PL64286B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL64286B1 PL64286B1 PL128718A PL12871868A PL64286B1 PL 64286 B1 PL64286 B1 PL 64286B1 PL 128718 A PL128718 A PL 128718A PL 12871868 A PL12871868 A PL 12871868A PL 64286 B1 PL64286 B1 PL 64286B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- gas
- image
- layer
- preparation
- stretching
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 12
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 7
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000008961 swelling Effects 0.000 claims description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 14
- 229920000159 gelatin Polymers 0.000 description 6
- 235000019322 gelatine Nutrition 0.000 description 6
- 108010010803 Gelatin Proteins 0.000 description 4
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 description 4
- 239000008273 gelatin Substances 0.000 description 4
- 235000011852 gelatine desserts Nutrition 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 101100117236 Drosophila melanogaster speck gene Proteins 0.000 description 2
- 239000001828 Gelatine Substances 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 1
- 238000000376 autoradiography Methods 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000001493 electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 150000004694 iodide salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- MSFPLIAKTHOCQP-UHFFFAOYSA-M silver iodide Chemical class I[Ag] MSFPLIAKTHOCQP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
Description
Opublikowano: 20.XII.1971 64286 KI. 57 b, 5/00 MKP G 03 c, 5/00 CZYIELNIA niaitj iziczifNpii^) UHwij Twórca wynalazku i Bogdan Elsner, Warszawa (Polska) wlasciciel patentu: Sposób wykonywania powiekszen mikroobiektów Przedmiotem wynalazku jest sposób wykonywa¬ nia powiekszen mikroobiektów, które w obserwa¬ cji znanymi metodami mikroskopowymi nie wyka¬ zuja pewnych istotnych szczególów, jak np. ksztalt linii brzegowej cienkich preparatów organicznych i polozenie barwników organicznych przylaczonych do drobin lancuchowych.Znany sposób przeprowadzania badan tego typu za pomoca mikroskopu elektronowego polega na przygotowaniu preparatu metodami barwienia, kontrastujacego cieniowania itp., a nastepnie skie¬ rowaniu na tsn preparat strumienia elektronów, który rozpraszany jest w mniejszym lub wiekszym stopniu przez elementy mikroobiektu i daje na ekranie ich obraz powiekszony.Stosowany w mikroskopii elektronowej strumien elektronów nie jest dostatecznie rozpraszany przez atomy wegla, azotu, tlenu i wodoru, z których przewaznie zbudowane sa preparaty organiczne i przez to nie daja dostatecznej widocznosci linii brzegowej preparatu i innych szczególów pomimo uzycia srodków zwiekszajacych gestosc elektro¬ nowa.Jednym z takich srodków jest cieniowanie wy¬ puklych nierównosci preparatu za pomoca konden- sujacyeh na jego powierzchni par ciezkich metali, dla których dana nierównosc stanowi przeszkode mechaniczna w prostoliniowym biegu czasteczek.Wytworzony przez nie obraz cieniowy wykazuje jednak ujemna ceche w postaci ziarnistoscr war-* 10 15 20 25 2 stwy metalu zmniejszajacej widocznosc szczególów preparatu.Celem wynalazku jest zwiekszenie widocznosci szczególów w powiekszeniu mikroskopowym. Cel ten osiaga sie przez zastosowanie gazów nie kon- densujacych na preparacie, ale tworzacych obraz na innej plaszczyznie, oraz przez powiekszenie od¬ leglosci wzajemnych elementów tego obrazu.Sposób wykonywania powiekszen mikroobiektów wedlug wynalazku polega na rejestracji odbijaja¬ cych sie od preparatu lub przepuszczonych przez preparat czasteczek gazu na warstwach gazoczu- lych bedacych w ruchu liniowym, oraz pózniej¬ szym dodatkowym powiekszeniu powierzchni obra¬ zu w procesie pecznienia lub rozciagania srodkami mechanicznymi. W wyniku takiego postepowania uzyskuje sie zwiekszenie wzajemnych odleglosci elementów obrazu, co ulatwia ich wykrycie meto¬ dami znanymi jak autoradiografia, a nastepnie powiekszenie elektronowe lub optyczne.Uzyskane odwzorowanie szczególów mikroobiek¬ tu rejestrowane jest na materiale gazoczulym, któ¬ rym jest zelatyna wiazaca gazy swymi grupami aktywnymi, zelatyna pokryta w prózni drobnoziar¬ nista warstwa metalu np. srebra lub tez inny material o podobnych wlasciwosciach.Wykonanie powiekszenia wedlug wynalazku od¬ bywa sie nastepujaco: w komorze prózniowej umieszcza sie na siatce nosnej preparat. Na pre¬ parat ten skierowuje sie pod katem od 0 do 45° 642863 64286 4 waski — rzedu angstremów strumien radioaktyw¬ nego gazu jak H2S85, J2151, który odbija sie od ba¬ danej powierzchni pod katem zaleznym od jej struktury, lub zostaje przepuszczony wzdluz tej powierzchni, a odbite lub przepuszczone czasteczki gazu rejestruje sie na warstwie gazoczulej bedacej w ruchu liniowym. Strumien gazu przesuwany jest równiez wzdluz badanej powierzchni, ale z pred¬ koscia wielokrotnie mniejsza od predkosci warstwy gazoczulej.W warstwie gazoczulej wytwarza sie obraz w postaci niewidocznych prazków zlozonych z bardzo trudno rozpuszczalnych, radioaktywnych siarczków i jodków srebra. W celu dodatkowego zabezpiecze¬ nia obrazu przed stratami na skutek rozpuszczenia w wodzie, warstwe nasyca sie gazami nie radio¬ aktywnymi az do zamiany srebra na jego siarczki i jodki.Nastepnie warstwe moczy sie w wodzie az do maksymalnego zwiekszenia jej wymiarów geome¬ trycznych na skutek pecznienia zelatyny, skleja sie z zelatyna sucha i suszy. Oddzielone od siebie przez napeczniala zelatyne elementy obrazu wy¬ krywa sie metoda autoradiograficzna, obserwuje w mikroskopie oraz dokonuje sie pomiarów liczac ilosc napromieniowanych i wywolanych ziaren emulsji autoradiograficznej wzdluz danego prazka.W celu jeszcze wiekszego oddzielenia od siebie elementów obrazu warstwe zelatynowa moczy sie w wodzie do zawartosci 65 do 70% wody, nakleja na podloze elastyczne, nadtapia w polozeniu po¬ ziomym cieplym powietrzem az do wytworzenia bardzo gestej pólplynnej masy, rozciaga sie po¬ wierzchniowo wraz z elastycznym podlozem, po czym suszy sie, zdejmuje z podloza i bada autora- diograficznie.Sposobem wedlug wynalazku uzyskuje sie jedno¬ wymiarowe powiekszenie w kierunku linii prazków do 1000X i wieksze, zaleznie od wymagan zwia¬ zanych z rozdzielczoscia uzytego gatunku emulsji autoradiograficznej. c: Urz« Dodatkowe dwuwymiarowe powiekszenie w pro¬ cesie pecznienia wynosi 1,5 do 2X, a na skutek rozciagania warstwy do 6X. Efekt ten zwieksza sie przez powtórzenie procesu po kazdorazowym 5 wysuszeniu warstwy i sklejeniu ze swieza zela¬ tyna.Opisane powyzej dodatkowe powiekszenia moga byc potrzebne do oddzielenia od siebie elementów obrazu w kierunku prostopadlym do linii prazków. 10 Wielkosc uzyskanego powiekszenia jednowymia¬ rowego wzdluz linii prazka zalezy od stosunku predkosci ruchu warstwy gazoczulej do predkosci przesuwu strumienia gazu wzgledem plaszczyzn}^ preparatu. 15 Przykladowo dla predkosci przesuwu strumienia 1 M-m/sek, a warstwy gazoczulej 10 mm/sek nie¬ równosc powierzchni na dlugosci 5A° stanowi przeszkode w procesie rejestracji odbijanych lub przepuszczanych czasteczek gazu, ujawniajaca sie 20 jako brak ziaren, wywolanej emulsji autoradiogra¬ ficznej lub zmniejszenie ich ilosci na dlugosci 5 (xm.Wynik taki jest latwo obserwowany w mikrosko¬ pie przy rozdzielczosci emulsji 0,2 do 0,3 M-m. 25 PL PL
Claims (3)
1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wykonywania powiekszen mikroobiek- tów, znamienny tym, ze na preparat umieszczony 80 w prózni skierowuje sie waski strumien radio¬ aktywnego gazu, po czym przepuszczone wzglednie odbite czastki gazu dajace odwzorowanie szczegó¬ lów badanej powierzchni rejestruje sie na gazo- czulym materiale bedacym w ruchu liniowym. 35
2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze material gazoczuly z zarejestrowanym obrazem poddaje sie procesowi pecznienia i rozciagania.
3. Sposób wedlug zastrz. 1 i 2, znamienny tym, ze rozciaganie warstwy przeprowadza sie po uprzednim jej nadtopieniu. YTELNIA ju Poienlowogo lucziposplitii Utfmj W.D.Kart. C/795/71, A4, 230 PL PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL64286B1 true PL64286B1 (pl) | 1971-10-30 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| PL64286B1 (pl) | ||
| ES2160929T3 (es) | Metodo de inspeccion de bobinas de hilatura y sistema para su puesta en practica. | |
| AT392857B (de) | Vorrichtung und verfahren zur inspektion einer maske | |
| Centeno et al. | The formation of chlorine-induced alterations in daguerreotype image particles: a high resolution SEM-EDS study | |
| EP0551313A1 (en) | Imaging method for defining the structure of objects | |
| Cramer et al. | Boiler tube corrosion characterization with a scanning thermal line | |
| Agar et al. | A study of the Formvar replica process | |
| Hoshino et al. | High-energy X-ray micro-laminography to visualize microstructures in dense planar objects | |
| Byers et al. | Computerized method for size characterization of atmospheric aerosols by the scanning electron microscope | |
| CN113701999A (zh) | 一种微焦点射线源用分辨率测试卡及其制备方法 | |
| JP2008249605A (ja) | 結晶粒の極点図測定方法およびその装置 | |
| Fukuchi et al. | Nondestructive testing using terahertz waves | |
| CN222070459U (zh) | 一种基于金刚石nv色心的宽场传感探头及检测装置 | |
| Kong et al. | Tensile behaviors of Granite: Grain scale cracking and fracture process zone | |
| Roh et al. | Design and analysis of X-ray digital tomosynthesis system | |
| Hartman | Investigations in Array Sizing Part I. Accuracy of the Sizing Process | |
| Lützenkirchen-Hecht et al. | XAFS data acquisition with 2D-detectors: Transmission mode XAFS and grazing incidence EXAFS spectroscopy | |
| Hashimoto et al. | Dynamical Theory of Electron Diffraction for the Electron Microscopic Image of Crystal Lattice Part III. Out-of-focus Image of single crystal | |
| Herden | X-ray Crystallography as a Tool Photographic Research | |
| Notea | Film-based industrial tomography | |
| An | A new approach to translational laminographic method for PCB inspection | |
| Buchele et al. | Quantitative Computerized Laminography | |
| JPH02212749A (ja) | 微視欠陥の検出方法 | |
| Tsuritani et al. | Nondestructive evaluation of thermal fatigue crack propagation in sn-ag-cu solder joints by synchrotron radiation x-ray micro-tomography | |
| Dingley et al. | Application of Microtexture Detemination Using EBSD to Non Cubic Crystals |