PL65134B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 20.VII.1972 65134 KI. 21 e, 19/04 MKP G 01 r, 19/04 'm Twórca wynalazku: Henryk Krepsztul Wlasciciel patentu: Przemyslowy Instytut Telekomunikacji, Warszawa (Polska) Uklad do pomiaru szczytowych wartosci napiec wielkiej czestotliwosci Przedmiotem wynalazku jest uklad do pomiaru szczy¬ towych wartosci napiec wielkiej czestotliwosci ze zwiek¬ szona dokladnoscia.Znany uklad do pomiaru szczytowych wartosci napiec wielkiej czestotliwosci jest oparty na zastosowaniu de¬ tektora diodowego, w którym dioda jest blokowana na¬ pieciem stalym, czyli tak zwanego detektora progowego.W tym znanym ukladzie miara amplitudy napiecia mierzonego jest wartosc napiecia, ustawionego dla mini¬ malnego, dazacego do zera przekroczenia przez wartosc szczytowa mierzonego napiecia obserwowanego na wskaz¬ niku przekroczenia progu.W ukladzie tym zródlo napiecia mierzonego jest dola¬ czone do jednej z elektrod diody, zas druga elektroda diody jest polaczona z regulowanym zródlem napiecia blokujacego te diode oraz ze wskaznikiem przekroczenia wartosci progowej, który podaje sygnal dla operatora re¬ gulujacego zródlo napiecia blokujacego o przekroczeniu przez amplitude napiecia mierzonego wartosci napiecia blokujacego. W ukladach zautomatyzowanych wskaznik przekroczenia wartosci progowej uruchamia uklad stero¬ wania, który samoczynnie reguluje wartosc napiecia blo¬ kujacego diode az do uzyskania wartosci tego napiecia równej wartosci amplitudy mierzonego napiecia.Ten znany uklad dziala w zakresie czestotliwosci od pojedynczych herców do kilku tysiecy megaherców, przy czym górny zakres czestotliwosci jak i dokladnosc po¬ miarów zalezy glównie od typu i parametrów uzytej diody. Glówna wada znanego ukladu, nie pozwalajacego 10 15 20 25 30 na zwiekszenie dokladnosci pomiarów jest to, ze zarówno wskutek przeplywu wstecznego pradu diody, jak i zmian jej pojemnosci dynamicznej, scalkowany prad, plynacy przez diode jeszcze przed przekroczeniem wartosci pro¬ gowej przez amplitude mierzonego napiecia jest rózny od zera i plynie w kierunku zaporowym, a moment zrównania z zerem i przejscie do kierunku przewodze¬ nia nastepuje przy poziomach napiec mierzonych znacz¬ nie przekraczajacych wartosc napiecia blokujacego, przy czym wielkosc przekroczenia nie jest stala i zmienia sie w zaleznosci od wielkosci napiecia jak i parametrów diody. W zwiazku z tym w znanych ukladach nie mozna osiagnac wzglednego bledu pomiarów mniejszego od kil¬ ku procent.Celem zgloszonego projektu jest zwiekszenie doklad¬ nosci pomiarów przy wiekszym uniezaleznieniu sie od parametrów stosowanych diod zas zadaniem jest utwo¬ rzenie ukladu elektrycznego umozliwiajacego realizacje powyzszego celu.Cel ten zostal osiagniety w ukladzie skladajacym sie z diody, blokowanej napieciem z regulowanego zródla napiecia i polaczonej ze wskaznikiem przekroczenia pro¬ gu, w którym pomiedzy zródlo mierzonego napiecia a diode blokowana napieciem z polaczonego do niej regu¬ lowanego zródla napiecia jest wlaczona szeregowo dodat¬ kowa dioda, blokowana napieciem z dolaczonego do niej dodatkowego regulowanego zródla napiecia, sprzezonego z pierwszym regulowanym zródlem napiecia w ten spo¬ sób, ze napiecie dodatkowego regulowanego zródla na¬ piecia jest tego samego znaku lecz o wartosci bezwzgled- 65134(5134 nej mniejszej od napiecia pierwszego regulowanego zró¬ dla napiecia.Zastosowanie zgloszonego projektu pozwala na zwiek¬ szenie dokladnosci pomiarów napiec wielkiej czestotli¬ wosci przy tego samego rodzaju stosowanych diodach, lub pozwala na utrzymanie dotychczasowej dokladnosci przy stosowaniu diod o gorszych parametrach. V^ Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykla¬ dzie wykonania na rysunku, który przedstawia schemat blokowy ukladu do pomiaru szczytowych wartosci na¬ piec wielkiej czestotliwosci, w polaczeniu ze zródlem mierzonych napiec.Pomiedzy zródlo mierzonych napiec 1, a diode 4 jest wlaczona szeregowo dodatkowa dioda 2, blokowana na¬ pieciem z dolaczonego do niej dodatkowego regulowa¬ nego zródla napiecia 3 sprzezonego z regulowanym zró¬ dlem napiecia 5 dolaczonym do diody 4. Do diody 4 jest dolaczony wskaznik przekroczenia progu 6, którego wyj¬ scie jest polaczone z ukladem sterowania 7, powiazanym z regulowanym zródlem napiecia 5.Dzialanie ukladu jest opisane nizej. Napiecie mierzone jest podawane ze zródla napiecia 1 na wejscie dodatko¬ wej diody 2 blokowanej napieciem z dodatkowego regu¬ lowanego zródla napiecia 3. Jezeli amplituda mierzone¬ go napiecia jest nizsza od wartosci napiecia z dodatko¬ wego regulowanego zródla 3, blokujacego dodatkowa diode 2, to na jej wyjsciu pojawia sie-male impulsy o polaryzacji odwrotnej, niz znak napiecia blokujacego, wywolane glównie wstecznym pradem diody 2. Impulsy te sa zatrzymywane przez diode 4 i nie przechodza na wyjscie.Gdy amplituda mierzonego napiecia przekracza war¬ tosc napiecia blokujacego podawanego z regulowanego zródla napiecia 3, to na wyjsciu diody 2 pojawiaja sie wierzcholki mierzonego napiecia, a miedzy nimi ujemne 10 15 20 25 30 35 impulsy wywolane glównie wstecznym pradem diody.Jesli wartosci napiec tych wierzcholków przekraczaja wartosc napiecia blokujacego diode 4, ustawiana na re¬ gulowanym zródle napiecia 5, to przez diode 4 poplynie prad, uruchamiajacy wskaznik przekroczenia progu 6.Poniewaz na diode 4 dzialaja tylko wierzcholki mie¬ rzonego napiecia, w przyblizeniu równe róznicy napiec pomiedzy napieciem regulowanego zródla napiecia 5, a napieciem dodatkowego regulowanego zródla napiecia 3, szkodliwy wplyw pradu wstecznego diody 4 i jej pojem¬ nosci dynamicznej jest zredukowany do minimum.Wskaznik przekroczenia progu 6 moze albo sygnalizo¬ wac przekroczenie przez mierzone napiecie wartosci na¬ piecia regulowanego zródla napiecia 5 blokujacego dio¬ de 4, albo tez uruchomic uklad sterowania 7, reguluja¬ cy automatycznie zródlo napiecia 5 tak, aby jego napie¬ cie wyjsciowe samoczynnie osiagalo wartosc równa (lub nieco mniejsza) od wartosci szczytowej mierzonego na¬ piecia. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Uklad do pomiaru szczytowych wartosci napiec wiel¬ kiej czestotliwosci, skladajacy sie z diody blokowanej napieciem z regulowanego zródla napiecia i polaczonej ze wskaznikiem przekroczenia progu, znamienny tym, ze pomiedzy zródlo mierzonego napiecia (1) a diode (4) jest wlaczona szeregowo dodatkowa dioda (2) blokowana na¬ pieciem z dolaczonego do niej dodatkowego regulowane¬ go zródla napiecia (3), sprzezonego z regulowanym zró¬ dlem napiecia (5) dolaczonym do diody (4), przy czym napiecie dodatkowego regulowanego zródla napiecia (3) jest tego samego znaku, lecz o wartosci bezwzglednej mniejszej od napiecia regulowanego zródla napiecia (5). 1 1 — fci 2 i l ¦ ? J |,4 i * J U P c •i r 7 i i WDA-l. Zam. 2765, naklad 200 egz. Cena zl 10,— PL