PL67658B1 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 14.IV.1973 67658 KI. 318M7/02 MKP F27b 17/02 Twórca wynalazku: Bernard Bethge Wlasciciel patentu: Politechnika Slaska im. W. Pstrowskiego, Gliwice (Polska) Piec do pomiaru spiekania i pecznienia zwlaszcza mineralów i Przedmiotem wynalazku jest piec do przepro¬ wadzania prób i pomiarów spiekania i pecznienia zwlaszcza mineralów w podwyzszonych tempera¬ turach.Dotychczas do badania procesów spiekania i pecz¬ nienia stosuje sie mikroskop wysokotemperaturo¬ wy, który jest zbudowany dla okreslonego przy¬ rostu temperatury w granicach kilku do kilkudzie¬ sieciu stopni Celsjusza na minute oraz badan w atmosferze utleniajacej, obojetnej lub slabo redu¬ kujacej, gdzie do badan uzywa sie wzorców szes¬ ciennych o boku 3—6 mm, których zachowanie obserwuje sie na tle regularnej siatki pomiarowej o liniach przecinajacych sie przed katem 90°.Wzgledem tego urzadzenia przy przeprowadzaniu badan np. nad zachowaniem sie mineralów na pograniczu spiekania i pecznienia, jest za duza bezwladnosc ukladu pomiarowego, szczególnie w przypadku poddawania próbek dzialaniu ciepla z duzymi gradientami temperatury. Dalszymi wadami jest za maly przyrost temperatury w jednostce cza¬ su, oraz obserwacja szesciennego wzorca, uwarun¬ kowana prostokatna siatka pomiarowa. Przy obser¬ wacji procesu pecznienia np. ziarna keramzytu, szescienny ksztalt wzorca i duza bezwladnosc wy¬ paczaja model procesu przemyslowego, któremu podlega ziarno nadawy.Celem wynalazku jest usuniecie wyzej wymie¬ nionych wad.Cel ten zostal osiagniety przez wyposazenie pieca 10 15 25 30 do pomiaru spiekania i pecznienia mineralów w urzadzeniu podajace zaopatrzone w regulacyjna srube polozenia próbki oraz siatke pomiarowa, dos¬ tosowana konturami do ksztaltu próbki wbudowa¬ na w urzadzenie do obserwacji zmian wielkosci próbek.Wedlug wynalazku w piecu poddaje sie próbom elementarna jednostke nadawy w jej postaci natu¬ ralnej, w której wystepuje w warunkach prze¬ myslowych. Jest to najczesciej forma kulista, której obserwacja zachowania podczas stosowania zna¬ cznych przyrostów temperatury daje istotne podsta¬ wy do projektowania procesu oraz urzadzen wy¬ twórczych. Zwiekszenie przyrostu temperatury osia¬ ga sie na przyklad przez wprowadzenie mierzonej próbki nadawy za pomoca urzadzenia podawczego do srodka elementu grzewczego uprzednio podgrza¬ nego do górnej temperatury pomiaru. Zachowanie próbki obserwuje sie przez siatke pomiarowa dos¬ tosowana do ksztaltu próbki. Na przyklad do kulis¬ tego ksztaltu próbki uzywa sie kolowej siatki po¬ miarowej.Urzadzenie wedlug wynalazku upraszcza prace badawcze procesów zachodzacych w wysokich temperaturach, szczególnie podczas stosowania znacznych gradientów temperatury, droga stopnio¬ wego poddawania dzialaniu wysokich temperatur przez kolejne wprowadzanie za pomoca urzadzenia podawczego próbki do elementu grzewczego pieca poprzez przewód strefowo podgrzany do okreslo- 67 65867 658 nych temperatur posrednich. Pozwala to uniknac bezwladnosci elementu grzewczego, szczególnie du¬ zej przy stosowaniu przeponowego ogrzewania próbki. Ksztalt siatki pomiarowej dostosowanej do konturu próbki reprezentujacej jednostki, wyste¬ pujacej w procesie przemyslowym, ulatwia odczyt zmian wielkosci zachodzacych podczas obróbki cieplnej.Przedmiot wynalazku przedstawiony jest przy¬ kladowo na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia przekrój pionowy pieca pomiarowego, fig. 2 — kon¬ centryczna siatke pomiarowa do obserwacji zmian wielkosci próbek podczas obróbki cieplnej, a fig. 3 — styczna siatke pomiarowa do tych samych ob¬ serwacji.Piec sklada sie z obudowy 1 obejmujacej próbke 2 lezaca posrodku elementu grzewczego 3 oraz z urzadzenia podajacego 4 próbke 2. Urzadzenie po¬ dajace 4 jest wyposazone w srube 5 do ustalania polozenia próbki 2 w osi optycznej 8 urzadzenia do obserwacji 6, wyposazonego w siatke pomiarowa 7 dostosowana konturami do ksztaltu próbki i spo¬ sobu pomiaru. Przy pomiarze z uzyciem sruby ustalajacej z noniuszem czy sruby mikrometrycznej, oraz przy pionowym ulozeniu osi optycznej 8 ko¬ rzysta sie z siatki koncentrycznej (fig. 2), natomiast przy pomiarze bez korekty polozenia stosuje sie siatke styczna (fig. 3). Piec jest tez wyposazony w urzadzenie do pomiaru temperatury próbki. PL PL

Claims (3)

1. Zastrzezenie patentowe Piec do pomiaru spiekania i pecznienia, zwlaszcza mineralów skladajacy sie z elementu grzejnego do podgrzewania próbki oraz urzadzenia do obser¬ wacji zmian wielkosci próbek, znamienny tym, ze ma urzadzenie podajace (4) zaopatrzone w regula¬ cyjna srube (5) polozenia próbki (2), oraz wbudo¬ wana w urzadzenie do obserwacji (6) siatke po¬ miarowa (7) dostosowana konturami do ksztaltu próbki (2). fii.i. fig.

2. flgl.

3. Bltk 144/73 95 egz. A4 Cena zl 10,— PL PL