PL78825B2 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL78825B2
PL78825B2 PL15968472A PL15968472A PL78825B2 PL 78825 B2 PL78825 B2 PL 78825B2 PL 15968472 A PL15968472 A PL 15968472A PL 15968472 A PL15968472 A PL 15968472A PL 78825 B2 PL78825 B2 PL 78825B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
circuit
value
standing wave
tuning
matching
Prior art date
Application number
PL15968472A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL15968472A priority Critical patent/PL78825B2/pl
Publication of PL78825B2 publication Critical patent/PL78825B2/pl

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 15.11.1973 Opis patentowy opublikowano: 14.Q7.1975 78825 KI. 21g, 34 MKP H03H7/08 tllLIOTEKA Twórcywynalazku: Tadeusz Morawski, Wojciech Gwarek Uprawniony z patentu tymczasowego: Politechnika Warszawska, Warszawa (Polska) Sposób wyznaczania rozdzialu mocy strat w strojnikach mikrofalowego obwodu dopasowujacego Przedmiotem wynalazku jest sposób wyznaczania rozdzialu mocy strat w strojnikach obwodu dopasowuja¬ cego impedancje dowolnego obwodu mikrofalowego do impedancji charakterystycznej linii pomiarowej.Przez pojecie „rozdzial mocy strat" rozumie sie n-elementowy zbiór wartosci, które okreslaja stosunek mocy wydzielonej w i-tym strojniku do mocy wydzielonej w calym obwodzie zlozonym z obwodu dopasowuja¬ cego oraz dopasowywanego, gdzie i = 1,2,... n, przy czym n oznacza ilosc strojników.Zaopatrzone w strojniki obwody dopasowujace sa bardzo czesto stosowane w technice mikrofalowe}, a znajomosc rozdzialu mocy strat jest przydatna zarówno w wielu metodach pomiarowych, wykorzystujacych zjawisko dopasowania impedancji jak i w innych obwodach +, na przyklad obwodach duzej mocy.Znane sposoby wyznaczania rozdzialu mocy strat w strojnikach obwodu dopasowujacego polegaja na anali¬ zie schematu zastepczego obwodu dopasowujacego. Elementy tego schematu mozna wyznaczyc znajac uklad polaczen, rozmiary geometryczne strojników oraz wartosci wspólczynników fali stojacej dla kazdego strojnika.Taki schemat zastepczy jest jednak przyblizony, nie uwzglednia niejednorodnosci, powstalych w miejscu dola¬ czenia strojnika oraz nie uwzglednia istotnego faktu, ze w niektórych obwodach (na przyklad w obwodzie dopasowujacym ze strójnikami falowodowymi) o stalych rozlozonych trudno jest podac adekwatny schemat zastepczy.Celem wynalazku jest opracowanie bardziej uniwersalnego sposobu wyznaczania rozdzialu mocy strat, nie wymagajacego wyznaczania parametrów schematu zastepczego obwodu dopasowujacego, a przez to szybszego i dokladniejszego, pomimo poslugiwania sie prostym i typowym sprzetem.Wytyczony cel zostal zrealizowany zgodnie z wynalazkiem przez opracowanie sposobu wyznaczania roz¬ dzialu mocy strat w strojnikach mikrofalowego obwodu dopasowujacego, jesli znane sa wartosci wspólczynni¬ ków fali stojacej w tych strojnikach. Wartosci tych wspólczynników fali stojacej wyznacza sie w odlaczonych od ukladu dopasowujacego strojnikach, za pomoca typowej linii pomiarowej. Jesli obwód dopasowujacy ma taka budowe, ze strojników nie da sie odlaczyc, to wyznaczenie wartosci wspólczynników fali stojacej w tych strojnikach jest trudniejsze, lecz mozliwe, droga dodatkowych, bardziej zlozonych pomiarów i analizy obliczenio-2 78 825 wej. Strojniki powinny posiadac mozliwosc odczytu wartosci malej zmiany polozenia zwieracza. Zadanie to na ogól jest spelnione w przypadku korzystania z precyzyjnej aparatury mikrofalowej.Wyznaczenie rozdzialu mocy strat w strojnikach mikrofalowego obwodu dopasowujacego polega na tym, ie po uzyskaniu dopasowania impedancji dopasowywanego obwodu mikrofalowego do linii pomiarowej poprzez odpowiednie ustawienie polozen zwieraczy strojników obwodu dopasowujacego zmienia sie kolejno kazde z po¬ lozen tych zwieraczy o mala, znana wartosc i mierzy sie powstale wskutek tych zmian niewielkie zmiany wspólczynnika fali stojacej na linii pomiarowej, po czym wykorzystujac dokonany pomiar oblicza sie z prostych wzorów wartosci mówiace o rozdziale mocy strat w i-tym strojniku do calkowitej mocy strat, Istotnymi zaletami rozwiazania wedlug wynalazku jest skrócenie czasu pomiarów i obliczen wyników w stosunku do znanych dotychczas metod. Pomiar moze sie odbywac za pomoca typowego sprzetu, przy czym dokladnosc pomiaru nie ustepuje dokladnosci dotychczas stosowanych metod.Przyklad ukladu pomiarowego do stosowania sposobu wedlug wynalazku jest przedstawiony na rysunku, na którym uwidoczniony jest generator G, dolaczony do wejscia typowej linii pomiarowej LP zaopatrzonej w sonde S z detektorem D oraz miernikiem wspólczynnika fali stojacej M. Do wyjscia linii pomiarowej LP dolaczony jest regulowany obwód dopasowujacy ROD, który dopasowuje impedancje obwodu mikrofalowego OM do impedancji linii pomiarowej LP. Regulowany obwód dopasowujacy ROD zaopatrzony jest w n strojników Si, S2...., Sn, zakonczonych zwieraczami regulowanymi, których polozenie oznaczono przez llf l2...., 1n.Stratnosc zwieraczy jest scharakteryzowana znacznymi wartosciami wspólczynników fali stojacej w tych zwie¬ raczach: poj, Po,2-» Pon- Korzystajac z teorii malych zaburzen mozna udowodnic, ze wartosc 17;, która jest równa stosunkowi mocy strat wydzielanej w i-tym strojniku (i = 1,2,..., n) do mocy strat w calym obwodzie wyraza sie wzorem: (AZwi) ""wSiT (1) Roi gdzie: Zw — impedancja na wejsciu regulowanego obwodu dopasowujacego, Rw — rezystancja na wejsciu regulowanego obwodu dopasowujacego, X0j — reaktancja na wejsciu i-tego strojnika, R0; — rezystancja na wejsciu i-tego strojnika, A X0j — mala zmiana reaktancji, spowodowana malym przesunieciem polozenia zwieracza w i-tym strojniku, A Zwj — mala zmiana impedancji Zw spowodowana tym przesunieciem zwieracza w i-tym strojniku.Ze wzgledu na to, ze uprzednio uzyskano w obwodzie dopasowanie (to znaczy wspólczynnik fali stojacej odczytany na linii pomiarowej równa sie jednosci) oraz ze wzgledu na znane zwiazki, zachodzace miedzy rezystancja i reaktancja strojnika a wspólczynnikiem fali stojacej ppj i polozeniem zwieracza lj w i-tym strojniku z równosci (1) wynika uzyteczna w pomiarze nastepujaca równosc: m = —^ Poi • 0j • A|j gdzie: /J( - stala fazowa w i-tym strojniku Apj — zmiana wspólczynnika fali stojacej,odczytana na linii pomiarowej LP, spowodowana malym przesunieciem zwieracza w i-tym strojniku o wartosci Al*. PL PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób wyznaczania rozdzialu mocy strat w strojnikach mikrofalowego obwodu dopasowujacego impedan¬ cje dowolnego obwodu mikrofalowego do impedancji charakterystycznej linii pomiarowej, jesli znane sa wartosci wspólczynników fali stojacej dla kazdego strojnika, znamienny tym, ze po uzyskaniu dopasowania impedancji obwodu mikrofalowego (OM) do linii pomiarowej (LP) poprzez odpowiednie ustawienie polozen zwieraczy strojników (St), (S2),...(Sn) regulowanego obwodu dopasowujacego (ROD) zmienia sie kolejno kazde z polozen tych zwieraczy o mala, znana wartosc Alj i mierzy sie powstale wskutek tych zmian niewielkie zmiany wspólczynnika fali stojacej za pomoca linii pomiarowej, po czym wykorzystujac dokonany pomiar, oblicza sie wartosc t?j bedaca stosunkiem mocy strat w i-tym strojniku (i - 1,2,..., n) do calkowitej mocy strat w obwodzie, wedlug zaleznosci:78 825 m = gdzie: Apj Poi • P\ • Alj 77j mówi, jaka czesc calkowitej mocy strat wydziela sie w i-tym strojniku Si, Poi oznacza wartosc wspólczynnika fali stojacej w i-tym strojniku Sj# /3j — oznacza wartosc stalej fazowej w i-tym strojniku Sj, A1j - wartosc malego przesuniecia zwieracza w i-tym strojniku Sj, Apj — mala zmiana wspólczynnika fali stojacej odczytana na linii pomiarowej (LP), spowodowana malym przesunieciem zwieracza i-tego strojnika Sj, n - ilosc strojników obwodu dopasowujacego (ROD). L Sf Sa *n PL PL
PL15968472A 1972-12-20 1972-12-20 PL78825B2 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15968472A PL78825B2 (pl) 1972-12-20 1972-12-20

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15968472A PL78825B2 (pl) 1972-12-20 1972-12-20

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL78825B2 true PL78825B2 (pl) 1975-06-30

Family

ID=19961063

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL15968472A PL78825B2 (pl) 1972-12-20 1972-12-20

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL78825B2 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20140049551A (ko) 고전압들을 측정하기 위한 교정된 주파수 특성을 가지는 적응형 전압 분배기
CN106093810A (zh) 一种材料电磁参数测试的方法及用于材料电磁参数测试的多值性问题解决办法
PL78825B2 (pl)
US3479587A (en) Reflection-coefficient measuring apparatus
RU2276377C1 (ru) Устройство для измерения амплитудно-частотных и фазочастотных характеристик четырехполюсников с преобразователем частоты
SU103236A1 (ru) Способ определени коэффициента бегущей волны, передаваемой мощности, входного и выходного сопротивлений фидерной линии
Yonekura et al. High-Frequency Impedance Analyzer
Zachovalova AC-DC current transfer difference in CMI
SU1238006A1 (ru) Способ определени полных входного и выходного сопротивлений СВЧ-транзисторов
Odrobina et al. Wideband six-port reflectometer
SU1674010A1 (ru) Способ измерени параметров нерезонансных двухполюсников
SU391662A1 (ru) Способ измерения модуля коэффициента отражения
RU2214609C2 (ru) Способ измерения составляющих комплексного сопротивления двухполюсника и напряжения на нем
SU1506388A1 (ru) Способ измерени диэлектрической проницаемости твердых материалов
Watanabe et al. A bridge method for simultaneous measurements of coupling coefficient and loaded Q of a single‐ended cavity
SU1363086A1 (ru) Способ определени комплексного коэффициента отражени СВЧ-нагрузки
SU1084696A1 (ru) Измеритель фазового сдвига невзаимного СВЧ-устройства
SU1285409A1 (ru) Способ обнаружени места повреждени металлической оболочки кабел
Fletcher et al. A measurement chain for the determination of RK using a calculable capacitor
SU434340A1 (ru) Способ определения расстояния до места повреждения при коротких замыканиях
Thompson et al. Complex permittivity measurements using a quasi-optical multistate reflectometer
JP2006250743A (ja) π型インピーダンス回路網のインピーダンス測定方法および測定装置
RU99184U1 (ru) Измеритель параметров четырехполюсника
SU1636799A1 (ru) Способ измерени характеристических параметров четырехполюсника
Lasitter Power line impedance determination using the" 3 voltmeter" measurement method