PL77521B2 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL77521B2 PL77521B2 PL15387972A PL15387972A PL77521B2 PL 77521 B2 PL77521 B2 PL 77521B2 PL 15387972 A PL15387972 A PL 15387972A PL 15387972 A PL15387972 A PL 15387972A PL 77521 B2 PL77521 B2 PL 77521B2
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- capacitor
- resistor
- mis
- capacitors
- switch
- Prior art date
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
Zdjeta charakterystyke analizuje sie zgodnie ze wzorem (1) za pomoca maszyny matematycznej, skad uzyskuje sie wykres koncentracji domieszek w funkcji odleglosci mierzonej od powierzchni w glab pólprzewodnika. Urzadzenie wedlug wynalazku (fig. 1) posiada generator napiecia liniowego 1, którego sygnal, ze wzgledu na wspomniana wczesniej koniecznosc stosowania krótkiego czasu pomiaru, ma szybkosc narastania wieksza niz sto miliwoltów na mikrosekunde.Wartosc rezystora 5 jest dobierana na poziomie maksymalnym dla danej szybkosci narastania oraz pojemnosci, tak by jednoczesnie byla zachowana liniowa zaleznosc spadku napiecia na rezystorze 5 od mierzonej pojemnosci 3. Kondensator wzorcowy 2 sluzy do skalowania pomiaru. Sygnal odkladajacy sie na rezystorze 5 jest wzmacniany przez wzmacniacz 6, nastepnie po przetworzeniu metoda próbkowania przez konwerter 7 w prze¬ bieg wolnozmienny jest zapisywany na rejestratorze X-Y8, po czym jest analizowany za pomoca maszyny matematycznej 9. PL PL
Claims (2)
1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wyznaczania profilu koncentracji domieszek w warstwie przypowierzchniowej pólprzewodnika, polegajacy na zdejmowaniu charakterystyk nierównowagowych C - f(Uc) struktury MIS, znamienny tym, ze przebieg liniowo zmienny w czasie, o szybkosci narastania wiekszej od stu miliwoltów na mikresekunde, na przyklad przebieg piloksztaltny lub trójkatny, doprowadza sie równolegle do mierzonego kondensatora MIS oraz kondensatora wzorcowego, które sa polaczone przez przelacznik z rezystorem, po czym przebieg zbierany z rezystora wzmacnia sie i przetwarza metoda próbkowania w konwerterze, przy czym na wyjsciu konwertera otrzymuje sie dwa sygnaly, to jest jeden propor^jc^aJuiy do pojemnosci rózniczkowej kondensatora MIS, a drugi j77 521 3 do napiecia polaryzujacego kondensator, które rejestruje sie otrzymujac charakterystyke C - f(uUQ), przy czym charakterystyke te analizuje sie za pomoca maszyny matematycznej.
2. Urzadzenie do stosowania sposobu wedlug zastrzezenia 1, znamienne tym, ze ma generator napiecia liniowego (1), który jest polaczony z wzajemnie równolegle polaczonymi kondensatorami (2) 3(3), przy czym kondensatory te poprzez przelacznik (4) sa laczone szeregowo z rezystorem (5) oraz wejsciem wzmacniacza (6) polaczonego na wyjsciu z kondensatorem (7), którego dwa wyjscia sa polaczone z wejsciami X, Y rejes¬ tratora (8). JL Y r L ftet Cfpfjj w i 301 2$ i \ X 10 UM Flj 2 PL PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL15387972A PL77521B2 (pl) | 1972-03-06 | 1972-03-06 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL15387972A PL77521B2 (pl) | 1972-03-06 | 1972-03-06 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL77521B2 true PL77521B2 (pl) | 1975-04-30 |
Family
ID=19957674
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL15387972A PL77521B2 (pl) | 1972-03-06 | 1972-03-06 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL77521B2 (pl) |
-
1972
- 1972-03-06 PL PL15387972A patent/PL77521B2/pl unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE3780647T2 (de) | Quench-schaltung fuer avalanche-photodioden. | |
| SU657769A3 (ru) | Устройство дл определени коэффициента средней длины волны | |
| PL77521B2 (pl) | ||
| Maron | Determination of intrinsic viscosity from one‐point measurements | |
| GB1373849A (en) | Temperature measuring devices | |
| SU147377A1 (ru) | Способ измерени функции распределени и плотности веро тности случайной электрической величины и устройство по этому способу | |
| Williams et al. | Metric variations in populations of Carcinus moenas | |
| Forward et al. | An automatic CV plotter | |
| SU1453585A2 (ru) | Синхронный детектор | |
| SU718799A1 (ru) | Измеритель частоты следовани импульсов | |
| SU437091A1 (ru) | Устройство дл вы влени амплитудной нестационарности гауссовых случайных процессов | |
| SU426202A1 (ru) | Измеритель сопротивлений | |
| SU151408A1 (ru) | Устройство дл измерени отношени (или разности) амплитуд и сдвига фаз | |
| SU444120A1 (ru) | Устройство дл определени момента максимума амплитуды переменного напр жени | |
| DE2631783C3 (de) | Meßverfahren zur Analyse von Haftstellen in Halbleitermaterialien | |
| JPS5614903A (en) | Interpolation method in digital length measuring or angle measuring system | |
| SU439896A1 (ru) | Демодул тор амплитудно-модулированных сигналов | |
| SU553543A1 (ru) | Устройство дл измерени амплитуды одиночных импульсов | |
| SU752210A1 (ru) | Линейный спектрометрический усилитель | |
| JPS5460855A (en) | Measurement device for deep level of semiconductor device | |
| SU440617A1 (ru) | Устройство дл измерени стабильности и линейности коэффициента передачи фазоинвертирующих импульсных усилителей | |
| SU954857A1 (ru) | Устройство дл определени времени окончани приработки пары трени | |
| PL90729B1 (pl) | ||
| Howard | Nearshore sedimentary processes as geologic studies | |
| SU455295A1 (ru) | Устройство дл измерени временного сдвига между импульсными сигналами |