PL66045B1 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: - Opublikowano: 30.IX.1972 66045 KI. 42b, 10 MKP GOlb 15/02 U CZYTELNIA fUiUdo Patentowego Wspóltwórcy wynalazku: Jerzy Kedzierski, Zdzislaw Tokarski Wlasciciel patentu: Zjednoczone Zaklady Urzadzen Jadrowych „Polon", Warszawa (Polska) Uklad do pomiaru szerokosci lub srednic, zwlaszcza rurek szklanych, za pomoca wiazek promieniowania Przedmiotem wynalazku jest uklad do pomiaru szerokosci lub srednic, zwlaszcza rurek szklanych, za pomoca wiazek promieniowania. Uklad ten moze znalezc zastosowanie do ciaglych pomiarów zmian szerokosci profilu rurek, pretów, drutów, linek, tasm i tym podobnych przedmiotów w toku ich nieprzerwanej produkcji.Znane sa uklady do bezstykowego pomiaru sred¬ nic lub szerokosci profilów, np. rurek, pretów lub tasm, wykorzystujace cien calkowity rzucany przez mierzony przedmiot, umieszczony w rozbieznej wiazce promieniowania, które wysylane jest przez jedno zródlo.Uklady te maja jednak te wady, ze nie moga byc stosowane tam, gdzie mierzony przedmiot ulega w czasie pomiaru drganiom prostopadlym do osi rurki lub preta, poniewaz natezenie promieniowa¬ nia padajacego na detektor wzrasta przy oddalaniu przedmiotu od zródla promieniowania natezenie Celem wynalazku jest opracowanie takiego ukla¬ du, do pomiaru szerokosci lub srednic, zwlaszcza rurek, w którym przy oddalaniu sie mierzonego przedmiotu od zródla promieniowania natezenie promieniowania padajacego na detektor poczatkowo maleje po czym utrzymuje sie na stalym poziomie.W obszarze, w którym natezenie to utrzymuje sie na stalym poziomie mierzony przedmiot moze ule¬ gac drganiom w plaszczyznie zródlo — detektor bez wplywu na wynik pomiaru.Istota ukladu wedlug wynalazku jest to, ze za- 10 15 20 25 wiera on co najmniej dwa zródla promieniowania, umieszczone z jednej strony mierzonego przedmio¬ tu oraz detektor umieszczony po stronie przeciwnej tego przedmiotu, przy czym zródla promieniowania umieszczone sa po obu stronach plaszczyzny sy¬ metrii przechodzacej przez os mierzonego przed¬ miotu i srodek powierzchni czynnej detektora w ten sposób, ze wiazki promieniowania zródel prze¬ cinaja sie w obszarze miedzy mierzonym przed¬ miotem a detektorem.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony na ry¬ sunku, na którym fig. 1 przedstawia charakterys¬ tyke zmian natezenia promieniowania padajacego na detektor przy zmianach odleglosci mierzonego przedmiotu od zródla promieniowania w ukladzie z jednym zródlem, fig. 2 — te sama charakterys¬ tyke w ukladzie wedlug wynalazku, a fig. 3 — schemat ukladu do pomiaru szerokosci lub srednic, zwlaszcza rurek szklanych wedlug wynalazku.Jak pokazano na fig. 1 charakterystyka nateze¬ nia I promieniowania padajacego na detektor, przy zmianie odleglosci d przedmiotu od zródla, w zna¬ nych ukladach z jednym zródlem, wykazuje staly wzrost przy zwiekszaniu odleglosci. Fig 2 przed¬ stawia te sama charakterystyke natezenia promie¬ niowania padajacego na detektor uzyskana w ukla¬ dzie wedlug wynalazku. Charakterystyka natezenia I w pewnym obszarze zmian odleglosci d jest tu stala, dzieki czemu mierzony przedmiot moze w tym obszarze odleglosci d drgac w plaszczyznie 66 04566 045 3 zródlo — detektor bez wplywu na wynik pomiaru.Uklad wedlug wynalazku sklada sie z co naj¬ mniej dwóch zródel 1 i 2 promieniowania i detek¬ tora 3, a mierzony przedmiot 4 znajduje sie miedzy tymi zródlami i detektorem 3. Pomiar szerokosci lub srednic, zwlaszcza rurek szklanych w ukladzie wedlug wynalazku odbywa sie nastepujaco: Zródla promieniowania 1, 2 sa umieszczone z jed¬ nej strony mierzonego przedmiotu 4 po obu stro¬ nach plaszczyzny symetrii 5, przechodzacej przez os mierzonego przedmiotu 4 i srodek powierzchni czynnej detektora 3. Wysylane przez zródla 1, 2 wiazki promieniowania przechodzace obok mierzo¬ nego przedmiotu 4 przecinaja sie wzdluz prostej lezacej w plaszczyznie symetrii 5 w obszarze mie¬ dzy mierzonym przedmiotem 4 a detektorem 3, w którym poddawane sa detekcji. Zródla promienio¬ wania 1, 2 umieszczone sa w takiej odleglosci od plaszczyzny symetrii 5, aby mierzony przedmiot 4 przeslanial czesc wiazki promieniowania pada¬ jacego na detektor 3.W przypadku zastosowania zródla promieniowa¬ nia beta moze to byc np. komora jonizacyjna. Zmia¬ na srednicy mierzonego przedmiotu 4 powoduje zmiane natezenia promieniowania padajacego na detektor 3 i zmiane pradu komory jonizacyjnej. 25 Umieszczajac mierzony przedmiot 4, w obsza¬ rze, w którym natezenie I nie zalezy od zmian od¬ leglosci d, otrzymuje sie wynik pomiaru niezalezny od ruchów tego przedmiotu w plaszczyznie symet¬ rii 5. Przy odpowiednim wyskalowaniu miernika mierzacego prad komory jonizacyjnej, uzyskuje sie mozliwosc pomiaru srednicy lub szerokosci profilu rurek, pretów, drutów, linek, tasm i tym podobnych materialów. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Uklad do pomiaru szerokosci lub srednic, zwlasz¬ cza rurek szklanych, za pomoca wiazek promienio¬ wania, znamienny tym, ze zawiera co najmniej dwa zródla (1, 2) promieniowania, które sa umiesz¬ czone z jednej strony mierzonego przedmiotu (4), oraz detektor (3) umieszczony po stronie przeciw¬ nej mierzonego przedmiotu (4), przy czym zródla (1, 2) promieniowania umieszczone sa po obu stro¬ nach plaszczyzny symetrii (5) przechodzacej przez os mierzonego przedmiotu (4) i srodek powierz¬ chni czynnej detektora (3) w ten sposób, ze wiaz¬ ki promieniowania zródel (1, 2) przecinaja sie w obszarze miedzy mierzonym przedmiotem (4) a de¬ tektorem (3), w^ którym poddawane sa detekcji. J L ftg 1 3l Ug 2KI. 42b, 10 66 045 MKP GOlb 15/02 fig 3 Errata lam 1, wiersz 19 jest: przedmiotu od zródla promieniowania na¬ tezenia powinno byc: przedmiotu mierzonego od zródla PL