Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 30.09.1973 Opis patentowy opublikowano: 10.06.1975 78826 KI. 42k,49/02 MKP G01n 33/38 Twórcywynalazku: Stefan Pilcer, Jerzy Ziaja, Józef Lesniak Uprawniony z patentu tymczasowego: Politechnika Wroclawska,Wroclaw (Polska) Mikrozrywarka do pomiaru przestrzennego stanu odksztalcenia metoda rentgenowska na dyfraktometrze Przedmiotem wynalazku jest mikrozrywarka do pomiaru odksztalcen metoda rentgenowska na dyfrakto¬ metrze. Moze byc ona stosowana do pomiaru plaskiego stanu odksztalcenia w materiale drobnoziarnistym oraz do pomiaru plaskiego i przestrzennego stanu odksztalcenia w pojedynczych krystalitach.Znane sa mikrozrywarki do pomiaru przestrzennego stanu odksztalcenia w pojedynczych krystalitach pozwalajace wylacznie na okreslenie plaskiego stanu odksztalcenia w drobnoziarnistym materiale, nie umozliwia¬ ja natomiast wykonania pomiarów w obrebie poszczególnych krystalitów.Celem wynalazku jest okreslenie przestrzennego stanu odksztalcenia w ziarnach materialu polikrystaliczne¬ go, zas zadaniem technicznym wynalazku jest skonstruowanie mikrozrywarki umozliwiajacej wykonanie pomiaru.Zadanie to zostalo rozwiazane przez skonstruowanie mikrozrywarki skladajacej sie z trzech zasadniczych zespolów: urzadzenia rozciagajacego próbki i krzyzowego stolika polaczonego przegubowo z korpusem oraz maskownicy przykreconej do urzadzenia rozciagajacego.W urzadzeniu rozciagajacym slimakowa przekladnia napedzana recznie jest przykrecona srubami do nosnej ramy. Pociagowa sruba wychodzaca z przekladni sluzy do wywolywania roboczego ruchu dolnej szczeki znajdujacej sie miedzy kolumnami ramy nosnej. Dolna szczeka jest dzielona, co ulatwia polaczenie jej z uchem pociagowej sruby oraz mocowanie próbek. Górna szczeka ma podobna konstrukcje jak dolna i jest polaczona sruba, na która jest nakrecona wyprofilowana w ksztalcie ostrza nakretka z pomiarowym ukladem sily wymuszajacej. Obie szczeki maja na powierzchniach stykajacych sie z kolumnami rowki, w które wchodza prowadzace kolki dociskane sprezynkami. Na poprzeczce nosnej ramy sa przykrecone dwie podpory. Na nich spoczywa belka o równomiernej wytrzymalosci na zginanie. Ugiecia belki pod dzialajacym obciazeniem rejestruje sprezynowy czujnik co pozwala na wyznaczenie sily obciazajacej.Drugim zasadniczym zespolem mikrozrywarki jest krzyzowy stolik z korpusem. Na stoliku jest naklejona katowa podzialka do pomiaru katów obrotu zrywarki wokól poziomej osi urzadzenia oraz jest przykrecony srubami przegub do listwy przesuwajacej sie w kierunku prostopadlym do ruchomej podstawy stolika, Jednoczesnie na os pokretla ruchomej podstawy jest zalozony aretaz zabezpieczajacy przed przesuwaniem sie zrywarki podczas przeprowadzania pomiarów.2 78 826 W mikrozrywarce wedlug wynalazku korpus sklada sie z podstawy i uchwytu mocowanego w dyfrakto¬ metrze. Podstawa ma mozliwosc przesuwania sie wzgledem uchwytu dzieki prowadnicy i regulacyjnemu pokretlu. Pozwala to w polaczeniu ze sruba regulujaca ustawienie zrywarki w pionie i kontrolnymi szczelinami wycietymi w kolumnach nosnej ramy na dokladne wprowadzenie zrywarki w os dyfraktometru. Do podstawy jest przykrecony srubami pólpierscien i zaciskowe pokretlo, co umozliwia obrót krzyzowego stolika razem z urzadzeniem rozciagajacym próbki wokól poziomej osi urzadzenia.Trzecim zespolem mikrozrywarki jest maskownica przykrecona do górnej lub dolnej szczeki zrywarki.Dziala ona w oparciu o zasade krzyzowego stolika i umozliwia pomiar przestrzennego stanu odksztalcenia w wybranych obszarach jednego krystalitu. Elementem zaslaniajacym inne czesci ziarna jest przy takim pomiarze olowiana folia z otworem o srednicy 0,5 mm.Zasadnicze korzysci techniczne wynikajace ze stosowania mikrozrywarki wedlug wynalazku polegaja na tym, ze staje sie praktycznie wykonalne zmierzenie odksztalcen metoda rentgenowska w poszczególnych czesciach pojedynczego krystalitu znajdujacego sie w polikrystalicznym materiale.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedsta¬ wia mikrozrywarke w widoku z przodu, fig. 2 - w widoku z boku, fig. 3 — w widoku z tylu, a fig. 4 — maskow¬ nice zalozona na mikrozrywarke.W obudowie 1 miesci sie slimakowa przekladnia o przelozeniu 1 :50 napedzana recznie pokretlem 2. Do górnej pokrywy przekladni sa przykrecone srubami nosne kolumny 3, które z przykrecona do nich poprzeczka 4 tworza rame. W kolumnach sa wywiercone otwory i umieszczone w nich kolki 5 prowadzace szczeki dociskane sprezynkami 6. Dolna szczeka 7 ma wyciecia na chwytowa czesc próbki oraz na ucho pociagowej sruby 8, z która jest polaczona wyprofilowana nakladka 9 przykrecona srubami do szczeki 7 i sworzniem 10. W sworzniu 10 jest wykonany przelotowy otwór na regulacyjna srube 11 zapewniajaca razem z podkladka 12 i sprezynami 13 przykreconymi do krzyzowego stolika ustawienie zrywarki w pionie. Górna szczeka 14 ma taka sama konstrukcje jak dolna szczeka 7* Wywoluje ona poprzez srube 15 z nakretka 16 z wyprofilowanym ostrzem ugiecia belki o równomiernej wytrzymalosci na zginanie podpartej swobodnie na ramie. Ugiecia odczytane na czujniku sprezynowym pozwalaja na okreslenie sily dzialajacej na próbke. Nakretka 17 nakrecona na srube 15 sluzy do aretowania pomiarowego ukladu sil.Próbka jest mocowana w szczekach rozciagajacego urzadzenia przy pomocy kolków wchodzacych w otwory 18 j nakladek dociskanych nakretkami 19. Przegub 20 laczacy zrywarke z krzyzowym stolikiem jest przykrecony dwiema srubami do rozciagajacego urzadzenia i dwiema do przesuwnej listwy 21 stolika 22, na którym jest naklejona katowa podzialka 23 i zamocowany aretaz 24 zabezpieczajacy przed samoczynnym opuszczeniem sje urzadzenia rozciagajacego próbki pod wlasnym ciezarem.Urzadzenie rozciagajace próbki razem z krzyzowym stolikiem 22 jest osadzone na pólpierscieniu 25 przykreconym do podstawy 26 korpusu 27 umozliwiajacym obrót urzadzenia wokól poziomej osi i jest zabezpieczone przed swobodnym obracaniem sie zaciskiem 28. Podstawa 26 korpusu 27 jest polaczona przesuwnie z uchwytem 29 zakladanym na dyfraktometr przy pomocy prowadnicy 30 i pokretla 31. Maskowni¬ ce 32 przykreca sie do górnej szczeki 14 lub dolnej szczeki 7 nakretkami 19. Nieruchoma czesc maskownicy ma przetloczenie zapewniajace przyleganie olowianej folii do powierzchni próbki." Wybór badanego miejsca na próbce realizuje sie przy pomocy ramek 33 i 34 przy czym ruch ramki 33 wywoluje sie przez obrót kluczem osi 35 kólka zebatego sprzezonego z listwa przylutowana do tej ramki, natomiast ruch ramki 34, w której umocowano olowiana folie realizuje sie za pomoca klucza poruszajacego krzywke 36.Dzialanie mikrozrywarki polega na tym, ze pokretlem 31 i regulacyjna sruba 11 ustawia sie urzadzenie rozciagajace próbki w osi dyfraktometru. Obciazenie w próbce wymusza sie pokretlem-2 powodujacym ruch dolnej szczeki 7 a wielkosc sily odczytuje sie na sprezynowym czujniku. Wybór badanego miejsca na próbce uzyskuje sie przy pomocy regulacyjnych pokretel 37 i 38 oraz maskownicy 32, zas odpowiednie geometryczne i dyfrakcyjne warunki pomiaru przez obrót urzadzeniem rozciagajacym próbki wokól poziomej osi mikrozrywar¬ ki i pionowej dyfraktometru. PL PL