49 opie¬ ra sie o walcowa górna polowe 44 walka 26, a górny brzeg kapturka 52 — o odsadzenie 48. Dol¬ na stozkowa powierzchnia 46 walka nie dotyka rozszerzonej scianki bocznej 55 kapturka 52, lecz styka sie z tym ostatnim w zasadniczo okraglej czesci miedzy wglebieniami 54 i 56. Stad kazda para walków 26 podtrzymuje kapsulke 25, umozli¬ wiajac jej w zasadzie stateczny ruch obrotowy dokola wlasnej osi, i nadaje kapsulce ten ruch.W celu umozliwienia sterowania kapsulkami za pomoca podcisnienia lub przeplywu powietrza górna czesc glowicy 24 tworzy pierscien 58, w którego walcowym otworze jest osadzony blok zaworu 60, utrzymywany w ustalonym polozeniu wewnatrz pierscienia 58 przez króciec 62.Jak widac na fig. 2, blok 60 ma glówna ko¬ more ssaca 64, doprowadzajaca podcisnienie do kanalów 30 podczas calego przebiegu rowków 28 od stanowiska zaladowania az prawie do stano¬ wiska brakowania. Naprzeciw tego ostatniego blok ma komore ssaca 66, polaczona normalnie z linia zasilajaca podcisnieniowa 63 przez zawór 65, lecz przelaczana zaworem 69 na linie powiefbrza pod cisnieniem 67, gdy kapsulka w tym polozeniu ma zostac odrzucona, a wiec zamiast byc przytrzymy¬ wana w rowku 28 przez podcisnienie, zostaje ona wtedy wyrzucona podmuchem powietrza z prze¬ wodu 30. Zawory 65 i 69 mozna przestawiac jed¬ noczesnie za pomoca solenoidów. Naprzeciw sta¬ nowiska adaptacji blok 60 ma wlot sprezonego powietrza 68 polaczony stale ze zródlem tegoz 67 w celu doprowadzenia powietrza pod cisnieniem do kanalu 30 w tym polozeniu glowicy i wyrzu¬ cania wskutek tego z glowicy wszystkich tych kapsulek, które nie zostaly wyrzucone w poloze¬ niu brakowania. W takim ukladzie sterowanie za¬ worów 65 i 69 okresla, czy do komory sterowania 66 doprowadza sie pod- czy nadcisnienie, to zas z kolei okresla, czy kazda kapsulka osiagajaca sta¬ nowisko brakowania zostanie odrzucona czy tez zatrzymana w celu wyladowania na stanowisku akceptacji. Sterowanie to moze odbywac sie w wytnlilku sygnalu wyjsciowego, zaleznego od wy¬ niku spirawfdzania na stanowisku kartbroflnym. 5 Sprawdzanie dokonywane na tym ostatnim jest pokazane schematycznie na fig. 2 i opisane bar¬ dziej szczególowo ponizej. W tym polozeniu kapsulka jest oswietlona lampa o duzej jasnosci 10 70 za pomoca zwierciadla 72 w postaci waskiego paska wycietego z powierzchni elipsoidalnej. Jak pokazano na fig. 8, pas zwierciadla rozciaga sie w plaszczyznie 74 osi kapsulki na luku ok. 160° dokola srodka kapsulki, tak ze w zasadzie siega 15 do samej tej osi. Rzuca on na kapsulke waska w kierunku obwodu, lecz szeroka w kierunku dlugosci wiazke lub klin promieni swietlnych któ¬ re dochodza do kapsulki z punktów rozlozonych na duzym kacie w plaszczyznie jej osi, Powodu- 20 je to odbicie sie w kierunku obiektywu 80 ukla¬ du optycznego do obiserwaioji bocznej na osi 78 i wywoluje powstawanie tego odbicia od waskiego i dobrze zarysowanego pola odblasku wzdluz ca¬ lego boku kapsulki. Obiektyw obserwacji bocznej 25 80 rzuca obraz kapsulki w plaszczyzne obrazu 82.Tu swiatlo Unii odblasku zostaje zatrzymane przez maske 84 z otworem 86 lezacym tuz obok obra¬ zu linii odblasku. Czujnik swietlny, przedstawiony jako urzadzenie fotoczujnikowe 88, jest umieszczo- 30 ny za otworem. Najlepiej, gdy jest on ustawiony tak, aby reagowal zarówno na ubytek obserwo¬ wanego swiatla, jak i zwlaszcza równiez na jego przyrost spowodowany przez przechodzace przez otwór promienie odbite od usterek kapsulki. 35 Mechanizm optyczny jest pokazany bardziej szczególowo na fig. 5, 6 i 7. Ma on stolik mon¬ tazowy 90, na którym w sposób nastawny opie¬ ra sie podstawa 92 z przytwierdzonym do niej slupkiem obiektywu 94. W tym ostatnim osadzone 40 sa nastawnie: tubus górny 96 do obserwacji wierzcholka kapsulki, tubus dolny 98 do obser¬ wacji jej spodu, oraz tubus srodkowy 100 do obserwacji jej boku. Slupek 94 podtrzymuje rów¬ niez obsade zwierciadla 102 za zwierciadlem 104 45 w polozeniu, w którym zalamuje ono promienie swietlne z wierzcholka kapsulki 25 do polozenia poziomego, kierujac je do tubusa 96. Slupek ten podtrzymuje ponadto obsade 106 ze zwierciadlem 108 zalamujacym do polozenia poziomego promie- 50 nie swietlne, odbite od spodu kapsulki i kieru¬ jacym je do dolnego tubusa 98.W tubusach znajduja sie optyczne zespoly obser¬ wacyjne 109, 110 i 111, a w tylnych ich cze¬ sciach — nastawne prowadnice 112 obsad noa- 55 sek 116 w plaszczyznach obrazu tych zespolów.Kazda prowadnica 112 ma prowadnice 114 przy¬ stosowane do przyjecia obsady maski 116, która jest w nich przesuwna w kierunku bocznym.Obsady 116: górna i dolna ustawia sie w ich prowadnicach za pomoca srub nastawczych 118, osadzonych w plytkach bocznych 120. Dla ulat¬ wienia przywracania z góry ustalonego ustawie¬ nia optycznego ukladu obserwacji bocznej obsa¬ da 116 (nie pokazana) tubusa srodkowego 100 sty- 65 ka sie z jednej strony z nastawnym tloczkiem 6079457 11 wprezyinowyim 119, a ze strony przeciwnej z na- stawcza siruba mikrometryczina 122.Kazdy tubus jest nastawny osiowo celem usta¬ wiania ostrosci obrazu za pomoca sruby nastaw- czej 124, która obraca sie, zachowujac stale polo¬ zenie w slupku 94, i napedza nakretke 126 przy¬ twierdzona do tubusa.Kazda obsada 116 sklada sie z kadluba 115 i przykrywki 117. Kadlub tworzy gniazdo do osa¬ dzenia w sposób rozlaczny prostokatnej maski w plaszczyznie obrazu ukladu optycznego, oraz umozliwia zmontowanie jednego lub wiekszej liczby urzadzen fotoczujnikowych bezposrednio za maska w takim polozeniu, aby reagowalo(y) na swiatlo przechodzace przez otwory maski.Najlepiej jest uzyc fotoczujników w obsadach: górnej i dolnej, do sprawdzania konców kapsul¬ ki, oraz szeregu fotoczujników w obsadzie tubusa srodkowego 100 do sprawdzania róznych wzdluz¬ nych partii bocznych scianek kapsulki. Obsada 116 moze równiez zawierac elementy elektroniczne stosowane z fotoczujnikiem, np. wstepny wzmac¬ niacz.W celu ustawienia i zogniskowania ukladu i ma¬ ski przykrywke 117 obsady 116 mozna zdjac i za¬ stapic ramka 129 z ekranem ze szlifowanego szkla w plaszczyznie obrazu, z maska lub bez niej.Na fig. 6 tubus 100 do obserwacji boku kapsul¬ ki jest zaopatrzony w taka ramke 129 i ekran 128, na którym pokazano obraz 25 kapsulki 25 wraz z linia odblasku.W ukladzie pokazanym na fig. 5—7 linie srod¬ kowe ukladów optycznych do obserwacji boku i konców kapsulki leza w tej samej plaszczyznie, przechodzacej przez pionowa os, dokola której obraca sie kapsulka 25 w polozeniu kontrolnym na glowicy 24, lub lezacej blisko tej osi i rów¬ noleglej do niej. Jednakze uklady obserwacji bocznej i koncowej moga byc w róznych plasz¬ czyznach.Uklad oswietleniowy przedstawiony na fig. 5—9 zawiera blok montazowy 130 osadzony na podsta¬ wie 92 i podtrzymujacy trzpien 132, na którym blok zwierciadla 136 jest przytwierdzony za po¬ moca zacisku 134. Zewnetrzna sciana boczna blo¬ ku 136 ma obudowe lampy 138, w której jest osa¬ dzona lampa 70 w podstawce umozliwiajacej ogniskowanie.Jak pokazano na fig. 8—9, blok 136 jest obro¬ biony i wypolerowany tak, ze tworzy powierzch¬ nie lustrzana 72 w postaci waskiego paska roz¬ ciagajacego sie na duzym kacie w plaszczyznie osi kapsulki. Przedstawione zwierciadlo rozciaga sie na kacie ok. 160°. Powinno ono byc tak uksztaltowane, aby odbijalo swiatlo lampy 70 na cala powierzchnie kapsulki od jednego konca do drugiego i kierowalo je wiazka zbiezna ku kapsulce w plaszczyznie tej ostatniej w taki spo¬ sób, azeby padalo na nia swiatlo z szeregu punk¬ tów waskiego wydluzonego obszaru, rozciagajace¬ go sie dokola kapsulki na duzym luku. Pozadane jest, aby powierzchnia zwierciadla byla równiez wklesla poprzecznie w celu skupiania na kapsul¬ ce swiatla z calej jej szerokosci. Ponadto dla równomiernosci jej oswietlenia dlugosc dróg swia- 12 tla od lampy 70 do zwierciadla oraz od tegoz do kapsulki powinna byc mniej wiecej stala we wszystkich czesciach ukladu.Jedna z powierzchni geometrycznych, spelnia- 5 jacych te wymagania w wysokim stopniu, jest powierzchnia elipsoidy. Przedstawiona powierzch¬ nia zwierciadla 72 jest wiec waskim paskiem po¬ wierzchni elipsoidy, którego ogniska Fr i F2 przy¬ padaja zasadniczo w polozeniach pokazanych na io fig. 8 i 13. Plaszczyzna srodkowa 74 przekroju zwierciadla nie lezy w osi obrotowej R—R elipsoi¬ dy, lecz przebiega do niej pod katem jak pokaza¬ no na fig. 13.Oba ogniska Fi i F2 leza oczywiscie na osi 15 obrotu R—R. Cecha charakterystyczna powierzch¬ ni 72 jest to, ze swiatlo wychodzace z ogniska Fi jest odbijane od wszelkich punktów powierzchni 72 do drugiego ogniska F2. Lampa 70 ma wlókno zwojowe 142, które powinno najlepiej byc umiesz- 20 czone na osi R—R blisko ogniska Flf blok zas 136 jest ustawiony tak, ze kapsulka 25 lezy blisko drugiego ogniska F2. Jak pokazano, uprzywilejo¬ wane jest niewielkie odsuniecie z ogniska zarów¬ no wlókna laimpy 142, jak i kapsulki 25 i umiesz- 25 czenie ich z prawej jego strony. W tym ukladzie kapsulka jest umieszczona w promieniach swietl¬ nych zbieznych ku ognisku F2. Patrzac od strony kapsulki kazdy punkt powierzchni waskiego paska elipsoidalnego zwierciadla przyjmuje zasadniczo 30 pelna jasnosc wlókna 142. Z punktu widzenia kapsulki zwierciadlo jest zródlem swiatla i zródlo to ma postac wydluzonego waskiego obszaru, z którego wszystkich punktów promienie swietlne sa skierowane i zbiezne ku kapsulce 25. 35 Powierzchniowe zródlo swiatla jest waskie w kie¬ runku obwodu kapsulki, lecz rozciaga sie na ka¬ cie niemal 180° w plaszczyznie kapsulki 25.Pozadane jest unikniecie bezposredniego oswie¬ tlenia kapsulki. lampa 70. Przód bloku 136, z le- 40 wej strony na fig. 8 i 13, jest zamkniety okien¬ kiem 146, najlepiej o ksztalcie wkleslym jak na fig. 8. Okienko 146 jest w pelni otwarte i prze¬ puszcza swiatlo odbite od powierzchni 72 do kap¬ sulki 25 lecz jego przednia powierzchnia jest za- 45 cieniona na czesci brzegowej i tworzy maske 148, uniemozliwiajaca bezposrednie oswietlenie kapsul¬ ki przez lampe 70.Sama powierzchnia kapsulki jest gladka, wy¬ pukla powierzchnia odbijajaca, co najmniej zbli- 50 zona do powierzchni obrotowej. Swiatlo ze zwier¬ ciadla 72 odbija sie od ukladów obserwacji bocz¬ nej i koncowej od podluznego obszaru odblasko¬ wego tej powierzchni w postaci intensywnej linii odblasku. Mala, jednostajna szerokosc zwierciadla 55 jest pomocna do zapewnienia jednostajnej szero¬ kosci linii odblasku i ostrego odgraniczenia jej brzegów. Wydluzony, lukowy ksztalt zwierciadla powoduje, ze linia ta jest zasadniczo ciagla od konca do konca na powierzchni kapsulki i zagie- 60 ta dokola zaokraglonych partii przejsciowych i koncowych. Jest to szczególnie wazne przy sprawdzaniu tych partii.Fig. 10 przedstawia kapsulke 25 widziana z bocz¬ nego ukladu obserwacyjnego 110 przy oswietle- 65 niu przez uklad oswietleniowy z fig. 8—9. Oswiet-79457 13 lenie to wytwarza na kapsulce 25 dobrze odgra¬ niczona waska linie odblasku 150, rozciagajaca sie osiowo wzdluz powierzchni zarówno korpusu 50, jak i kapturka 52, przy czym partia na kapturku jest nieznacznie przesunieta wzgledem partii na korpusie z uwagi na wieksza srednice karturka.Podczas gdy linia odblasku na powierzchni wal¬ cowej jest normalnie stosunkowo waska, linia 150 na kapsulce jest dobrze odgraniczona i szczegól¬ nie waska wskutek malej szerokosci oswietlajace¬ go ja zwierciadla 72. W wyniku waska linia od¬ blasku jest obrazem waskiej powierzchni odbija¬ jacej kapsulki.Konce 152 linii 150 wychodza poza partie wal¬ cowe 49 i 55 kapsulki i wchodza na pólkuliste czesci koncowe 51 i 53 korpusu i kapturka. Jest to skutek zawiniecia zwierciadla 72, które rozcia¬ ga sie na duzym kacie ok. 160° dokola srodka ka¬ psulki w jej plaszczyznie. Jak pokazano na fig. 8, wiazka promieni a z wlókna 142, padajaca na zwierciadlo 72 w punkcie bliskim jego linii srod¬ kowej Y, zostaje odbita jako wiazka a' w strone kapsulki 25, co powoduje odbicie poziomo do zre¬ nicy wejsciowej obiektywu obserwacji bocznej 110.Podobnie wiazka b z wlókna 142, odbita od punk¬ tu zwierciadla, lezacego ponad pozioma osia Y, zostaje odbita jako wiazka promieni b', która pa¬ da na górny koniec kapsulki pochylo od góry. Pro¬ mienie te wywoluja odbicie od pólkulistej kon¬ cowej powierzchni kapsulki ogólnie w kierunku poziomym i do tej samej zrenicy wejsciowej obiektywu obserwacji bocznej 110. Wskutek tego zakrzywionego ksztaltu zródla swiatla linia od¬ blasku 150 na kapsulce, pokazana na fig. 10, roz¬ ciaga sie na cala dlugosc walcowej powierzchni bocznej i poza nia — na pólkulista powierzchnie koncowa. Ta sama cecha zródla swiatla powoduje powstanie wydluzonej linii odblasku na koncu kapsulki, widzianej przez obiektyw obserwacji koncowej 109 lub 111, jak pokazano na fig 11.Sprawa ta bedzie omówiona pózniej bardziej szczególowo.Sprawdzanie bocznej powierzchni kapsulki do¬ konuje sie w sposób przedstawiony schematycznie na fig. 13 i 14 a, b. Jak juz opisano, wlókno 142 lampy 70 dostarcza swiatla do waskiego paska elipsoidalnego zwierciadla 72. Patrzac od strony kapsulki 25, swiatlo o duzym natezeniu jest od¬ bijane od calej szerokosci tego paska powierzch¬ ni lustrzanej 72 ku kapsulce w zbieznej wiazce 156. Obiektyw 110 rzuca obraz 125 kapsulki 25 na powierzchnie maski 160. Cienkie klinowe ostrze wiazki 156 odbija sie od pola odblasku 150 na kapsulce jako wiazka rozbiezna 156' i pada w zrenice wejsciowa obiektywu 110, który two¬ rzy obraz pola odblasku w obszarze 150' plasz¬ czyzny obrazu na masce 160.Obiektyw 110 przedstawiony schematycznie na fig. 13 stanowi w praktyce uklad optyczny o po¬ wiekszeniu 1 :1, o ile mozliwe wysokiej jakosci, specjalnie skonstruowany do tego zastosowania.Plaszczyzna, na która jest on zogniskowany, mo¬ ze miec wazne znaczenie dla wyników. Na przy¬ klad wskutek rozbieznosci promieni 156', odbitych 14 od obszaru 150 wypuklej powierzchni kapsulki, odblask wydaje sie pochodzic ze zródla liniowe¬ go 151 wewnatrz kapsulki, gdzie przecinaja sie promienie 156'. Obiektyw 110 nie powinien byc 5 ogniskowany na to zródlo 151, lecz na blyszczaca powierzchnie 150 kapsulki.W plaszczyznie obrazu wszystkie promienie swietlne 156' pochodzace z pola 150, wchodzace do obiektywu 110, sa skierowane do pola obrazu 10 linii odblasku 150' na masce, a poniewaz ta jej czesc jest nieprzezroczysta, wszystko to swiatlo zostaje zatrzymane. Tuz obok linii odblasku ma- skia ma otwór 162, na którym umielsziczoaio sze¬ reg fotoczujników 165a-d do wykrywania swiatla *s przepuszczonego przez otwór 162. Swiatlo odbite z okolicy obserwowanej powierzchni wirujacej kapsulki nie wchodzi normalnie do obiektywu 110 i nie dochodzi do otworu 162, o ile kapsulka nie wykazuje usterek. Jednakze gdy nieregularnosc 20 powierzchni np. pecherz 164 przesuwa sie przy obrocie w sasiedztwie pola 150, jak na fig. 14, powstaje inna sytuacja. Usterka powierzchniowa lub wypuklosc pecherza 164 moze wywolac pew¬ ne zaklócenie odbicia swiatla od pola 150, lecz 25 jakiekolwiek takie zaklócenie w obrazie 150' na masce 160 nie wplywa na proces kontroli, gdyz cale swiatlo, padajace na maske w tym obszarze, jest zatrzymywane. Gdy jednak pecherz zbliza sie do pola 150, jego odksztalcenie powierzchni 30 lub wypuklosc przechodzi przez obszar obserwacji 163 sasiadujacy z polem 150 i powoduje odbicie promieni swiatla, np. 166, które w postaci pro¬ mieni odbitych 166' padaja wprost w otwór 162 maski 160. Ten duzy wzrost ilosci swiatla, wcho- 35 dzacego do otworu 162 i wykrywanego przez czujnik 165, wywoluje znaczna zmiane lub „ostrze" w elektrycznym sygnale wyjsciowym kontrolnego urzadzenia czujnikowego.Opisany uklad okazal sie skuteczny przy wy- 40 krywaniu takich usterek kapsulki jak pecherze, sfaldowania, zawiniete brzegi, kapsulki zamasko¬ wane teleskopowo itp., powodujacych odchylenia od ksztaltu kolowego powierzchni kapsulki i stad odbicie swiatla do otworu 162. Fotoczujniki za 45 tym otworem moga równiez wykrywac ubytek na¬ tezenia swiatla rozproszonego, np. wywolany przez pekniecia, czarne plamy, otwory lub naciecia po¬ wstale podczas wytwarzania itd. Lepiej jednak nie polegac wylacznie na obserwacji takich ubyt- 50 ków swiatla za pomoca czujników 165, które mo¬ ga byc ustawione na prace przy duzych nateze¬ niach swiatla. W celu pewniejszego wykrywania innych usterek, zwlaszcza zas pekniec i rys na brzegu kapturka 52, maska 160 ma drugi otwór 55 168 oraz czujnik 170 reagujacy na swiatlo z obsza¬ ru obserwacji 172, polozonego na zewnatrz pola odblasku 180, np. dogodnie po przeciwnej stronie linii srodkowej od kapsulki do obiektywu, niz po¬ le 150. Naciecie lub pekniecie przechodzace przez 60 ten obszar 172 powoduje zmiane natezenia odbi¬ tego swiatla rozproszonego dochodzacego do otwo¬ ru 168, co oddzialywuje na fotoczujnik 170 umieszczony za tym otworem. Jak pokazano na fig. 14, promien swiatla 169 pada na naciecie 171, 65 gdy przechodzi ono przez obszar 172, i to powo-15 duje zmiane promienia 169, wchodzacego do otwo¬ ru 168, Pozadane jest, aby czujnik 170 byl usta¬ wiony na reagowanie na ubytek swiatla.Jak widac, pole obserwacji linii naciecia lezy zasadniczo w tej samej plaszczyznie poprzecznej co pole 150, dzieki czemu oba moga byc w ogni¬ sku obiektywu 110. W celu osiagniecia tego w przedstawionym ukladzie kat miedzy plaszczy¬ zna zwierciadla 74 i osia obiektywu powinien najlepiej wynosic okolo 50°.Fig. 15 przedstawia powiekszony obraz 125 ka¬ psulki tak, jak ukazuje sie on w plaszczyznie obrazu na powierzchni maski 162. Polozenie ka¬ psulki jest odwrócone wskutek dzialania obiek¬ tywu 110. Obraz linii odblasku 150' ma postac zacienionej linii o czesci górnej na kapturku prze¬ sunietej w prawo wzgledem dolnej — na korpu¬ sie. Wypuklosc 164' na obrazie linii odblasku sta¬ nowi obraz pecherza 164.Otwory maski 160 sa nalozone na obraz ka¬ psulki. Otwór glówny 162 jest pokazany jako otwarte pole liniowe o malej szerokosci, z gór¬ na czescia przesunieta w prawo wzgledem dol¬ nej przy czym obie czesci leza blisko i równole¬ gle do obrazu 150'. Pekaty obraz 164' pecherza 164 wchodzi jak widac w dolna czesc otworu 162, po¬ wodujac przejscie swiatla przez ten ostatni i od¬ dzialywanie na fotoczujnik 165. Fig. 15 przedsta¬ wia równiez obraz 171' pekniecia 171 brzegu ka¬ pturka kapsulki i otwór 168 w polozeniu przygo¬ towanym do wykrycia zmian swiatla w chwili, gdy przejdzie przezen obraz 171'.W tym typie kapsulki kapturek ma pare wy¬ stepów wewnetrznych 54 do utrudnienia rozdzie¬ lania pustej kapsulki, oraz szereg prowadzen we¬ wnetrznych 56 do utrudnienia otwierania kapsu¬ lek napelnionych. Na obrazie 125 kapsulki (fig. 15) wystepuja one na róznych poziomach i moga byc wykrywane przez osobne fotoczujniki umieszczo¬ ne na odpowiednich wysokosciach.Do wykrywania usterek w opisanym ukladzie obserwacji bocznej uzywa sie szeregu czujników 165a-d za otworem 162, jak pokazano na fig. 16.Górny czujnik 165a jest tu ustawiony na wyso- sokosci umozliwiajacej obserwacje swiatla odbite¬ go przez otwór 162 od wglebien lub wprowadzen 56 i pobliskich usterek, drugi czujnik 165b — do wykrywania , zmian swiatla wywolanych przez wglebienia 54 i sasiadujace usterki, czujnik 165c — do wykrywania usterek w górnej czesci obrazu korpusu kapsulki, oraz czujnik 165d — do wykrywania usterek w dolnej czesci tego obra¬ zu. Ten ostatni jest dluzszy od innych w celu uwzglednienia normalnych odchylen dlugosci kapsulki. Stosowac mozna wieksza lub mniejsza liczbe czujników, lecz stwierdzilismy, ze dobre wyniki daje uzycie czterech. Moga byc stosowane którekolwiek z wielu typów fotoczujników, ale jak stwierdzono, dogodne jest uzycie krzemowych zlaczowych elementów fotowoltowych.Oswietlenie konca kapsulki i odnosny uklad analizujacy przedstawiono schematycznie na fig. 17 i 18. Jak wyjasniono w zwiazku z fig. 8, wló¬ kno 142, lezace w glównym ognisku Fj elipsoi¬ dalnej powierzchni zwierciadlanej 72, wysyla do 79457 16 wszystkich punktów tej powierzchni promienie swietlne, które sa odbijane w kierunku kapsulki 25, ustawionej we wtórnym ognisku F2 po¬ wierzchni 72. Ta waska, wydluzona powierzchnia 5 elipsoidalna wysyla swiatlo ku kapsulce 25 na du¬ zym kacie w plaszczyznie kapsulki, tak ze to lu¬ strzane zródlo swiatla jest w efekcie zakrzywione dokola konców kapsulki. Stad na fig. 8 wiazka promieni c jest odbijana od miejsca lezacego bli- 10 sko dolnego konca zwierciadla 72 i jako wiazka c' biegnie stamtad w góre ku dolnemu koncowi kapsulki. Ten zakrzywiony ksztalt jest szczególnie wazny przy analizowaniu konców kapsulki, gdyz powoduje powstanie pola odblasku obserwowane- 15 go przez obiektyw analizowania konców 111, roz¬ ciagajacego sie na znaczna dlugosc na zakrzywio¬ nej powierzchni koncowej kapsulki. Oswietlenie tej kulistej powierzchni z punktowego zródla swiatla, np. wlókna 142 lampy 70, wytworzyloby 20 tylko maly punkt odbitego swiatla przy obserwa¬ cji tej powierzchni przez optyczny uklad obser¬ wacyjny, a ten rodzaj oswietlenia umozliwilby jedynie ograniczona kontrole powierzchni konco¬ wej bez wykrycia wszystkich usterek. W prze- 25 ciwienstwie do tego przedstawiony tu uklad oswietleniowy wytwarza dlugie liniowe pole odbi¬ cia i znacznie zwieksza skutecznosc kontroli kon¬ ców.Na schemacie optycznym z fig. 17 promien d z wlókna 142 zostaje odbity od powierzchni zwier¬ ciadla 72 w punkcie 173 znacznie ponizej linii srodkowej y, biegnie jako promien odbity d' ku kapsulce 25 i pada na kulista powierzchnie kon¬ cowa kapsulki w punkcie D, nad linia polacze- 35 nia z walcowa powierzchnia boczna. Po odbiciu od powierzchni kapsulki jako promien d" pada on w zrenice wejsciowa obiektywu 111, nalezace¬ go do; ukladu optycznego do badania górnego konca. Inny promien swiatla e z wlókna 142 od- 40 bija sie od zwierciadla 72 w punkcie 174 wysoko nad linia y, biegnie ku kapsulce jako e' i pada na nia w punkcie E, w niewielkiej odleglosci od jej osi. Powierzchnia kapsulki odbija promien e" do zrenicy wejsciowej obiektywu 111. Punkty D 45 i E bedace punktami padania promieni d' i e' oraz odbicia promieni d" i e" sa pokazane na fig. 18 w duzej podzialce. Jak widac, leza one daleko od siebie na lukowej powierzchni konca kapsulki. Ca¬ le pole liniowe 176 miedzy punktami D i E jest 50 oczywiscie oswietlone promieniami swiatla odbi¬ tymi od punktów powierzchni 72 miedzy punk¬ tami 173 i 174, w których odbijaja sie promienie d i e. Takie oswietlenie jest odbijane od calego pola miedzy punktami D i E koncowej powierz- 55 chni kapsulki w kierunku obiektywu 111. Wsku¬ tek tego na kulistym konca kapsulki powstaje li¬ nia odblasku, rozciagajaca sie zasadniczo od linii polaczenia powierzchni koncowej z boczna az do osi kapsulki. Szerokosc tej linii odblasku jest cze- 60 sciowo ograniczona krzywizna obwodowa po¬ wierzchni koncowej, czesciowo zas mala szeroko¬ scia zwierciadla 72, kierujacego promienie swietl¬ ne ku kapsulce.Tym sposobem zakrzywione zródlo swiatla, utwo- 65 rzone przez zwierciadlo 72, wytwarza na kulistej17 79457 18 lub podobnie zakrzywionej koncowej powierzch¬ ni kapsulki wydluzone liniowe pole odblasku przy obserwacji przez obiektyw 111. Ten ostatni rzuca obraz kcnca kapsulki na powierzchnie maski 178.Na tym obrazie 225, pakazanym w powiekszeniu na fig. 19, po?e odblasku widoczne jest jako pa¬ sek 176' ulozony promieniowo. Maska 178 jest przystosowana do zatrzymywania swiatla odblasku w polu 176' i ma jeden lub wiecej otworów do przepuszczania swiatla odbitego od konca kapsul¬ ki przez jej usterki. Uprzywilejowana postac otworu maski 180 jest nalozona na obraz 225 kapsulki na fig. 18; otwór ten ma ogólnie ksztalt „Y" i jest umieszczony tak, ze pole 176' lezy mie¬ dzy ramionami litery „Y" po przeciwnej stronie, niz jej nózka.Pojedynczy fotcczujnik 182 jest umieszczony za maska 178 celem wykrywania zmian swiatla prze¬ chodzacego przez otwór 180. Czujnik moze byc przystosowany do wykrywania zarówno przyro¬ stów jak i ubytków swiatla,' lecz jak stwierdzili¬ smy, wskazane jest, aby reagowal on na przyro¬ sty. Duze przyrosty swiatla w otworze 180 sa wywolane przez odbicie od nieregularncsci po¬ wierzchni w sposób analogiczny jak w przypad¬ ku pecherza 164 przy kontroli bocznej, co wy¬ jasniono w nawiazaniu do fig. 13 i 14. Stwier¬ dzono, ze opisany uklad jest skuteczny do wy¬ krywania w zasadzie wszelkich usterek konca kapsulki, w tym nie tylko mimosrodowych od¬ ksztalcen powierzchni, lecz równiez wspójsrodko- wych wglebien.Zakrzywiony uklad oswietlajacy daje równiez dobre wyniki przy kontroli kapsulek 200 o para¬ bolicznych zakonczeniach 202 jak na fig. 12. Przy obserwacji ich przez obiektyw obserwacji bocz¬ nej 110 elipsoidalne zwierciadlo wytwarza pole odblasku 204 rozciagajace sie wzdluz kapturka 206 tak samo, jak na kapturku z fig. 10, oraz wzdluz parabolicznego zakonczenia korpusu 208 ciagla zakrzywiona linia, wchodzaca na czesc przejscio¬ wa i zaokraglony koniec korpusu. W widoku od konca, obserwowanym przez obiektyw 111, kapsul¬ ki 200 wygladaja podobnie jak kapsulki z kon¬ cami kulistymi z fig. 11, z wyjatkiem tego, ze promieniowe pole odblasku moze byc skrócone na zewnetrznym koncu.To samo przedstawione urzadzenie moze byc uzyte do kontroli kapsulek parabolicznych 200, jednakze na zyczenie maska 160 moze byc zasta¬ piona inna, z glównym otworem równoleglym do zakrzywionego pola odblasku 250 na obrazie kapsulki, powstajacym na powierzchni maski.Dzialanie jest nastepujace: kapsulki wsypane do kosza 10 sa przenoszone miskami 15 przenosni¬ ka w polozeniu kapturkiem w dól do glowicy kontrolnej 24 w jej polozeniu zaladowania.Kapsulki 25 sa przenoszone w rowkach 28 miedzy walkami 26 glowicy do stanowiska kontroli z le¬ wej strony na fig. 2. Tu kazda kapsulke obraca sie dokola jej osi w polozeniu, ustalonym pozio¬ mo polozeniami walków 26 i pionowo przez styk konca kapturka 56 z odsadzeniem 48 walka.W polozeniu tym jest ona utrzymywana dzieki przeplywowi powietrza przez kanal 30 do komory ssacej 64.Podczas wirowania dokola osi w ustalonym polozeniu kontrolnym kapsulka 35 jest oswietlo¬ na przez uklad przedstawiony na fig. 5—9, 13 i 17.Wszystkie punkty waskiego wydluzonego paska powierzchni eliptycznego zwierciadla 72 odbijaja swiatlo o duzym natezeniu pochodzace od wlókna 142 sasiadujacego z glównym ogniskiem Fx elip¬ soidy, kierujac je ku kapsulce umieszczonej w po¬ blizu wtórnego ogniska F2 elipsoidy. Patrzac od strony kapsulki, kazdy punkt powierzchni zwier¬ ciadla przejmuje jasnosc wlókna i zwierciadlo sta¬ nowi dla niej zródlo swiatla o postaci wydluzo¬ nego waskiego pasa, lezacego w plaszczyznie kapsulki i w jej sasiedztwie i rozciagajacego sie w tej plaszczyznie na duzym luku ok. 160°, po 80° z kazdej strony linii srodkowej prostopadlej do osi kapsulki. To powoduje skierowanie na kapsulke swiatla o duzym natezeniu w postaci cienkiego lecz szerokiego klina promieni swietl¬ nych zbieznych ku kapsulce na duzym kacie od konca do konca. Od strony obiektywu 110 widac na kapsulce linie odblasku 150 odbitego swiatla, riozoagajaca sie na calej dlugiosiei walcowych po¬ wierzchni bocznych kapsulki 50 i kapturka 52 i majaca czesci koncowe zagiete na kulistych lub w inny sposób zakrzywionych zamknietych kon¬ cach korpusu i kapturka, jak pokazano na fig. 10 i 12. Obiektyw 110 wytwarza obraz oswietlonej kapsulki na powierzchni maski 160 w plaszczyz¬ nie obrazu, jak na fig. 15. Maska zatrzymuje swia¬ tlo odbite w obrazie pola odblasku 150', lecz ma tuz obok tego obrazu waski otwór 162, który prze¬ puszcza swiatlo odbite od usterek takich jak pe¬ cherz 164 (fig. 14), przy czym swiatlo takie jest wykrywane przez jeden z fotoczujników 165, umieszczonych za otworem 162.Pole odblasku 150 jest ostro odgraniczone dzie¬ ki stalej, malej szerokosci oswietlajacego je elip¬ soidalnego zwierciadla 72. Na kazde} powierzchni koncowej kapsulki cienki lecz szeroki klin zbiez¬ nych promieni swietlnych ze zwierciadla 72 wy¬ twarza dlugie pole odblasku 176, które rozciaga sie od punktu bliskiego podstawy krzywej konco¬ wej do punktu bliskiego osi kapsulki. Odbicie od tej linii odblasku wpada do obiektywu 111 (lub 109) i ukazuje sie jako na ogól promieniowy pa¬ sek 176 na obrazie 225 konca kapsulki (fig. 19).Swiatlo tej linii odblasku zatrzymuje maska 178, lecz swiatlo odbite od usterek powierzchni w bli¬ skosci linii odblasku przechodzi przez otwór 180 w ksztalcie „Y" i jest wykrywane przez fotoczuj- nik 182. Uklad optyczny przedstawiony na fig. 18 i 19 dla górnego konca kapsulki, jest powtórzony w podobnym ukladzie z obiektywem 109 dla dol¬ nego jej konca.Czujniki swietHne 165, 170 i 182 sa polaczone z elektrycznym ukladem sterujacym wysylajacym sygnaly, przy czym umiany natezenia swiatla do¬ chodzacego do czujników wytwarzaja zmiany lub „ostrza" w sygnalach elektrycznych. Sygnaly -takie po przetworzeniu i zanalizowaniu sluza do stero¬ wania przyjecia lub odrzucania kapsulek i do do¬ starczania innych zadanych informacji. Uklad op- 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 6079457 19 tyczny do kontroli kapsulek, zilustrowany przed¬ stawionym uprzywilejowanym wykonaniem, laczy w sobie cechy urzadzen: oswietlajacego i obser¬ wacyjnego i umozliwia skuteczna i szybka kon¬ trole szeregu rodzajów usterek kapsulek do le¬ ków i to zarówno przezroczystych-barwnych, jak i róznej barwy oraz dwubarwnych. Oswietlenie charakteryzuje sie uzyciem srodka kierujacego swiatlo ku kapsulce w wiazce zbieznych promieni waskiej w kierunku obwodu kapsulki, lecz bar¬ dzo szerokiej w plaszczyznie zawierajacej os kapsulki, rozciagajacej sie w tej plaszczyznie na duzym kacie ok. 80° w kazda strone od promie¬ niowej linii srodkowej kapsulki, tak ze oswietle¬ nie „zawija sie" dokola konców kapsulki. Taka cienka wiazka promieni o szerokim kacie wytwa¬ rza, patrzac od strony obiektywu obserwacji bocz¬ nej, dobrze odgraniczona waska linie odblasku na boku kapsulki, rozciagajaca sie na calej dlugosci walcowych scianek bocznych i wchodzaca na za¬ krzywione konce kapsulki. Wytwarza ona równiez na tych ostatnich dluga linie odblasku, która roz¬ ciaga sie na dlugim luku krzywizny wzdluznej konca kapsulki w odróznieniu od odblasku punk¬ towego wytwarzanego przez zródlo swiatla kon¬ wencjonalne, nie zagiete dokola kapsulki na du¬ zym kacie, jak to ma miejsce w ukladzie opisa¬ nym.Maski optycznego ukladu obserwacyjnego za¬ trzymuja swiatlo pochodzace z takich pól odbla¬ sku, które nie jest uzywane podczas kontroli.Jednakze wytwarzanie ciaglych, wydluzonych i do¬ brze odgraniczonych pól odblasku charakteryzuje oswietlenie, które podczas kontroli wytwarza od¬ bicia od usterek zdradzajace ich obecnosc z uprze¬ dnio nieosiagalnym stopniem pewnosci i nieza¬ wodnosci.W przedstawionym wykonaniu do oswietlenia zarówno boku jak i konców kapsulki uzyte sa: jedno zwierciadlo eliptyczne 72 i jeden uklad oswietlajacy, i to rozwiazanie jest uprzywilejo¬ wane. Nie jest jednakze istotne, aby konce byly oswietlone przez ten sam uklad oswietlajacy co bok, ani tez aby oswietlenie konców nastepowalo w tej samej plaszczyznie co oswietlenie boku, gdyz przy obserwacji od konca plaszczyzne oswiet¬ lenia od konca mozna dowolnie obracac dokola osi kapsulki, podczas gdy plaszczyzna oswietlenia bocznego musi byc scisle skoordynowana z plasz¬ czyzna ukladu obserwacji bocznej.Jakkolwiek przedstawiony pojedynczy uklad oswietlajacy uwazamy za bardzo korzystny i wy¬ dajny, to mozliwe jest równiez uzyskanie podob¬ nie uzytecznych wyników z innymi ukladami, da¬ jacymi oswietlenie o podobnej konfiguracji, w których plaszczyzna oswietlenia konców moze byc rózna od plaszczyzny oswietlenia bocznego.Na przyklad zamiast uzycia jednego niewielkiego wlókna 142 i waskiej wydluzonej powierzchni zwierciadla 72, mozna uzyskac uzyteczne wyniki stosujac wydluzone zródla swiatla, np. lampe o dlugim wlóknie albo tez wydluzona swietlówke lub inna rure promieniujaca, krzywa lub prosta umieszczona w zadanej plaszczyznie oswietlenia.Jeden lub oba konce kapsulki moga byc oswietlo- 20 ne przez wydluzone zródla swiatla niezaleznie od zródla uzytego do oswietlania jej boku. Zamiast zródla wydluzonego mozna równiez uzyc wydlu¬ zonego szeregu oddzielnych zródel swiatla celem 8 uzyskania podobnego wyniku. Zalaczone zastrze¬ zenia maja na celu objecie równiez i takich od¬ mian wynalazku. 10 50 55 PL PL

Claims (13)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Uklad optyczny do kontroli kapsulek na leki lub tp. artykulów majacych powierzchnie zakrzy¬ wione wzdluznie, przy czym kazda kapsulka wi- 15 ruje dokola swej osi w polozeniu kontrolnym, zna¬ mienny tym, ze ma optyczny uklad obserwacyj¬ ny z jednym lub wieksza liczba obiektywów ob¬ serwacyjnych (80) przystosowany do wytwarzania w swych plaszczyznach obrazowych obrazu kon- M trolowanej czesci powierzchni kapsulki, która to czesc obejmuje zarówno powierzchnie boczna (49) kapsulki i(25), jak i wzdluznie zakrzywiona po¬ wierzchnie koncowa co najmniej jednego konca (51, 53) kapsulki, uklad oswietlajacy ze zródlem 25 swiatla (70) rzucajacym na te czesc kontrolowa¬ na promienie swietlne odbijajace sie od niej do ukladu obserwacyjnego, przy czym te promienie swietlne wybiegaja z szeregu punktów w polu zródla swiatla, rozciagajacym sie wzdluz kapsulki 30 na duzym luku zachodzacym co najmniej za jeden koniec kapsulki, tak aby utworzyc na kapsulce, patrzac z ukladu obserwacyjnego, pole odblasku zawierajace czesc boczna na boku kapsulki i czesc koncowa w postaci wydluzonego luku, na wzdluz- 35 nie zagietej powierzchni koncowej oraz fotoczuj- nik (88) reagujacy na swiatlo w jednym lub wiekszej liczbie pól tego obrazu, oddalonych od pola odblasku, tamze istniejacego.

2. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1, znamienny 40 tym, ze bok (49) i koniec (51, 53) kapsulki (25) jest oswietlony z jednego ciaglego powierzchnio¬ wego zródla swiatla (72) rozciagajacego sie wzdluz boku kapsulki i dokola co najmniej jednego jej konca. 45

3. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1 i 2, zna¬ mienny tym, ze to powierzchniowe zródlo swiatla (72) ma powierzchnie odbijajaca, która lezy po¬ przecznie do plaszczyzny zawierajacej os kapsulki (25) i rozciaga sie w tej plaszczyznie na luku wzdluz kapsulki, oraz srodek (70) dostarczajacy swiatla dla odbijania sie od tej powierzchni ku kapsulce.

4. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—3, znamien¬ ny tym, ze ta odbijajaca powierzchnia rozciaga sie w tej plaszczyznie na zasadniczo eliptycznym luku o jednym z ognisk (F2) sasiadujacym z ka¬ psulka oraz drugim (Fj) lezacym blisko zródla swiatla (70). 60

5. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—4, znamien¬ ny tym, ze ta powierzchnia odbijajaca ma zasad¬ niczo postac powierzchni elipsoidy o tych dwóch ogniskach .(Flf F2).

6. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—5, znamien- 65 nym tym, ze elipsoidalna powierzchnie odbijajaca79457 21 22 stanowi waski wydluzony pasek wyciety z elip¬ soidy pod katem do jej osi obrotu.

7. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—6, znamien¬ ny tym, ze zródlo swiatla {70) stanowi wlókno za¬ rowe ustawione poza tym drugim ogniskiem (Fi).

8. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—7, znamien¬ ny tym, ze powierzchniowe zródlo swiatla (70* 72) ma w zasadzie stala szerokosc na calej dlugosci wzdluz kapsulki (25) i jest waskie w kierunku obwodu kapsulki w celu ograniczenia szerokosci pasa odblasku utworzonego przez odbicie oden swiatla, biegnacego do tego ukladu obserwacyj¬ nego.

9. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—8, znamien¬ ny tym, ze to zródlo swiatla (70, 72) oswietla obszar kontrolowany w zasadzie równomiernie na jego calej dlugosci.

10. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—9, zna¬ mienny tym, ze obszar kontrolowany jest waski w kierunku w poprzek kapsulki (25) i wydluzony wzdluz kapsulki, i ze promienie (d\ e') zbiegaja sie ku kapsulce na duzym kacie w plaszczyznie wydluzenia wiazki.

11. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—10, zna¬ mienny tym, ze urzadzenie fotoczujnikowe (88) za¬ wiera co najmniej jeden czujnik i(165), reagujacy na swiatlo w obrazie boku kapsulki.

12. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—10, zna¬ mienny tym, ze urzadzenie czujnikowe (88) zawie¬ ra oddzielne fotoczujniki (165a—165d; 165, 170) re¬ agujace na swiatlo odpowiednio w oddzielnych obrazach konca i boku. 13. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—12, zna¬ mienny tym, ze obszar kontrolowany zawiera zna¬ czna czesc bocznej powierzchni kapsulki, a urza¬ dzenie tfotoczujnilkawe (88) zaiwdera szereg czuj¬ ników (165a—165d) reagujacych na swiatlo pocho¬ dzace z róznych czesci tej powierzchni bocznej. 14. Uklad -optyczny wedlug zastrz. 1—13, zna¬ mienny tym, ze uklad obserwacyjny zawiera obiektyw do obserwacji bocznej 1(110), przystoso¬ wany do tworzenia obrazu czesci powierzchni bocznej kapsulki (25), oraz co najmniej jeden obiektyw do obserwacji od konca (109) przysto¬ sowany do tworzenia obrazu czesci powierzchni konca kapsulki. 15. Uklad optyczny wedlug zastrz. 14, znamien¬ ny tym, ze zródlo swiatla zawiera zwierciadlo (72) naprzeciw konca kapsulki (25), a obiektyw do ob¬ serwacji od konca (109) jest ustawiony swa osia pod katem do osi kapsulki i widzi kapsulke za posrednictwem zwierciadla. 16. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—10, zna¬ mienny tym, ze uklad obserwacyjny zawiera obiektyw do obserwacji bocznej (110) i dwa obiek¬ tywy do obserwacji od konca i(109, 111), a obszar kontrolowany zawiera wzdluznie zakrzywione po¬ wierzchnie obu konców (51, 53) kapsulki, przy czym obiektyw obserwacji bocznej jest przystoso¬ wany do tworzenia obrazu obszaru kontrolowane¬ go, rozciagajacego sie na calej dlugosci boku kapsulki i zawierajacego obraz pola odblasku (150) na boku kapsulki, a kazdy obiektyw do obserwa¬ cji od konca jest przystosowany do tworzenia obrazu obszaru kontrolowanego na jednym koncu 20 kapsulki, zawierajacego odblask pola odblasku (176) rozciagajacego sie na wydluzonym luku za¬ krzywionej powierzchni koncowej kapsulek, przy czym obrazy pól odblasku utworzone przez trzy 5 obiektywy tworza obraz zlozony, rozciagajacy sie w zasadzie na Calej dlugosci kapsulki, dzieki cze¬ mu cala powierzchnia kapsulki jest kontrolowana jednoczesnie. 10 17. "Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—10, zna¬ mienny tym, ze uklad obserwacyjny zawiera obiektyw do obserwacji bocznej (110) i dwa obiek¬ tywy do obserwacji od konca (109, 111), które to obiektywy sa przystosowane do tworzenia osob¬ nych obrazów kontrolowanych obszarów, tworza¬ cych razem zlozony obraz obszaru kontrolowane¬ go rozciagajacy sie w zasadzie w sposób ciagly na calej dlugosci kapsulki (25) i na jej wzdluz¬ nie zakrzywionych koncach, a urzadzenie foto¬ czujnikowe (88) zawiera szereg czujników (165a— —165d) reagujacych na swiatlo w róznych par¬ tiach wzdluz tego zlozonego obrazu kontrolowa¬ nego obszaru. 18. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—17, zna- ^ mienny tym, ze kapsulka {25) ma jedno lub wiek¬ sza liczbe celowych odchylen (54, 56) ksztaltu, któ¬ re powoduja zmiany swiatla podobne do wywola¬ nych przez usterki, przy czym wystepuje osobny fotoczujnik (165a, 165b) reagujacy na swiatlo 30 w kontrolowanym obszarze gdzie wystepuja, te odchylenia, a wyniki kontroli dokonywanej przez ten czujnik przetwarza sie w celu stwierdzenia, czy zachodza dodatkowe zmiany swiatla swiad¬ czace o obecnosci usterek. 35 19. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—18, zna¬ mienny tym, ze zawiera urzadzenie (24) do pod¬ trzymywania i obracania kazdej kapsulki <25) do¬ kola jej osi w polozeniu kontrolnym z koncami ustawionymi osiowo i bokiem odslonietym dla 40 kontroli. 20. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—19, zna¬ mienny tym, ze powierzchnia odbijajaca (72) jest poprzeczna do plaszczyzny tworzacej kat dwu- scienny z plaszczyzna ukladu optycznego i roz- 45 ciaga sie w tej plaszczyznie na duzym luku sie¬ gajacym poza konce kapsulki (25), oraz jest usta¬ wiona i uksztaltowana tak aby odbijala swiatlo z tego zródla (70) ku kapsulce w postaci waskiej, wydluzonej wiazki zbieznych promieni. 50 21. Uklad optyczny wedlug zastrz. 20, znamien¬ ny tym, ze powierzchnie odbijajaca stanowi pa¬ skowy wycinek powierzchni elipsoidy. 22. Uklad optyczny wedlug zastrz. 20, znamien¬ ny tym, ze kat clwuscienny wynosi 50°. 55 23. Uklad optyczny wedlug zastrz. 16, znamien¬ ny tym, ze urzadzenie fotoczujnikowe (88) zawie¬ ra element (179) reagujacy na zmiany swiatla w ograniczonym obszarze obrazu kapsulki przed stawiajacym drugi obszar obserwacji na kapsulce 60 na zewnatrz pola odblasku i po jego przeciwnej stronie wzgledem pierwszego obszaru obserwacji, w celu umozliwienia wykrywania swiatla odbite¬ go od brzegów wzdluznych pekniec (171') i^p. w kapsulce (25). 65 24. Uklad optyczny wedlug zastrz. 20, znamien-23 79457 24. Ny tym, ze powierzchnia odbijajaca jest wycin¬ kiem elipsoidy. 25. Uklad optyczny wedlug zastrz. 20, znamien¬ ny tym, ze powierzchnia odbijajaca rozciaga sie na luku o przekroju stozkowym. 26. Uklad optyczny wedlug zastrz. 25, znamien¬ ny tym, ze powierzchnia odbijajaca stanowi czesc powierzchni obrotowej o przekroju stozkowym. 27. Uklad optyczny wedlug zastrz. 1—26, zna¬ mienny tym, ze obiektywy (109—111) rzucaja obra- 10 zy kapsulki i(25) w rzutach z boku i od konca maski (116) usytuowane w plaszczyznach obra¬ zów i zatrzymujace swiatlo odblaskowe z kapsu¬ lek dobrych lecz majace otwory (162) odsuniete od pól swiatla odblaskowego, przepuszczajace swiatlo odbite od usterek w wybranych obszarach obserwacji na wirujacych kapsulkach, przy czym za otworami znajduja sie czujniki swietlne (165) wytwarzajace elektryczne sygnaly sterujace, któ¬ re dostarczaja informacji o wynikach kontroli.KI. 30g,6/05 79457 MKP A61j 5/00 Fi^.5 132KI. 30g,B/05 79457 MKP A61j 5/00 -92 ^l-90 Fi$.7KI. 30g,6/05 79457 MKP A61j 5/00 132 74 Fi^.9 Fi<£.8 208 202 _204 ^200 lk-^06 50 51 lt Fis-n Fi£.12 Fi£. 10KI. 30g,6/05 79457 MKP A61j 5/00 165 a 165 b Fi£.l6 I65d Fi£-15 „ Fi<£. 14a Fic(.l4b 156 R '69" J 25 "71 110 ; F-2 146 .156 166 Fi£.

13. .72 *JO' M42 -I40y *138KI. 30g,6/05 79457 MKP A61j 5/00 Fig-18 PL PL