PL66069B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL66069B1 PL66069B1 PL139567A PL13956770A PL66069B1 PL 66069 B1 PL66069 B1 PL 66069B1 PL 139567 A PL139567 A PL 139567A PL 13956770 A PL13956770 A PL 13956770A PL 66069 B1 PL66069 B1 PL 66069B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- dielectric
- glass
- temperature
- hour
- crystallization process
- Prior art date
Links
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 25
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 claims description 14
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 claims description 14
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 13
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 11
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 11
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 9
- JKWMSGQKBLHBQQ-UHFFFAOYSA-N diboron trioxide Chemical compound O=BOB=O JKWMSGQKBLHBQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 5
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 4
- 238000010583 slow cooling Methods 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 4
- 238000007669 thermal treatment Methods 0.000 claims description 4
- YEXPOXQUZXUXJW-UHFFFAOYSA-N oxolead Chemical compound [Pb]=O YEXPOXQUZXUXJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims description 2
- 229910000464 lead oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 10
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 5
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 241000779819 Syncarpia glomulifera Species 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 239000003085 diluting agent Substances 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 2
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 2
- 239000001739 pinus spp. Substances 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- -1 silver ions Chemical class 0.000 description 2
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 2
- 229940036248 turpentine Drugs 0.000 description 2
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N ZrO2 Inorganic materials O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- AOWKSNWVBZGMTJ-UHFFFAOYSA-N calcium titanate Chemical compound [Ca+2].[O-][Ti]([O-])=O AOWKSNWVBZGMTJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 230000002500 effect on skin Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007496 glass forming Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JUWSSMXCCAMYGX-UHFFFAOYSA-N gold platinum Chemical compound [Pt].[Au] JUWSSMXCCAMYGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 1
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- HTYPUNPKBFMFFO-UHFFFAOYSA-N platinum silver Chemical compound [Ag][Pt][Pt] HTYPUNPKBFMFFO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000003303 reheating Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N vanadium Chemical compound [V]#[V] GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Description
66069 KI. 32b,3/22 MfeP C03c3/22 Opublikowano: 31.VII.1972 CZYILLUIA Urwi^galenloweoo * FFwptllU] Ulituj Wspóltwórcy wynalazku: Olgierda Sztaba, Danuta Lusniak-Wójcicka, Le¬ szek Stanislawski, Edward Kaczmarczyk Wlasciciel patentu: Zaklady Wytwórcze Podzespolów Telekomunikacyj¬ nych „Telpod", Kraków (Polska) Pasta dielektryczna i sposób wytwarzania z niej warstw dielek¬ trycznych, szczególnie dla kondensatorów grubowarstwowych Przedmiotem wynalazku i sposób wytwarzania z niej warstw dielektrycz¬ nych (szczególnie dla kondensatorów grubowarstwo¬ wych w zastosowaniu do mikroukladów hybrydo¬ wych. Dotychczas znane i stosowane pasty dielek¬ tryczne stanowia mieszanine proszków ceramicz¬ nych o wartosci stalej dielektrycznej rzedu 500 do 25.000 oraz proszku szkla o wartosci stalej dielek¬ trycznej 6—7 z dodatkiem nosników organicznych.Pasty dielektryczne nanosi sie naprzemian z pa¬ sta przewodzaca na podloze ceramiczne, a nastep¬ nie przeprowadza Sie obróbke termiczna. Wada te¬ go rozwiazania jest fakt, ze po wypaleniu otrzy¬ muje sie spiek ceramiczny stanowiacy czastki proszku ceramicznego polaczone bezpostaciowa fa¬ za szklista, która ze wzgledu na to, ze powstaje ze szkla o stalej dielektrycznej równej 6—7 po¬ woduje znaczne obnizenie stalej dielektrycznej otrzymanej warstwy. W zwiazku z tym ilosc do¬ dawanego szkla jest ograniczona.W mieszaninie proszków ceramicznych o tempe¬ raturze spiekania okolo 11400°C ze szklem zbyt ma¬ la ilosc dodawanego szkla nie pozwala na obni¬ zenie temperatury spiekania mieszaniny do tem¬ peratury charakterystycznej dla wypalania zna¬ nych past przewodzacych to jest 900— sza niedogodnoscia jest koniecznosc stosowania dro¬ gich past przewodzacych na ibazie: zloto (Au), pal- lad-zloto i(Pd-Au), platyna-zloto (Pt-Au), pallad- 10 15 25 30 -srebro (Pd-Ag), i platyna-srebro (Pt-Ag), gdyz stosowanie tanich past srebrowych jest w tym przy¬ padku niemozliwe ze wzgledu na wystepowanie zjawiska migracji jonów srebra nie polaczonych w zwiazki miedzymetaliczne.Celem wynalazku jest wyeliminowanie tych nie¬ dogodnosci. Wedlug wynalazku uzyskano to przez opracowanie pasty dielektrycznej stanowiacej mie¬ szanine proszków ceramicznych o wartosci stalej dielektrycznej wynoszacej 500—125.000 i proszków szkiel o zdolnosciach krystalizacyjnych, o wartosci stalej dielektrycznej powyzej 10. Mieszanina prosz¬ ków zawiera minimum 7'Ofyo wagowych proszków ceramicznych i do 30% wagowych proszków szkiel.Surowcami wyjsciowymi dla przygotowania proszków moga byc spiekane prosto .tlenki na przy¬ klad tlenku tytanu TiD2 lub dwu i wieloskladni¬ kowe spieki na przyklad tytaniany, niobany, cyr- koniany baru, strontu, wapnia, olowiu, ewentual¬ nie modyfikowane dla polepszenia parametrów ta¬ kimi dodatkami jak lantan, cyna, wanad, bizmut.Uzyte szklo to szklo trój lub cztero-skladnikowe powstale z podstawowych skladników szklotwór- czych, wybrane z obszaru, w którym udzial pro¬ centowy zapewnia zdolnosci do krystalizacji.Uwzgledniajac wymagania odnosnie krystalizacji, temperatury mieknlenia i rozplyniecia oraz war¬ tosci stalej dielektrycznej uzyte zostaly szkla z ukladu: tlenek olowiu (PlbO), trójtlenek boru (B2Os) i dwutlenek krzemu i(Si02). Z wyzej poda- 66 06966 069 nego ukladu najkorzystniejsze okazaly sie szkla o zawartosci w procentach wagowych: tlenek olowiu (PbO) — 75 do 70 trójtlenek boru (BzOs) — 2 do 22 dwutlenek krzemu (Si02) — 2 do 20 Mieszanine .proszków miesza sie z obojetnym nosnikiem lub rozcienczalnikiem organicznym na przyklad .terpentyna wenecka lub terpineolem.Ilosc uzytego nosnika lub rozcienczalnika nie ma zasadniczego znaczenia dla niniejszego wynalazku, a procentowy udzial w calosci pasty zalezny jest od stosowanej technologii nakladania. Przy wyko¬ rzystaniu warstw dielektrycznych wedlug wynalaz¬ ku tak przygotowana paste naklada sie znanymi metodami na przyklad metoda sitodruku na podlo¬ ze ceramiczne na przemian z pasta przewodzaca, stanowiaca okladke, ®usz£ i wypala. Temperatura wypalania w przypadku kondensatorów uwarun¬ kowana jest równoczesnie temperatura wypalania pasty przewodzacej.Wedlug wynalazku dobranie temperatury wypa¬ lania dielektryka nie przedstawia trudnosci dzieki mozliwosci stosowania duzych ilosci szkla bez po¬ gorszenia jakosci uzyskanej warstwy dielektrycz¬ nej. Mozna zateffi' stosowac temperature wypala¬ nia od 900 do H050°C. Czas wypalania wynosi od 25 minut do 1* godziny przy temperaturze stopnio¬ wo wzrastajacej od temperatury otoczenia.Nastepnie wypalona warstwe poddaje isie proce¬ sowi krystalizacja. Proces krystalizacji moze byc prowadzony droga kontrolowanego powolnego stu¬ dzenia lub ponownego podgrzewania do tempera¬ tury nizszej od temperatury mieknienia szkla. Przez temperature mieknienia szkla rozumie sie tempe¬ rature, w której szklo posiada lepkosc 107,« puaza.W przypadku przeprowadzania krystalizacji droga powolnego studzenia po wypaleniu, czas osiag¬ niecia temperatury 100^ powinien wynosic conaj- mniej ii godzine.W przypadku przeprowadzania krystalizacji dro¬ ga ponownego wypalania do temperatury nizszej' od temperatury mieknienia szkla; czas calkowitej Obróbki termicznej nie moze byc krótszy niz ,1 go¬ dzina, studzenie w tym przypadku moze przebiegac w czasie nie krótszym niz (20 minut.Drugim waznym czynnikiem jest uzycie prosz¬ ków ceramicznych, które w czasie dbrobki termicz¬ nej odgrywaja podwójna role. Stanowia one zarod¬ ki krystalizacji szkla. Sa wiec mukleatorami, a rów¬ noczesnie przyspieszaja przebieg krystalizacji, gdyz zostaly tak dobrane, ze posiadaja wlasnosci katali- czne dla procesu krystalizacji w odniesieniu do uzytego szkla.W wyniku uzyskuje sie warstwe dielektryczna o drobnokrystalicznej strukturze, w której krysztaly proszku ceramicznego znajduja sie wewnatrz kry¬ sztalów szkla. Ta krystaliczna struktura dielektry¬ ka zapobiega migracja jonów srebra z okladki do dielektryka, co pozwala na stosowanie tanich i po¬ wszechnie znanych past srebrowych. Taka warst¬ wa dielektryczna ma wyzsza stala dielektryczna niz mozna uzyskac w przypadku krystalizacji sa¬ mego szkla wzglednie mieszaniny proszków cera¬ micznych i szkla, krystalizujacyh obok siebie. 10 15 20 25 30 35 45 50 55 60 65 IPirzebieg procesu krystalizacji wedlug wynalazku zostaje osiagniety przez stosowanie proszków cera¬ micznych, których wlasnosci tfizyko-cliemigzne sa dobrane do wlasnosci szkla i zachowane sa pro¬ porcje jak uprzednio podano w opisie wynalazku.Struktura krystaliczna dielektryka zapobiega prze¬ wodnictwu jonowemu, a zatem mozna uzyskac ma¬ le wartosci tangensa kata stratnosci niezaleznego od"czestotliwosci. W czasie zabezpieczania warstwa ochronna nie wystepuja dodatkowe' niepozadane reakcje, zmieniajace podstawowe parametry die¬ lektryka.Ponizej podane zostana przyklady past dielek¬ trycznych oraz wytwarzania z nich wa^st dielek¬ trycznych.Przyklad 1. 97°/o wagowych tytanianu baru (BaTiOj) 3°/o wagowych szkla olowiowo^borowo-krzemowe- go o skladzie podanym uprzednio, o stalej dielektrycznej równej 16.Wyzej wymienione skladniki miesza sie z terpi¬ neolem. Tak przygotowana paste nanosi sie na podloze ceramiczne metoda sitodruku. Obróbka ter¬ miczna obejmuje suszenie w temperaturze 1&0°C przez okres 20 minut, wypal w temperaturze '9WC w czasie 45 minut i proces krystalizacji me¬ toda powolnego studzenia w czasie 1 godziny. Uzy¬ skana warstwa dielektryczna ma stala dielektrycz¬ na rzedu 30O0» tangens kata stratnosci wynoszacy 50X10-4, napiecie przebicia rzedu 33 kV/mm.Przyklad 2. 97,5°/o wagowych tytanianu wapnia zawierajacego 1,1 °/o dwutlenku cyrkonu 2,5°/» wagowych szkla olowiowo-lborowo-krzemo- wego o skladzie podanym powyzej i stalej dielektrycznej równej 16.Przygtowanie i obróbka termiczna jak w przy¬ kladzie 1. Uzyskana warstwa 'dielektryczna ma stala dielektryczna rzedu 600, tangens kata strat¬ nosci 20 do 30XilO-4, napiecie przebicia okolo 40 kV/mm.Parametry te sa nieosiagalne przy stosowaniu normalnego szkla. PL
Claims (4)
- Zastrzezenia patentowe 1. Pasta dielektryczna znamienna tym, ze stano¬ wi mieszanine proszków ceramicznych w ilolsci mi¬ nimum 70*/o wagowych i proszków szkiel o skla¬ dzie w procentach wagowych: tlenek olowiu (PlbO) — 75 do 70 trójtlenek boru (B£)a) — 2 do ,22 dwutlenek krzemu w ilosci do 3 jest zdyspergowana w nosniku organicznym.
- 2. Sposób wytwarzania warstwy dielektrycznej szczególnie dla kondensatorów grubowarstwowych z pasty dielektrycznej wedlug zastrz. \1 znamienny tym, ze po naniesieniu pasty ina podloze; wysusze¬ niu jej w temperaturze 100 do 180°C przez okres 15 do 45 minut i wypaleniu w temperaturze 900 do 1050°C przez okres 25 iminut do 1 godziny, pod-66 069 daje sie warstwe dielektryczna procesowi krysta¬ lizacji.
- 3. Sposób wedlug zastrz. 2 znamienny tym, ze proces krystalizacji przeprowadza sie droga powol¬ nego studzenia od maksymalnej temperatury wy¬ palania do temperatury irzedu ilO0°C w czasie nie krótszym niz 1 godzina.
- 4. Sposób wedlug zastrz. 2 znamienny tym, ze proces krystalizacji przeprowadza sie droga powol¬ nego podgrzewania do temperatury nizszej od tem¬ peratury mieknienia szkla, przy czym czas calko- 5 witej obróbki termicznej nie jest krótszy niz 1 go¬ dzina, a studzenie przeibiega w czasie nie krótszym niz 20 minut. PL
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19712113010 DE2113010A1 (de) | 1970-03-23 | 1971-03-18 | Verfahren zur Herstellung von dicken dielektrischen Kondensatorfolien |
| FR7109734A FR2083491B1 (pl) | 1970-03-23 | 1971-03-19 | |
| BE764694A BE764694A (fr) | 1970-03-23 | 1971-03-23 | Procede de fabrication de couchee epaisses dielectriques pour condensateurs |
| GB2492371A GB1313023A (en) | 1970-03-23 | 1971-04-19 | Method of manufacturing thick dielectric capacitor layers |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL66069B1 true PL66069B1 (pl) | 1972-04-29 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4015230A (en) | Humidity sensitive ceramic resistor | |
| DE4028279C2 (de) | Dielektrische keramische Zusammensetzung | |
| US5292694A (en) | Method of producing low temperature firing dielectric ceramic composition containing B2 O3 | |
| DE2347709C3 (de) | Dielektrische Masse | |
| DE69212097T2 (de) | Dielektrische keramische Zusammensetzung enthaltend Zinkoxid-Boroxid-Siliciumoxid Glass, Verfahren zu deren Herstellung sowie deren Verwendung als Resonator und Filter | |
| US4392180A (en) | Screen-printable dielectric composition | |
| JP3383623B2 (ja) | ホウ酸バリウムとケイ酸亜鉛の二成分焼結融剤をベースとするコンデンサーおよび誘電性セラミック粉末 | |
| DE2904276B2 (de) | Keramische Materialien aus Bariumtitanat-Homologen | |
| Kanai et al. | Effect of stoichiometry on the dielectric properties and life performance of (Pb0. 875Ba0. 125)[(Mg1/3Nb2/3) 0.5 (Zn1/3Nb2/3) 0.3 Ti0. 2] O3 relaxor dielectric ceramic: Part i, dielectric properties | |
| US4394456A (en) | Temperature-compensating ceramic dielectrics | |
| DE2419858A1 (de) | Beschichtungsglas fuer elektrische isolierungen | |
| US3609483A (en) | Thick film titanate capacitor composition | |
| PL66069B1 (pl) | ||
| DE2305728B2 (de) | Siebdruckfaehige, zur herstellung von elektrischen schalteinrichtungen, insbesondere heissleiterelementen, geeignete, an luft einbrennbare, glashaltige masse | |
| JPH0226775B2 (pl) | ||
| DE2403667B2 (de) | Elektrische Widerstandsmasse aus elektrisch-leitfähigen, wismuthaltigen, polynären Oxiden pyrochlorverwandter Kristallstruktur und einem dielektrischen Feststoff und deren Verwendung zur Herstellung elektrischer Widerstände | |
| CA1140741A (en) | Ceramic dielectrics and process for production thereof | |
| DE2935421C2 (de) | Siebdrucktinte | |
| DE3914844C2 (pl) | ||
| US5604167A (en) | Y5V dielectric composition | |
| DE3941283C1 (pl) | ||
| CA1149149A (en) | Thick film silver compositions for silver terminations for reduced barium titanate capacitors | |
| US3864159A (en) | Capacitor having thick-film glass-ceramic dielectric layer and method for manufacture | |
| US3703390A (en) | Capacitor encapsulant and method of forming | |
| US3421916A (en) | Vitreous ceramic compositions |