PL65962Y1 - Uchwyt - Google Patents
Uchwyt Download PDFInfo
- Publication number
- PL65962Y1 PL65962Y1 PL118679U PL11867909U PL65962Y1 PL 65962 Y1 PL65962 Y1 PL 65962Y1 PL 118679 U PL118679 U PL 118679U PL 11867909 U PL11867909 U PL 11867909U PL 65962 Y1 PL65962 Y1 PL 65962Y1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- width
- magnetron sputtering
- holder
- handle
- sputtering device
- Prior art date
Links
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 claims description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Description
Opis wzoru Przedmiotem wzoru u zytkowego jest uchwyt dla osadzania pokry c dielektrycznych w laserach pó lprzewodnikowych, a zw laszcza na linijkach laserowych. W procesie wytwarzania laserów pó lprzewodnikowych du ze znaczenie maj a pokrycia dielek- tryczne zwierciade l takimi warstwami jak SiO 2 , Si 3 N 4 czy AI 2 O 3 . Dla niektórych zastosowa n niezb edne jest aby zwierciad lo lasera charakteryzowa lo si e wspó lczynnikiem odbicia bliskim 100%, a to uzyskuje sie zwykle przez nak ladanie na zwierciad lo lasera kilku warstw. Nak ladanie warstwy czy te z warstw wykonuje si e zwykle za pomoc a rozpylania magnetronowego. Znane urz adzenia magnetronowe posiadaj a komor e technologiczn a, w której znajduje si e ano- da oraz katoda z uk ladem magnetronowym. W zale zno sci od potrzeb technologicznych urz adzenia do rozpylania magnetronowego wyposa zone s a w ró znego typu podstawki czy uchwyty, w których umieszczane s a podczas procesu elementy lub przyrz ady. Takie uchwyty maj a na celu odpowiednie pozycjonowanie elementów, przyrz adów czy struktur w trakcie procesu a jednocze snie powinny u la- twia c ich wk ladanie czy te z wyjmowanie z komory technologicznej urz adzenia. Zw laszcza, w przypad- ku linijek laserowych, których grubo sc nie przekracza w zasadzie 140 µm dok ladne ustawienie w ko- morze technologicznej jest szczególnie istotne. Celem wzoru u zytkowego jest opracowanie uchwytu przeznaczonego do pozycjonowania linijek laserów pó lprzewodnikowych w komorze technologicznej urz adzenia do rozpylania magnetronowego, uchwytu, który u latwi lby operowanie tymi elementami podczas nak ladania kolejnych warstw dielek- trycznych. Uchwyt wed lug przedmiotowego wzoru u zytkowego ma posta c prostopad lo scianu o d lugo sci L i szeroko sci S mniejszych od srednicy targetu urz adzenia do rozpylania magnetronowego. W srodko- wej cz esci uchwyt posiada pionowe otwarte z trzech stron wn eki, przy czym szeroko sc tych wn ek jest w przybli zeniu równa trzykrotnej grubo sci umieszczanych w nich linijek laserowych. Przedstawiony na rysunku uchwyt jest przeznaczony do pozycjonowania w komorze technolo- gicznej urz adzenia do rozpylania magnetronowego, linijek laserów pó lprzewodnikowych o d lugo sci rezonatora do 2 mm. Uchwyt ten wykonany jest z teflonu i ma posta c prostopad lo scianu. D lugo sc uchwytu L jest mniejsza o oko lo 60 mm od srednicy (szeroko sci) targetu, z którego proces osadzania zwierciade l jest prowadzony. Natomiast szeroko sc uchwytu S jest równie z mniejsza od srednicy targetu i w przybli ze- niu jest równa d lugo sci linijek laserowych. Wysoko sc uchwytu H jest mniej istotna i dobierana jest w zale zno sci od indywidualnej konstrukcji stosowanego urz adzenia do rozpylania magnetronowego. Wskazanym jest aby podczas procesu osadzania górna powierzchnia uchwytu znajdowa la si e w takiej odleg lo sci od targetu aby proces osadzania warstw dielektrycznych przebiega l prawid lowo. Uchwyt w czesci srodkowej posiada pionowe otwarte z trzech stron wn eki, w których umieszcza si e linijki lase- rowe. Najlepsze pokrycia dielektryczne uzyskuje si e kiedy powierzchnia linijki laserowej, na której ma by c osadzona warstwa dielektryczna znajduje si e u góry i pokrywa si e z górn a powierzchni a uchwytu wyznaczon a przez otwarte wn eki. Ze wzgl edu na du zy re zim technologiczny szeroko sc wn ek musi by c odpowiednia. W proponowanym rozwi azaniu szerokosc ta jest trzykrotnie wi eksza ni z grubo sci linijek laserowych (czyli powierzchnia, na której osadzamy warstw e dielektryczn a). Taka konstrukcja uchwytu znacznie zwi eksza wydajno sc procesu i zapewnia odpowiedni a jakosc pokry c dielektrycznych. PL PL
Claims (1)
1. Zastrze zenie ochronne Uchwyt dla osadzania pokry c dielektrycznych w laserach pó lprzewodnikowych, za pomoc a urz adzenia do rozpylania magnetronowego, znamienny tym, ze ma posta c prostopad lo scianu, które- go d lugosc L i szeroko sc S s a mniejsze od srednicy targetu urz adzenia do rozpylania magnetronowe- go, i który w srodkowej cz esci posiada pionowe otwarte z trzech stron wn eki, przy czym szerokosc tych wn ek jest w przybli zeniu równa trzykrotnej grubo sci umieszczanych w nich linijek laserowych.PL 65 962 Y1 3 RysunekPL 65 962 Y1 4 Departament Wydawnictw UP RP PL PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL118679U PL65962Y1 (pl) | 2009-12-21 | 2009-12-21 | Uchwyt |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL118679U PL65962Y1 (pl) | 2009-12-21 | 2009-12-21 | Uchwyt |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL118679U1 PL118679U1 (pl) | 2011-07-04 |
| PL65962Y1 true PL65962Y1 (pl) | 2012-06-29 |
Family
ID=44357401
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL118679U PL65962Y1 (pl) | 2009-12-21 | 2009-12-21 | Uchwyt |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL65962Y1 (pl) |
-
2009
- 2009-12-21 PL PL118679U patent/PL65962Y1/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL118679U1 (pl) | 2011-07-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8512539B2 (en) | Mould for galvanoplasty and method of fabricating the same | |
| CN105723503B (zh) | 用于半导体制造部件的高纯度金属顶涂层 | |
| US20050132957A1 (en) | Carrier body and method | |
| EP3682046B1 (en) | Method for producing coating with colored surface | |
| CN109746444A (zh) | 一种通过优化基板减小增材制造残余应力和非稳态的方法 | |
| CN106975747B (zh) | 非晶合金成分的高通量筛选方法 | |
| PL65962Y1 (pl) | Uchwyt | |
| EP1995343B1 (en) | Method for making a rare earth oxide-containing sprayed plate | |
| Kumar et al. | Investigations on the effect of substrate temperature on the properties of reactively sputtered zirconium carbide thin films | |
| KR102375083B1 (ko) | 코팅된 절삭 공구 및 방법 | |
| WO2009099775A2 (en) | Modified sputtering target and deposition components, methods of production and uses thereof | |
| RU2730312C2 (ru) | Способ изготовления pvd-слоя и режущий инструмент с покрытием | |
| Li et al. | High density electrical feedthrough fabricated by deep reactive ion etching of pyrex glass | |
| KR102821653B1 (ko) | 세라믹 표적으로부터 증착된 입방정계 Al-풍부 AlTiN 코팅 | |
| JPWO2017010374A1 (ja) | 被膜 | |
| Bersirova et al. | Electrochemical formation of functional silver coatings: Nanostructural peculiarities | |
| Zong et al. | Potential-induced copper periodic micro-/nanostructures by electrodeposition on siliconsubstrate | |
| Nie et al. | Structure and property transitions of Al-based binary alloy coatings by magnetron sputtering | |
| Bobzin et al. | Injection molding of products with functional surfaces by micro-structured, PVD coated injection molds | |
| US20130189497A1 (en) | Nano-scale structures | |
| WO2013066344A1 (en) | Assymetric nano-structures | |
| KR102909086B1 (ko) | 증착소스 배열 설계 방법 및 이를 이용한 균일 코팅 장치 및 균일 코팅 시스템 | |
| JP7418714B2 (ja) | 被覆切削工具 | |
| EP1496137B1 (en) | Method of rational large volume CVD production | |
| KR100655116B1 (ko) | 우수한 표면조도를 가지는 절삭공구용 코팅 모재 및 그형성방법 |